JPS6033798B2 - 粗結晶から単結晶までの半導体材料製造方法 - Google Patents
粗結晶から単結晶までの半導体材料製造方法Info
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- JPS6033798B2 JPS6033798B2 JP57100802A JP10080282A JPS6033798B2 JP S6033798 B2 JPS6033798 B2 JP S6033798B2 JP 57100802 A JP57100802 A JP 57100802A JP 10080282 A JP10080282 A JP 10080282A JP S6033798 B2 JPS6033798 B2 JP S6033798B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明の対象は望まし〈配向した粗大結晶状または単結
晶状半導体シートおよび/またはプレートの製造方法に
おいて、溶融半導体材料を同じ粗大結晶から単結晶まで
の半導体材料の基体上に塗布し、硬化した後、熱応力に
よって自動的に基体からはく離させることから成る方法
に関する。
晶状半導体シートおよび/またはプレートの製造方法に
おいて、溶融半導体材料を同じ粗大結晶から単結晶まで
の半導体材料の基体上に塗布し、硬化した後、熱応力に
よって自動的に基体からはく離させることから成る方法
に関する。
発電機として宇宙旅行に用いるような太陽電池は、あま
りもこも高価すぎて地上で広汎に用いることができない
。太陽電池が高価である主な理由は非常に多くの労力と
材料を必要とする製造プロセスにある。現在の製造プロ
セスは、るつぼ引上げ法またはゾーン引上げ法によって
得た単結晶ケイ素ロッドまたはバーを、材料のかなりの
損失を伴ないながら切断して、単結晶ケイ素ウェフアー
を製造するものである。このため、一方では、この費用
がかかりしかも非常に無駄の多い切断段階を避けること
が、今までの公知の多くの方法の目的であり、プレート
状またはシート状で直接ケイ素を得る試みがなされてき
た。
りもこも高価すぎて地上で広汎に用いることができない
。太陽電池が高価である主な理由は非常に多くの労力と
材料を必要とする製造プロセスにある。現在の製造プロ
セスは、るつぼ引上げ法またはゾーン引上げ法によって
得た単結晶ケイ素ロッドまたはバーを、材料のかなりの
損失を伴ないながら切断して、単結晶ケイ素ウェフアー
を製造するものである。このため、一方では、この費用
がかかりしかも非常に無駄の多い切断段階を避けること
が、今までの公知の多くの方法の目的であり、プレート
状またはシート状で直接ケイ素を得る試みがなされてき
た。
例えば、このような試みは単結晶ケイ素ストックロッド
から成形鋳型を用いて単結晶ケイ素帯を引き上げること
などによって行なわれている。例えば、EFG法(エッ
ジフィルム供給方法)によると、ケイ素熔融物中に浸潰
させた毛状成形体によって、単結晶ケイ素を帯状で上方
へ引き上げている。また、Bleilの方法によると、
ケイ素をるつぼ内で溶融し、温度勾配の作用下で種結晶
を用いて、斜めに引き上げるが、この際、るつぼ内の溶
融物の高さを置換体システムによって一定に保持する。
最後に、ShMkleyの方法によると、液体鉛上で多
結晶ストックロッドを溶融し、温度勾配の作用下で種結
晶を用いて、帯状のケイ素を水平に、鉛フィルムから、
引き上げている。しかし「上述の方法の効率は1分間に
数センチメートルのオーーダーである低い引き上げ速度
によって限定されている。最後に挙げた方法は、基体表
面として用いる鎖がその上で熔融し、再結晶すするケイ
素を汚染しないように、、極度に純粋でなければならな
いので、かなり複雑である。さらに鉛の蒸気圧が高いこ
とも不利であり〜 このために、再結晶したケイ素を引
き上げる装置の冷却端部において、ケイ素帯上に鉛が不
可避に折出することになる。このような方法の詳しい説
明はJean−JaquesBrissotの論文「太
陽電池としてのケイ素」(ActaElectroni
ca20巻 2号(1977年)101〜116頁)に
述べられいる。西ドイツ公開第2903061号公報に
よる方法は非元素状のスライド溶融物に埋埋込んだ溶融
物からケイ素シートを引き上げ方法であるが、特に引上
げ位置においてスライド溶融物の正確な置換と制御が必
要であるために、技術的に実施が困難である。
から成形鋳型を用いて単結晶ケイ素帯を引き上げること
などによって行なわれている。例えば、EFG法(エッ
ジフィルム供給方法)によると、ケイ素熔融物中に浸潰
させた毛状成形体によって、単結晶ケイ素を帯状で上方
へ引き上げている。また、Bleilの方法によると、
ケイ素をるつぼ内で溶融し、温度勾配の作用下で種結晶
を用いて、斜めに引き上げるが、この際、るつぼ内の溶
融物の高さを置換体システムによって一定に保持する。
最後に、ShMkleyの方法によると、液体鉛上で多
結晶ストックロッドを溶融し、温度勾配の作用下で種結
晶を用いて、帯状のケイ素を水平に、鉛フィルムから、
引き上げている。しかし「上述の方法の効率は1分間に
数センチメートルのオーーダーである低い引き上げ速度
によって限定されている。最後に挙げた方法は、基体表
面として用いる鎖がその上で熔融し、再結晶すするケイ
素を汚染しないように、、極度に純粋でなければならな
いので、かなり複雑である。さらに鉛の蒸気圧が高いこ
とも不利であり〜 このために、再結晶したケイ素を引
き上げる装置の冷却端部において、ケイ素帯上に鉛が不
可避に折出することになる。このような方法の詳しい説
明はJean−JaquesBrissotの論文「太
陽電池としてのケイ素」(ActaElectroni
ca20巻 2号(1977年)101〜116頁)に
述べられいる。西ドイツ公開第2903061号公報に
よる方法は非元素状のスライド溶融物に埋埋込んだ溶融
物からケイ素シートを引き上げ方法であるが、特に引上
げ位置においてスライド溶融物の正確な置換と制御が必
要であるために、技術的に実施が困難である。
特に、蒸発とそれによる組成変化は、るつぼ、溶融物お
よびスライド溶融物間の反応によって強化されて、粘度
変化を生じ、滑り性状を常に変化させることになる。最
後に、西ドイツ公開第2830522号公報に発表され
た方法によると回転する単結晶ケイ素基体上に液状ケイ
