JPS6027926Y2 - 光学式位置検出器 - Google Patents

光学式位置検出器

Info

Publication number
JPS6027926Y2
JPS6027926Y2 JP2301781U JP2301781U JPS6027926Y2 JP S6027926 Y2 JPS6027926 Y2 JP S6027926Y2 JP 2301781 U JP2301781 U JP 2301781U JP 2301781 U JP2301781 U JP 2301781U JP S6027926 Y2 JPS6027926 Y2 JP S6027926Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
main scale
scale
position detector
reading head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP2301781U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57135919U (ja
Inventor
栄一 塚田
寅之助 伊沢
茂樹 小川
Original Assignee
日本電信電話株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電信電話株式会社 filed Critical 日本電信電話株式会社
Priority to JP2301781U priority Critical patent/JPS6027926Y2/ja
Publication of JPS57135919U publication Critical patent/JPS57135919U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6027926Y2 publication Critical patent/JPS6027926Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、精密な位置読取りや、精密な位置決めを必要
とする各種の精密測定器、工作機械などに使われる光学
式リニアエンコーダに係り、とくに、例えば光ビーム記
憶装置などの情報検索装置における微細間隔の高速・高
精度の位置検出器として、使いやすく、かつ小型・軽量
にしたものに関する。
一般に従来の光学式位置検出器(リニアエンコーダ)は
メインスケールとインデックススケール上に同一ピッチ
の刻線パターン(目盛=格子縞状位置検出マーク)を形
成し、1ピッチ分が相対的に移動したとき、光量変化の
電気信号出力が三角波形に1サイクル現われることを利
用している。
例えばガラスやプラスチックの透明基板を用い、2枚の
透明基板の上にそれぞれに等間隔の白黒の格子縞状マー
クを形成して、一方を固定のメインスケールとし、他方
をそれと対向させた可動のインデックススケールとして
使用したリニアエンコーダがある。
この種のリニアエンコーダはその動作形式から透過形と
反射形とに大別される。
即ち、第1図は、従来からリニアエンコーダとして使わ
れている透過形の光学式位置検出器の構成概略図で、1
は固定のメインスケール、2はインデックススケールで
、メインスケール1とインデックススケール2の表面に
は、ともに、第2図に示すように、直線上に長さlのピ
ッチで幅l/2の光透過用白組および幅1/2の黒縞が
交互に格子縞状に配列された位置検出マークを有してい
る。
第1図にもどり、3は可動の読取りヘッドで、図に示す
矢印部方向すなわち固定のメインスケール1の長手方向
に相対的に変位できるものである。
4は光源として用いる発光素子、5は光検出素子で、イ
ンデックススケール2、発光素子4、光検出素子5はす
べて読取りヘッド3の上に搭載されている。
しかし、実際的には、照明光の非平行光性、回折光、2
つのスケール間の反射などが存在するために光量のリー
クを生じたり、最大光量まで到達できないためにピーク
が丸みを帯びて、光量変化は正弦波に近づいたものにな
る。
すなわちコントラストが低下する。
このコントラストはスケール透過後の受光素子(光検出
素子)までの光路長が長くなるほど低下する。
さらにこの透過基板を使った透過方式の位置検出器では
、光源として用いる発光素子と、2つのスケールの透過
部分を通過した透過光量に応じて電気信号を発生させる
光検出素子とを、これら2つのスケールの反対側に対向
させて配置させねばならず、発光素子と光検出素子とイ
ンデックススケールとを搭載して移動する読取りヘッド
の小型軽量化には物理的に限度があり、とくに、固定の
メインスケールの表面と表面のほか、上ないし下の面の
いずれかをも読取りヘッドの移動空間としてあけておか
ねは゛ならず、リニアエンコーダ自体のみならず、この
リニアエンコーダを組込んで使用する装置全体の小型化
に支障をきたす欠点があった。
一方反射形リニアエンコーダは前記透過形に比し装置の
小形化には適応し得るが、特性上つぎの点で透過形より
劣っている。
すなわち、■スリットからの反射光を利用するので、コ
ントラストが悪くなり、信号振幅が小さい。
■2つのスケール間隔を狭くすると相互反射や干渉の発
生が大きくなる。
■これらのことより精確な位置信号が得られにくい。
本考案はこのような透過形のすぐれた特性を有し且つ反
射形の利点である装置の小形化とを狙ってなされたもの
で、そのために、光源としては固定のメインスケールの
裏面に配置した反射面から反射光を疑以的に用い、発光
素子と光検出素子とインデックススケールをメインスケ
ールの同一側面に配備することによって、小型・軽量の
読取りヘッドを得るようにしたもので、固定のメインス
ケールの表面だけを空間とすればよくなるので、スペー
スの限られた装置にも組込むことが可能な光学式位置検
出器を提供するものである。
以下図面を参照して本考案の実施例について詳細に説明
する。
第3図は、本考案の一実施例を示す光学式位置検出器の
構成断面図で、1は固定のメインスケールで、2はイン
デックススケール、4は発光素子であり、インデックス
スケール2と発光素子4はメインスケール1に対し同じ
側面において可動の読取りヘッド(図示せず)の上に搭
載されており、発光素子4から出射する光束は、中心光
軸をメインスケール1に対して入射角度θ1を有して照
射している。
6はインデックス・スケール2の表面上で、第2図に示
した格子縞状の位置検出マークを形成しているパターン
形成膜で、本実施例ではクロム蒸着膜■である。
7はメイン・スケール1の表面上で、クロム蒸着膜■6
と同じ第2図に示した格子縞状の位置検出マークを形成
しているパターン形成膜で、本実施例ではインデックス
スケール2上のクロム蒸着膜■6の形成部分に相対する
部分でメイン・スケール1の表面上の上下方向の約17
2の部分に蒸着されたクロム蒸着膜■である。
8はメイン・スケール1の裏面に配置された反射面であ
り、本実施例ではメイン・スケール1のほぼ全面に蒸着
を行ったアルミ反射膜である。
5は光検出素子で、可動の読取りヘッド(図示せず)に
搭載されており、発光素子4から出射してメイン・スケ
ール1に入射角θ□で入射したのち反射面8によって反
射されてクロム蒸着膜■7と、インデックススケール2
の表面のクロム蒸着膜■6の透過用白組部分を通った光
量に応じて電気信号を出力する。
このようにして、発光素子(4)と、インデックススケ
ール2、クロム蒸着膜■6、光検出素子5が可動の読取
りヘッド(図示せず)の上に搭載されて一体となって、
メインスケール1の長手方向(第3図では、紙面に垂直
方向)に移動したとき、クロム蒸着膜■6と固定のメイ
ンスケール1上のクロム蒸着膜■7との相対位置によっ
て、lの周期でほぼ正弦波状に変化する電気出力が光検
出素子5から位置情報して得られる。
なお、上記実施例では、メインスケール1−の裏面に反
射膜を蒸着した例を示したが、メインスケール1の表面
後方に、たとえば表面反射ミラー等をほぼ密着させて配
置しても同様の効果が得られる。
また、上記実施例では、固定のメインスケール1の表面
上の上下方向の約172の部分に格子縞状の位置検出マ
ークとしてパターン形成膜を作った例を示したが、パタ
ーン形成膜をメインスケール1の表面全体に形成させて
も、発光素子4からメインスケール1に入射する光量が
ほぼ半分に低下するだけで、位置検出器として同様の効
果が得られる。
以上説明したように、本考案によれば、固定のメインス
ケールの表面側の一側面のみを可動の読取りヘッド用の
移動空間としてあけておけばよいので、光学式位置検出
器を組込んで使用する装置の小型化に太いに寄与する利
点を有する。
また、可動の読取りヘッド上に搭載する発光素子と光検
出素子とも間隔も、従来からの透過方式のリニア・エン
コーダと比べて、物理的に狭くすることができるので、
読取りヘッドを小型・軽量にし得る利点を有し、とくに
、この読取りヘッドを搭載して高速で精密な位置決め検
索動作を行うランダムアクセスアクチュエータの高速化
に寄与す利点となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の透過層光学式位置検出器の構成概略斜
視図、第2図はスケール上の位置検出マークの説明図、
第3図は本考案の一実施例の断面図である。 1・・・・・・メインスケール、2・・・・・・、fン
デックススケール、3・・・・・・読取りヘッド、4・
・・・・・発光素子、5・・・・・・光検出素子、6・
・・・・・クロム蒸着膜■、7・・・・・・クロム蒸着
膜■、8・・・・・・反射面。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 固定のメインスケールと可動のインデックスケールと、
    光発生機構及び前記2つのスケールを透過した光を検出
    する検出機構を有する読取りヘッドとよりなる光学式位
    置検出器において、透明基板でできているメインスケー
    ルの裏面側に反射面を配置し、さらに、前記メインスケ
    ールを表面側から照射する光を発生する発光素子及びこ
    の発生光を前記反射面で反射し、前記メインスケール及
    びインデックススケールを透過した光を受けて電気信号
    を発生させる光検出素子よりなる読取りヘッドを、前記
    メインスケールに対し同じ表面側に備えたことを特徴と
    する光学式位置検出器。
JP2301781U 1981-02-20 1981-02-20 光学式位置検出器 Expired JPS6027926Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2301781U JPS6027926Y2 (ja) 1981-02-20 1981-02-20 光学式位置検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2301781U JPS6027926Y2 (ja) 1981-02-20 1981-02-20 光学式位置検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57135919U JPS57135919U (ja) 1982-08-25
JPS6027926Y2 true JPS6027926Y2 (ja) 1985-08-23

