JPS60249020A - 赤外放射計測装置 - Google Patents
赤外放射計測装置Info
- Publication number
- JPS60249020A JPS60249020A JP59105388A JP10538884A JPS60249020A JP S60249020 A JPS60249020 A JP S60249020A JP 59105388 A JP59105388 A JP 59105388A JP 10538884 A JP10538884 A JP 10538884A JP S60249020 A JPS60249020 A JP S60249020A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- modulator
- detector
- temperature
- infrared
- aluminum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 41
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 12
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- -1 thallium halide Chemical class 0.000 description 2
- 102100029493 EKC/KEOPS complex subunit TP53RK Human genes 0.000 description 1
- 101710171276 EKC/KEOPS complex subunit TP53RK Proteins 0.000 description 1
- 241000220317 Rosa Species 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000005383 fluoride glass Substances 0.000 description 1
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004431 optic radiations Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004861 thermometry Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0803—Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
- G01J5/0805—Means for chopping radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(7) 技 術 分 野
この発明は、赤外線放射計測装置に関する。
物体から放射される赤外線の強度は、物体の温度ととも
に増大する。物体の温度を測定する為、物体から出る赤
外線の放射強度を検出する放射温度計測は既によく知ら
れ、ているところである。
に増大する。物体の温度を測定する為、物体から出る赤
外線の放射強度を検出する放射温度計測は既によく知ら
れ、ているところである。
物体から出る放射線をレンズ又はミラーで集光し、赤外
線検出器に入射させ、検出器の出力から、放射線の強度
を知る。
線検出器に入射させ、検出器の出力から、放射線の強度
を知る。
検出信号のドリフト、検出器の雑音、直流の外乱光など
の影響を遮断するために、信号たる赤外線を、回転羽根
を有するモジュレータによって変調し、交流の検出信号
を得るようにする事が多い。
の影響を遮断するために、信号たる赤外線を、回転羽根
を有するモジュレータによって変調し、交流の検出信号
を得るようにする事が多い。
(イ)従来技術
第1図は赤外線放射計測装置の原理図である。
被測温物1から、温度に依存した強度の赤外線Rが放射
される。この信号たる赤外線Rは、モジュレータ2によ
って断続光に変換されて検出器3に入射する。
される。この信号たる赤外線Rは、モジュレータ2によ
って断続光に変換されて検出器3に入射する。
モジュレータ2は、複数の羽根、又は円板に複数の開孔
を設けた平板の回転体で、モータ4によって回転駆動さ
れる。モジュレータの面は、光を通す透光部Aと、羽根
のある光を遮断する遮光部Bとが、交互に、円周方向に
配置されたものである。
を設けた平板の回転体で、モータ4によって回転駆動さ
れる。モジュレータの面は、光を通す透光部Aと、羽根
のある光を遮断する遮光部Bとが、交互に、円周方向に
配置されたものである。
実際には、モジュレータ2の前又は後に、被測温物から
出た赤外光を検出器へ入射させるためのレンズ又はミラ
ーなどの集光光学系を設ける。ここでは簡単のため省略