素を塗布し、成長したケイ素体を基体からはく離させな
がら飛ばしている。
よびスライド溶融物間の反応によって強化されて、粘度
変化を生じ、滑り性状を常に変化させることになる。最
後に、西ドイツ公開第2830522号公報に発表され
た方法によると回転する単結晶ケイ素基体上に液状ケイ
素を塗布し、成長したケイ素体を基体からはく離させな
がら飛ばしている。
この方法では、基体をケイ素の融点よりわずかに低い高
温に保持しなければならない。さらに、材料の損失のた
めに、基体は一定時間のみ用いることができ、時々取り
換えなければならない。そこで、本発明の目的は任意に
何回でも再生可能な基体を用いて、高い引っぱり速度で
粗大結晶から単結晶までの半導体シートを製造する方法
を提供することである。
温に保持しなければならない。さらに、材料の損失のた
めに、基体は一定時間のみ用いることができ、時々取り
換えなければならない。そこで、本発明の目的は任意に
何回でも再生可能な基体を用いて、高い引っぱり速度で
粗大結晶から単結晶までの半導体シートを製造する方法
を提供することである。
本明細書において使用する「粗大結晶(釘obkris
側lin L の 語 は 単 結 晶(monok
ris側lin)ではないが比較的大寸法の結晶からな
る物質、例えば本願明細書の実施例2の物質または太陽
電池用のSILSO−材料の結晶を意味する。
側lin L の 語 は 単 結 晶(monok
ris側lin)ではないが比較的大寸法の結晶からな
る物質、例えば本願明細書の実施例2の物質または太陽
電池用のSILSO−材料の結晶を意味する。
この目的は、接触点を通って少なくとも75柳/秒の速
度で案内される粗大結晶から単結晶までの同じ半導体材
料に、溶融した半導体材料を接触させること、成長する
シートまたはプレートの自動的放出を保証するために、
基体を0.幻M(TMは半導体材料の融点をケルビン度
で表わしたもの)より高くない温度に保持することを特
徴とする方法によって解決される。
度で案内される粗大結晶から単結晶までの同じ半導体材
料に、溶融した半導体材料を接触させること、成長する
シートまたはプレートの自動的放出を保証するために、
基体を0.幻M(TMは半導体材料の融点をケルビン度
で表わしたもの)より高くない温度に保持することを特
徴とする方法によって解決される。
この方法ではシート製造材料である適当な形状(例えば
、ケイ素の場合には粒状)の半導体材料を、実際の引っ
ぱり系とは別になっている溶融物調製器に入れて、そこ
で溶融することが有利だとわかっている。
、ケイ素の場合には粒状)の半導体材料を、実際の引っ
ぱり系とは別になっている溶融物調製器に入れて、そこ
で溶融することが有利だとわかっている。
次に、溶融物を溶融物生成器から引っぱり系まで、接触
系を介して移動させる。このような移動は例えば、置換
体と組合わせた溢流系を用いて、熔融半導体材料の引っ
ぱり系への均一な流れを保証するように、行なうことが
できる。本発明はリン化インジウム、リン化ガリウムま
たはヒ素化ガリウムなどのm−V化合物のような多成分
半導体材料にも適用できるが、本発明の目的にかなった
半導体材料としては、例えばケイ素またはゲルマニウム
のような一成分材料を用いるのが望ましい。
系を介して移動させる。このような移動は例えば、置換
体と組合わせた溢流系を用いて、熔融半導体材料の引っ
ぱり系への均一な流れを保証するように、行なうことが
できる。本発明はリン化インジウム、リン化ガリウムま
たはヒ素化ガリウムなどのm−V化合物のような多成分
半導体材料にも適用できるが、本発明の目的にかなった
半導体材料としては、例えばケイ素またはゲルマニウム
のような一成分材料を用いるのが望ましい。
引っぱり糸は黒鉛製または望ましくは石英製の引っぱり
るつぼを含んでいる。
るつぼを含んでいる。
溶融物生成器から流出する半導体材料を引っぱりるつぼ
に集め、望ましくはその融点より5〜50qo高い範囲
である、10000までの温度に調節する。るつぼは例
えば抵抗加熱または譲導加熱によって熱することができ
る。溶融物を基体に注ぐ、遠0作用で飛ばしつけるまた
は吹付けることによって、溶融物と基体を互いに接触さ
せることができる。
に集め、望ましくはその融点より5〜50qo高い範囲
である、10000までの温度に調節する。るつぼは例
えば抵抗加熱または譲導加熱によって熱することができ
る。溶融物を基体に注ぐ、遠0作用で飛ばしつけるまた
は吹付けることによって、溶融物と基体を互いに接触さ
せることができる。
また、るつぼに含まれる溶融物が基体と接触するように
、引っぱりるつぼの片側を設計する可能性もある。結局
、半導体溶融物にるつぼ内の緩から突出するが表面張力
によって安定化しているようなメニスカスを形成させる
のが、特に有利だと判明している。こののとは、例えば
るつぼの傾斜を簡単に調節することによって、実現可能
であるが、引っぱりるつぼの片側の望ましくは底部位置
に、半導体溶融物がメニスカスを形成しながら通過しな
がら得るような大きさのスロット様の閉口を設けること
が、特に有利である。このメニスカスの形成は例えば溶
融物の温度、るつぼの傾斜およびスロットの大きさによ
っても影響されることがある。スロット様閉口の高さは
生成するメニスカスに要求される安定性に依存するが、
スロットの幅はシートの所要幅に依って定められる。
、引っぱりるつぼの片側を設計する可能性もある。結局
、半導体溶融物にるつぼ内の緩から突出するが表面張力
によって安定化しているようなメニスカスを形成させる
のが、特に有利だと判明している。こののとは、例えば
るつぼの傾斜を簡単に調節することによって、実現可能
であるが、引っぱりるつぼの片側の望ましくは底部位置
に、半導体溶融物がメニスカスを形成しながら通過しな
がら得るような大きさのスロット様の閉口を設けること
が、特に有利である。このメニスカスの形成は例えば溶
融物の温度、るつぼの傾斜およびスロットの大きさによ
っても影響されることがある。スロット様閉口の高さは
生成するメニスカスに要求される安定性に依存するが、
スロットの幅はシートの所要幅に依って定められる。
スロットの幅が基体の幅よりも1〜20側、望ましくは
1仇奴大きいときに、特に良い結果が得られる。粗大結
晶から単結晶までの溶融半導体と同じ半導体基体を溶融
半導体のメニスカスに接触させて、少なくとも75柳/
秒の速度でメニスカスを過ぎて移動させることによって
