JPS6023439B2 - waveform storage device - Google Patents

waveform storage device

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JPS6023439B2
JPS6023439B2 JP52126858A JP12685877A JPS6023439B2 JP S6023439 B2 JPS6023439 B2 JP S6023439B2 JP 52126858 A JP52126858 A JP 52126858A JP 12685877 A JP12685877 A JP 12685877A JP S6023439 B2 JPS6023439 B2 JP S6023439B2
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voltage
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memory
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智久 山田
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、直流電源等の出力電圧の異常状態を検出し、
この検出時点の前後に亘る電圧波形のうち、検出以前ま
たは検出以後の電圧波形の何れかを時間圧縮して再現す
ることができるようにした波形記憶装置に関するもので
ある。
[Detailed Description of the Invention] The present invention detects an abnormal state of the output voltage of a DC power supply, etc.
The present invention relates to a waveform storage device that is capable of time-compressing and reproducing either the voltage waveform before or after the detection, out of the voltage waveforms before and after the detection time.

直流電源等における異常出力電圧の原因を解析するには
、異常出力電圧の出力時点を検出しこの検出時点の前後
に亘る鰭圧波形を予め記憶しておき、この記憶された電
圧波形を後に解析することにより異常原因、異常箇所を
推定することができれば便利である。
To analyze the cause of abnormal output voltage in a DC power supply, etc., detect the output point of the abnormal output voltage, memorize the fin pressure waveform before and after this detection point, and analyze this stored voltage waveform later. It would be convenient if the cause and location of the abnormality could be estimated by doing so.

このため、従釆より異常電圧の検出時点にトリガ信号を
発生させこのトリガ信号により異常電圧検出時点の前後
に亘る電圧波形を記憶することが行なわれているが、こ
れによると異常原因の兆候を示すトリガ信号発生以前の
電圧波形が長時間に亘つて緩かな変化をしているにも拘
らず記憶容量の関係上これを十分に記憶することができ
ず、異常原因の解析に困難をきたしているのが実状であ
る。第1図は、従来の波形記憶装置の構成図を示したも
のであるが、これによると、直流電源1の出力電圧は負
荷2に供V給印加される一方、A/Dコンパ−夕3で順
次アナログーディジタル変換された後、電圧波形データ
としてメモリ4に記憶されるようになっている。
For this reason, a trigger signal is generated at the time of abnormal voltage detection, and the voltage waveforms before and after the abnormal voltage detection are stored using this trigger signal. According to this method, the signs of the cause of the abnormality can be detected. Even though the voltage waveform before the trigger signal was generated changes slowly over a long period of time, it is not possible to memorize this sufficiently due to storage capacity, making it difficult to analyze the cause of the abnormality. The reality is that there are. FIG. 1 shows a configuration diagram of a conventional waveform storage device. According to this diagram, the output voltage of a DC power supply 1 is supplied to a load 2, and is applied to an A/D comparator 3. After being sequentially analog-to-digital converted, the data is stored in the memory 4 as voltage waveform data.