しである。
出た赤外光を検出器へ入射させるためのレンズ又はミラ
ーなどの集光光学系を設ける。ここでは簡単のため省略
しである。
被測温物1と、検出器3の間に、モジュレータ2の透光
部Aが来た時、被測温物1から放射された赤外線が検出
器3に入射する。従って、検出信号Sは高くなる。Hレ
ベルという事にする。遮光部Bが来た時、被測温物1か
ら放射された赤外線は遮断され、検出信号Sは低くなる
。Lレベルという事にする。第4図は検出信号Sの波形
例を示す。
部Aが来た時、被測温物1から放射された赤外線が検出
器3に入射する。従って、検出信号Sは高くなる。Hレ
ベルという事にする。遮光部Bが来た時、被測温物1か
ら放射された赤外線は遮断され、検出信号Sは低くなる
。Lレベルという事にする。第4図は検出信号Sの波形
例を示す。
このように検出信号Sは、HレベルとLレベルとが交代
する交流信号成分を含むものとなる。
する交流信号成分を含むものとなる。
この交流信号の周波数fは、モジュレータの透光部A、
遮光部Bの数をn1回転数をmとすると、f’ = m
nで与えられる。
遮光部Bの数をn1回転数をmとすると、f’ = m
nで与えられる。
Hレベルは、被測温物1の温度Taに対応している。こ
の点については問題ない。
の点については問題ない。
しかし、Lレベルには、モジュレータ20羽根など遮光
部Bの温度Tbが対応する。より詳しく言えば、羽根の
表面粗さや湿度Tbが関係してくるのである。これが問
題である。特に、被測温物1の温度Taが、Tbと同程
度の温度である時に、大きい誤差を生じ易い。
部Bの温度Tbが対応する。より詳しく言えば、羽根の
表面粗さや湿度Tbが関係してくるのである。これが問
題である。特に、被測温物1の温度Taが、Tbと同程
度の温度である時に、大きい誤差を生じ易い。
羽根の表面状態と温度によって、Lレベルが変化するか
ら、HレベルとLレベルの差によって、常に正しく、T
aの値をめる事ができない。
ら、HレベルとLレベルの差によって、常に正しく、T
aの値をめる事ができない。
実際には、(H−L)の値から被測温物1の温度Taを
めるが、この時、羽根からの放射量は0、或いは一定値
であると仮定している。しかし、羽根の温度は絶対0度
ではないし、被測温物1からの熱放射を受けて、温度変
動する事も多いのである。
めるが、この時、羽根からの放射量は0、或いは一定値
であると仮定している。しかし、羽根の温度は絶対0度
ではないし、被測温物1からの熱放射を受けて、温度変
動する事も多いのである。
咬) 目 的
モジュレータ2から放射され検出器3に入射する赤外線
の放射量を減らし、Lレベルに対応する放射量とそのド
リフトを極力抑えるようにする。
の放射量を減らし、Lレベルに対応する放射量とそのド
リフトを極力抑えるようにする。
これが本発明の目的である。
に)本発明の構成 1
物体からの赤外線の放射は、その温度と表面状態による
。
。
まず温度だけについて言うと、黒体輻射と同様の性質が
ある。黒体輻射は、様々の波長の赤外線を含み、スペク
トルは連続的で広く拡がっている。
ある。黒体輻射は、様々の波長の赤外線を含み、スペク
トルは連続的で広く拡がっている。
極大を与える波長と絶対温度との積はほぼ一定である。
これはウィーンの変位側と呼ばれる。
つまり、黒体輻射は低温で、主として赤外線領域に分布
を持ち、温度の上昇とともに分布の極大は短波長側へ移
動する。
を持ち、温度の上昇とともに分布の極大は短波長側へ移
動する。
又、放射スペクトルを波長で積分した全放射量は、絶対
温度の4乗に比例する。これはステファン・ボルツマン
の法則である。
温度の4乗に比例する。これはステファン・ボルツマン
の法則である。
つまり単位時間当りの、黒体の単位表面からの全輻射エ
ネルギーPは、 P = σT’ (1) とナル。a = 5.77 X 10 watt−o+
+ /dog 、 Tは絶対温度である。
ネルギーPは、 P = σT’ (1) とナル。a = 5.77 X 10 watt−o+
+ /dog 、 Tは絶対温度である。
黒体は仮に考えた物体であって、輻射、吸収が最大であ
るという仮象にすぎない。実際の物質は、同じ温度であ
っても、黒体より小さいエネルギーを輻射し、吸収する
。
るという仮象にすぎない。実際の物質は、同じ温度であ
っても、黒体より小さいエネルギーを輻射し、吸収する
。
輻射場の中に置かれた物体が輻射場から吸収するエネル
ギーと、放射するエネルギーとは等しい(キルヒホフの
法則)。
ギーと、放射するエネルギーとは等しい(キルヒホフの
法則)。
そこで1.ある物体の輻射と、黒体の輻射を比較し、こ
の比の値を放射率(amissivity )εという
。
の比の値を放射率(amissivity )εという
。
これは、温度によらない定数である。
放射率εが1であれば黒体である。低い放射率を持つも
のは、吸収、輻射ともに弱い。
のは、吸収、輻射ともに弱い。