、実際のシート引き上げを行なう。
1仇奴大きいときに、特に良い結果が得られる。粗大結
晶から単結晶までの溶融半導体と同じ半導体基体を溶融
半導体のメニスカスに接触させて、少なくとも75柳/
秒の速度でメニスカスを過ぎて移動させることによって
、実際のシート引き上げを行なう。
このようにして接触位置において引き離される溶融物フ
ィムの自由表面を、例えば電子ビーム装置またはレーザ
ーガンのような付加的な加熱装置によって溶融温度に維
持することが、有利であるとわかっている。この引き上
げ操作の過程で基体が望ましい配向性であることが硬化
する半導体材料に伝えられて、粗大結晶から単結晶まで
のシートが基体上に引かれ、.次に熱応力が作用する結
果、シートが助けないこ基体からはく離する。連続作業
方式の場合には、基体を例えば「エンドレスベルト」ま
たはシリンダーの形状のものとして、メニスカスに接触
させて移動させることができる。
ィムの自由表面を、例えば電子ビーム装置またはレーザ
ーガンのような付加的な加熱装置によって溶融温度に維
持することが、有利であるとわかっている。この引き上
げ操作の過程で基体が望ましい配向性であることが硬化
する半導体材料に伝えられて、粗大結晶から単結晶まで
のシートが基体上に引かれ、.次に熱応力が作用する結
果、シートが助けないこ基体からはく離する。連続作業
方式の場合には、基体を例えば「エンドレスベルト」ま
たはシリンダーの形状のものとして、メニスカスに接触
させて移動させることができる。
半連続作業方式の場合には、例えば1仇の長さを持つ、
個々の傾斜体を用いることもできる。特定の基体の幅は
シートまたはプレートの所望の幅に依存して定まるが、
大てし、の場合に、例えば長さ10仇咳および幅10比
帆を有する太陽電池のような目的製品と同じサイズの個
々の要素から基体を構成することが有利であるとわかっ
ている。しかし、この他にも形状とサイズを多様に変え
ることが可能である。。メニスカスと接触する基体を垂
直から0〜60度t望ましくは0度〜20度それて、斜
め上方に移動させる場合に、特に良い結果を得ることが
できる。
個々の傾斜体を用いることもできる。特定の基体の幅は
シートまたはプレートの所望の幅に依存して定まるが、
大てし、の場合に、例えば長さ10仇咳および幅10比
帆を有する太陽電池のような目的製品と同じサイズの個
々の要素から基体を構成することが有利であるとわかっ
ている。しかし、この他にも形状とサイズを多様に変え
ることが可能である。。メニスカスと接触する基体を垂
直から0〜60度t望ましくは0度〜20度それて、斜
め上方に移動させる場合に、特に良い結果を得ることが
できる。
基体の個々の要素間の距離が例えば0.05肌のように
4・さし、場合には、細分割されていないシートが得ら
れるので、例えば切断するまたはかき傷をつけておいて
分離する等の適当な方法の段階によって、所望の個々の
小片に分けることができる。しかし、個々の要素間例え
ば0.5柳から約2帆までの大きな距離があ場合には、
シートは基体の個々の要素のサイズに応じた小片にすで
に分離されて得られるので、上述のような分割段階は不
必要になる。粗大結晶から単結晶までの結晶を成長させ
、シートを基体から自動的に放出させるのに重要なフア
クタ−は、基体の温度である。
4・さし、場合には、細分割されていないシートが得ら
れるので、例えば切断するまたはかき傷をつけておいて
分離する等の適当な方法の段階によって、所望の個々の
小片に分けることができる。しかし、個々の要素間例え
ば0.5柳から約2帆までの大きな距離があ場合には、
シートは基体の個々の要素のサイズに応じた小片にすで
に分離されて得られるので、上述のような分割段階は不
必要になる。粗大結晶から単結晶までの結晶を成長させ
、シートを基体から自動的に放出させるのに重要なフア
クタ−は、基体の温度である。
この温度が低すぎる場合には、成長するシートは太陽電
池ベース材料として不適当なミクロ結晶領域をを多く含
むものとなり、また基体の温度が高すぎる場合には、シ
ートは液状ェピタキシー状に成長することになり、基体
からシートが自動的に放出されることはもはや不可能に
なる。溶融物と基体との間に約0.2〜0.5TM、望
ましくは0.3〜0.4TMの温度差のあることが、本
発明の方法を実施するのに特に適しているとわかってい
る。例えば、ケイ素に関しては、TMの代りに169弧
のケイ素の融点を用いるならば、約350〜850K、
望ましくは500〜680Kの温度差が望ましいことに
なる。基体は、分離制御できる温度調整トンネルで、望
ましい温度に調整するのが有利である。本発明による方
法を実施する上で重要な一つのファクターは、基体を溶
融半導体材料との接触位置を通して移動させる引き上げ
速度である。
池ベース材料として不適当なミクロ結晶領域をを多く含
むものとなり、また基体の温度が高すぎる場合には、シ
ートは液状ェピタキシー状に成長することになり、基体
からシートが自動的に放出されることはもはや不可能に
なる。溶融物と基体との間に約0.2〜0.5TM、望
ましくは0.3〜0.4TMの温度差のあることが、本
発明の方法を実施するのに特に適しているとわかってい
る。例えば、ケイ素に関しては、TMの代りに169弧
のケイ素の融点を用いるならば、約350〜850K、
望ましくは500〜680Kの温度差が望ましいことに
なる。基体は、分離制御できる温度調整トンネルで、望
ましい温度に調整するのが有利である。本発明による方
法を実施する上で重要な一つのファクターは、基体を溶
融半導体材料との接触位置を通して移動させる引き上げ
速度である。
効率だけの理由からは、なるべく高い速度が望ましいこ
とになる。このため、本発明による方法にケイ素を用い
た場合には、300柳/秒以上の速度がすでに蓬せられ
ている。例えば、一般に、基体と溶融物間の温度差を増
すことによって引き上げ速度を増加させやすくすること
ができるが、或る一定の値を超えると、結晶構造が基体
からシートへ満足に伝えられなくなるという制限がある
。温度と引き上げ速度の他に、基体表面の性質も本発明
の方法に影響を及ぼしている。
とになる。このため、本発明による方法にケイ素を用い
た場合には、300柳/秒以上の速度がすでに蓬せられ
ている。例えば、一般に、基体と溶融物間の温度差を増
すことによって引き上げ速度を増加させやすくすること
ができるが、或る一定の値を超えると、結晶構造が基体
