JPS6031312A - 高周波電圧信号のスイツチング回路 - Google Patents

高周波電圧信号のスイツチング回路

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Publication number
JPS6031312A
JPS6031312A JP58140114A JP14011483A JPS6031312A JP S6031312 A JPS6031312 A JP S6031312A JP 58140114 A JP58140114 A JP 58140114A JP 14011483 A JP14011483 A JP 14011483A JP S6031312 A JPS6031312 A JP S6031312A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thyristor
scr
voltage
impressed
gate
Prior art date
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Pending
Application number
JP58140114A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Shirai
白井 清
Tatsuo Shimura
志村 辰男
Tadaaki Kariya
苅谷 忠昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP58140114A priority Critical patent/JPS6031312A/ja
Publication of JPS6031312A publication Critical patent/JPS6031312A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/72Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices having more than two PN junctions; having more than three electrodes; having more than one electrode connected to the same conductivity region
    • H03K17/73Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices having more than two PN junctions; having more than three electrodes; having more than one electrode connected to the same conductivity region for dc voltages or currents
    • H03K17/732Measures for enabling turn-off

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)
  • Thyristor Switches And Gates (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、超音波振動子などに用いる高周波電圧信号の
スイッチング回路に関するものである。
〔発明の背景〕
最近の超音波診断装置は短冊状の超音波振動子を複数個
並べたアレー状の探触子を用い電子走査形のものが開発
されている。ここで電子走査形のうち、リニア走査形の
ものについてその原理を第1図を用いて説明する。同時
に励振する振動素子1(以下エレメントと称す)K個(
第1図ではに=4)をひとつのグループとして、これを
1個のエレメントずつ切換えて選択移動させながら、図
のようにアレー状に配置された振#素子に沿って超音波
ビームを走査線L1〜Ln−4+1で示す如く励振する
つまり順次走査するものである。ここでエレメント総数
をn、同時動作させるエレメント数をKとすれば、リニ
ア走査による。超音波ビームの走査総数Mは、M=n−
に+1でちる。今、N=100.に=4とすれば、第1
走査ラインLsは、≠1〜Φ4のエレメントに接続され
ているパルサP1〜P4を駆動する。次に第2走査ライ
ンL2は、P2〜P5のパルサを駆動することによシ得
られる。以下同様の手順を繰り返し、上記アレーに沿っ
て97本の走査ラインを得ることができる。このため、
走査ラインを大きくすると、それだけバルサーの数が増
加する。したがって、笑用的には、切換回路を用いてバ
ルサの数を大巾に減らしている。この場合の装置を第2
図に示す。
第2図の装置は、ニレメン)1とバルサP】〜P4をマ
トリックス状に配置し、図に示す対角線上の交点にのみ
スイッチS!・・・snを設けたものである。第2図に
示す構成にょ匂、バルサの数は最低同時に動作するエレ
メント数にまで減少できる。しかしながら、バルブで発
生する超音波診断装置用の圧電振動子、駆動用パルスは
一般に周波数1〜10MHz、約200 V Peak
 to Peakツバ−スト波が用いられる。このよう
な高周波かつ高圧のパルスを切換えるためには、この高
周波パルスを通過させることができる高耐圧のスイッチ
ング素子を必要とする。このための切換手段として、特
開昭56−90625号公報に示される様な、逆回復時
間の長いダイオードを使用することが知られている。
しかし、制御電圧を高くする必要かおるため、集積回路
化には問題があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は上記欠点を除去し、制御電圧が低く集積
回路化に好適な高周波電圧信号のスイッチング回路を提
供する仁とにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成する本発明の特徴とするところは、高周
波電圧信号が印加される入出力端子間に接続されたサイ
リスタと、サイリスクの制御端子に接続され、サイリス
タを導通状態にする電圧を印加する端子と、サイリスク
の入力端子側に接続され、サイリスタを非導通状態にす
る゛電圧を印加する端子とを具備することにある。
本発明の好ましい実施例を述べると、入力端子と上記サ
イリスクとの間に少なくとも一つのダイオードが直列に
接続されることにある。
〔発明の実施例〕
本発明の第1の実施例を第3図(a)の回路図及び第3
図(b)のタイムチャートをもとに説明する。サイリス
タ(以後SCRと称す)を導通状態とするためには、ゲ
ート信号Vaとともにメインの電源VKを印加する。ま
たSCRは、保持電流以上の電流が流れていればVcが
なくてもオン状態を持続することができる。この期間に
高周波パルスを通過させる。また、SCRをオフするに
は、VxをOVとすることによりメイン電流が保持電流
以下となシ強性的にオフとなる。この方式の欠点として
、SCRの誤点弧現象が発生するためにターンオフ時間
(t、rt)を短くできない。これは、システムとして
より高速化を狙うことに逆行する。
またSCRは遮断状態であっても、SCR自身の接合容
量によシ高周波に対し、インピーダンスが見かけ上小さ
くなりSCRのアノード側でVKP−Pに比例した漏話
(クロストーク)が発生する。これはノイズの1成分と
なシ圧電素子をたたく恐れがあシ、漏話量の低減が望ま
れている。
これらの点に注目し、本発明の第2の実施例は漏話量の
低減及びLff の短縮可能とする回路方式を提供する
ことを目的とする。
かかる目的を達成するために本発明の第2の実施例にお
いては、SCRのカソード部に少なくとも一つのダイオ
ードを直列接続し、かつ、SCR17時にゲートに逆バ
イアスを印加することを特徴とする。
以下、本発明の第2の実施例の回路構成とタイミングチ
ャートを第4図に示す。SCR,オフ時に、ゲートを逆
バイアスすることは、jofl の短縮に有効であるが
、せいぜwsv8[である。なぜなら80RのJ3接合
の逆耐圧は7〜IOV程匿であるためJ3接合の保獲を
目的としてダイオードを直列接続しである。これにより
ゲート逆バイアス電圧Vcをダイオードの耐圧まで増大
させることが可能とな” 、”off 短縮効果も犬と
なる。その効果で第5図に示す。また、高周波パルスを
半導体素子を用いてスイッチングを行う場合、遮断状態
でらっても半導体素子自身の接合容量により高周波パル
スの一部を通してしまう現象(以下漏話)が発生する。
しかしながらゲートを逆バイアスにすることによシ漏話
量を減少することが可能である。その効果を第6図に示
す。更にSCRのカソード側にダイオードを直列に接続
することによシ、トータルの接合容量は、ダイオードと
SCRの接合容量の直列接続となるため低下する傾向が
ある。第7図にSCRのカソード側にダイオードを多数
個接続した時の漏話量の低減効果を示す。
このようにカソード側にダイオードを1ヶ以上直列接続
することにより、漏話量の低減および、J3接合耐圧以
上のゲートを逆バイアスする事が可能となるため、to
 f 1 および漏話■の低減が可能となシ、従来回路
の欠点を改善できる。
具体的な実施例を第8図に示す。ザイリスタSC几のゲ
ートは、NPN)ランジスタ11を介し、負のバイアス
を与えている。入力信号がOFFとなるとインバータ1
2がONとなりNPN)ランジスタ11がONとなシゲ
ートを負のバイアスが印加される。また本実施例におい
ては、下記保護回路を内蔵し、ている。高周波パルスの
スイッチングをサイリスタSCRを用いて行う場合には
、急峻な立上り又は立下りの電圧が印加されると接合容
量を充電する電流が流れるためpn−Illのbuil
d in potential (=0.7V)以上と
なシ誤点弧する現象が発生する。このような誤点弧を防
止するためには、通常、スナバ回路又は第9図のように
ゲートとカソード間(以後G−に間)に抵抗とコンデン
サーが接続される。抵抗は低周波ノイズに対し、また高
周波に対しては、コンデンサーによりG−に間をbui
ld in potentia1以下とし誤点弧を防止
する。しかしながらICプロセスにおいてのコンデンサ
ーの製作はチップの増大につながるため事質的には不可
能である。本実施例においては、第10図に示す保強回
路を用いコンデンサーの代替としている。その効果を第
111図に示す。G−に間にコンデンサーを接続する場
合には、20pF以上が必要である。しかし、この保護
回路は、20pF以上の効果を具備している。これは、
通常の接合容量は1〜2pFであるから、トランジスタ
を用いることによシ接合谷量C1の(1+β)倍(β:
エミッタ開放電流増幅率であり10〜500)として働
いていると予想される。この保護回路素子は高耐圧が要
求されないため比較的容易にIC化することが可能であ
る。
〔発明の効果〕
以上述べた様に、本発明によれば制御電圧が低く、集積
回路化に好適な高周波電圧信号のスイッチング回路を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来のリニア電子スキャンの概念
的説テ図、第3図はサイリスタ方式のスイッチング回路
とタイミングチャート、第4図は本発明を説明するため
の回路図とタイミングチャート、第5図はターンオフタ
イムのゲート逆バイアス電圧依存性を示すグラフ、第6
図は漏話率のゲート逆バイアス電圧依存性を示すグラフ
、第7図はサイリスタのカソード側にダイオードを直列
接続することにより漏話率を低減する効果を示すグラフ
、第8図は具体的な回路実施例を示す図、第9図は従来
のdv/dt保餓回路図、810図は実施例に内蔵され
たd■/dt保護回路図、第11図はこのdV/dt保
護回路と従来のdv/dt保護回路の比較を示す図であ
る。 第 1 m 妬 20 暦3 の 叫 VAO−−−−−− 第 40 ((L) 猪 5 口 第 6 口 TCr (7) 第 7 口 カソード禮11直列タイオード才妄純嬰虻(4固)第 
8 口 第 11 図 10 20 !so yoo 200(PF)crx