低放射率物質として、銀、アルミニウムなどが知られて
いる。これら物質が鏡面状態に仕上げられている時、そ
の放射率はε(Ag )= 0.08、ε(A# )二
〇、07である。
いる。これら物質が鏡面状態に仕上げられている時、そ
の放射率はε(Ag )= 0.08、ε(A# )二
〇、07である。
従来から、よく使用されるモジュレータは、アルミニウ
ム製で表面が酸化処理されている。アルマイト処理され
た面の放射率は、0.7程度で、かなり大きい。
ム製で表面が酸化処理されている。アルマイト処理され
た面の放射率は、0.7程度で、かなり大きい。
モジュレータからの赤外線放射を少なくすれば良いので
ある。この為には、モジュレータの温度を下げるか、放
射率εを下げるか、いずれかがなされなければならない
。
ある。この為には、モジュレータの温度を下げるか、放
射率εを下げるか、いずれかがなされなければならない
。
本発明は、モジュレータ2の検出器側表面に、低放射率
物質を用い、モジュレータの遮光部からの放射を低減す
るものである。
物質を用い、モジュレータの遮光部からの放射を低減す
るものである。
つまり、モジュレータ2の検出器側表面を銀或いはアル
ミの鏡面とし、この面から放射し検出器へ入る赤外光を
極小化している。アルマイト表面に比し、放射率が1/
10以下であるから、全放射量を1/10以下にできる
し、温度変化の影響も1/10以下にできるのである。
ミの鏡面とし、この面から放射し検出器へ入る赤外光を
極小化している。アルマイト表面に比し、放射率が1/
10以下であるから、全放射量を1/10以下にできる
し、温度変化の影響も1/10以下にできるのである。
け)発明の構成 ■
前節に述べた構成は、モジュレータの羽根から、赤外線
が放射されにくいようにしたものである。
が放射されにくいようにしたものである。
次に、モジュレータの羽根(遮光部)が外部の熱源によ
って加熱され難い構成を与える。これは、モジュレータ
の温度Tbを下げるものである。
って加熱され難い構成を与える。これは、モジュレータ
の温度Tbを下げるものである。
モジュレータの羽根の被測温物価の面へ、被測温特自体
が発する赤外線が当り、羽根を強く加熱し、モジュレー
タの温度Tbを上昇させる。この他にも外部に熱源があ
れば、羽根の温度が上昇し、これからの放射も増大する
。
が発する赤外線が当り、羽根を強く加熱し、モジュレー
タの温度Tbを上昇させる。この他にも外部に熱源があ
れば、羽根の温度が上昇し、これからの放射も増大する
。
これを防ぐ為に、モジュレータの遮光部B(例えば羽根
)の被測温側の面に、赤外線の反射率の大きい金、銀、
アルミニウム、銅などを設ける。
)の被測温側の面に、赤外線の反射率の大きい金、銀、
アルミニウム、銅などを設ける。
これは、薄い金属膜として蒸着するだけでも良いし、よ
り厚い板材を張り付けても良い。
り厚い板材を張り付けても良い。
これらの材料は鏡面仕上げにすると、赤外光の全波長に
わたって、95%以上の反射率を得る事ができる。
わたって、95%以上の反射率を得る事ができる。
反射率が極めて高いので、赤外線の放射が面に当っても
殆ど全てが反射されてしまう。赤外線を吸収しないので
、温度上昇も少い。温度変化が僅かであるから、検出器
出力のLレベルの直流分の変動が少い。
殆ど全てが反射されてしまう。赤外線を吸収しないので
、温度上昇も少い。温度変化が僅かであるから、検出器
出力のLレベルの直流分の変動が少い。
(力)発明の構成 ■
■の発明は、モジュレータの羽根の検出器側の表面に低
放射率の銀、アルミニウムの鏡面を形成するものであっ
た。
放射率の銀、アルミニウムの鏡面を形成するものであっ
た。
■の発明は、モジュレータの羽根−の被測温物価の表面
に高反射率の金、銀、アルミニウム、銅などを形成する
ものである。
に高反射率の金、銀、アルミニウム、銅などを形成する
ものである。
■の発明に於て、モジュレータの羽根(遮光部)の検出
器側表面に、銀、アルミニウムの鏡面を形成すると、こ
れらは、高反射率の表面になるから、検出器側に熱源が
あった時に、この外部熱源からの赤外線がモジュレータ
の検出器側表面に当って反射し、検出器に入射する。と
いう事がある。
器側表面に、銀、アルミニウムの鏡面を形成すると、こ
れらは、高反射率の表面になるから、検出器側に熱源が
あった時に、この外部熱源からの赤外線がモジュレータ
の検出器側表面に当って反射し、検出器に入射する。と
いう事がある。
これは、温度計測の精度に悪影響を及ぼす。このような
問題を解決する為に、なされた発明が次に述べるもので
ある。
問題を解決する為に、なされた発明が次に述べるもので
ある。
第2図は発明■の構成を示す断面図で、第3図はモジュ
レータ側から見た側面図である。
レータ側から見た側面図である。
ここに於て、モジュレータ2の羽根の部分から、検出器
3に至る空間に、新しく遮蔽筒5を設けている。遮蔽筒