からシートへ満足に伝えられなくなるという制限がある
。温度と引き上げ速度の他に、基体表面の性質も本発明
の方法に影響を及ぼしている。
一般原則として、表面に低い度合のざらつきがあること
によって成長するシートの自動的放出が容易になるとい
うことができる。次に本発明を図面に示した望ましい実
施態様に基づいて、さらに詳細に説明する。
によって成長するシートの自動的放出が容易になるとい
うことができる。次に本発明を図面に示した望ましい実
施態様に基づいて、さらに詳細に説明する。
第1図は、「エンドレスベルト」として接触領域を案内
される基体上にシートを引っぱる装置の縦断面図を示す
。
される基体上にシートを引っぱる装置の縦断面図を示す
。
第2図は、傾斜体上にシートを引っぱる装置の縦断面図
を示す。
を示す。
第1図によると、充填装置2によって例えばケイ素粒状
物を供給するための、例えば精錬鋼製でかつ望ましくは
水などの冷却媒体を貯え得るような二重壁構造の容器1
において、加熱装置4内に熔融物生成るつぼを配置する
。
物を供給するための、例えば精錬鋼製でかつ望ましくは
水などの冷却媒体を貯え得るような二重壁構造の容器1
において、加熱装置4内に熔融物生成るつぼを配置する
。
こおるつばは供給容器として使用し、このるつぼ内の溶
融物は「例え‘ま1個以上の置換体5を用いて、溢流系
6を経て、引っぱりるつぼ7に移すことができる。図示
したような置換体の代りに、例えば毛細管体を用いてあ
るし・は流出口が引っぱりるつぼに通ずる閉塞した熔融
生成るつぼを用いる場合には、ガス圧の作用下で熔融物
を押圧することによって、熔融物の溢流を実現させるこ
とができる。熱線、誘導または抵抗加熱によるるつぼ引
っぱり加熱系8によって加熱する引き上げるつばは、そ
の前端にスロット様閉口9を有し、このスロットを通し
て、表面張力によって安定化したメニスカスを形成させ
ながら、溶融半導体材料を放出する。
融物は「例え‘ま1個以上の置換体5を用いて、溢流系
6を経て、引っぱりるつぼ7に移すことができる。図示
したような置換体の代りに、例えば毛細管体を用いてあ
るし・は流出口が引っぱりるつぼに通ずる閉塞した熔融
生成るつぼを用いる場合には、ガス圧の作用下で熔融物
を押圧することによって、熔融物の溢流を実現させるこ
とができる。熱線、誘導または抵抗加熱によるるつぼ引
っぱり加熱系8によって加熱する引き上げるつばは、そ
の前端にスロット様閉口9を有し、このスロットを通し
て、表面張力によって安定化したメニスカスを形成させ
ながら、溶融半導体材料を放出する。
例えば一列に配列した個別のプレートから成り、メニス
カスを越して上方に移動する基体10とメニスカスが接
触すると、基体上に薄層としてシート11が塗布される
。接触点において基体上へ溶融物から引き離される、シ
ート11の溶融物フィルムの自由表面は補助的な加熱系
12によって、望ましくは熱線加熱(例えば、レーザー
照射)によって、望ましい温度に保持することができる
。また、接触前のメニスカスの形成と、基体への塗布間
に行なわれる。接触点で引き離される熔融物フィルムの
自由面の形成は、例えば光学制御装置13によってモニ
ターすることができる。もし引っぱりるつぼを頼むける
ことができ溶融物と基体間の接触を簡単に中断したり、
再び接触させたりすることが可能であるならば、この基
体への塗布作業の開始と終了を特に有利に制御すること
ができる。基体への溶融物フィルム塗布の瞬間には堅固
であった、シートと基体間の結合は、結晶化が完成した
後2,3秒間の早さで、綾弛し始める。
カスを越して上方に移動する基体10とメニスカスが接
触すると、基体上に薄層としてシート11が塗布される
。接触点において基体上へ溶融物から引き離される、シ
ート11の溶融物フィルムの自由表面は補助的な加熱系
12によって、望ましくは熱線加熱(例えば、レーザー
照射)によって、望ましい温度に保持することができる
。また、接触前のメニスカスの形成と、基体への塗布間
に行なわれる。接触点で引き離される熔融物フィルムの
自由面の形成は、例えば光学制御装置13によってモニ
ターすることができる。もし引っぱりるつぼを頼むける
ことができ溶融物と基体間の接触を簡単に中断したり、
再び接触させたりすることが可能であるならば、この基
体への塗布作業の開始と終了を特に有利に制御すること
ができる。基体への溶融物フィルム塗布の瞬間には堅固
であった、シートと基体間の結合は、結晶化が完成した
後2,3秒間の早さで、綾弛し始める。
シートは出口バルブ14を通して容器から搬出され、例
えば切断によって、更に処理されて個々のプレートにな
るが、基体は再使用のために戻され、温度調整トンネル
15内で望ましい温度に再調節される。容器1内には例
えば窒素、二酸化炭素、希ガスあるいは異なるガスの混
合物の不活性ガス雰囲気を保つことができるが、真空内
での操作も可能である。第2図によると、代替的に傾斜
体として設計した基体上にシートを引っぱることができ
る。
えば切断によって、更に処理されて個々のプレートにな
るが、基体は再使用のために戻され、温度調整トンネル
15内で望ましい温度に再調節される。容器1内には例
えば窒素、二酸化炭素、希ガスあるいは異なるガスの混
合物の不活性ガス雰囲気を保つことができるが、真空内
での操作も可能である。第2図によると、代替的に傾斜
体として設計した基体上にシートを引っぱることができ
る。
簡潔にするために、第2図には容器1、熔融物生成装置
または溶融物移動系を示てし、ない。これらの装置は例
えば図1に示した配置のように設計することができる。
半導体材料の溶融物21を含む、望ましくは石英製の引
っぱりるつぼ20を、例えば黒鉛製溶融物ヒーターのよ
うな加熱装置22によって、融点よりも少なくとも5℃
高い温度に維持する。
または溶融物移動系を示てし、ない。これらの装置は例
えば図1に示した配置のように設計することができる。
半導体材料の溶融物21を含む、望ましくは石英製の引
っぱりるつぼ20を、例えば黒鉛製溶融物ヒーターのよ
うな加熱装置22によって、融点よりも少なくとも5℃
高い温度に維持する。
引っぱりるつぼの前端には、スロット様の閉口を設け、
こ関口から表面張力によって安定化した溶融半導体材料
のメニスカスが少なくとも0.5側突出する。分離制御
可能な温度調整トンネル25内で、可動な傾斜体26形
状の基体を、0.5〜0.町M望ましくは0.6〜0.
