JPS603502A - 非接触式距離測定方法 - Google Patents

非接触式距離測定方法

Info

Publication number
JPS603502A
JPS603502A JP11055983A JP11055983A JPS603502A JP S603502 A JPS603502 A JP S603502A JP 11055983 A JP11055983 A JP 11055983A JP 11055983 A JP11055983 A JP 11055983A JP S603502 A JPS603502 A JP S603502A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
camera
light
slit light
measured
dimensional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11055983A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshizumi Itou
伊藤 善純
Hideo Nakamata
中俣 秀夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP11055983A priority Critical patent/JPS603502A/ja
Publication of JPS603502A publication Critical patent/JPS603502A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、たとえば自動車生産工場において、車体に部
品を自動機械によって取付ける際、搬送される車体の位
置を正しく制御し、取付ける部品との相対位置を確保す
るために使用することができる、非接触式距離測定方法
に関する。
(従来技術) 上に例示したような用途の非接触式距離測定方法には、
従来、次のようなものがあった。
■帰還増幅回路を使った過電流変位計による計測。
■光源の位相差を使った距離センサによる計測。
■レーザー光線と回転ミラーを利用した計測。
■反射光量の変化を利用した計測。
■超音波を利用した計測。
しかしながらこれらの測定方法は、測定距離が1メート
ル前後と大きい場合、測定ができないか、あるいは測定
ができても構造が複雑であって高価なものとなる欠点が
ある。
(発明の目的) 本発明はこの点に鑑みて成されたもので、上記した従来
の各測定方法の欠点を除去し、被測定体ヨリ約1メート
ル程度はなれた比較的近い距離から、被測定体の数ミリ
メートル程度の移動量を、正確に測定できる方法を安価
な装置で得られるようにすることを目的とする。
(発明の構成) 本発明は上記目的を達成するため、投光器により被測定
体に傾けたスリット光を照射すると共に、該スリット光
に、前記投光器に対して角度を付けて設置をれた一次元
の撮像素子列を持つカメラを、その視野が前記スリット
光に交差するようにして向け、該カメラの前記−次元の
撮像素子で前記スリット光を検出し、該スリット光中心
点の一次元撮像素子上の位置の前記被測定体の移動に伴
なう変化から、被測定体の移動量をめる構成としたもの
である。
(原理説明) 次に、本発明の原理を、図を用いて説明する。
なお、被測定体1が移動した状態は破線で示し、符号に
は同番号にダッシュを付する。まず被測定体1に垂直な
線Uに対して投光器2をα′、CCDカメラ(被測定体
に光を照射したときのその明暗度を電気信号に交換する
CCD素子を用いたカメラ)3をβ′傾むけて設置する
。投光器2から被測定体1に平行スリット光4を投光す
る。
そして被測定体1に照射された平行スリット光4の反射
光をCCDカメラ3で検出する。この時の平行スリット
光4とCCDカメラ3の一次元素子の視野5を被測定体
1上でγ0交差させる。また、平行スリット光4を被測
定体1に水平な線りに対シフ、δ0傾むけて投光する。
被測定体1とCCDカメラ5との直線距離がlの時、C
CDカメラ3の一次元素子の視野をh?とする。また、
−次元素子の画素数をn個とする。この時の平行スリッ
ト光4は、点e(’e番目の素子)と点f(tLf香目
の素子)の間の素子によって検出てれることになる。こ
こで平行スリット光4の中心(点a)に相当する素子t
Laは、tLe十tLf %鳳= □ でめられる。
次に、被測定体1がX工移動したとする。こ )JJ 
l’ の時のCCDカメラ3の一次元素子の視野はhyに移る
。この視野での平行スリット光4は、点e(tLe番目
の素子)と点f′(町香目の素子)の間の素子によって
検出される。この平行スリット光4の中心(点C)に相
当する素子聾は、でめられる。
被測定体1がCCDカメラ3から1mll1離れ牟位置
での点a(%、番目の素子)は、被測定体1が−乙 X1動いた時、点b(f!h視野のシ番目の素子)に移
る。ここでbeの画素子J sbcは、Δ%−−外。−
rL8でめられる。このbeの長さは、被測定体1の移
動量X□の関数として以下のようにめられる。すなわち
、第4図中のa’bの長さは、ab= xX(tan 
Ct”+ tan r) −(11次にbeの長さは よって移動量X□は、 の関係式で示されることになる。
前述のように、bCは、CCDカメラ3により、画素数
Δ?lbcで検出されることになる。しかし被測定体1
が移動することで、CCDカメラ3の一次元素子の視野
が変化し、1画素当りの分解能フコ が変化する。この視野fh の変化は、CCDカメラ3
と被測定体1との距* H(X)によって、次式%式% ) (C,、C2: CCDカメラのレンズおよびピントの
合せ方によって定まる定数) これによシ、被測定体1がX工移動した時の分解能冨は
、 画素数% n となり、beの長さは、 でめられることになる。
以上の式(3)と(6)よシ、被測定体1の移動量又□
は、次式のようにbeの検出画素数ハ存でめられる。
ここでA、Bはそれぞれ各機器の設定条件で定まる定数
であって、それぞれ次式で表わされるものである。
C1,5inF3 、実施例) 以上説明した理論のもとに、被測定体1とCCDカメラ
3との直線距離lを180fiηL1−次元累子の画素
数九を1920画累、被測定体1の移動量X=−30瓢
〜+30mmの各条件による測定結果で、被測定体1の
移動量とCCDカメラ検出による式(7)の算出量の差
が、最大Q、24 yxya(3画素相当)となった。
なお、直線距離lを1メートルにするには、投光器2の
光量およびCOD 。
? カメラ3のレンズを新たに設定することで対応できる。
(発明の効果) 本発明は以上説明したような非接触式の距離測定方法で
あるから、被測定体とCCDカメラとの距離が1メ一ト
ル程度の大きなものとなっても、誤差が数鴫の精度で距
離測定できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第′図は本発明0測定方法を説明する1め01斜視図、
第2図は第1図の平面図、第3図は第1図の側面図、第
4図は被測定体の正面図である。 1・・・被測定体 2・・・投光器 4・・・CCDカメラ 4・・・平行スリット光線5・
・・視野 特許出願人 トヨタ自動車株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)投光器によシ被測定体に傾けたスリット光を照射
    すると共に、該スリット光に、前記投光器に対して角度
    を付けて設置された一次元の撮像素子列を持つカメラを
    、その視野が前記スリット光に交差するようにして向け
    、該カメラの前記−次元の撮像素子で前記スリット光を
    検出し、該スリット光中心点の一次元撮像素子上の位置
    の前記被測定体の移動に伴なう変化から、被測定体の移
    動量をめることを特徴とする非接触式距離測定方法。
JP11055983A 1983-06-20 1983-06-20 非接触式距離測定方法 Pending JPS603502A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11055983A JPS603502A (ja) 1983-06-20 1983-06-20 非接触式距離測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11055983A JPS603502A (ja) 1983-06-20 1983-06-20 非接触式距離測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS603502A true JPS603502A (ja) 1985-01-09

