JPS60254546A - イオン注入装置用制御装置 - Google Patents

イオン注入装置用制御装置

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JPS60254546A
JPS60254546A JP11023784A JP11023784A JPS60254546A JP S60254546 A JPS60254546 A JP S60254546A JP 11023784 A JP11023784 A JP 11023784A JP 11023784 A JP11023784 A JP 11023784A JP S60254546 A JPS60254546 A JP S60254546A
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JP
Japan
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controller
transmission
information
controllers
ion implantation
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Pending
Application number
JP11023784A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumihiko Nakada
中田 文彦
Masahiko Aoki
青木 正彦
Yasuyuki Haneda
羽田 泰幸
Kuniharu Tagami
田上 邦治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
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Publication of JPS60254546A publication Critical patent/JPS60254546A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) この発明は、イオン注入装置用制御装置に関する。
(先行技術の説明) 第1図は、従来のいわゆる大電流型イオン注入装置用の
制御装置を示すブロック図である。大電流型イオン注入
装置においては、イオン電流が数mA〜10mA程度で
あり、エンドステーション1における「りTハディスク
2が、イオンビーム31をターゲットのつ]−ハ4に均
一に注入するために回転・並進運動を行う。
制御装置中のエンドステーションコントローラ6、シス
テムコントローラ8、ンシンーコントローラ10、イン
フッ1−ス」ニット12、注入コントローラ1/I、加
速コントロニラ16およびマスコント[1−ラ18は、
それぞれ、CPjJ(中央処理装置、以下同じ)を備え
る。
マシンコントローラ10は、キーボード、CR1゛J3
よびフロッピィディスク等を備えており、これらにより
種々のデータ設定を行い、また、各」ントローラからの
モニタ信号をインタフェースユニット12を通し′C読
み込み、状態表示を行う。
システムコントローラ8は、真空系の制御および装置の
状態監視を行う。注入コントローラ14は、これにドー
ズ吊、ウェハサイズ等の注入条件を与えることにより、
つ1ハデイスク2の並進運動をステッピングモータドラ
イバ20を経由して制御する。加速二1ントローラ16
は、設定された電圧に加速電圧を調整する。マスコント
ローラ18は、設定されたマスナンバーのイオンビーム
を得ることかできるように分析マグネット22に与える
電流の調整を行う。イオン源コントローラ24は、イオ
ン源30におCブるプラズマ発生の手動操作パネルであ
る。ガスセレクト26は、イオン源30にお(プるプラ
ズマ発生のためのガス試料選択のためのコントロー)′
C:ある。ビームコント[1−ラ28は、マスコントロ
ーラ18の表示パネルであり、ビーム引出電圧の設定を
行う。エントスデージョンコントローラ6は、ウェハハ
ンドリングを制御づる。テレメータ32は、大地側と高
電圧部3とのデータの送受信を行うユニットである。
イオン源コントローラ24によりイオン源30にプラズ
マを発生させ、ビーl\コントローラ28により引出電
圧の印加を制御し、イオン源30からイオンビーム31
を引出す。加速コントローラ16により、加速管5にお
【プる加速電圧を設定し、注入エネルギーを決定する。
イオンビーム吊に比例した信号を注入=1ントローラ1
4が受けて、つ1ハ4への′11人制御を行う。尚、イ
オン注入前にはウェハ4をウェハディスク2に装填し、
注入路7’ 11つ」ハ4をディスク2から取り出1゜