汀Mの範囲に、すなわち、ケイ素の場合には850〜1
350K、望ましくは1000〜1200K(数値は概
数)の温度範囲に保持する。
こ関口から表面張力によって安定化した溶融半導体材料
のメニスカスが少なくとも0.5側突出する。分離制御
可能な温度調整トンネル25内で、可動な傾斜体26形
状の基体を、0.5〜0.町M望ましくは0.6〜0.
汀Mの範囲に、すなわち、ケイ素の場合には850〜1
350K、望ましくは1000〜1200K(数値は概
数)の温度範囲に保持する。
傾斜体は引っぱりるつぼ内の溶融型に含まれる半導体と
同じ半導体材料の粗結晶から単結晶までの構造部材27
から成っている。このような構造部材は、例えば黒鉛の
ような適当な支持体であるスライド28上に設けるのが
有利である。このスライドは、案内手段29と昇降装置
30とによって、温度調整トンネルを出て、引っぱりる
つぼを通り、引っぱりるつぼの前端からの距離を正確に
保って、上方に運搬されることができる。この作業を行
なう際に、先ず最初に傾斜体エッジ31が、次に傾斜体
表面32が半導体材料のメニスカスと接触し、傾斜体材
料に依存して粗結晶から単結晶までのシートで被覆され
る。このシートは硬化した直後でさえも、ごく弱く傾斜
体に接触しているにすべず、適当なつまみ装置によって
、簡単に動かすことができ、更に加工して太陽電池材料
を形成することができる。傾斜体を構成する個々の構造
部材間の距離が充分に大きい場合には、連続シートが得
られないが、例えば構造部材と同じサイズのプレートの
ような、すでに互いに分離したシート片が得られる。
同じ半導体材料の粗結晶から単結晶までの構造部材27
から成っている。このような構造部材は、例えば黒鉛の
ような適当な支持体であるスライド28上に設けるのが
有利である。このスライドは、案内手段29と昇降装置
30とによって、温度調整トンネルを出て、引っぱりる
つぼを通り、引っぱりるつぼの前端からの距離を正確に
保って、上方に運搬されることができる。この作業を行
なう際に、先ず最初に傾斜体エッジ31が、次に傾斜体
表面32が半導体材料のメニスカスと接触し、傾斜体材
料に依存して粗結晶から単結晶までのシートで被覆され
る。このシートは硬化した直後でさえも、ごく弱く傾斜
体に接触しているにすべず、適当なつまみ装置によって
、簡単に動かすことができ、更に加工して太陽電池材料
を形成することができる。傾斜体を構成する個々の構造
部材間の距離が充分に大きい場合には、連続シートが得
られないが、例えば構造部材と同じサイズのプレートの
ような、すでに互いに分離したシート片が得られる。
傾斜体温度および傾斜体駆動速度の選択によって、得ら
れるシートの厚さを簡単に決めることができるため、一
回の操作で、所望の幅、長さおよび厚さを有する半導体
片を製造することが可能である。メニスカスを通って連
続的に移動する、例えば環状またはエンドレスベルト状
に配置した一連の傾斜体を用いることによって、傾斜体
を任意に何回でも再使用することができるので、この方
法を連続的に有利に実施することができる。
れるシートの厚さを簡単に決めることができるため、一
回の操作で、所望の幅、長さおよび厚さを有する半導体
片を製造することが可能である。メニスカスを通って連
続的に移動する、例えば環状またはエンドレスベルト状
に配置した一連の傾斜体を用いることによって、傾斜体
を任意に何回でも再使用することができるので、この方
法を連続的に有利に実施することができる。
このように、本発明による方法は安価な太陽電池材料と
しての半導体材料の効果的な製造方法を提供するもので
ある。
しての半導体材料の効果的な製造方法を提供するもので
ある。
実施例 1
第1図に示した装置を用いて、仕切り付きるつぼである
熔融物生成るつぼ内で、ケイ素を連続的に溶融し、1〜
5肌の粒度を有する粒状物としてケイ素、約2夕/秒の
速度で連続的に供給する。
熔融物生成るつぼ内で、ケイ素を連続的に溶融し、1〜
5肌の粒度を有する粒状物としてケイ素、約2夕/秒の
速度で連続的に供給する。
粒状のケイ素を用いる代りに、ポリケィ素ロッドを直接
溶融することによってケイ素を溶融生成るつぼ内に供給
することもできる。あるいは代替的に、溶融物の量を適
当に制御できる場合にはケイ素を直接引っぱりるつぼに
供給することを可能である。溶融物生成るつぼ内で14
30o0に保持した溶融物を、実際に添加するケイ素量
に応じた置換体を用いて、引っぱりるつぼ内へ移し入れ
、そこで水平なるつば位置の場合には、約11側の溶融
物高さに調整する。引っぱりるつぼは高さ6肋、幅11
0側のスロット様閉口を有しており、このスロットを通
して溶融ケイ素が、表面張力によって安定化したメニス
カスを形成しながら、流出する。約1側の長さの突出す
るメニスカスの温度を、レーザ加熱によって14300
0に保持する。本発明の方法に用いる基体は、約1〜2
仏mの表面あらさを有し、100×10仇舷のサイズお
よび10柳の厚さを有する望ましい配向性の単結晶ケイ
素プレート9の固から成る。
溶融することによってケイ素を溶融生成るつぼ内に供給
することもできる。あるいは代替的に、溶融物の量を適
当に制御できる場合にはケイ素を直接引っぱりるつぼに
供給することを可能である。溶融物生成るつぼ内で14
30o0に保持した溶融物を、実際に添加するケイ素量
に応じた置換体を用いて、引っぱりるつぼ内へ移し入れ
、そこで水平なるつば位置の場合には、約11側の溶融
物高さに調整する。引っぱりるつぼは高さ6肋、幅11
0側のスロット様閉口を有しており、このスロットを通
して溶融ケイ素が、表面張力によって安定化したメニス
カスを形成しながら、流出する。約1側の長さの突出す
るメニスカスの温度を、レーザ加熱によって14300
0に保持する。本発明の方法に用いる基体は、約1〜2
仏mの表面あらさを有し、100×10仇舷のサイズお
よび10柳の厚さを有する望ましい配向性の単結晶ケイ
素プレート9の固から成る。
これらのプレートは溶融物と基体の接触点の約250肋
上流の位置から500肌の距離にわたって、るつぼから
0.5肋の間隔を保って、「エンドレスベルト」のやり
方および300肌/秒の速度で、引っぱりるつぼを過ぎ
て上方へ移動させる。この操作の間、「エンドレスベル
ト」の方向を垂直から約20度だけずらす。プレート相
互間の距離は0.05柳以下にする。この案内領域を過
ぎた後、ケイ素プレートを約35側/秒の速度に減速さ
せ、温度調整トンネルを通過させて、68000の温度
に調節し、最後にこれらのプレートを「エンドレスベル
ト」として案内する領域に戻す。引っぱりるつぼを約2
度傾けることによってケイ素熔融物のメニスカスを移動
基体に接触させて、ケイ素シートを移動基体上に途布す
る。
上流の位置から500肌の距離にわたって、るつぼから
0.5肋の間隔を保って、「エンドレスベルト」のやり
方および300肌/秒の速度で、引っぱりるつぼを過ぎ
て上方へ移動させる。この操作の間、「エンドレスベル
ト」の方向を垂直から約20度だけずらす。プレート相
互間の距離は0.05柳以下にする。この案内領域を過
ぎた後、ケイ素プレートを約35側/秒の速度に減速さ
せ、温度調整トンネルを通過させて、68000の温度
に調節し、最後にこれらのプレートを「エンドレスベル
ト」として案内する領域に戻す。引っぱりるつぼを約2
度傾けることによってケイ素熔融物のメニスカスを移動
基体に接触させて、ケイ素シートを移動基体上に途布す
る。
このようにして塗布したシートは基体の温度まで冷却し