この場合の記憶動作は、クロック発生回路5からのクロ
ック信号がゲート10を介されてカウンタ6でカウント
され、そのカウント値がメモリ4のアドレスとしてメモ
リ4に入力されることにより電圧波形データが時系列に
、しかもループ状にメモリ4に記憶されるようにしてあ
る。この状態でもしも出力電圧が無電圧状態に急激に移
行したとすれば、このことは検出鰭圧源8の電圧ydと
出力電圧Vautとを比較しているコンパレータ7によ
り検出される。コンパレータ7は、出力電圧Vautが
異常(この場合は異常低下)であることを検出したなら
ば、その出力は遅延回路9で一定時間遅延せしめられた
後、ゲート10を閉じて電圧波形ゲータのメモリ4への
記憶動作を停止させるようにする。これにより異常電圧
検出時点toiの前後に亘る電圧波形がメモリ4に記憶
されたのであるが、これを再び元の露圧波形に再元した
のが第2図である。この第2図は、メモリ4からの読出
世力にA/○コンバータを接続し、メモリ4の第0番地
より最高番地までループ式に謙出循還させてオシロスコ
ープ上に再生させたものである。この図よりも判るよう
に確かに異常電圧検出時点ttriを中心にその前後の
出力電圧Vautの波形が明らかにされているものの、
検出時点比ri前の波形が異常原因を解析するうえで不
十分であることが理解できよう。これは、異常の兆候を
示す検出時点ttri前の波形が異常原因を解析するう
えで重要なものであって、しかも長時間亘つて以前から
変化しているにも拘らず、検出点比riを中心とした極
めて小時間範囲のその前後の電圧波形しか捉えていない
からである。勿論、同一時間軸上で時間圧縮しないまま
表した検出点比ri前後の電圧波形のみで足りる場合も
あろうが、この例のような場合は異常原因を解析するに
十分でないことは明らかであろう。本発明の目的は、出
力電圧等の波形に異常が検出された場合、その検出時点
の前後の波形のうち、検出時点以前または検出点以後の
波形を後に時間圧縮して再現することができるようにし
た波形記憶装置を得ることにある。この目的のため、本
発明は、出力電圧等の波形をメモリに記憶させるための
クロツク信号のその周期を異常検出時点で自動切替する
ことを特徴とするものである。
The storage operation in this case is such that the clock signal from the clock generation circuit 5 is passed through the gate 10 and counted by the counter 6, and the count value is input to the memory 4 as the address of the memory 4, so that the voltage waveform data is stored in time. The data are stored in the memory 4 serially and in a loop. If the output voltage suddenly shifts to a no-voltage state in this state, this is detected by the comparator 7 which compares the voltage yd of the detection fin pressure source 8 with the output voltage Vout. When the comparator 7 detects that the output voltage Vout is abnormal (in this case, abnormally decreased), the output is delayed for a certain period of time in the delay circuit 9, and then the gate 10 is closed and the voltage waveform gate is stored in the memory of the voltage waveform gater. 4 is stopped. As a result, the voltage waveform before and after the abnormal voltage detection time toi is stored in the memory 4, and FIG. 2 shows that this is restored to the original exposure pressure waveform. In this Figure 2, an A/○ converter is connected to the readout output from memory 4, and the output is circulated in a loop from address 0 to the highest address in memory 4 and reproduced on the oscilloscope. . As can be seen from this figure, although the waveform of the output voltage Vout around the abnormal voltage detection time ttri is clearly clarified,
It can be understood that the waveform before the detection point ri is insufficient for analyzing the cause of the abnormality. This is because the waveform before the detection time ttri, which shows a sign of an abnormality, is important in analyzing the cause of the abnormality, and even though it has been changing for a long time, the detection point ratio ri is This is because only the voltage waveforms before and after a very short time range around the center are captured. Of course, there may be cases where it is sufficient to use only the voltage waveforms before and after the detection point ratio ri expressed without time compression on the same time axis, but in cases like this example, it is clear that this is not sufficient to analyze the cause of the abnormality. Dew. An object of the present invention is to enable, when an abnormality is detected in a waveform such as an output voltage, to reproduce the waveform before the detection point or after the detection point by compressing the time among the waveforms before and after the detection point. The objective is to obtain a waveform storage device with a For this purpose, the present invention is characterized in that the cycle of a clock signal for storing waveforms such as output voltages in a memory is automatically switched at the time of abnormality detection.

即ち、本発明は、比較的長時間に亘る異常原因の兆候を
示す波形をクロック周期大にしてメモリに記憶させる一
方、異常発生後の波形はクロック周期4・にしてメモリ
に記憶させ、波形の再現時にメモリから波形データを同
一速度で謙出すれば長時間に亘つて異常原因が現われて
いる波形は圧縮された状態で再現されるようにしたもの
である。以下、本発明を第3図から第5図により説明す
る。
That is, in the present invention, a waveform showing a sign of a cause of an abnormality that lasts a relatively long time is stored in a memory with a large clock cycle, while a waveform after an abnormality occurs is stored in a memory with a clock cycle of 4, and the waveform is stored in a memory with a clock cycle of 4. If the waveform data is retrieved from the memory at the same speed during reproduction, the waveform in which the cause of the abnormality has been present for a long time will be reproduced in a compressed state. The present invention will be explained below with reference to FIGS. 3 to 5.

第3図は、本発明の第1の実施例を示したものである。FIG. 3 shows a first embodiment of the invention.