5の内部の端には検出器3があり、他端に近接して、モ
ジュレータ2がある。
3に至る空間に、新しく遮蔽筒5を設けている。遮蔽筒
5の内部の端には検出器3があり、他端に近接して、モ
ジュレータ2がある。
遮蔽筒5の内周面は低放射率の銀、又はアルミニウムの
鏡面となっている。
鏡面となっている。
遮蔽筒5の開口に、モジュレータ2の遮光部Bが対応す
る位置にある時、検出器側から見た遮蔽管5内の視野は
殆ど全て遮光部Bによってふさがれる。外部からの光が
遮光部Bの検出器側表面に当り、反射して検出器に入る
、という事がない。
る位置にある時、検出器側から見た遮蔽管5内の視野は
殆ど全て遮光部Bによってふさがれる。外部からの光が
遮光部Bの検出器側表面に当り、反射して検出器に入る
、という事がない。
又遮蔽筒5の内面が、低放射率表面であるから、モジュ
レータ自体の温度変化の影響、モジュレータ・検出器間
の構造物から放射される赤外線の影響、及びその温度変
化の影響を大幅に低減できる。
レータ自体の温度変化の影響、モジュレータ・検出器間
の構造物から放射される赤外線の影響、及びその温度変
化の影響を大幅に低減できる。
←)実 験
本発明の効果を具体的な実験例によって説明する。
被測温物として黒体炉を用いた。黒体炉の温度は500
°C,100°C120°Cである。
°C,100°C120°Cである。
モジュレータは、従来のアルマイト処理されたアルミの
他に、発明I、■、■の構成のものを用いた。すなわち
、 発明I ・・・・・ モジュレータの検出器側面をアル
ミニウム鏡面としている。
他に、発明I、■、■の構成のものを用いた。すなわち
、 発明I ・・・・・ モジュレータの検出器側面をアル
ミニウム鏡面としている。
発明■ ・・・・・ モジュレータ両面をアルミニウム
鏡面としている。
鏡面としている。
発明■ ・・・・・・ モジュレータと検出器の間に内
面をアルミニウム鏡面とした遮 腋部を設けた。
面をアルミニウム鏡面とした遮 腋部を設けた。
従来方法と、発明■、■、■のものについて、モジュレ
ータの温度変化の影響、外来放射の影響など、実験結果
を述べる。
ータの温度変化の影響、外来放射の影響など、実験結果
を述べる。
赤外線検出器は、L t TaO3結晶タイプの焦点型
検出器を用いた。
検出器を用いた。
モジュレータは外径70酊φ、中心角90°の羽根を2
枚持っている。発明L It、Iについて羽根はステン
レス製である。発明Iは片面に、発明■は両面にアルミ
ニウム蒸着しである。
枚持っている。発明L It、Iについて羽根はステン
レス製である。発明Iは片面に、発明■は両面にアルミ
ニウム蒸着しである。
発明■については、発明用と■とを結合したものについ
て調べた。つまりここで、発明■についての実験条件は
、モジュレータを両面アルミ蒸着し、かつ遮蔽筒を設け
たものである。
て調べた。つまりここで、発明■についての実験条件は
、モジュレータを両面アルミ蒸着し、かつ遮蔽筒を設け
たものである。
遮蔽筒は長さしがQQm、内径Eが8.8顛φで、内面
は鏡面に仕上げ、アルミニウムを真空蒸着している。遮
蔽筒とモジュレータの間隙gはQ、5s+gとし、検出
器からの視野の大部分が遮蔽筒とモジュレータで覆われ
るようにした。
は鏡面に仕上げ、アルミニウムを真空蒸着している。遮
蔽筒とモジュレータの間隙gはQ、5s+gとし、検出
器からの視野の大部分が遮蔽筒とモジュレータで覆われ
るようにした。
(a) 従 来 方 法
黒体炉500°C1100°Cでは、その放射赤外線が
モジュレータに吸収され、モジュレータの温度が上昇し
、信号レベルが30分間で80%前後ドリフトした。
モジュレータに吸収され、モジュレータの温度が上昇し
、信号レベルが30分間で80%前後ドリフトした。
黒体炉20°CではS/Nのよい信号レベルは得られず
、実質的に測定不能であった。
、実質的に測定不能であった。
外来放射の影響を見るために、実験環境を20″C15
0°Cとした場合、信号レベルとして7%の差があった
。
0°Cとした場合、信号レベルとして7%の差があった
。
に) 発 明 I
モジュレータの温度変化による影響が低減され、黒体炉
500°c、ioooCでは信号レベルのドリフトが3
0分間で7%程度になった。
500°c、ioooCでは信号レベルのドリフトが3
0分間で7%程度になった。
黒体炉20°Cでも、ノイズは信号の20%程度含まれ
ていたが、信号は検知できた。
ていたが、信号は検知できた。
実験環境を20°C150°Cとした場合、信号レベル
として5%の差があった。
として5%の差があった。
(C) 発 明 ■
黒体炉500°C,100°Cの場合、信号レベルのド
リフトが80分間で1%以下となった。
リフトが80分間で1%以下となった。
実験環境を20℃、50°Cとした場合、信号レベルと
して4%の差に低減された。
して4%の差に低減された。
(d) 発 明 ■
