JPS594654B2 - キユウコウコウドブンセキソウチ - Google Patents
キユウコウコウドブンセキソウチInfo
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- JPS594654B2 JPS594654B2 JP4336575A JP4336575A JPS594654B2 JP S594654 B2 JPS594654 B2 JP S594654B2 JP 4336575 A JP4336575 A JP 4336575A JP 4336575 A JP4336575 A JP 4336575A JP S594654 B2 JPS594654 B2 JP S594654B2
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 6
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、吸光光度分析装置に係りなお特に同期検波方
式の吸光光度分析装置に関するものであ5 る。
式の吸光光度分析装置に関するものであ5 る。
吸光光度分析装置は、試料物質あるいは試料物質または
試料物質の溶液もしくはそれに適当な試薬を加えて呈色
させた溶液などの吸光度を測定して試料中の目的成分の
濃度を求める吸光光度分析方法を用いた分析装置である
。10−般に吸光光度分析装置は、回転セクターで試料
光束と基準光束を一定周期で断続するチョッピング方式
が採用されているが、指示計器を動作させるために最終
の出力信号として直流信号が要求されている。
試料物質の溶液もしくはそれに適当な試薬を加えて呈色
させた溶液などの吸光度を測定して試料中の目的成分の
濃度を求める吸光光度分析方法を用いた分析装置である
。10−般に吸光光度分析装置は、回転セクターで試料
光束と基準光束を一定周期で断続するチョッピング方式
が採用されているが、指示計器を動作させるために最終
の出力信号として直流信号が要求されている。
15このため吸光光度分析装置は、交流を直流に整流す
るための検波回路を必要とする。
るための検波回路を必要とする。
この検波回路には、被整流信号の同期信号と同じ周波数
の交流成分のみを位相を弁別して整流する同期整流回路
がある。ク0 この同期整流回路を用いた吸光光度分析
装置は、同期検波式の吸光光度分析装置と呼ばれる。
の交流成分のみを位相を弁別して整流する同期整流回路
がある。ク0 この同期整流回路を用いた吸光光度分析
装置は、同期検波式の吸光光度分析装置と呼ばれる。
従来の同期検波方式を用いた吸光光度分析装置を第1図
を参照して説明する。第1の光源11を出た光束B、は
、試料セル12ク5 を過し、第1の検出器13に集光
され検知される。
を参照して説明する。第1の光源11を出た光束B、は
、試料セル12ク5 を過し、第1の検出器13に集光
され検知される。
一方、第2の光源14を出た光束B2は、基準セル15
を透過し、第2の検出器16に集光され、検知される。
光束B1と光束B2は、第1の回転セクター17と第1
の回転セクターを回転させるモー?0 夕18によつて
一定周期で断続される。前記第1の検出器13によつて
検知された試料光束B1は、交流信号の第1の出力信号
E1に光電変換され、リード線19を通じて差動増幅器
20に送られる。一方前記第2の検出器16で検知され
た基準光束95B2は、交流信号の第2の出力信号E2
に光電変換され、リード線21を通じて差動増幅器20
に送られる。差動増幅器20は、第1の出力信号E、と
Q、−第2の出力信号E2の入力信号の差に比例する増
幅された出力信号E3を与えるものである。
を透過し、第2の検出器16に集光され、検知される。
光束B1と光束B2は、第1の回転セクター17と第1
の回転セクターを回転させるモー?0 夕18によつて
一定周期で断続される。前記第1の検出器13によつて
検知された試料光束B1は、交流信号の第1の出力信号
E1に光電変換され、リード線19を通じて差動増幅器
20に送られる。一方前記第2の検出器16で検知され
た基準光束95B2は、交流信号の第2の出力信号E2
に光電変換され、リード線21を通じて差動増幅器20
に送られる。差動増幅器20は、第1の出力信号E、と
Q、−第2の出力信号E2の入力信号の差に比例する増
幅された出力信号E3を与えるものである。
差動増幅器20で増幅された第3の出力信号E3は、リ
ード線22を通つて整流作用をおこなうためのスイツチ
部23に送られる。また、電流を流すと光を発生する発
光素子24と、発光素子により発生した光を検知する受
光素子25と、前記第1の回転セクター16のモータ軸
に設けられ受光素子25により検知される光を一定周期
で断続する第2の回転セクター26によつて得られたパ
ルス波形の同期信号E4はリード線27を通じてスイツ
チ部23に送られる。前記差動増幅器20によつて増幅
され、スイツチ部23に送られた第3の出力信号E3は