この第3図の構成が第1図のものと異なるところは、ゲ
−ト10を介してカゥン夕6に供給されるクロック信号
の周期が異常検出時点の前後で異なるように構成したこ
とにある。この場合のクロック信号周期の自動切替はマ
ルチプレサ12によって行なわれるようにしてある。即
ち、この例でのマルチブレサ12には各々発振周期の異
なるクロック発生回路5,11からのクロック信号が入
力され、何れのクロック信号がマルチブレサ12の出力
とされるかは前に述べたコンパレータ7の出力状態によ
って制御されるもので、コンパレータ7は異常検出時点
でその出力状態が変化することから、異常検出時点でク
ロック信号の自動切替が行なわれるものである。この第
3図の構成による波形記憶装置を既に述べた直流電源1
の出力電圧波形に適用するものとすれば、クロツク発生
回路5,11の発振周期はそれぞれ大、小とされ、波形
の異常が検出されるまではマルチプレサ12はクロック
発生回路5からの周期rlのクロツク信号をゲート10
を介し、カウンタ6に供給する必要がある。
The configuration shown in FIG. 3 differs from that shown in FIG. 1 in that the period of the clock signal supplied to the counter 6 via the gate 10 is different before and after the abnormality is detected. . In this case, automatic switching of the clock signal period is performed by the multiplexer 12. That is, the clock signals from the clock generation circuits 5 and 11 having different oscillation periods are inputted to the multi-breather 12 in this example, and which clock signal is output from the multi-breather 12 is determined by the comparator 7 described above. It is controlled by the output state, and since the output state of the comparator 7 changes when an abnormality is detected, the clock signal is automatically switched at the time when an abnormality is detected. The waveform storage device having the configuration shown in FIG. 3 is already described in the DC power source 1.
If this is applied to the output voltage waveform of the clock generating circuit 5, the oscillation periods of the clock generating circuits 5 and 11 will be made large and small, respectively, and the multiplexer 12 will keep the period rl of the clock generating circuit 5 until an abnormality in the waveform is detected. Gate the clock signal to 10
It is necessary to supply the counter 6 via the counter 6.

この状態ではカウンタ6のカウント値も周期rlで変化
し、したがって、出力電圧波形のメモリ4への書込レー
トも周期rlで行なわれる。しかし出力電圧Vautの
波形が異常に降下することにもなれば、コンパレータ7
の出力状態が変化してマルチプレサ12が周期r2(r
1》r2)のクロック発生回路11からのクロック信号
を出力するようになるので、出力電圧波形のメモリ4へ
の書込レートも周期r2で行なわれることになる。即ち
、コンパレータ7が出力電圧Vautの異常を検出する
までは出力電圧波形のメモリ4への書込は比較的遅く行
なわれるが、その検出以後はその書込は高速に行なわれ
るのである。この後、メモリ4から出力電圧波形を同一
速度で読み出すとすれば、第4図に示すように異常検出
時点toi前の時間軸はその時点ttri以後の時間軸
に対して十分大きく、異常検出時点ttri前の出力電
圧の波形は圧縮された状態で再現されたことになるので
、異常原因の解析は容易に行なえることになる。以上の
説明では、クロック発生回略5,11の発振周期rl,
r2はr1》r2としたが、逆にrl《r2とすれば、
異常検出時点後の出力電圧Vautの波形が圧縮される
ことが理解できよう。
In this state, the count value of the counter 6 also changes with a period rl, and therefore the write rate of the output voltage waveform to the memory 4 is also performed with a period rl. However, if the waveform of the output voltage Vout drops abnormally, the comparator 7
The output state of
Since the clock signal from the clock generation circuit 11 of 1>r2) is outputted, the write rate of the output voltage waveform to the memory 4 is also performed at the cycle r2. That is, the writing of the output voltage waveform into the memory 4 is relatively slow until the comparator 7 detects an abnormality in the output voltage Vout, but after that detection, the writing is performed at high speed. After that, if the output voltage waveform is read out from the memory 4 at the same speed, the time axis before the abnormality detection time toi is sufficiently larger than the time axis after that time ttri, as shown in FIG. Since the waveform of the output voltage before ttri is reproduced in a compressed state, the cause of the abnormality can be easily analyzed. In the above explanation, the oscillation period rl of the clock generation circuits 5 and 11,
r2 was set as r1》r2, but conversely, if rl《r2,
It can be seen that the waveform of the output voltage Vout after the abnormality detection point is compressed.

要はいかなる異常の電圧、電流波形を記憶する場合でも
、長時間に亘る波形の異常変化を解析するには、比較的
周期大のクロツク信号を用いてその波形をメモ川こ記憶
させる必要があるわけである。第5図は、本発明の第2
の実施例を示したものである。
In short, no matter how abnormal voltage or current waveforms are stored, in order to analyze abnormal changes in the waveform over a long period of time, it is necessary to memorize the waveform using a clock signal with a relatively large period. That's why. FIG. 5 shows the second embodiment of the present invention.
This figure shows an example of this.

