JPS6029051B2 - 熱輻射基準源装置 - Google Patents
熱輻射基準源装置Info
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- JPS6029051B2 JPS6029051B2 JP52082071A JP8207177A JPS6029051B2 JP S6029051 B2 JPS6029051 B2 JP S6029051B2 JP 52082071 A JP52082071 A JP 52082071A JP 8207177 A JP8207177 A JP 8207177A JP S6029051 B2 JPS6029051 B2 JP S6029051B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
- G01J5/53—Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は熱幅射の基準源に関し、比較法により温度の無
接触測定を解決するものであ。
接触測定を解決するものであ。
光検温において被測定物上の温度分布を写真技術法を用
いて調べる際にネガフィルムの画像城（フィールド）上
に既知温度の熱幅射源も写真撮影する必要がある。
いて調べる際にネガフィルムの画像城（フィールド）上
に既知温度の熱幅射源も写真撮影する必要がある。
写真撮影した既知温度の基準源と未知温度の被測定物と
を比較し、フィルム上に表わされる２つの対象物のフィ
ルム層の黒化度の光度測定によって被測定物の未知温度
を測定し得る。この測定はこれまでは鮫正されたフラッ
トフィラメントランプを用いた実験法でなされておりこ
の場合にフィラメントの温度はランプの製造業者が各許
容供給電流の強さに対して見し、出していた。このラン
プの欠点はそのフィラメントの寸法が小さすぎる、即ち
数平方ミリメートルのオーダでありこのためフィラメン
トを含むランプの領域よりも１併音以上も大きな対象物
を比較し得ないということである。これらのランプの別
の欠点はランプが相当高価でありかつその衝撃感度の故
に種々の作動条件で信頼性をもって使用し得ないという
ことにある。上述の欠点は本発明に係る無接触温度測定
用熱幅射基準源を用いることにより解消される。
を比較し、フィルム上に表わされる２つの対象物のフィ
ルム層の黒化度の光度測定によって被測定物の未知温度
を測定し得る。この測定はこれまでは鮫正されたフラッ
トフィラメントランプを用いた実験法でなされておりこ
の場合にフィラメントの温度はランプの製造業者が各許
容供給電流の強さに対して見し、出していた。このラン
プの欠点はそのフィラメントの寸法が小さすぎる、即ち
数平方ミリメートルのオーダでありこのためフィラメン
トを含むランプの領域よりも１併音以上も大きな対象物
を比較し得ないということである。これらのランプの別
の欠点はランプが相当高価でありかつその衝撃感度の故
に種々の作動条件で信頼性をもって使用し得ないという
ことにある。上述の欠点は本発明に係る無接触温度測定
用熱幅射基準源を用いることにより解消される。
そのため本発明によれば保護ガード内に配置される電気
的に加熱されたセラミック加熱素子に連結される放熱タ
ーゲットを有し、前記保護ガードは外部放熱源から放熱
ターゲット上に投射される光の制限ダイヤフラムを具備
する無接触温度測定用放熱基準源が提供される。本発明
に係る熱放射基準源の利点は高精度で対象物の表面温度
の無接触測定を行い得ると共に熱幅射ターゲットの面積
は必要な大きさに選定したままターゲット上に大きな均
一分布温度領域を有するということにある。
的に加熱されたセラミック加熱素子に連結される放熱タ
ーゲットを有し、前記保護ガードは外部放熱源から放熱
ターゲット上に投射される光の制限ダイヤフラムを具備
する無接触温度測定用放熱基準源が提供される。本発明
に係る熱放射基準源の利点は高精度で対象物の表面温度
の無接触測定を行い得ると共に熱幅射ターゲットの面積
は必要な大きさに選定したままターゲット上に大きな均
一分布温度領域を有するということにある。
更に別の利点は装置を容易に移動かつ使用し得るように
小型であるということである。以下添付図面に従って説
明する。
小型であるということである。以下添付図面に従って説
明する。
熱幅射基準源は耐火性材料で形成される平板状の熱幅射
ターゲット（放熱ターゲット）５を有し、該ターゲット
の正面には正確な測定熱電対１２が取り付けられその分
枝（ブランチ）はターゲット５の表面温度が熱移動のた
めに熱電対１２のワイヤによって影響を受けないような
薄さである。
ターゲット（放熱ターゲット）５を有し、該ターゲット
の正面には正確な測定熱電対１２が取り付けられその分
枝（ブランチ）はターゲット５の表面温度が熱移動のた
めに熱電対１２のワイヤによって影響を受けないような
薄さである。
ターゲット５は環状リング４内にねじ込まれる止ねじ９
によって適所に保持される。ねじ９の端部は鋭利にされ
その鋭端の側部でターゲット５の背面をセラミック素子
群１１に押し付け、その結果セラミック素子群１１とタ