、同期信号E4により動作されるスイツチ部例えば電磁
石とリードスイツチの組合せによつて整流され、直流信
号の第4の出力信号E,となる。この第4の出力信号E
5は、リード線28を通じて指示計器29に送られ、測
定値を指示する。この従来の同期検波方式を用いた吸光
光度分析装置は、同期信号を発生させるため機構例えば
発光素子、受光素子、その電源等が独立に必要であり、
構造が複雑になつていた。この発明の目的は、上述の欠
点を除き、構造が簡単な吸光光度分析装置を提供するこ
とにある。
ード線22を通つて整流作用をおこなうためのスイツチ
部23に送られる。また、電流を流すと光を発生する発
光素子24と、発光素子により発生した光を検知する受
光素子25と、前記第1の回転セクター16のモータ軸
に設けられ受光素子25により検知される光を一定周期
で断続する第2の回転セクター26によつて得られたパ
ルス波形の同期信号E4はリード線27を通じてスイツ
チ部23に送られる。前記差動増幅器20によつて増幅
され、スイツチ部23に送られた第3の出力信号E3は
、同期信号E4により動作されるスイツチ部例えば電磁
石とリードスイツチの組合せによつて整流され、直流信
号の第4の出力信号E,となる。この第4の出力信号E
5は、リード線28を通じて指示計器29に送られ、測
定値を指示する。この従来の同期検波方式を用いた吸光
光度分析装置は、同期信号を発生させるため機構例えば
発光素子、受光素子、その電源等が独立に必要であり、
構造が複雑になつていた。この発明の目的は、上述の欠
点を除き、構造が簡単な吸光光度分析装置を提供するこ
とにある。
本発明の吸光光度分析装置の一実施例を第2図を参照し
て説明する。第1図と同一部分は、同一符号で示してあ
る。第1の光源11を出た試料光束B,は、試料セル1
2を透過され、第1の検出器13に集光され、検知され
る。
て説明する。第1図と同一部分は、同一符号で示してあ
る。第1の光源11を出た試料光束B,は、試料セル1
2を透過され、第1の検出器13に集光され、検知され
る。
一方第2の光源14を出た基準光束B2は一般に赤外線
を吸収しないガスを封入したものを恒温で使用する基準
セル15を透過され、第2の検出器16に集光され、検
知される。光源11,14は、赤外線を放射するもので
、一般にニクロム線または炭化ケイ素に電流を流して赤
熱したものを用いている。また試料セル12は、試料ガ
スを入れる容器で、一般に試料ガスが連続して流れるよ
うに作られ、光軸方向に赤外線透過材料の窓をもつてい
るものである。第1の検出器13は、試料セル12の試
料ガスによる赤外線の吸収を検知するものであり、第2
の検出器16は、基準セル15の赤外線を吸収しないガ
スによる赤外線の吸収すなわちブランク値を検知するも
のである。試料光束B,と基準光束B2は、光源11,
14とセル12,15の間に設けられた回転セタタ一1
7と回転セクター17を回転するモータ18によつて一
定周期で断続される。前記第1の検出器によつて検知さ
れた試料光束B,は、交流信号の第1の出力信号E1に
光電変換され、リード線19を通じて差動増幅器20に
送られる。
を吸収しないガスを封入したものを恒温で使用する基準
セル15を透過され、第2の検出器16に集光され、検
知される。光源11,14は、赤外線を放射するもので
、一般にニクロム線または炭化ケイ素に電流を流して赤
熱したものを用いている。また試料セル12は、試料ガ
スを入れる容器で、一般に試料ガスが連続して流れるよ
うに作られ、光軸方向に赤外線透過材料の窓をもつてい
るものである。第1の検出器13は、試料セル12の試
料ガスによる赤外線の吸収を検知するものであり、第2
の検出器16は、基準セル15の赤外線を吸収しないガ
スによる赤外線の吸収すなわちブランク値を検知するも
のである。試料光束B,と基準光束B2は、光源11,
14とセル12,15の間に設けられた回転セタタ一1
7と回転セクター17を回転するモータ18によつて一
定周期で断続される。前記第1の検出器によつて検知さ
れた試料光束B,は、交流信号の第1の出力信号E1に
光電変換され、リード線19を通じて差動増幅器20に
送られる。
一方前記第2の検出器16で検知された基準光束B2は
、交流信号の第2の出力信号E2に光電変換される。さ
らにこの交流信号の第2の出力信号E2はリード線21
を通じて差動増幅器20に送られ、またリード線31を
通じて波形整形器32に送られる。本実施例では、第2
の出力信号E2を分流して波形整形器32に送り、同期
信号を得ているが、前記第1の出力信号E1を分流して
波形整形器32に送り、同期信号を発生させてもよい。
、交流信号の第2の出力信号E2に光電変換される。さ
らにこの交流信号の第2の出力信号E2はリード線21
を通じて差動増幅器20に送られ、またリード線31を
通じて波形整形器32に送られる。本実施例では、第2
の出力信号E2を分流して波形整形器32に送り、同期
信号を得ているが、前記第1の出力信号E1を分流して