第4図の実施例では、直流電源1の出力電圧Vautの
波形が異常であることをコンパレータ7がアナログ的に
検出したが、この第5図の実施例ではこの検出をもディ
ジタル的に行なうようにしたものである。この第5図で
は、直流電源1、負荷2、A/Dコンバータ3を除く部
分を1体的なディジタル演算処理装置としてのマイクロ
コンピュータ17で構成した例で、マイクロコンピュー
タ17に第3図でのクロック発生回路5,11、マルチ
プレサ12、遅延回路9、ゲート10、カウンタ6の各
機能をもたせるようにしたものである。マイクロコンピ
ュータ17は2つのR/W可能な2つのメモリ12,1
3を含んでいるが、メモリ12は第3図でのメモリ4に
相当するものであり、また他方のメモリ13は第3図で
の検出電圧源8の電圧Vdをディジタル的に設定するた
めのものである。しかして、この第5図の構成によると
、A/Dコンバータ3からの電圧波形データはメモリ1
2に入力される1方、演算ユニット14ではメモリ13
からの電圧Vdに相当するディジタル信号と常時比較さ
れるが、この比較によって出力電圧Vautの波形に異
常があることが検出されると、この検出結果にもとづき
、アキュムレータ15を介してカウンタ16への入力ク
ロツク信号の周期が制御されることにより結果的に第3
図の場合と同様な結果を得るものである。
In the embodiment shown in FIG. 4, the comparator 7 detects in an analog manner that the waveform of the output voltage Vout of the DC power supply 1 is abnormal, but in the embodiment shown in FIG. 5, this detection is also performed digitally. This is what I did. In FIG. 5, the parts excluding the DC power supply 1, load 2, and A/D converter 3 are configured with a microcomputer 17 as an integrated digital arithmetic processing device. It has the functions of clock generation circuits 5, 11, multiplexer 12, delay circuit 9, gate 10, and counter 6. The microcomputer 17 has two R/W capable memories 12,1.
3, the memory 12 corresponds to the memory 4 in FIG. 3, and the other memory 13 is for digitally setting the voltage Vd of the detection voltage source 8 in FIG. It is something. According to the configuration shown in FIG. 5, the voltage waveform data from the A/D converter 3 is stored in the memory 1.
2, and the memory 13 in the arithmetic unit 14.
If it is detected through this comparison that there is an abnormality in the waveform of the output voltage Vout, a signal is sent to the counter 16 via the accumulator 15 based on this detection result. By controlling the period of the input clock signal, the third
The same results as in the case shown in the figure are obtained.

この場合、カウンター6のカウント制御はマイクロコン
ピュータにおいては容易なものであり、そのカウンタ機
能はマイクロコンピュータのプログラムにループを作り
、ループ内にいくつかの分岐点を設けることにより任意
周期のクロツク信号を発生させるようにする。また、分
岐先の判定は、予めデータを与えておくか、あるいは出
力電圧の波形の異常検出時点前の出力電圧の中心値、異
常の兆候が現われた時点をメモ川こ記憶しておき、この
データと異常検出時点の電圧、時間のデータとで演算し
、異常検出時点以後のクロック信号周期を決定すること
により判定処理が可能となる。この結果、異常検出時点
の前後でのクロック信号の周期が自動的に決定されるこ
とから異常原因を解析するうえに好都合な第4図にも示
したような再現波形を得ることが可能となるものである
。更に、マイクロコンピュータの構成形式は第5図のも
のに限定されなく、一般のマイクロコンピュータが使用
可能であり、A/Dコンバータからの出力を演算処理し
た後、メモ川こ記憶させるようにすることも可能である
。以上詳細に説明したように、本発明は、異常波形の検
出時点の前後でクロツク信号によるメモリへの波形デー
タ書込速度を変化させたものである。
In this case, counting control of the counter 6 is easy on a microcomputer, and the counter function can be controlled by creating a loop in the microcomputer program and providing several branch points in the loop to control the clock signal of any period. Let it occur. In addition, to determine the branch destination, either provide data in advance, or memorize the center value of the output voltage before the abnormality detection point in the output voltage waveform and the point at which signs of abnormality appear. Determination processing is possible by calculating the data and the voltage and time data at the time of abnormality detection and determining the clock signal period after the time of abnormality detection. As a result, the period of the clock signal before and after the abnormality detection time is automatically determined, making it possible to obtain a reproduced waveform as shown in Figure 4, which is convenient for analyzing the cause of the abnormality. It is something. Furthermore, the configuration of the microcomputer is not limited to the one shown in FIG. 5, and any general microcomputer can be used, and after the output from the A/D converter is processed, a memo is stored. is also possible. As described in detail above, the present invention is such that the speed at which waveform data is written into the memory by the clock signal is changed before and after the abnormal waveform is detected.

