JPS6023719Y2 - 螢光x線分析試料保持装置 - Google Patents
螢光x線分析試料保持装置Info
- Publication number
- JPS6023719Y2 JPS6023719Y2 JP1217878U JP1217878U JPS6023719Y2 JP S6023719 Y2 JPS6023719 Y2 JP S6023719Y2 JP 1217878 U JP1217878 U JP 1217878U JP 1217878 U JP1217878 U JP 1217878U JP S6023719 Y2 JPS6023719 Y2 JP S6023719Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- holding cylinder
- sample holding
- thin film
- base plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
液体あるいは粉体のような流動試料に、その下方からは
一次X線を照射して螢光X線分析を行う場合は、底面の
X線の透過する薄膜で形成した容器を必要とする。
一次X線を照射して螢光X線分析を行う場合は、底面の
X線の透過する薄膜で形成した容器を必要とする。
しかし試料の交換毎に容器を洗浄しなければならないか
ら分析の作業が極めて煩雑であり、また試料毎に別の容
器を用いることは不経済である。
ら分析の作業が極めて煩雑であり、また試料毎に別の容
器を用いることは不経済である。
従って本考案は試料の保持装置を汚損することなく、プ
ラスチック等の薄膜を試料と共に交換するだけで繰返し
使用することができて、しかも試料の充填、取出しを容
易に行い得る流動試料の保持装置を提供するものである
。
ラスチック等の薄膜を試料と共に交換するだけで繰返し
使用することができて、しかも試料の充填、取出しを容
易に行い得る流動試料の保持装置を提供するものである
。
図面は本考案の一実施例で、第1図、第2・図、第3図
は試料を装填する際の各行程を示した縦断面図、第4図
は試料X線を照射して分析を行う状態の平面図、第5図
はその縦断面図、また第6図は解体して試料を取出す行
程における縦断面図である。
は試料を装填する際の各行程を示した縦断面図、第4図
は試料X線を照射して分析を行う状態の平面図、第5図
はその縦断面図、また第6図は解体して試料を取出す行
程における縦断面図である。
このように本考案の装置は基台板1と試料保持筒2と第
1の治具3と締付環4と第2の治具5とからなるもので
、これらは何れも例えば合成樹脂の成型体であり、また
このほか試料6の交換毎に取替えられるポリエステルあ
るいはポリプロピレン等の3〜6μの薄膜7が用いられ
る。
1の治具3と締付環4と第2の治具5とからなるもので
、これらは何れも例えば合成樹脂の成型体であり、また
このほか試料6の交換毎に取替えられるポリエステルあ
るいはポリプロピレン等の3〜6μの薄膜7が用いられ
る。
基台板1は例えば短形状をなした充分厚い板であって、
その一方の面に浅い円形の凹部8を設けて、この凹部の
中心に断面が台形をなした1つの突起9を形成しである
。
その一方の面に浅い円形の凹部8を設けて、この凹部の
中心に断面が台形をなした1つの突起9を形成しである
。
試料保持筒2は外径が上記凹部8より僅かに小さく、か
つ両端の開放した円筒体であって、外側面に段部10お
よび環状溝11を形成すると共に端部の周側面を僅かに
傾斜させて円錐面となしである。
つ両端の開放した円筒体であって、外側面に段部10お
よび環状溝11を形成すると共に端部の周側面を僅かに
傾斜させて円錐面となしである。
治具3は保持筒2の内側にゆるく嵌合する円柱状部の先
端に前記基台の突起9に嵌合する凹部12を設けると共
に基端に上記保持筒の外径とほぼ等しい大きさのっば1
3を形成したものである。
端に前記基台の突起9に嵌合する凹部12を設けると共
に基端に上記保持筒の外径とほぼ等しい大きさのっば1
3を形成したものである。
また締付環4は試料保持筒2の肉薄部に密に嵌合する程
度の内径をもった円環状部であって、内面に前記環状溝
11に嵌合する環状のリブ14を有し、かつ一端にっば
15を形成されている。
度の内径をもった円環状部であって、内面に前記環状溝
11に嵌合する環状のリブ14を有し、かつ一端にっば
15を形成されている。
更に第2の治具5は試料保持筒2の外側にゆるく嵌合す
る程度の内径を有腰かつ両誕の開放した円筒体である。
る程度の内径を有腰かつ両誕の開放した円筒体である。
上述のような保持装置を用いて、液体または粉体のよう
な流動試料をこれに充填する場合は、まず第1図のよう
に基台板1の凹部に試料保持筒2を嵌合して突起9を囲
繞し、該保持筒の上端面上に前述のようなプラスチック
薄膜7を配置して、治具3の柱状部の先端で矢印aのよ
うに押圧することにより該薄膜を保持筒2の内面および
基台板1の上面に沿って屈曲させる。
な流動試料をこれに充填する場合は、まず第1図のよう
に基台板1の凹部に試料保持筒2を嵌合して突起9を囲
繞し、該保持筒の上端面上に前述のようなプラスチック
