JPS6035607B2 - 表面あらさ測定方法 - Google Patents

表面あらさ測定方法

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JPS6035607B2
JPS6035607B2 JP11547681A JP11547681A JPS6035607B2 JP S6035607 B2 JPS6035607 B2 JP S6035607B2 JP 11547681 A JP11547681 A JP 11547681A JP 11547681 A JP11547681 A JP 11547681A JP S6035607 B2 JPS6035607 B2 JP S6035607B2
Authority
JP
Japan
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pair
detector
measured
voltage
resistor
Prior art date
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Expired
Application number
JP11547681A
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English (en)
Other versions
JPS5817304A (ja
Inventor
誠 下条
正俊 石川
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP11547681A priority Critical patent/JPS6035607B2/ja
Publication of JPS5817304A publication Critical patent/JPS5817304A/ja
Publication of JPS6035607B2 publication Critical patent/JPS6035607B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/34Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、物体の表面あらさを測定する方法に関するも
のである。
現在、物体の表面あらさを測定する種々の方法が提案さ
れ且つ実施されているが、それらの中には測定の手順が
煩雑なだけでなく、実施に当り非常に複雑で高価な装置
を必要とするものが少なくない。
本発明は、簡単且つ安価な装置を用いて物体の被測定面
におけるあらさを極めて容易に測定することのできる方
法を提供しようとするもので、物体の被測定面を弾性の
ある感圧板に圧薮したとき、感圧板に直接的に接触する
被測定面上の微小凸部の総面積が被測定面のあらさに応
じた変化も示すと共に、上記接触する凸部によって感圧
板に加えられる荷重分布Pの′′pn■dy で定義される量も被測定面のあらさに応じて変化すると
いう事実に着目し、物体の接触により抵抗により抵抗が
オン・オフ的に変化する感圧板及び抵抗が接触圧力のn
秦に比例して変化する感圧板をそれぞれ一対の可榛性面
状抵抗体で執着して構成した面積検出器及び荷重検出器
を用い、上記面積検出器及び荷重検出器のそれぞれにお
ける周辺を相対向する二対の対辺に分割区画し、上記一
対の検出器のそれぞれにおける一方の面状抵抗体の相対
向する一対の対辺に設けた電極にそれぞれ抵抗を介して
電圧+aを印加すると共に、上記一対の検出器のそれぞ
れにおける他方の面状抵抗体の他の相対向する一対の対
辺に設けた電極にそれぞれ抵抗を介して電圧−aを印加
し、上記両検出器に物体の被測定面を圧接したときの各
電極の電圧に基づいて、被測定面の表面あらさを求める
ことを特徴とするものである。
図面を参照して本発明の方法をさらに詳細に説明すると
、第1図において、本発明に使用する面積検出器1は、
第2図のイに示すように、圧力Pを加えることにより単
位面積当りの抵抗Rが略無限大から零に近い値Roまで
オン・オフ的に変化する感圧板11を備え、その感圧板
11を一対の可操性面状抵抗体12,13により挟着し
、一方の面状抵抗体12におけるx方向の一対の対辺に
電極14,15を設けると共に、他方の面状抵抗体13
におけるy方向の一対の対辺に電極16,17を設けて
いる。
また、第3図は本発明に使用する荷重検出器2を示して
いる。
この検出器2における感圧板21は、第2図の口に示す
ように、単位面積当りの抵抗Rが圧力Pのn案に反比例
して変化する特性を備えるものである。その他の具体的
な構成は、第1図の面積検出器1と略同様で、電極24
,25及び電極26,27を有する可操性面状抵抗体2
2,23により感圧板21を挟着している。上言己構成
の面積検出器1及び荷重検出器2を使用するには、先ず
、それぞれの検出器1,2において、x方向に対向する
一対の電極14,15,24,25に抵抗yを介して電
圧十aを印加し、y方向に対向する一対の電極16,1
7,26,27に抵抗yを介して電圧−aを印加する。
この状態において、それぞれの検出器1,2の面状抵抗
体12,22上に物体Aの被測定面を一定圧の下に接触
させると、検出器1の面状抵抗体12と面状抵抗体13