Family

ID=14538896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11055983A Pending JPS603502A (ja) 1983-06-20 1983-06-20 非接触式距離測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS603502A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167609A (ja) * 1987-12-24 1989-07-03 Shinichi Yuda 距離算出方法
JPH05100366A (ja) * 1991-10-09 1993-04-23 Yaguchi Tekkosho:Kk パトローネの整列方法及びトレーケーサー
US5379106A (en) * 1992-04-24 1995-01-03 Forensic Technology Wai, Inc. Method and apparatus for monitoring and adjusting the position of an article under optical observation
CN109211106A (zh) * 2017-06-30 2019-01-15 株式会社三丰 光学测量设备

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167609A (ja) * 1987-12-24 1989-07-03 Shinichi Yuda 距離算出方法
JPH05100366A (ja) * 1991-10-09 1993-04-23 Yaguchi Tekkosho:Kk パトローネの整列方法及びトレーケーサー
US5379106A (en) * 1992-04-24 1995-01-03 Forensic Technology Wai, Inc. Method and apparatus for monitoring and adjusting the position of an article under optical observation
CN109211106A (zh) * 2017-06-30 2019-01-15 株式会社三丰 光学测量设备
CN109211106B (zh) * 2017-06-30 2021-09-07 株式会社三丰 光学测量设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3511450B2 (ja) 光学式測定装置の位置校正方法
US4862047A (en) Apparatus for guiding movement of an unmanned moving body
JP2712772B2 (ja) パターン位置測定方法及び装置
US4725722A (en) Automatic focusing method and apparatus utilizing contrasts of projected pattern
US4498776A (en) Electro-optical method and apparatus for measuring the fit of adjacent surfaces
JP2004198330A (ja) 物体の位置検出方法及び装置
JP3027241B2 (ja) 異物検査装置
JPS603502A (ja) 非接触式距離測定方法
JPS5847209A (ja) 表面形状測定装置
JP2567923B2 (ja) 距離計測方法
JPS6148249B2 (ja)
JPH0660807B2 (ja) 光の中心位置の高精度計測方法
JP3192461B2 (ja) 光学的測定装置
JPH01153908A (ja) 三次元測定機
JP2795790B2 (ja) 3次元計測装置のセンサ座標補正方法
JPH10185515A (ja) コイル位置検出装置
JP3201297B2 (ja) コイル位置検出装置
JPS61134605A (ja) 物体の表面高さ測定装置
KR100380133B1 (ko) 광센서에서 피측정물의 반사광 강도에 따른 오차 보상방법
JPH08327336A (ja) 3次元形状測定装置
JPS6316687B2 (ja)
JPH07324913A (ja) 寸法測定方法
JPH10185519A (ja) コイル位置検出装置
JPS5826325Y2 (ja) 位置検出装置
KR19980052449A (ko) 정반사형 레이저 삼각법 센서의 시편 또는 센서의 각도 오차 보상방법