薄膜7を配置して、治具3の柱状部の先端で矢印aのよ
うに押圧することにより該薄膜を保持筒2の内面および
基台板1の上面に沿って屈曲させる。
つぎに第2図のように上述の薄膜内に適量の例えば液体
試料6を注入し、更に保持筒2の上端面の上に該薄膜7
を展張する。
試料6を注入し、更に保持筒2の上端面の上に該薄膜7
を展張する。
この保持筒2の上部に締付環4を配置して治具5で押圧
することにより、該締付環を矢印すのように移動させて
保持筒に嵌合する。
することにより、該締付環を矢印すのように移動させて
保持筒に嵌合する。
従って保持筒2の上端から外方へ延長した2枚の薄膜の
周縁が該保持筒の外側面と締付環4の内面との間に挾み
込まれると共にリブ14が溝11に嵌合して、該締付環
が保持筒に固定される。
周縁が該保持筒の外側面と締付環4の内面との間に挾み
込まれると共にリブ14が溝11に嵌合して、該締付環
が保持筒に固定される。
その保持筒2を基台板1上から取り上げて、第4図およ
び第5図に示したように、上下を転倒して螢光X線分析
装置に取付ける。
び第5図に示したように、上下を転倒して螢光X線分析
装置に取付ける。
すなわち第3図の状態で試料6の上部に配置された薄膜
7は締付環4の嵌合に際して四方へ引張されるために完
全な平面状に張架される。
7は締付環4の嵌合に際して四方へ引張されるために完
全な平面状に張架される。
従ってこれを転倒すると第5図のように上記薄膜上へ試
料6が流下する。
料6が流下する。
その試料に下方から矢印pのように一次X線を照射して
、矢印Sて示したように該試料から発生する螢光X線を
検出して分析を行うものである。
、矢印Sて示したように該試料から発生する螢光X線を
検出して分析を行うものである。
かつこの場合試料6が揮発性であると、その蒸気圧によ
って薄膜7が第5図に示したように上方へふくらむ。
って薄膜7が第5図に示したように上方へふくらむ。
すなわち第2図、第3図のように突起9て押されて内方
へ陥入した薄膜が外方へふくらむから、該薄膜内に封入
された大気の圧力は逆に低下する。
へ陥入した薄膜が外方へふくらむから、該薄膜内に封入
された大気の圧力は逆に低下する。
このため試料の蒸発による内圧の上昇が薄膜7で囲まれ
る容積の増大にもとづく空気圧の低下で補償されて、該
薄膜内の総圧力は常に大気圧と等しい状態を保持する。
る容積の増大にもとづく空気圧の低下で補償されて、該
薄膜内の総圧力は常に大気圧と等しい状態を保持する。
従ってX線照射面における薄膜が内圧の増大により外方
へ屈曲して、この変形のために測定誤差を生ずることを
防止し得る。
へ屈曲して、この変形のために測定誤差を生ずることを
防止し得る。
また上述のようにして分析を完了した試料を取出す場合
は、第6図のように治具5に保持筒2を嵌合して、締付
環4のつば15を上記治具の縁に載架し、治具3のつば
13で保持筒2を矢印Cのように押して締付環を抜き取
り、該保持筒を治具5の中に落下させる。
は、第6図のように治具5に保持筒2を嵌合して、締付
環4のつば15を上記治具の縁に載架し、治具3のつば
13で保持筒2を矢印Cのように押して締付環を抜き取
り、該保持筒を治具5の中に落下させる。
この状態で薄膜7を吊り上げてその中の試料6と共に廃
棄する。
棄する。
以上説明したように本考案の装置は、試料がプラスチッ
ク等の薄膜に包み込まれて、保持筒2の内面等を全く接
触しないから、分析を完了した試料と共に該薄膜を廃棄
することにより、試料の交換毎に装置を洗浄する等の煩
雑な処理を必要としないと共に廃棄される薄膜は極めて
安価であるから、経済的である。
ク等の薄膜に包み込まれて、保持筒2の内面等を全く接
触しないから、分析を完了した試料と共に該薄膜を廃棄
することにより、試料の交換毎に装置を洗浄する等の煩
雑な処理を必要としないと共に廃棄される薄膜は極めて
安価であるから、経済的である。
かつ試料の装填並びに解体による試料の取出しも治具の
使用によって、極めて容易に行い得る。
使用によって、極めて容易に行い得る。
また分析操作中は試料が密封されているから、これが漏
洩して分析装置を汚損するようなおそれが無いと共に揮
発性の試料に対しても前述のようにその蒸気圧でX線照
射面の形状が変形して分析結果に誤差が含まれる等の優
れた作用効果がある。
洩して分析装置を汚損するようなおそれが無いと共に揮
発性の試料に対しても前述のようにその蒸気圧でX線照
射面の形状が変形して分析結果に誤差が含まれる等の優
れた作用効果がある。
図面は本考案の一実施例で、第1図、第2図、第3図は
試料を装填する各行程における縦断面図、第4図は分析
を行う状態における平面図、第5図は同じく縦断面図、
第6図は解体して試料を取出す行程における縦断面図で
ある。 なお図において1は基台板、2は試料保持筒、3は第1
の治具、4は締付環、5は第2の治具、6は試料、7は
薄膜、8は凹部、9は突起、10は段部、11は環状溝
、12は凹部、13はつは、14は環状のリブ、16は
つはである。
試料を装填する各行程における縦断面図、第4図は分析
を行う状態における平面図、第5図は同じく縦断面図、
第6図は解体して試料を取出す行程における縦断面図で