波形整形器32に送り、同期信号を発生させてもよい。
前記差動増幅器20は、第1の出力信号E1と第2の出
力信号E2の入力信号の差に比例する増幅された第3の
出力信号E3を与えるものである。この差動増幅器20
で増幅された第3の出力信号E3は、リード線22を通
つて整流作用をおこなうためのスイツチ部23に送られ
る。波形整形器32は、第2の出力信号E2をパルス波
形の同期信号B4に変換するもので、例えば等価的に利
得無限大の増幅器と波形整形するためのクリツパ回路で
構成されている。以下本実施例の理解を容易ならしめる
ため波形整形器の波形整形原理を説明する。第2の出力
信号E2をフーリエ級数展開して基本波形を求めると次
式に表わされる。ここでfは、回転セクター17の周波
数、Aは基準セル15を透過する光束B2の振幅である
。
力信号E2の入力信号の差に比例する増幅された第3の
出力信号E3を与えるものである。この差動増幅器20
で増幅された第3の出力信号E3は、リード線22を通
つて整流作用をおこなうためのスイツチ部23に送られ
る。波形整形器32は、第2の出力信号E2をパルス波
形の同期信号B4に変換するもので、例えば等価的に利
得無限大の増幅器と波形整形するためのクリツパ回路で
構成されている。以下本実施例の理解を容易ならしめる
ため波形整形器の波形整形原理を説明する。第2の出力
信号E2をフーリエ級数展開して基本波形を求めると次
式に表わされる。ここでfは、回転セクター17の周波
数、Aは基準セル15を透過する光束B2の振幅である
。
一方同期信号E4で必要となる情報は、周波数fに関す
る情報のみである。ここで第2の出力信号E2を波形整
形器32にかけることによつて次式で表わされる同期信
号E4が得られる。ここで波形整形器32は、等価的に
利得無限大の増幅器とクリツパ回路で構成されているの
で利得Bは一定である。
る情報のみである。ここで第2の出力信号E2を波形整
形器32にかけることによつて次式で表わされる同期信
号E4が得られる。ここで波形整形器32は、等価的に
利得無限大の増幅器とクリツパ回路で構成されているの
で利得Bは一定である。
従つて(1)式においては、振幅Aの項が基準セル15
を透過する光の強弱によつて変動するのに対し、(2)
式における利得Bは一定であるので出力信号を同期信号
E4として使用することができる。波形整形器32に送
られた第2の出力信号E2は、パルス波形の同期信号E
4に変換されリード線34を通じてスイツチ部23に送
られる。前記差動増幅器20によつて増幅され、スイツ
チ部23に送られた第3の出力信号E3は、同期信号E
4により動作されるスイツチ部23例えば電磁石とリー
ドスイツチの組合せによつて整流され、直流信号の第4
の出力信号E5となる。スイツチ部23は、電磁石とリ
ードスイツチの組合せに限定されずアナログスイツチ例
えばトランジスター等のスイツチング動作を用いたもの
でよい。第4の出力信号E5は、リード線28を通じて
指示計器29に送られ、測定値を指示する。以上述べた
ようにこの発明による吸光光度分析装置は、基準光束B
2から得られた第2の出力信号E2を波形整形器32に
より波形整形して同期信号E4としているので独立した
同期信号を発生するための機構を設ける必要がない。従
つて、この発明の吸光光度分析装置は、構造が簡単とな
り、小型にすることができ、さらに製造コストも安くす
ることができる。
を透過する光の強弱によつて変動するのに対し、(2)
式における利得Bは一定であるので出力信号を同期信号
E4として使用することができる。波形整形器32に送
られた第2の出力信号E2は、パルス波形の同期信号E
4に変換されリード線34を通じてスイツチ部23に送
られる。前記差動増幅器20によつて増幅され、スイツ
チ部23に送られた第3の出力信号E3は、同期信号E
4により動作されるスイツチ部23例えば電磁石とリー
ドスイツチの組合せによつて整流され、直流信号の第4
の出力信号E5となる。スイツチ部23は、電磁石とリ
ードスイツチの組合せに限定されずアナログスイツチ例
えばトランジスター等のスイツチング動作を用いたもの
でよい。第4の出力信号E5は、リード線28を通じて
指示計器29に送られ、測定値を指示する。以上述べた
ようにこの発明による吸光光度分析装置は、基準光束B
2から得られた第2の出力信号E2を波形整形器32に
より波形整形して同期信号E4としているので独立した
同期信号を発生するための機構を設ける必要がない。従
つて、この発明の吸光光度分析装置は、構造が簡単とな
り、小型にすることができ、さらに製造コストも安くす
ることができる。
本発明の吸光光度装置は実施例の非分散赤外線ガス分析
計に限定されず、分光分析装置例えば二波長分析計等を
含むものである。
計に限定されず、分光分析装置例えば二波長分析計等を
含むものである。
さらに本発明の吸光光度分析装置の同期検波方式は、実
施例の半波同期整流に限定されず全波同期整流を含むも
のである。