Family

ID=29820787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2301781U Expired JPS6027926Y2 (ja) 1981-02-20 1981-02-20 光学式位置検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6027926Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57135919U (ja) 1982-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4943716A (en) Diffraction-type optical encoder with improved detection signal insensitivity to optical grating gap variations
US4677293A (en) Photoelectric measuring system
CA1163094A (en) Interferometer
US5120132A (en) Position measuring apparatus utilizing two-beam interferences to create phase displaced signals
US5448358A (en) Optical apparatus and displacement-information measuring apparatus using the same
US20100134790A1 (en) Optoelectronic longitudinal measurement method and optoelectronic longitudinal measurement device
JPS6333604A (ja) 相対変位測定装置
JPH06258102A (ja) 測定装置
JPH04157319A (ja) 影絵パターンを利用するエンコーダ
US7718952B2 (en) Information carrier
US4988864A (en) Photoelectric angle measuring device with adjacent order interference
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
CN205279996U (zh) 一种基于光学倍频的纳米位移计量传感器及检测仪
JPS6027926Y2 (ja) 光学式位置検出器
US5184014A (en) Opto-electronic scale reading apparatus
US5497226A (en) Quadrature diffractive encoder
JPS6152403B2 (ja)
US5148019A (en) Moving amount detecting method using a shadow picture diffraction interference pattern
JPS58135405A (ja) 光電式変位検出装置
JP2005274429A (ja) 形状測定装置
JP4401852B2 (ja) 光学式変位測定装置
JPH04238223A (ja) 位置検出装置
CN116336971A (zh) 一种光栅分束镜、角度测量装置及方法
JP3369110B2 (ja) 光電式エンコーダ
JPH07270121A (ja) 位置センサ