ーゲット５との間には妨害空気ギャップは生じない。ね
じ９は保護ガードーの溝孔内を遊挿しターゲット５が全
体基準源を組立た後で動き得るようにしその結果ターゲ
ット全領域上の温度の均一分布を保証する最適位置を見
つけることができる。絶縁チューブないし好ましくは長
円形のセラミック２重毛細管で形成されるセラミック素
子系１１を通して加熱コイル１０は導かれ制御トランス
フオーマ及び／又はその他の適当な電流源に連結し得る
。セラミック素子系１はねじ１８により２つの同一の環
状リング４間にクランプされかつ保護ガード１内にねじ
込まれるねじ８により中心位置に保持される。ねじ８の
先端は環状リング４の周簿内に豚まり込み組立体を熱損
失を最小にして中心位置に保持する。全体は妨害外部光
線がターゲット５上に投射しないうに制限ダイヤフラム
３を具えたカバ−２を有する保護ガードー内に組立てら
れる。ダイヤフラム３はターゲット５の正面前方に位置
する。カバー２は保持ねじ６によって保護ガード１のジ
ャケット内に保持される。保護ガード１は絶縁ブシュ１
３を有し、該ブシュは一方では加熱コイル１０への連結
を通すのに役立ち他方では同一熱電対１２，１７の個々
の支線を通すのに役立つ。熱電対１２，１７の一方はタ
ーゲット５の表面温度を測定し、他方は必要ならば自動
温度制御を行うように設計される。熱電対１２，１７の
ワイヤは絶縁ビード１４によって基準源のシャーシと接
触しないように保護される。導線の端部はねじ１６によ
って保護ガードーに固定される端子箱１５内にクランプ
される。熱幅射基準源はスタンドを有しそれにより三脚
台あるいはその他の所望場所に固定し得る。本発明に係
る熱幅射基準源は例えば熱幅射中に被テスト感知ユニッ
トを取付り外す必要なく幅射高温計を鮫正するのに用い
得る。種々の作動条件でなされる測定は十分正確であり
かつ鮫正は３０分を越えない比較的短い時間間隔で行わ
れ得る。斯くして基準源は高価な鮫正用炉にとって代わ
り得る。更にまた本発明は光温度記録用に用いることも
及び／又は種々の材料あるいは異なる表面上を有する材
料等の放射率を調べるための比較源としても用い得る。
によって適所に保持される。ねじ９の端部は鋭利にされ
その鋭端の側部でターゲット５の背面をセラミック素子
群１１に押し付け、その結果セラミック素子群１１とタ
ーゲット５との間には妨害空気ギャップは生じない。ね
じ９は保護ガードーの溝孔内を遊挿しターゲット５が全
体基準源を組立た後で動き得るようにしその結果ターゲ
ット全領域上の温度の均一分布を保証する最適位置を見
つけることができる。絶縁チューブないし好ましくは長
円形のセラミック２重毛細管で形成されるセラミック素
子系１１を通して加熱コイル１０は導かれ制御トランス
フオーマ及び／又はその他の適当な電流源に連結し得る
。セラミック素子系１はねじ１８により２つの同一の環
状リング４間にクランプされかつ保護ガード１内にねじ
込まれるねじ８により中心位置に保持される。ねじ８の
先端は環状リング４の周簿内に豚まり込み組立体を熱損
失を最小にして中心位置に保持する。全体は妨害外部光
線がターゲット５上に投射しないうに制限ダイヤフラム
３を具えたカバ−２を有する保護ガードー内に組立てら
れる。ダイヤフラム３はターゲット５の正面前方に位置
する。カバー２は保持ねじ６によって保護ガード１のジ
ャケット内に保持される。保護ガード１は絶縁ブシュ１
３を有し、該ブシュは一方では加熱コイル１０への連結
を通すのに役立ち他方では同一熱電対１２，１７の個々
の支線を通すのに役立つ。熱電対１２，１７の一方はタ
ーゲット５の表面温度を測定し、他方は必要ならば自動
温度制御を行うように設計される。熱電対１２，１７の
ワイヤは絶縁ビード１４によって基準源のシャーシと接
触しないように保護される。導線の端部はねじ１６によ
って保護ガードーに固定される端子箱１５内にクランプ
される。熱幅射基準源はスタンドを有しそれにより三脚
台あるいはその他の所望場所に固定し得る。本発明に係
る熱幅射基準源は例えば熱幅射中に被テスト感知ユニッ
トを取付り外す必要なく幅射高温計を鮫正するのに用い
得る。種々の作動条件でなされる測定は十分正確であり
かつ鮫正は３０分を越えない比較的短い時間間隔で行わ
れ得る。斯くして基準源は高価な鮫正用炉にとって代わ
り得る。更にまた本発明は光温度記録用に用いることも
及び／又は種々の材料あるいは異なる表面上を有する材
料等の放射率を調べるための比較源としても用い得る。
第１図は本発明に係る放熱基準源の一実施例を示す長手
方向断面図、第２図は第１図のＡ−Ａ線断面図。 １・・・・・・保護ガード、２・・・・・・カバー、３
・・・・・・制限ダイヤフラム、５……ターゲット、１
１……セラミック素子系、１２，１７・・・・・・熱電
対。 私Ｚらイ
方向断面図、第２図は第１図のＡ−Ａ線断面図。 １・・・・・・保護ガード、２・・・・・・カバー、３
・・・・・・制限ダイヤフラム、５……ターゲット、１
１……セラミック素子系、１２，１７・・・・・・熱電
対。 私Ｚらイ
Claims (1)
- １ 保護ガード内に配置される平板状熱幅射ターゲツト