黒体炉20’Cの場合、ノイズが信号レベルの1%以内
に低減できた。
に低減できた。
実験環境を20°C150°Cとした場合、信号レベル
の変化は見い出せなかった。さらに100’Cの実験環
境にした場合でも1%以下の信号レベルの変化しか認め
られなかった。
の変化は見い出せなかった。さらに100’Cの実験環
境にした場合でも1%以下の信号レベルの変化しか認め
られなかった。
し) 用 途
本発明は、放射温度計、特にモジュレータの温度と同程
度の温度を有する物体の温度を測定する低温用放射温度
計に利用できる。
度の温度を有する物体の温度を測定する低温用放射温度
計に利用できる。
又放射温度計に限らず、放射赤外線を利用したガス分析
、表面分析などの、いわゆるラジオメータ一般に利用で
きる。
、表面分析などの、いわゆるラジオメータ一般に利用で
きる。
放射赤外線伝送路として光ファイバを用いた光フアイバ
型放射温度計、光フアイバ型ラジオメータにも、本発明
を有効に利用できる。
型放射温度計、光フアイバ型ラジオメータにも、本発明
を有効に利用できる。
赤外線伝送路として、フッ化物ガラスファイバ、タリウ
ムハライド、銀ハライド、アルカリハライドの結晶質フ
ァイバ、カルコゲナイドファイバを用いる事ができる。
ムハライド、銀ハライド、アルカリハライドの結晶質フ
ァイバ、カルコゲナイドファイバを用いる事ができる。
第1図は赤外線放射計測装置の原理を示す斜視図。
第2図は遮蔽筒をモジュレータと検出器の間に設けた発
明■の構成を示す断面図。 第3図は測定物体の方から見た側面図。 第4図は検出器の出力波形を示す波形図。Hレベルは被
側温物の温度Taに対応し、Lレベルはモジュレータの
羽根の温度Tb及び羽根の放射率、環境温度、外乱光等
によって変動する。 1 ・・ ・・・・・・ 被 測 温 物2 ・・・・
・・・ モジュレータ 3 ・・・・・・・・・ 検 出 器 4 ・・ ・・・ ・・・ モ − タ5 ・・・・・
・・・ 遮 蔽 筒 Ta ・・・・・・・・・ 被側温物の温度Tb ・・
・ ・・・・ モジュレータの温度(遮光部)A ・・
・・・・・・ 透 光 部 B ・・・・・・・・ 遮 光 部 発 明 者 葭 1) 典 2 高 橋 謙 − 特許出願人 住友電気工業株式会社 \ 第3図 第2図 鼠 ヘハJ℃S
明■の構成を示す断面図。 第3図は測定物体の方から見た側面図。 第4図は検出器の出力波形を示す波形図。Hレベルは被
側温物の温度Taに対応し、Lレベルはモジュレータの
羽根の温度Tb及び羽根の放射率、環境温度、外乱光等
によって変動する。 1 ・・ ・・・・・・ 被 測 温 物2 ・・・・
・・・ モジュレータ 3 ・・・・・・・・・ 検 出 器 4 ・・ ・・・ ・・・ モ − タ5 ・・・・・
・・・ 遮 蔽 筒 Ta ・・・・・・・・・ 被側温物の温度Tb ・・
・ ・・・・ モジュレータの温度(遮光部)A ・・
・・・・・・ 透 光 部 B ・・・・・・・・ 遮 光 部 発 明 者 葭 1) 典 2 高 橋 謙 − 特許出願人 住友電気工業株式会社 \ 第3図 第2図 鼠 ヘハJ℃S
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)被測温物1から放射される赤外線Rを透過する透
光部Aと、遮断する遮光部Bとを有する回転体よりなり
赤外@Rを断続的に透過するモジュレータ2と、モジュ
レータの透光部Aを通過した赤外線Hの強度を検出する
検出器3とよりなり、検出信号SのHレベルとLレベル
の差から被測温物の放射赤外線Rをめる赤外放射計測装
置に於て、検出器側から見たモジュレータ2の表面が銀
又はアルミニウムの低放射率表面である事を特徴とする
赤外放射計測装置。 (2)被測温物1から放射される赤外線Rを透過する透
光部Aと、遮断する遮光部Bとを有する回転体よりなり
赤外線Rを断続的に透過するモジュレータ2と、モジュ
レータ2の透光部Aを通過した赤外線Rの強度を検出す
る検出器3とよりなり、検出信号SのHレベルとLレベ
ルの差から被測温物の放射赤外線Rをめる赤外放射計測
装置に於て、被測温物価のモジュレータ20表面が金、
銀、アルミニウム又は銅の高反射率表面である事を特徴
とする赤外放射計測装置。 (8) 被測温物1から放射される赤外@Rを透過する
透光部Aと、遮断する遮光部Bとを有する回転体よりな
り赤外線Rを断続的に透過するモジュレータ2と、モジ
ュレータ2の透光部Aを通過した赤外線の強度を検出す
る検出器3と、モジュレータ2と検出器3の間に設けら
れ内面に銀又はアルミニウムの低放射率表面を有する遮
蔽筒5とよりなり、モジュレータ2の検出器側又は被測
温物価の面、或(弓、両面が銀又はアルミニウムの低放