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、高周波電圧信号が印加される入出力端子間に接続さ
    れたサイリスクと、上記サイリスタの制御端子に接続さ
    れ、上記ティリスクを導通状態にす−る電圧を印加する
    端子と、上記サイリスタの入力端子側に接続され、上記
    サイリスタを非導通状態にする電圧を印加する端子とを
    具備することを特徴とする高周波電圧信号のスイッチン
    グ回路。 2、特許請求の範囲第1項に於いて、上記入力端子と上
    記サイリスクとの間に少なくとも一つのダイオードが直
    列に接続されることを特徴とする高周波電圧信号のスイ
    ッチング回路。
JP58140114A 1983-07-29 1983-07-29 高周波電圧信号のスイツチング回路 Pending JPS6031312A (ja)

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JP58140114A JPS6031312A (ja) 1983-07-29 1983-07-29 高周波電圧信号のスイツチング回路

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JPS6031312A true JPS6031312A (ja) 1985-02-18

Family

ID=15261237

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JP58140114A Pending JPS6031312A (ja) 1983-07-29 1983-07-29 高周波電圧信号のスイツチング回路

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JP (1) JPS6031312A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61159905U (ja) * 1985-03-27 1986-10-03
EP0387890A1 (en) * 1989-03-17 1990-09-19 Hitachi, Ltd. Method of transmitting pulse signal and apparatus therefor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61159905U (ja) * 1985-03-27 1986-10-03
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