の背面に電気的に加熱されるセラミツク加熱素子を接触
せしめると共に該熱幅射ターゲツトの前面前方の前記保
護ガードに外部放熱源からの熱幅射ターゲツト上への光
投射を制御する制限用ダイヤフラムを設けたことを特徴
とする無接触温度測定用熱幅射基準源装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS4633-76 | 1976-07-13 | ||
| CS764633A CS190760B1 (en) | 1976-07-13 | 1976-07-13 | Reference source of the heat radiation |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5328481A JPS5328481A (en) | 1978-03-16 |
| JPS6029051B2 true JPS6029051B2 (ja) | 1985-07-08 |
Family
ID=5389549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52082071A Expired JPS6029051B2 (ja) | 1976-07-13 | 1977-07-11 | 熱輻射基準源装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4184066A (ja) |
| JP (1) | JPS6029051B2 (ja) |
| AT (1) | AT379450B (ja) |
| CS (1) | CS190760B1 (ja) |
| DE (1) | DE2731660A1 (ja) |
| FR (1) | FR2358646A1 (ja) |
| GB (1) | GB1534846A (ja) |
| HU (1) | HU180977B (ja) |
| SE (1) | SE7707854L (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4387301A (en) * | 1981-04-20 | 1983-06-07 | Hughes Aircraft Company | Target for calibrating and testing infrared detection devices |
| US4433246A (en) * | 1981-05-12 | 1984-02-21 | Varian Associates, Inc. | Blackbody radiation source for producing constant planar energy flux |
| US4598206A (en) * | 1983-07-06 | 1986-07-01 | The Gillette Company | Infrared radiation reference |
| US4922116A (en) * | 1988-08-04 | 1990-05-01 | Hughes Aircraft Company | Flicker free infrared simulator with resistor bridges |
| EP0539355B1 (en) * | 1988-08-04 | 1995-01-11 | Hughes Aircraft Company | Flicker-free infrared simulator with resistor bridges |
| US5010251A (en) * | 1988-08-04 | 1991-04-23 | Hughes Aircraft Company | Radiation detector array using radiation sensitive bridges |
| US4883364A (en) * | 1988-11-14 | 1989-11-28 | Barnes Engineering Company | Apparatus for accurately measuring temperature of materials of variable emissivity |
| DE4241617C2 (de) * | 1992-12-10 | 1996-02-08 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Schwarzer Strahler |
| CN108709644B (zh) * | 2018-07-27 | 2023-11-24 | 中国铁道科学研究院集团有限公司 | 无砟轨道板靶标及红外测温系统的标定方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1768519A (en) * | 1926-03-01 | 1930-06-24 | Hector P Maclagan | Device for producing infra-red rays |