た直後に、助けないこ自然に基体からは〈離する。基体
を温度調整トンネルに戻し、そこで温度を68000に
再調節する。は〈離した0.3側厚さのシートを、真空
バルブによって約10‐3mbarまで減圧してある容
器から、搬出し、レーザー・スクラツチングによって、
100皿長さおよび100柳幅の基体の望ましい配向性
を有する単結晶プレートに分割する。実施例 2 第2図に示した装置を用いて、ケイ素85夕を溶融し、
引っぱりるつぼに徐々に移し入れて、溶融物を1450
00の温度に調節する。
た直後に、助けないこ自然に基体からは〈離する。基体
を温度調整トンネルに戻し、そこで温度を68000に
再調節する。は〈離した0.3側厚さのシートを、真空
バルブによって約10‐3mbarまで減圧してある容
器から、搬出し、レーザー・スクラツチングによって、
100皿長さおよび100柳幅の基体の望ましい配向性
を有する単結晶プレートに分割する。実施例 2 第2図に示した装置を用いて、ケイ素85夕を溶融し、
引っぱりるつぼに徐々に移し入れて、溶融物を1450
00の温度に調節する。
引っぱりるつぼは5肌高さおよび6仇舷幅のスロット様
関口を有し、このスロットを通して溶融ケイ素のメニス
カスが2肋突出する。この突出するメニスカスの温度を
、放射高温計によって測定したところ、1450qoで
あった。本発明による方法に用いる、傾斜体形状の基体
は5仇蚊×20肌サイズ、8肌厚さで平均粒度5〜10
側および表面あらさ約2kmを有する粗結晶ケイ素プレ
ート1の女から成るものである。
関口を有し、このスロットを通して溶融ケイ素のメニス
カスが2肋突出する。この突出するメニスカスの温度を
、放射高温計によって測定したところ、1450qoで
あった。本発明による方法に用いる、傾斜体形状の基体
は5仇蚊×20肌サイズ、8肌厚さで平均粒度5〜10
側および表面あらさ約2kmを有する粗結晶ケイ素プレ
ート1の女から成るものである。
プレート相互間の距離は0.04肌に保ち、このような
プレートを黒鉛スラィド{こ固定した。傾斜体全体を抵
抗加熱温度調整トンネル内で最初は、90000の温度
に保持した。引っぱりるつぼのスロット様開〇から突出
するメニスカスから1側の距離を保ち、メニスカスを過
ぎて8仇吻/秒の速度で、昇降装置と正確な案内装置を
用いて、傾斜体を垂直上方に移動させた。
プレートを黒鉛スラィド{こ固定した。傾斜体全体を抵
抗加熱温度調整トンネル内で最初は、90000の温度
に保持した。引っぱりるつぼのスロット様開〇から突出
するメニスカスから1側の距離を保ち、メニスカスを過
ぎて8仇吻/秒の速度で、昇降装置と正確な案内装置を
用いて、傾斜体を垂直上方に移動させた。
傾斜体とメニスカスの最初の接触から始まって、傾斜体
を形成するケイ素プレートが、最初は液状であるが迅速
に硬化するケイ素シートによって被覆された。このシー
トは溶融物温度が傾斜体まで冷却するや否や、はく離し
始める。最後に、粘着力によって基体上に保持されてい
たシートも載っているだけになり、基体からはく離され
た。生成するシートは500助長さ、50肌幅および0
.3側厚さであった。このシートは、基体として用いた
ケイ素プレートと同じ粗大結晶構造を有していた。シー
トをはく離した後、傾斜体を再びシート引っぱりプロセ
スに用いることが可能である。全過程を通して、容器内
には1価bar圧力のアルゴン雰囲気を保持した。実施
例 3 この実施例では、用いた傾斜体が50×5仇肋サイズ、
8側厚さの単結晶ケイ素プレート1の叉を、実施例2で
用いたスライドもこ相当する黒鉛スライド上に互いに0
.8側の間隔をおいて、並べたものであること以外は、
実施例2に示したような方法を用いた。
を形成するケイ素プレートが、最初は液状であるが迅速
に硬化するケイ素シートによって被覆された。このシー
トは溶融物温度が傾斜体まで冷却するや否や、はく離し
始める。最後に、粘着力によって基体上に保持されてい
たシートも載っているだけになり、基体からはく離され
た。生成するシートは500助長さ、50肌幅および0
.3側厚さであった。このシートは、基体として用いた
ケイ素プレートと同じ粗大結晶構造を有していた。シー
トをはく離した後、傾斜体を再びシート引っぱりプロセ
スに用いることが可能である。全過程を通して、容器内
には1価bar圧力のアルゴン雰囲気を保持した。実施
例 3 この実施例では、用いた傾斜体が50×5仇肋サイズ、
8側厚さの単結晶ケイ素プレート1の叉を、実施例2で
用いたスライドもこ相当する黒鉛スライド上に互いに0
.8側の間隔をおいて、並べたものであること以外は、
実施例2に示したような方法を用いた。
この場合に、望ましい配向性を有し、50側の長さ、5
物肋の幅および0.3柳の厚さを有する1の女‘こ分離
した、殆んど完全に単結晶のケイ素プレートを得ること
ができた。実施例 4 第2図に示した装置で、ゲルマニウム120夕を溶融し
、高さ3肋および幅6仇吻のス。
物肋の幅および0.3柳の厚さを有する1の女‘こ分離
した、殆んど完全に単結晶のケイ素プレートを得ること
ができた。実施例 4 第2図に示した装置で、ゲルマニウム120夕を溶融し
、高さ3肋および幅6仇吻のス。
ツト様関口を有する引っぱりるつぼ内中へ、徐々に移し
入れた。この溶融物を95000に維持し、約1肋の突
出したメニスカスを形成させた。用いた傾斜体は50柳
×5比肋サイズ、4側厚さで、約2仏mのあらさを有す
る単結晶ゲルマニウムプレート6枚から成るものであっ
た。
入れた。この溶融物を95000に維持し、約1肋の突
出したメニスカスを形成させた。用いた傾斜体は50柳
×5比肋サイズ、4側厚さで、約2仏mのあらさを有す
る単結晶ゲルマニウムプレート6枚から成るものであっ
た。
このプレートを互いに0.04の間隔を保つように、黒
鉛スラィ日こ固定した。傾斜体全体を抵抗加熱温度調整
トンネル内で最初は、57500に保持した。次に、実
施例2に述べた方法に従って、懐斜体を引っぱりるつぼ
から0.5肋の距離を保って、引っぱりるつぼを越して
120柳/秒の速度で移動させた。ゲルマニウムシート
を引っぱり、最後に基体からはく離させ、基体再使用す
ることが出来た。生成した望ましい配向性の単結晶ゲル
マニウムシートは、300側長さ、50伽幅および0.
25側厚さであった。
鉛スラィ日こ固定した。傾斜体全体を抵抗加熱温度調整
トンネル内で最初は、57500に保持した。次に、実
施例2に述べた方法に従って、懐斜体を引っぱりるつぼ
から0.5肋の距離を保って、引っぱりるつぼを越して
120柳/秒の速度で移動させた。ゲルマニウムシート
を引っぱり、最後に基体からはく離させ、基体再使用す
ることが出来た。生成した望ましい配向性の単結晶ゲル
マニウムシートは、300側長さ、50伽幅および0.
25側厚さであった。
全過程を通して、容器内には、1仇hbarのアルゴン
雰囲気を保持した。
雰囲気を保持した。
第1図は「エンドレスベルト」として接触領域を案内さ
れる基体上にシートを引っぱる装置の縦断面図を示した
ものであり「第2図は傾斜体上にシートを引っぱる装置
の縦断面図を示すものである。 1・・・・・・容器、3・・・・・・溶融物生成るつぼ
、6・…・・溢流系、7・・…・引っぱりるつぼ、9…
.・・スロット、10・…・・基体、11・・・・・・
シート、15,25・・・…温度調整トンネル、22・
・・・・・加熱ヒータ、26・・・・・・傾斜体。 Z面F」 Z面F2
れる基体上にシートを引っぱる装置の縦断面図を示した