ある。 なお図において1は基台板、2は試料保持筒、3は第1
の治具、4は締付環、5は第2の治具、6は試料、7は
薄膜、8は凹部、9は突起、10は段部、11は環状溝
、12は凹部、13はつは、14は環状のリブ、16は
つはである。
Claims (1)
- 突起を有する基台板と、上記基台板の突起を囲繞するよ
うに該基台板上に載置される試料保持筒と、上記試料保
持筒に挿入される柱状部の先端に前記基台板の突起に嵌
合する凹部を形成しかつ該柱状部の基端に前記試料保持
筒の外径とほぼ等しい大きさのつばを設けて上記試料保
持筒の上端面に配置された薄膜を柱状部の先端で押圧す
ることにより該薄膜を試料保持筒の内面並びに基台板の
上面に沿って屈曲させると共に解体して試料を取出す際
につばで試料保持筒を押圧する第1の治具と、試料保持
筒の内面および基台の上面に沿って屈曲した薄膜に流動
試料を充填したのち該試料保持筒の上端面上に更に薄膜
を展張して上記2枚の薄膜の縁を上記試料保持筒の側面
に締付けるための試料保持筒の外側に嵌合する締付環と
、上記締付環を押圧してこれを前記試料保持筒に嵌合す
ると共に解体して試料を取出す際に該試料保持筒を嵌合
するための筒状をなした第2の治具とよりなる螢光X線
分析の試料保持装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1217878U JPS6023719Y2 (ja) | 1978-02-04 | 1978-02-04 | 螢光x線分析試料保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1217878U JPS6023719Y2 (ja) | 1978-02-04 | 1978-02-04 | 螢光x線分析試料保持装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54117287U JPS54117287U (ja) | 1979-08-16 |
JPS6023719Y2 true JPS6023719Y2 (ja) | 1985-07-15 |
Family
ID=33018201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1217878U Expired JPS6023719Y2 (ja) | 1978-02-04 | 1978-02-04 | 螢光x線分析試料保持装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6023719Y2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001255289A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Horiba Ltd | 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型x線分析方法および装置 |
JP2011080956A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Horiba Ltd | 蛍光x線分析用試料セル |
CN102042991A (zh) * | 2009-10-09 | 2011-05-04 | 株式会社堀场制作所 | 荧光x射线分析用试样室和试样室组装用具 |
JP2011117835A (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-16 | Horiba Ltd | 試料セル組立具 |
-
1978
- 1978-02-04 JP JP1217878U patent/JPS6023719Y2/ja not_active Expired
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001255289A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Horiba Ltd | 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型x線分析方法および装置 |
JP2011080956A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Horiba Ltd | 蛍光x線分析用試料セル |
CN102042991A (zh) * | 2009-10-09 | 2011-05-04 | 株式会社堀场制作所 | 荧光x射线分析用试样室和试样室组装用具 |
JP2011117835A (ja) * | 2009-12-03 | 2011-06-16 | Horiba Ltd | 試料セル組立具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54117287U (ja) | 1979-08-16 |
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