したがって、本発明によれば、比較的長時間(数ms〜
数s)に亘る異常波形検出前の異常兆候を示す波形と、
異常波形検出後の短時間(数百ムs〜数ms)に亘る異
常波形とを同時に再現観測することなどが可能となるの
で、異常原因の解析が極めて容易となる。特に、本発明
を主としてマイク。コンピュータで構成するならば、制
御の融通性、高機能化、装置の小型化を期待できるので
一層有利である。
Therefore, according to the present invention, a relatively long period of time (several ms to
A waveform showing an abnormality sign before abnormal waveform detection for several seconds);
Since it becomes possible to simultaneously reproduce and observe the abnormal waveform over a short period of time (several hundred ms to several ms) after the abnormal waveform is detected, it becomes extremely easy to analyze the cause of the abnormality. In particular, the present invention mainly focuses on microphones. If it is constructed using a computer, it is even more advantageous because it can be expected to have flexibility in control, high functionality, and miniaturization of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の波形記憶装置の構成図、第2図は、第
1図の装置によって記憶されたある電圧波形の再現図、
第3図は、本発明による波形記憶装置の実施例を示す構
成図、第4図は、第3図の装置によって記憶されたある
電圧波形の再現図、第5図は、本発明の他の実施例を示
す構成図である。 3……A/Dコンバータ、4……メモリ、5,11・・
…・クロック発生回路、6・・・・・・カウンタ、7.
.・..・コンパレータ、8・・・・・・検出電圧源、
9…...遅延回路、10・・・・・・ゲート、12・
…”マルチブレクサ、17“”“マイクロコンピュータ
。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
FIG. 1 is a block diagram of a conventional waveform storage device, and FIG. 2 is a reproduction diagram of a certain voltage waveform stored by the device in FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of a waveform storage device according to the present invention, FIG. 4 is a reproduction diagram of a certain voltage waveform stored by the device of FIG. 3, and FIG. FIG. 2 is a configuration diagram showing an example. 3...A/D converter, 4...Memory, 5, 11...
. . . Clock generation circuit, 6 . . . Counter, 7.
..・.. ..・Comparator, 8...Detection voltage source,
9.... .. .. Delay circuit, 10...gate, 12.
…”Multiplexer, 17””“Microcomputer. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 電圧電流波形の異常を検出する手段にもとづいてメ
モリへのアドレス入力を与えるカウンタへのクロツク信
号の周期を制御するとともに上記電圧電流波形をA/D
コンバータを介して上記メモリ内に時系列にしかもルー
プ状に記憶させ、上記手段は上記電圧電流波形の異常を
検出した時点で上記カウンタへのクロツク信号の周期を
切替してから、一定時間経過後に上記カウンタのカウン
ト動作を停止させる構成を特徴とする波形記憶装置。 2 電圧電流波形の異常を検出する手段が、1入力に電
圧電流波形を、他入力にアナログ検出電圧を入力させて
出力をデイジタル状態で出力するコンパレータである特
許請求の範囲第1項記載の波形記憶装置。
[Claims] 1. Controlling the cycle of a clock signal to a counter that provides address input to a memory based on means for detecting an abnormality in a voltage/current waveform, and converting the voltage/current waveform into an A/D converter.
It is stored in the memory in time series and in a loop via a converter, and the means switches the cycle of the clock signal to the counter at the time when an abnormality in the voltage and current waveform is detected, and then after a certain period of time has elapsed. A waveform storage device characterized by a configuration for stopping the counting operation of the counter. 2. The waveform according to claim 1, wherein the means for detecting an abnormality in the voltage and current waveform is a comparator that inputs the voltage and current waveform to one input, inputs the analog detection voltage to the other input, and outputs the output in a digital state. Storage device.
JP52126858A 1977-10-24 1977-10-24 waveform storage device Expired JPS6023439B2 (en)

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