第2図は、従来のいわゆる中電流型イオン注入装置用の
制御装置を示すブロク゛り図である。中電流型イオン注
入装置においては、イオン電流が1mA程度であり、Q
レンズ34によりビームを集束させ走査電極36により
ビームを走査することにより注入室47内のウェハ48
の全面にビームを照射する。
制御装置中のエントスデージョンコントローラ38、真
空コントローラ40、加速コントローラ42およびマス
コントローラ44は、それぞれ、CP Uを備える。
マシンコントローラ46は、キーボード、CRFおよび
フロッピィディスク等を備えでおり、これらにより注入
条件の設定等を行い、装置の状態を監視する。加速コン
ト[1−ラ42およびマスコントローラ44は、それぞ
れ、前述した大電流型のものと同様の機能を右する。高
電圧セットアツプ50では、イオン源52の操作等を行
う。ガスセレクト51は、前述した大電流型のものと同
様の機能を右づる。真空コントローラ40は、装置の真
空系の制御を行う。エンドステーションコン1〜ローラ
38は、ウェハ48のハンドリング制御を行う。モード
ファラデー54は、注入モードを選択し、スキ17ンビ
ームを使用するかスポットビームを使用するかを決める
。低電圧ゼットアップ56T:は、ビーム収束用のQレ
ンズ電極34に印加する電圧の調整およびビーム走査用
の走査電極36に印加する電圧の調整を行う1.)ルメ
ータ58は、前述した大電流型のものと同様の機能を有
する。
高電圧セットアツプ5 ’0によりイオン源52の立ち
上げを行い、イオンllj;i52からイオンビーム5
3を引き出ず。加速コントローラ42により注入1ネル
ギーを設定する。ビーム集束用のQレンズ34およびビ
ーム走査幅を調整−りることにより、注入室47内のつ
]ニハ48の全面にビームを照射する。尚、ウェハ48
は、エンドステージフンコントローラ38により注入室
47にまで移動させられ、イオンH人後取り出される。
しかしながら、第1図あるいは第2図に示した従来の制
御装置においては、各コントローラからの信号がインタ
フェースユニット12あるいはマシンコントローラ46
に並列に入っており、更にコン1〜コ]−ラ間での信号
の受渡しもあるため、それらの間を接続するケーブル数
が膨大になるという問題に加えて、制御機能を拡張した
り修正したりする場合、一つのコントローラたりではな
く色々なコントローラのソフトウェアやハードウェアを
修正づる必要があり、システムの拡張や修正が容易でな
いという問題もある。
(発明の目的) この発明は、ケーブル数を低減することができ、しかも
システムの拡張や修正が容易なイオン注入装置用制御装
置を提供することを目的とする。
(実施例の説明) この発明は、イオン注入のための複数群の制御をそれぞ
れ局部的に分散して行う複数の制御手段と、前記制御手
段の各々にそれぞれ接続されていて、情報の送信および
受信を制御する複数の伝送手段と、前記伝送手緩をルー
プ状に接続する伝送路とを備えることを特徴とするイオ
ン注入装置用制御装置である。以下、この発明を実施例
に基づいて説明する。
第3図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。この実施例に係る制御装Vは、イオン注入のための複
数群の制御をそれぞれ局部的に分散して行う複数のコン
トローラ61〜67と、このコントローラ61〜67の
各々にそれぞれ接続されていて、情報の送信および受信
を制御する複数の伝送部71〜77と、この伝送部71
へ・77をループ状に接続する1本の伝送路80とを備
える。各コントローラ間の情報の転送は各々の伝送部を
経由して行われる。ホストコントローラ61、マシンコ
ント[1−ラ62およびマンマシンインタフェースコン
1ヘローラ63でオペレータコンソール81を構成して
おり、この制御装置は、オペレータコンソール81、メ
インコント1]−ラ64、ハンドリング−1ント〔1−
ラ65、マシンインタフェースコントローラ66および
注入コントローラ67を中心とする五つのサブシステム
に分けで考えることがCきる。
メインコン1〜〇−ラ64には、真空計や各種リミッ1
〜スイッチな・どの測定器82や、バルブ84、引出系
やビームラインのための真空ポンプ86等が接続されて
いる。このメインコントローラ64により、イオン注入
装置の真空ポンプやバルブのシーケンス制御および電源
や一各種用役の状態監視を行う。本制御装置は、自動ど
手動のモードを備えており、自動時には、このコント[
1−ラ64のみでシーケンス制御を行うことができ、手
動時には、オペレータコンソール81からこのコントロ
ーラ64を経由して装置を制御することができる。。
装置の状態は、適当なタイミングで伝送路80上に乗せ
られ、他のコントローラがこれを読み込む。