ものであり「第2図は傾斜体上にシートを引っぱる装置
の縦断面図を示すものである。 1・・・・・・容器、3・・・・・・溶融物生成るつぼ
、6・…・・溢流系、7・・…・引っぱりるつぼ、9…
.・・スロット、10・…・・基体、11・・・・・・
シート、15,25・・・…温度調整トンネル、22・
・・・・・加熱ヒータ、26・・・・・・傾斜体。 Z面F」 Z面F2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 溶融半導体材料を基体に塗布し、硬化を制御し、塗
布した半導体材料を自動的に放出させることから成る望
ましい配向性の粗大結晶から単結晶までの半導体シート
および/またはプレートの製造方法において、溶融半導
体材料を粗大結晶から単結晶までの同じ半導体材料の基
体と接触させ、該基体を接触点を通つて少なくとも75
mm/秒の速度で案内すること、および成長するシート
またはプレートの自動的放出を保証するために、基体を
0.8T_M(T_Mは絶対温度で表わした半導体の融
点)より高くない温度に保持することを特徴とする方法
。 2 溶融半導体材料と基体を溶融物メニスカスを介して
、互いに接触させることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の方法。 3 溶融半導体材料のメニスカスがスロツト様開口によ
つて得られることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
載の方法。 4 半導体材料の溶融物を半導体材料の融点よりも少な
くとも5℃高い温度に保持することを特徴とする特許請
求の範囲第1項から第3項までのいずれか1項に記載の
方法。 5 半導体材料のプレートまたはシートの厚さを基体の
速度によつて決定することを特徴とする特許請求の範囲
第1項から第4項までのいずれか1項に記載の方法。 6 半導体材料としてケイ素を用いることを特徴とする
、特許請求の範囲第1項から第5項までのいずれか1項
に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3132776.1 | 1981-08-19 | ||
DE19813132776 DE3132776A1 (de) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | Verfahren zur herstellung grob- bis einkristalliner folien aus halbleitermaterial |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5832098A JPS5832098A (ja) | 1983-02-24 |
JPS6033798B2 true JPS6033798B2 (ja) | 1985-08-05 |
Family
ID=6139653
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP57100802A Expired JPS6033798B2 (ja) | 1981-08-19 | 1982-06-14 | 粗結晶から単結晶までの半導体材料製造方法 |
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---|---|
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EP (1) | EP0072565B1 (ja) |
JP (1) | JPS6033798B2 (ja) |
AT (1) | ATE25711T1 (ja) |
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DE (2) | DE3132776A1 (ja) |
ZA (1) | ZA824162B (ja) |
Families Citing this family (33)
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DE3518829A1 (de) * | 1985-05-24 | 1986-11-27 | Heliotronic Forschungs- und Entwicklungsgesellschaft für Solarzellen-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen | Verfahren zur herstellung von formkoerpern aus siliciumgranulat fuer die erzeugung von siliciumschmelzen |
FR2592064B1 (fr) * | 1985-12-23 | 1988-02-12 | Elf Aquitaine | Dispositif pour former un bain d'un materiau semi-conducteur fondu afin d'y faire croitre un element cristallin |
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DE4202455C1 (ja) * | 1992-01-29 | 1993-08-19 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
US5314571A (en) * | 1992-05-13 | 1994-05-24 | Midwest Research Institute | Crystallization from high temperature solutions of Si in copper |
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US6402840B1 (en) * | 1999-08-10 | 2002-06-11 | Optoscint, Inc. | Crystal growth employing embedded purification chamber |
JP3656821B2 (ja) | 1999-09-14 | 2005-06-08 | シャープ株式会社 | 多結晶シリコンシートの製造装置及び製造方法 |
EP1088911A1 (en) * | 1999-09-29 | 2001-04-04 | Optoscint Inc. | Continuous crystal plate growth process and apparatus |
JP4111669B2 (ja) | 1999-11-30 | 2008-07-02 | シャープ株式会社 | シート製造方法、シートおよび太陽電池 |
JP4121697B2 (ja) * | 1999-12-27 | 2008-07-23 | シャープ株式会社 | 結晶シートの製造方法およびその製造装置 |
US8021483B2 (en) * | 2002-02-20 | 2011-09-20 | Hemlock Semiconductor Corporation | Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods |
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KR20100123745A (ko) | 2008-02-29 | 2010-11-24 | 코닝 인코포레이티드 | 순수 또는 도핑된 반도체 물질의 비지지 제품을 제조하는 방법 |
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US9567691B2 (en) * | 2008-06-20 | 2017-02-14 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Melt purification and delivery system |
US8545624B2 (en) * | 2008-06-20 | 2013-10-01 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Method for continuous formation of a purified sheet from a melt |
US8475591B2 (en) * | 2008-08-15 | 2013-07-02 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Method of controlling a thickness of a sheet formed from a melt |
US7998224B2 (en) | 2008-10-21 | 2011-08-16 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Removal of a sheet from a production apparatus |
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US8480803B2 (en) * | 2009-10-30 | 2013-07-09 | Corning Incorporated | Method of making an article of semiconducting material |
US8591795B2 (en) * | 2009-12-04 | 2013-11-26 | Corning Incorporated | Method of exocasting an article of semiconducting material |
US8242033B2 (en) * | 2009-12-08 | 2012-08-14 | Corning Incorporated | High throughput recrystallization of semiconducting materials |
US20110168081A1 (en) * | 2010-01-12 | 2011-07-14 | Tao Li | Apparatus and Method for Continuous Casting of Monocrystalline Silicon Ribbon |
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---|---|---|---|---|
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DE2621145C3 (de) * | 1976-05-13 | 1978-11-02 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V., 8000 Muenchen | Verfahren zur Herstellung von Siliciumschichten |
FR2401696A1 (fr) * | 1977-08-31 | 1979-03-30 | Ugine Kuhlmann | Methode de depot de silicium cristallin en films minces sur substrats graphites |
DE2830522A1 (de) * | 1978-07-12 | 1980-01-31 | Licentia Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von folien, baendern oder platten aus silizium |
DE2903061A1 (de) * | 1979-01-26 | 1980-08-07 | Heliotronic Gmbh | Verfahren zur herstellung grosskristalliner vorzugsorientierter siliciumfolien |
FR2455480A1 (fr) * | 1979-05-03 | 1980-11-28 | Anvar | Moyens pour la fabrication de silicium monocristallin sous la forme d'un ruban |
US4251570A (en) * | 1979-11-19 | 1981-02-17 | Honeywell Inc. | Cold substrate growth technique for silicon-on-ceramic |
US4303463A (en) * | 1980-09-29 | 1981-12-01 | Cook Melvin S | Method of peeling thin films using directional heat flow |
-
1981
- 1981-08-19 DE DE19813132776 patent/DE3132776A1/de not_active Withdrawn
-
1982
- 1982-06-14 ZA ZA824162A patent/ZA824162B/xx unknown
- 1982-06-14 JP JP57100802A patent/JPS6033798B2/ja not_active Expired
- 1982-07-12 US US06/397,581 patent/US4447289A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-07-14 CA CA000407272A patent/CA1208525A/en not_active Expired
- 1982-08-02 AU AU86669/82A patent/AU546413B2/en not_active Ceased
- 1982-08-17 AT AT82107466T patent/ATE25711T1/de not_active IP Right Cessation
- 1982-08-17 EP EP82107466A patent/EP0072565B1/de not_active Expired
- 1982-08-17 DE DE8282107466T patent/DE3275564D1/de not_active Expired
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AU546413B2 (en) | 1985-08-29 |
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