JPS6027347U - 線条体の外観試験装置 - Google Patents
線条体の外観試験装置Info
- Publication number
- JPS6027347U JPS6027347U JP11943883U JP11943883U JPS6027347U JP S6027347 U JPS6027347 U JP S6027347U JP 11943883 U JP11943883 U JP 11943883U JP 11943883 U JP11943883 U JP 11943883U JP S6027347 U JPS6027347 U JP S6027347U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- striatum
- test device
- appearance test
- appearance
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11943883U JPS6027347U (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 線条体の外観試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11943883U JPS6027347U (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 線条体の外観試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6027347U true JPS6027347U (ja) | 1985-02-23 |
JPH0429401Y2 JPH0429401Y2 (fr) | 1992-07-16 |
Family
ID=30274113
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11943883U Granted JPS6027347U (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 線条体の外観試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6027347U (fr) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276403A (ja) * | 1986-05-24 | 1987-12-01 | Nikon Corp | 形状測定装置 |
JP2006510876A (ja) * | 2002-12-03 | 2006-03-30 | オー ジー テクノロジー インコーポレイテッド | 圧延・引き抜き金属棒等工作物の表面傷検出装置及びその方法 |
WO2011052130A1 (fr) * | 2009-10-28 | 2011-05-05 | 株式会社ニレコ | Dispositif de détection de saillie et procédé de détection de saillie |
JP2011089927A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Fujitsu Ltd | 光走査装置および光走査方法 |
WO2012147132A1 (fr) * | 2011-04-27 | 2012-11-01 | 株式会社ニレコ | Appareil et procédé de détection de forme irrégulière |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4913688U (fr) * | 1972-05-08 | 1974-02-05 | ||
JPS502654A (fr) * | 1973-05-11 | 1975-01-11 | ||
JPS559170A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Fujikura Ltd | Surface flaw detector |
-
1983
- 1983-07-29 JP JP11943883U patent/JPS6027347U/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4913688U (fr) * | 1972-05-08 | 1974-02-05 | ||
JPS502654A (fr) * | 1973-05-11 | 1975-01-11 | ||
JPS559170A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Fujikura Ltd | Surface flaw detector |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276403A (ja) * | 1986-05-24 | 1987-12-01 | Nikon Corp | 形状測定装置 |
JP2006510876A (ja) * | 2002-12-03 | 2006-03-30 | オー ジー テクノロジー インコーポレイテッド | 圧延・引き抜き金属棒等工作物の表面傷検出装置及びその方法 |
JP2011089927A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Fujitsu Ltd | 光走査装置および光走査方法 |
WO2011052130A1 (fr) * | 2009-10-28 | 2011-05-05 | 株式会社ニレコ | Dispositif de détection de saillie et procédé de détection de saillie |
JP2011095051A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Nireco Corp | 突起物検出装置及び突起物検出方法 |
CN102197275A (zh) * | 2009-10-28 | 2011-09-21 | 株式会社尼利可 | 突起物检测装置及突起物检测方法 |
TWI480509B (zh) * | 2009-10-28 | 2015-04-11 | Nireco Corp | 突起物偵測裝置以及突起物偵測方法 |
WO2012147132A1 (fr) * | 2011-04-27 | 2012-11-01 | 株式会社ニレコ | Appareil et procédé de détection de forme irrégulière |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0429401Y2 (fr) | 1992-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6027347U (ja) | 線条体の外観試験装置 | |
JPS6124138U (ja) | タレツト旋盤における自動計測装置 | |
JPS60121454U (ja) | 半田付等の検査装置 | |
JPS6133192U (ja) | 散乱光式煙感知器の試験装置 | |
JPS58120913U (ja) | 表面欠陥検出装置 | |
JPS59186868U (ja) | ホログラム読取り装置 | |
JPS6049482U (ja) | 物体通過検出装置 | |
JPS60118980U (ja) | 移動物体の検知装置 | |
JPS59151143U (ja) | 分光計用光学装置 | |
JPS6044222U (ja) | 光学式記録又は再生装置のスキユ−検出装置 | |
JPS58117545U (ja) | 光学読取装置 | |
JPS6096154U (ja) | 車両のル−ムランプ装置 | |
JPS59172367U (ja) | 走査型エキソ電子検出装置 | |
JPS6037807U (ja) | 光学式デイスクのピツト測定器 | |
JPS6015640U (ja) | 温度検出装置 | |
JPS6098053U (ja) | X線分析装置におけるサンプル検出器 | |
JPS5942956U (ja) | 硝子ビンのきず検出装置 | |
JPS5893859U (ja) | 単結晶のカツト面検査装置 | |
JPS59163950U (ja) | 光学素子検査装置 | |
JPS58105646U (ja) | ラベル読取装置 | |
JPS5915966U (ja) | 非破壊試験器 | |
JPS5836350U (ja) | 超音波検査装置の探触子 | |
JPS60176553U (ja) | 電子部品のリ−ド線検査装置 | |
JPS5950042U (ja) | 信号再生光学系 | |
JPS5997456U (ja) | 反射率測定器 |