これの詳細は、第4図および第5図を用いて後で説明す
る。
ハンドリングコントローラ65には、ウェハハンドリン
グのための光センサ88、真空ポンプ901バルブ92
およびモータ94等が接続されている。このハンドリン
グコントローラ65によりウェハのハンドリングを制御
する。自動時には、このコントローラ65のみで制御を
行うことができる。この場合、メインコントローラ64
からの情報によりタイミングを決定する。手動時には、
オペレータコンソール81からこのコントローラ65を
経由してウェハのハンドリングを制御することができる
。イオン注入装置の状態(例えば、ウェハの処理状況等
)は、適当なタイミングで伝送路80上に乗ら仕れ、伯
のコントローラ(主とし゛Cオペレータコンソール81
)がこれを読み込む。
マシンインタフェースコントローラ66には、テレメー
タ96や真空削客の測定器100等が接続されている。
テレメータ96には、イオン源電源、引出電源、分析マ
グネット電源、加速電源等の各種の電?1Pi98が接
続されている。尚、中電流型イオン注入装置に対しては
、電[98にはQレンズ電源および走査電源が含まれて
いる。このマシンインタフェースコントローラ66によ
り、測定器のデータの読込み、電源のパフメータの読込
み、電源のパラメータ制御を行う信号の出力等が行われ
る。読み込まれたデータは、伝送路80に乗せられてオ
ペレータ」ンソール81に渡される。
また、パラメータ制御信号はオペレータ」ンソール81
から送られて来る。
オペレータコンソー・ル81中のホストコントローラ6
1は、ホストコンピュータとの通信を制御する。マシン
−」ント[1−ラ62は、各種のスイッチや表示器を備
えており、イオン注入条件のマニュアル設定等を行う。
マンマシンインタフェース」ン1〜ローラ63は、キー
ボード、CRT、フロッピィディスク等を備えており、
イオン注入条件の設定等を行う。このようなコント[J
−ラを備えたオペレータコンソール81は、イオン注入
装置運転時の操作車であり、CRT画面上に操作のガイ
ダンスを表示し、ファンクシコンキーとテンし−とによ
り操作を行う。また、イオン注入装置の状態は他のコン
トローラから送られてくるデータを元にしてG R’1
一画面トに表示される。自動時には、イオン源の立ち上
げ、ビーム引出し、ビーム集束等の調整制御のための制
御信号を伝送路80上に¥lj V’?:’各コントロ
ーラ、に与える。例えば、マシンインタフニー・スニJ
ントローラ66は、その制御信号に基づき各電源等に制
御信号を与える。更にオペレータコンソール81は、ホ
ストコンピュータとの通信を行い、外部からの条件設定
の読込み、イオン注入装置の処理情報の送信等を行う。
これはユーザー側のFDPのためのものCある。
注入コント[J−ラ67を中心とするサブシステム10
8は、大電流型イオン注入装置のためのものであり、中
電流型には必要はない。注入コントローラ67には、ウ
ェハディスク駆動機411i104のためのステッピン
グモータを駆動するステッピングモータドライバ102
やビーム電流をAID変換する変換器106が接続され
ている。この注入コントローラ67により、ビーム電流
に基づいてウェハの装填されたディスクの並進速度の制
御が行われる。
次に、前述した各コントローラおよび伝送部につき更に
説明する。第4図は、コントローラおよび伝送部を示す
ブロック図である。コントローラ60は前述したコント
ローラ61〜67を一般的に示したものであり、伝送部
70は前述した伝送部71〜77を一般的に示したしの
rある。コントローラ60は、互いに接続されたCPU
601、メモリ602およびI10インタフ1−・ス6
03を備える。I10インタフェース603には、前述
した各種の周辺機器が接続される。伝送部70ば、互い
に接続された受信部701、送信部702およびインタ
フェース部703を備える。インタフェース部703に
は、前述した伝送路80が接続されている。
伝送路80に接続されていて、各々が伝送部、コントロ
ーラおよび周辺機器から成るザブシステムを局と呼ぶこ
とができるが、この制御装置においては、親局−子局(
または1次局−2次局、またはマスター局−スレープ局
)という考えは無く全局が平等である。
受信部701は、伝送路80から情報が送られてぎたら
これを取り込み、他局情報(他局が伝送路80に出力し
た情報)であればこれを送信部702へ送ると共に、選
別を行い自局にとって必要であれば選別情報を処理情報
に変遷してコントローラ60に送る。一方送化部702
は、常に受信部701から送られてくる他局情報および
コント[1−ラ60からの送信情報を読み取りこれを内
部のメモリにバッフ7リングしておき、送信タイミング
になるたびにバッファリングされている送信情報を伝送
