JPS6025422A - ダブルビ−ム測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はダブルビーム測光装置に係シ、特にラーングル
側光路とリファレンス側光路とを有する分光蛍光光度計
用として好適なＪ−、形化が可能なダブルビーム測光装
置に関するものでおる。

〔発明の背景〕

従来の分光光度計においては、サンプル側およびリフア
レ側にそれぞれ独立したフォトカブジーを備えておシ、
回転ミラーと同期したサンプリングパルスを発生するよ
うにしである。しかし、この場合は、回転ミラーと同じ
軸にフォトカプラー用回転円板を取り付けねばならず、
この部分の機構が複雑になるという欠点がある。

〔発明の目的〕

本発明は」二足に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、回転ミラー機構にザンプル側ケートハルス
発生器やリファレンス側ゲートハルス発生器を直結する
必要がなく、ｌＪｈ形化が可能なダブルビーム測光装置
を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、シンクロナスモータは電源の周波数に同期し
て回転することに着目してなされたもので、回転ミラー
をシンクロナスモータで回転させ、このシンクロナスモ
ータの交流電源の交流波形を時間基準として上記回転ミ
ラーの回転に同期したサンプル側サンプリングゲートパ
ルスとり７アレンス側サンプリングゲートパルスを発生
するサンプリングゲートパルス発生手段と、上記各サン
プリングゲートパルスを用いてサンプル側信号とリファ
レンス側信号とをサンプリングするサンプリング手段と
を具備した構成としたことを特徴としている。

〔発明の実施例〕

以下本発明を第１図、第２図に示した実施例を用いて詳
細に説明する。

第１図は本発明のダブルビーム測光系の機構部の一実施
例を示す構成説明図であり、分光蛍光光度用のものを示
しである。飲用にあたっては、第１図のものを試料室に
セツトシ、オプション機能のダブルビーム測光、すなわ
ち、差スペクトルの測定を行う。第１図において、１は
励起光光軸、２は蛍光光軸を示し、３は回転ミラー、４
，５はトロイドミラー、６，７はミラー、８はサンプル
側試料セル、９はリファレンス側試料セル、１０は回転
ミラー３を回転させる４極のシンクロナスモータである
。試料室に入射した励起光は、トロイダルミラー４によ
シ向きを変えられると同時に集光される。一方、４極の
シンクロナスモータ１０によシ回転ミラー３が回転して
おシ、回転ミラー３は、２枚羽根の形状をしておシ、ミ
ラーが１８０°の位相差で２個設けてアシ、そのうちの
１つのミラーが上記の集光された励起光束を反射させて
サンプル側試料セル８に向わせる。このとき、回転ミラ
ー３の他方のミラーがサンプル側試料セル８の試料が発
する蛍光を反射させてトロイドミラー５に向わせる。そ
して、トロイドミラー５で反射集光された蛍光光束は、
蛍光側光学系へ向う光束となる。回転ミラー３のミラー
が集光された励起光束より外れて、上記励起光束がミ２
−６で反射されたときは、その励起光束がリファレンス
側試料セル９へ向い、このときは、回転ミラー３の他方
のミラーがやはｐ蛍光よｐ外れて、リファレンス側試料
セル９の試料が発する蛍光がミラー７で反射され、さら
にトロイドミラー５で反射集光されて蛍光側光学系へ向
う。

第１図に示すダブルビーム測光系の機構部全体は、分光
蛍光光度計の試料室に着脱可能としておシ、そのため、
回転ミラー３と同一回転軸に回転円板を取り付けて、２
個のフォトカブジーでサンプル側およびリファレンス側
のサンプリングパルスを作シ出すだけのスペースの余裕
はない。そこで、本発明においては、第１図の機構部の
下方または上方に発光ダイオード１１およびフォトトラ
ンジスタ１２を取り伺け、リファレンス側測定状態のと
きには、回転ミラー３のミラーが上下方向（紙面に直角
の方向）にきているから、回転ミラー３の何れかのミラ
ーによって発光ダイオード１１からの光を反射させ、そ
の反射光をフォトトランジスタ１２で受光してフォトト
ランジスタ１２を導通状態とするようにし、このフォト
トランジスタ１２によって回転ミラー３がリファレンス
側測定状態にあることを読み取るようにしである。

第２図は本発明のダブルビーム測光系の電気回路の一実
施例を示す回路図である。第２図において、１３は引算
回路、１４は第１波形整形回路、１５は第２波形整形回
路、１６は信号振り分は回路、１７は回転ミラー位置粗
読み取シ回路、１８はサンプリングゲートパルス発生回
路、１９はバランス調整用パリオーム、２０はサンプル
ホールド回路である。