施例の半波同期整流に限定されず全波同期整流を含むも
のである。
第1図は、従来の同期検波方式を用いた吸光光度分析装
置例えば非分散赤外線ガス分析計の一実施例の概略図で
ある。 第2図は、本発明の同期検波方式を用いた吸光光度分析
装置例えば非分散赤外線ガス分析計の一実施例の概略図
である。13・・・・・・第1の検出器、16・・・・
・・第2の検出器、32・・・・・・波形整形器、E4
・・・・・・同期信号。
置例えば非分散赤外線ガス分析計の一実施例の概略図で
ある。 第2図は、本発明の同期検波方式を用いた吸光光度分析
装置例えば非分散赤外線ガス分析計の一実施例の概略図
である。13・・・・・・第1の検出器、16・・・・
・・第2の検出器、32・・・・・・波形整形器、E4
・・・・・・同期信号。
Claims (1)
- 1 放射線源と、入射する放射線の量に依存する電気信
号を発生する検出器と、放射線源と検出器との間で放射
線吸収関係において流体を保持するためのセルと、放射
線源と検出器との間の放射線の透過を周期的に断続する
ための回転光断続装置と、検出器の出力を光断続装置の
回転位置を指示する同期信号と組み合わせるための同期
整流器とを有する型の試料流体の目的成分の量を測定す
るための吸光光度分析装置であつて、印加されるアナロ
グ信号を前記アナログ信号と同一周波数を有する2状態
信号に変換するための波形整形回路、および前記波形成
形回路を検出器と同期整流器との間に接続する手段を具
備し、前記2状態信号が同期信号として動作することを
特徴とする吸光光度分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4336575A JPS594654B2 (ja) | 1975-04-11 | 1975-04-11 | キユウコウコウドブンセキソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4336575A JPS594654B2 (ja) | 1975-04-11 | 1975-04-11 | キユウコウコウドブンセキソウチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS51118483A JPS51118483A (en) | 1976-10-18 |
JPS594654B2 true JPS594654B2 (ja) | 1984-01-31 |
Family
ID=12661814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4336575A Expired JPS594654B2 (ja) | 1975-04-11 | 1975-04-11 | キユウコウコウドブンセキソウチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS594654B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60183434U (ja) * | 1984-05-15 | 1985-12-05 | 大洋電産株式会社 | 集積回路形成用ウエハ |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4200791A (en) * | 1978-10-11 | 1980-04-29 | Andros Incorporated | Gas analyzer and gas analyzing method |
JPS5587029A (en) * | 1978-12-25 | 1980-07-01 | Nippon Electric Ind Co Ltd | Optical reflectivity measuring instrument |
US4386852A (en) * | 1981-01-29 | 1983-06-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Phase synchronization apparatus |
JP2003057177A (ja) * | 2001-08-17 | 2003-02-26 | Horiba Ltd | 赤外線ガス分析計 |
-
1975
- 1975-04-11 JP JP4336575A patent/JPS594654B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60183434U (ja) * | 1984-05-15 | 1985-12-05 | 大洋電産株式会社 | 集積回路形成用ウエハ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS51118483A (en) | 1976-10-18 |
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