との間の透過的な抵抗は、Ro 接触面積 となり、検出器2の面状抵抗体22と面状抵抗体23の
間の透過的な抵抗は、・ ′ノpn舷dy となるので、それぞれの導電板間のコンダクタンスに相
当する量を検出すればよい。
そのために面積検出器1の電極14〜17における電極
電圧V^・,VB,,Vc,,V。,及び荷重検出器2
の電極24〜27における電極電圧V^2,VB2,V
c2,Vo2を検出すれば、それらの電圧及び上記印加
電圧+a,一aに基づいて、面積検出器1に接触する被
測定面の凸部の面積S及び上記接触面の凸部により荷重
検出器2に加えられる荷重分布のn秦値の総和Wnを求
めることができる。第4図は、上記S及びWnを求める
ための回路構成を示し、電極電圧V^,,VB,及び印
加電圧+aを減算回路31,32に入力し、それに基づ
く減算回路31,32からの出力を加算回路33に印加
して、上記Sを加算回路33からの出力として、S=2
−V^,−V8, によって求めるものである。
また、上記Wnは電極電圧V^2,VB2を用いて第4
図と同一の回路により、Wn=を一V^2一V82 として求めることができる。
第5図は上記S及びWnを電極電圧Vc,,Vc2,V
o,,V。
2を用いて求めるための回路構成を示し、それらの電極
電圧及び印加電圧−aを減算回路34,35に入力し、
それに基づく減算回路34,35からの出力を加算回路
36に印加して、上記S及びWnを加算回路36からの
出力として、S=2十Vc,十Vo. Wn=2a+Vc2十Vo2 により求めるものである。
而して、上記のようにして求めたS及びWnを用いるこ
とにより物体の被測定面における表面あらさを知得する
ことができる。
即ち、例えば被測定面の断面が第6図aに示すような場
合には、Sが大きく且つWnが4・ごく、また断面が同
図bに示すような場合には、Sが小さく且つWnが大き
い値をとる。従って、それらのS及びWnの値を予め測
定して求めた標準値と比較することにより表面あらさを
求めることができる。なお、上記面積検出器1及び荷重
検出器2を可榛・性絶縁板を介して重設することもでき
、それによりS及びWnの同時検出が可能となる。
以上に詳述したように、本発明によれば簡単且つ安価に
得ることのできる装置を用いて極めて容易に物体の被測
定面におけるあらさを知得することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第3図は本発明の実施に用いる面積検出器及
び荷重検出器の使用状態の斜視図、第2図はそれらに用
いた感圧板の特性図、第4図及び第5図は上記各検出器
に接続する演算回路の構成図、第6図a,bはそれぞれ
異なる被測定面の拡大断面図である。 1…・・・面積検出器、2・・・・・・荷重検出器、1
1,21・・…・感圧板、12,13,22,23・・
・・・・面状抵抗体、14〜17,24〜27・・・・
・・電極。 第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 物体の接触により抵抗がオン・オフ的に変化する感
    圧板及び抵抗が接触圧力のn乗に比例して変化する感圧
    板をそれぞれ一対の可撓性面状抵抗体で挾着して構成し
    た面積検出器及び荷重検出器を用い、上記面積検出器及
    び荷重検出器のそれぞれにおける周辺を相対向する二対
    の対辺に分割区画し、上記一対の検出器のそれぞれにお
    ける一方の面状抵抗体の相対向する一対の対辺に設けた
    電極にそれぞれ抵抗を介して電圧+aを印加すると共に
    、上記一対の検出器のそれぞれにおける他方の面状抵抗
    体の他の相対向する一対の対辺に設けた電極にそれぞれ
    抵抗を介して電圧−aを印加し、上記両検出器に物体の
    被測定面を圧接したときの各電極の電圧に基づいて、被
    測定面の表面あらさを求めることを特徴とする表面あら
    さ測定方法。
JP11547681A 1981-07-22 1981-07-22 表面あらさ測定方法 Expired JPS6035607B2 (ja)

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JPS5817304A JPS5817304A (ja) 1983-02-01
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WO2002056262A1 (fr) * 2001-01-16 2002-07-18 Rossisky Federalny Jaderny Tsentr-Vserossisky Nauchno-Issledovatelsky Institut Tekhnicheskoi Fiziki (Rfyats-Vniitf) Procede de verification de l'authenticite d'un objet
WO2012050033A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 シャープ株式会社 板材の検査装置
CN103499276A (zh) * 2013-10-12 2014-01-08 四川虹欧显示器件有限公司 一种印刷刮刀刃口均匀性检测系统、检测方法及调整方法

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