路80へ送信する。尚、この実施例に43いでは、=1
ン1〜ローラ60からの送信情報は、送信元アドレス(
局番号)を付加することにより伝送路80を一巡(ある
いは数回巡回)して送信元に戻った時に消滅させるよう
にしている。また、この実施例にj3いては、インタフ
ェース部703は、伝送路80をバイパスするリレーを
備えており、これにより自局をバイパスさせることがで
きこの制御装置にJ3ける情報フレームの伝送形態とし
では、各局間の各伝送部のそれぞれに情報フレー・ムを
乗けるマルチフレーム伝送方式を採用しでいる3、これ
を第4図および第5図を用いて説明りる。第5図は、第
4図の伝送部70に入力される情報D・および伝送部7
0から出力される情報Doを示す概略図である。伝送部
70は、所定の伝送遅れで、人力情報D・を出力情報り
。とじて伝送する。この場合、例えば情報aを伝送中に
コントロー960より伝送情報Aが発生した場合を考え
てみると、情報Aを即座に送信することはできない。ど
ころか、入力情報oi中に伝送ずべき情報が無いとぎは
、空きスロットとしてFl−1ΔGを送っており(例え
ば、第5図中のスロットSL参照〉、送信部702はこ
の空ぎスロットを見付けて情報Aを送信するようにして
いる。
前述したような制御装置においては、各コントローラ間
を接続する伝送ケーブルが1本で済む。
これにより、従来の制御装置に比べてケーブル費ffl
謄上rvtr−プノし倉ぬ、泌誌曽田ル÷緑L−J口■
ることができる。また、イオン注入装置においては、高
電圧部−1特にイオン源からのザージ対策が重要な課題
であるが、各コントローラ間を接続するケーブル数が最
少になることにより、ザージ対策も非常にやり易くなる
更に、前述のような制御装置においては、各コントロー
ラ間が伝送部により結合されているため、システムの機
能拡張が他のコン1ヘローラを修正することなく容易に
行える。また、機能拡張性が優れでいることtま、削除
性°b優れていることを意味している。即ち、機能をオ
プション設定できるので、コーーザは最適のシステムを
最小のコストで入手できることになる。上記機能拡張の
例としては、[1ボツト制御の導入がある。即ち、イオ
ン注入装置は雰囲気中のほこりを嫌うため、これにロボ
ット機能を追加して無人化を図ることも考えられる。
更に、この制御装置においては、サブシステムの故障が
全システムに波及することはない。また、インタフェー
ス部に備えであるバイパスリレーによってサブシステム
をバイパスすることもできる。
らちるん、故障したサブシステムの修理、取替えも容易
である。また、自局で送った情報が正しくループして自
局に戻ってき−Cいるか否かを常にチェックすることも
でき、誤動作を防止することもできる。更に保守面にお
いては、ソフトウェアによる自己診断機能を豊富に盛り
込むことにより、トラブルシューティングの時間短縮が
可能となる。
例えば、オペレータコンソールから各コント1コーシの
状態をチェックし、コントロー・う内のどのプリント基
板が異常であるかを判断することもできる。
(発明の効果) 以」ニ説明したように、この発明によれば、ケーブル数
を従来のものに比べて大幅に低減Jることができる。ま
た、システムの拡張や修正が容易になる。更に、ザブシ
ステムの故障が全システムに波及することもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のいわゆる大電流型オン注入製路用の制
御装置を示すブロック図である。第2図は、従来のいわ
ゆる中電流型イオン注入装置用の制御装置を示づブロッ
ク図である。第3図は、この発明の−・実施例を示タブ
ロック図である。第4図は、」ントローラおよび伝送部
を水ずブロック図ぐある。第5〕図は、第4図の伝送部
に入力される情報J3 J:び伝送部から出力される情
報を示す概略図Cある。 60・−67・・・コントローラ、70〜77・・・伝
送部、80・・・伝送路 代理人 弁理士 山本恵二 弁理士 古田茂明 弁理士 有田貴弘

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) イオン注入のための複数群の制御をそれぞれ局
    部的に分散して行う複数の制御手段と、前記制御手段の
    各々にそれぞれ接続されCいて情報の送信および受信を
    制御覆る複数の伝送手段と、 前記伝送手段をループ状に接続する伝送路とを備える、
    イオン注入装置用制御装置。
JP11023784A 1984-05-30 1984-05-30 イオン注入装置用制御装置 Pending JPS60254546A (ja)

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