サンプルホールド回路２０は、第１波形整形回路１４、
第２波形整形回路１５、信号振り分は回路１６、サンプ
リングゲートパルス発生回路ｊ８を介して供給されるサ
ンプリングゲートパルスによシサンプル側信号およびリ
ファレンス側信号をサンプリングしてホールドする。引
算回路１３は、（サンプル側信号）−（リファレンス側
信号）の演算を行うもので、外部にバランス調整用パリ
オーム１９が接続してアシ、サンプル側とリファレンス
側の利得のバランスを取れるようにしである。

第１波形整形回路１４は、交流電源よシ読み取った波形
を増幅し、かつ、その周波数を２倍にする。

第２波形整形回路工５は、第１波形整形回路１４からの
出力パルスのパルス幅をわずかに狭くし、後でサンプリ
ングゲートパルスとして使用したときに、サンプリング
側とリファレンス側との干渉が生じないようにする。信
号振ｐ分は回路１６は、第２波形整形回路１５からの出
力パルスをサンプル側ゲート回路用とリファレンス側ゲ
ート回路用とに振９分けるもので、Ｄフリップフロップ
が使用してあり、これのＤ入力には、第１図のフォトト
ランジスタ１２の出力信号の整形回路である回転ミラー
位置粗読み取シ回路１７よりの信号が供給されており、
サンプル側とリファレンス側とが逆に振り分けられるこ
とがないようにしである。

サンプリングゲートパルス発生回路１８は、信号振シ分
は回路１６で振シ分けられたサンプル側ゲート回路用パ
ルスとリファレンス側ゲート回路用パルスを入力してラ
ンプリングゲートパルスを発生してサンプルホールド回
路２０に与える。

」二足した本発明の実施例によれば、サンプル側とリフ
ァレンス側のサンプリングゲートパルスを得るのに、回
転ミラー３と同期した信号を得るための回転円板を回転
ミラー３の回転軸に取り付ける必要がなく、回転ミラー
３をシンクロナスモータ１０の軸に直結して機構部を小
形化することができる。

なお、上記した実施例では４極のシンクロナスモータ１
０を用いているが、２極のシンクロナスモータを用いる
ようにしてもよく、マた１１回転ミラーの回転数がシン
クロナスモータの回転数の２倍になるように増速機構を
設けた場合は、回転ミ・ラー位置粗読み取）回路１７を
省略しても、２枚羽根の回転ミラー３を用いる限りでは
、サンプル側とリファレンス側とが逆になることはない
。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、回転ミラー機構
にサンプル側ゲートパルス発生器やリファレンス側ゲー
トパルス発生器を直結する必要がなく、小形化が可能で
あるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を適用した機構部の一実施例を示す構成
説明図、第２図は本発明を適用した電気回路の一実施例
を示す回路図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、回転軸対称に２枚のミラーを設けた２枚羽根形状の
   回転ミラーを備え、前記一方のミラーで反射された光束
   を一方の試料セルに導き、前記回転ミラーの回転によシ
   前記ミラ〜が移動したときに別に設けた固定ミラーで反
   射された光束を他方の試料セルに導くようにしてなるダ
   ブルビーム測光系において、前記回転ミラーをシンクロ
   ナスモータで回転させ、該シンクロナスモータの交流電
   源の交流波形を時間基準として前記回転ミラーの回転に
   同期したザンプル側サンプリングゲートパルスとリファ
   レンス側サンプリングゲートパルスを発生するサンプリ
   ングゲートパルス発生手段と、前記各サンプリングゲー
   トパルスを用いてサンプル側信号とリファレンス側信号
   とをサンプリングするサンプリング手段とを具備するこ
   とを特徴とするダブルビーム測光装置。 ２、前記シンクロナスモータは、４極のものであシ、該
   シンクロナスモータの回転数と前記回転ミラーの回転数
   との関係が１対２となる増速機構を備えている特許請求
   の範囲第１項記載のダブルビーム測光系。 ３、前記シンクロナスモータは４極のものであシ、前記
   サンプリングゲートパルス発生手段は、周波数を２倍に
   する手段と、前記回転ミラーの位置検出器からの信号に
   より前記回転ミラーが光束をす／グル側試料セルに導く
   状態になっているかリファレンス側試料セルに導く状態
   になっているかを読み取る回転ミラー位置読み取シ回路
   とを備えている特許請求の範囲第１項記載のダブルビー
   ム測光装置。