射率表面である事を特徴とする赤外放射計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59105388A JPS60249020A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 赤外放射計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59105388A JPS60249020A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 赤外放射計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60249020A true JPS60249020A (ja) | 1985-12-09 |
Family
ID=14406265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59105388A Pending JPS60249020A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 赤外放射計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60249020A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06201474A (ja) * | 1990-12-07 | 1994-07-19 | Ag Processing Technol Inc | バイチャネル放射検出装置 |
-
1984
- 1984-05-23 JP JP59105388A patent/JPS60249020A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06201474A (ja) * | 1990-12-07 | 1994-07-19 | Ag Processing Technol Inc | バイチャネル放射検出装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6389444B2 (ja) | 熱放射線温度計 | |
US5326173A (en) | Apparatus and method for remote temperature measurement | |
JP2015166743A5 (ja) | ||
US2611541A (en) | Radiation pyrometer with illuminator | |
US10054490B2 (en) | Medical thermometer having an improved optics system | |
CN106441593A (zh) | 温度探测头、温度探测设备和温度探测方法 | |
US4884896A (en) | Production line emissivity measurement system | |
JPS60249020A (ja) | 赤外放射計測装置 | |
KR840002359B1 (ko) | 적외선 필름 두께 측정기 | |
CN106525249A (zh) | 一种镜面红外测温装置及测温方法 | |
JPH04130746A (ja) | ウエハ温度測定用の放射温度計およびウエハ温度測定方法 | |
US2912862A (en) | Radiation measurement of non-opaque bodies | |
Zur et al. | Fiber optic distributed thermal sensor | |
JP3103338B2 (ja) | 放射温度計 | |
Claggett et al. | Radiation and infrared pyrometers | |
JP2001033385A (ja) | ガラスの塗膜面の判別方法 | |
JPS6013231A (ja) | 赤外温度計 | |
US6408651B1 (en) | Method of manufacturing optical fibers using thermopiles to measure fiber energy | |
KR102003224B1 (ko) | 유리 투과형 온도 측정 장치 및 이를 구비하는 인덕션 가열 장치 | |
WO2018119573A1 (zh) | 表面温度和发射率的测量装置和测量方法 | |
Kalos | Glass temperature measurement for the glass industry | |
Barron | Application design features for non-contact temperature measurement | |
JPH0443222B2 (ja) | ||
JPS59225321A (ja) | 光フアイバ−型放射温度計 | |
JPS6133539Y2 (ja) |