| US2784335A (en) * | 1953-02-04 | 1957-03-05 | Distillers Co Yeast Ltd | Infra-red radiation source |
| FR1078794A (fr) * | 1953-06-15 | 1954-11-23 | Dispositif de chauffage électrique de panneaux radiants infra-rouge | |
| US3100828A (en) * | 1959-09-08 | 1963-08-13 | Jacobs Gerhard | Source of radiation for infrared spectrophotometers |
| US3138697A (en) * | 1962-10-16 | 1964-06-23 | Barnes Eng Co | Black body radiation sources |
| US3205343A (en) * | 1962-10-19 | 1965-09-07 | North American Aviation Inc | Blackbody source |
| US3419709A (en) * | 1966-05-25 | 1968-12-31 | North American Rockwell | Blackbody radiating device with a protective hood |
| US3536919A (en) * | 1968-01-22 | 1970-10-27 | Gen Electric | Infrared radiation source with improved ceramic glower rod mounts |
| DE1936245A1 (de) * | 1969-07-16 | 1971-02-04 | Beckman Instruments Gmbh | Infrarotstrahleranordnung |
| US3702391A (en) * | 1969-10-24 | 1972-11-07 | Rohr Industries Inc | Infrared concentrating emitter |
| US3602693A (en) * | 1969-11-20 | 1971-08-31 | Sylvania Electric Prod | Infrared radiation source |
-
1976
- 1976-07-13 CS CS764633A patent/CS190760B1/cs unknown
-
1977
- 1977-07-05 SE SE7707854A patent/SE7707854L/ not_active Application Discontinuation
- 1977-07-11 JP JP52082071A patent/JPS6029051B2/ja not_active Expired
- 1977-07-12 AT AT0499277A patent/AT379450B/de not_active IP Right Cessation
- 1977-07-12 FR FR7721556A patent/FR2358646A1/fr active Granted
- 1977-07-13 US US05/815,431 patent/US4184066A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-07-13 GB GB29387/77A patent/GB1534846A/en not_active Expired
- 1977-07-13 HU HU77VI1136A patent/HU180977B/hu unknown
- 1977-07-13 DE DE19772731660 patent/DE2731660A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2731660A1 (de) | 1978-01-19 |
| CS190760B1 (en) | 1979-06-29 |
| DE2731660C2 (ja) | 1988-01-28 |
| SE7707854L (sv) | 1978-01-14 |
| US4184066A (en) | 1980-01-15 |
| GB1534846A (en) | 1978-12-06 |
| ATA499277A (de) | 1985-05-15 |
| FR2358646B1 (ja) | 1981-01-30 |
| FR2358646A1 (fr) | 1978-02-10 |
| HU180977B (en) | 1983-05-30 |
| AT379450B (de) | 1986-01-10 |
| JPS5328481A (en) | 1978-03-16 |
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