JPS60227583A - フレ−ム間動ベクトル検出装置 - Google Patents

フレ−ム間動ベクトル検出装置

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JPS60227583A
JPS60227583A JP59082812A JP8281284A JPS60227583A JP S60227583 A JPS60227583 A JP S60227583A JP 59082812 A JP59082812 A JP 59082812A JP 8281284 A JP8281284 A JP 8281284A JP S60227583 A JPS60227583 A JP S60227583A
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Shinichi Maki
新一 牧
Kiichi Matsuda
松田 喜一
Toshitaka Tsuda
俊隆 津田
Hideo Kuroda
英夫 黒田
Naoki Takegawa
直樹 武川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は画像信号の帯域圧縮装置に係シ、特に、テレビ
ジョン信号の伝送に適用されるフレーム間差分符号化方
式において、小回路規模で最適動ベクトルの検出を可能
にするフレーム間動ベクトル検出装置に関する。
技術の背景 テレビジョン信号の帯域圧縮符号化技術の1つに、現フ
レームの信号を前のフレームの信号と比較して、変化分
(差分)のみに着目して伝送するフレーム間差分符号化
方式が知られている。この方式においては、各フレーム
の信号をブロックに分は現フレームの基準ブロックと前
フレームの各々のブロック(被参照ブロック〕との間で
信号レベルの差分に対応する量例えば絶対値を検出し、
この値が最小となる前フレームの被参照ブロックを検出
し、検出された前フレームの被参照ブロックと現フレー
ムの基準ブロックとの間の位置変化を示す動ベクトルを
検出して伝送することによシ高能率の帯域圧mk図って
いる。このようなフレーム間差分符号化方式においては
、回路規模が小さく、シかも動ベクトルを検出するため
の最適のブロックを前フレームから適確に検出できるよ
うにすることが要望されている。
従来技術と問題点 第1図から第3図に、従来のフレーム間差分符号化方式
の3つの例を説明するための概念図を示すO 第1図において、RBlは現フレームの基準ブロック、
Aは前フレームの被参照ブロック中心点の予め定められ
た領域を示している。基準ブロックRBIは1例として
7X7=49個のサンプルデータRD1..〜RD71
7からなりている。予め定められた領域Aはlフレーム
期間に物体が動@得ると考えられる範囲内に選ばれてい
る。本例では7 MHzのサンプル周波数を用いておシ
、この場合、1フレームの変化で動き得る物体の範囲を
例えは水平方向に±6サンプル、垂直方向に±6ライン
とし、従りて領域Aは13X13=169個のサンプル
データSD1,1〜SD1!、Illからなっている。
基準ブロックRB!および領域A内の各ブロックにおけ
る比較に用いるサンプルデータの密度は入力データの画
素密度に等しい。
第1図に示した従来方式では、基準ブロックRB、は、
領域A内のサンプルデータSDI、、〜5I)ta、t
aのすべてをそれぞれ中心点とし、基準ブロックRBl
と同一寸法の被参照ブロックのすべてと比較される。即
ち、基準ブロックRBI内のすべてのサンプルデータR
D1,1〜RD 7.、は、領域A内のサンプルデータ
の1つを中心点とする被参照ブロック内のすべてのサン
プルデータと一対一対応に比較され、画素の濃淡を示す
信号レベル(通常8ビツトで表わされる)の差分の絶対
値の総和が最小となる被参照ブロック(例えはサンプル
データSD4,11を中心とする被参照ブロックAI 
)が検出される。検出された被参照プ0ツクと上記基準
プ四ツクRB1との位置の比較によシ現フレームの基準
ブロックRB、の前フレームに対する位置変化を示す勤
ベクトルVが検出される。一方、基準ブロックRBlの
各サンプルデータと被参照ブロックA1の対応するサン
プルデータとの信号レベルの差も、各サンプルデータ毎
に検出される。こうして検出された動ベクトルV及び信
号レベル差の情報は、伝送路を介して受信側に伝送され
、受信側でデータの復調がなされる。伝送路を流れるデ
ータはフレーム間の信号レベル差と動ベクトルのみなの
で、サンプルデータの信号レベルを直接伝送する場合に
比べて相当の帯域圧縮がなされている。
しかしながら、第1図の従来方式では、基準ブロックR
Blの密度は入力データの面木の密度と同じであり、従
ってRBl内のサンプルデータRD1,1〜RD7.、
は49個で)る。従って動ベクトルを得るために基準ブ
ロックRBlと領域A内のサンプルデータを中心点とす
る被参照ブロックとの比較回数は49X13X13=1
521回と極めて多く、従って第1図の従来方式では回
路規模が太きいという問題がある。
このため第2図に示す様に基準ブロックRB2内の比較
するサンプルデータをRD2−〜RD 6. 、の9個
に減らしである。これによシ、領域A内のサンプルデー
タを中心点とする被参照ブロックとの比較回数は第1図
の方式に比べて9/49に減少するが、それでも比較回
数は多く、回路規模の太きいものが必要である。
−Zだ、基Sブロック内の比較するサンプルデータの数
を減らしたので、基準ブロックRB、内のす77’/l
/データと領域A内のサンプルブータラ中心とする被参
照ブロック内のデータとの信号レベルの比較によシ差分
の絶対値の総和が最小となる被参照ブロックを領域Aか
ら検出しても、この被参照ブロックが動ベクトルを検出
するための最適の被参照ブロックであるとは限らない。
即ち、第2図の従来方式では、回路規模が依然として犬
であると共に基準ブロックの基準サンプルデータの数が
少ないので最適被参照ブロックの検出が困難であるとい
う問題がある。
第3図の従来方式では、基準ブロックRBg内の比較に
用いる基準サンプルデータの数を第1図の場合よシ少く
、且つ、第2図の場合よシ多い16個とし、領域A内の
参照するブロック数を第4図及び第2図の場合よシ少な
くしている。すなわち、動ベクトルを検出するための最
適被参照ブロックの検出を例えば3つのステップに分け
て行ない、第1のステップでは、領域A内の○印で示さ
れている9個の粗いサンプルデータSD4,4 + S
n2,7 rSD4,10 + Sn2,4 + ”’
 + 5DI0.10をそれぞれ中心とする被参照ブロ
ックと基準ブロックRB3との比較を行って信号レベル
差の絶対値の総和が最小となる被参照ブロックの中心、
例えば図においてはサンプルデータSD4.10の位置
をまず検出し、次いで第2のステップでは、サンプルデ
ータSD4,10の周辺の中程度に粗い9個のサンプル
データSD2,8 rSD2.10 r Sn2.12
 r Sn2,8 + ”’ r Sn2.12 f:
中心にして同様に信号レベル差の絶対値の総和が最小と
なる被参照ブロックの中心、例えは図においてサンプル
データSD2..の位置を検出し、最後に第3のステッ
プでサンプルデータSD2,11 k中心とする9個の
密なサンプルデータSD l、 、〜SDa、s t”
中心にして同様に信号レベル差の絶対値の総和が最小と
なる被参照ブロックの中心を検出することによシ、動ベ
クトルを検出するための最適被参照ブロックを検出しで
いる。この第3図の従来方式では、16個の基準サンプ
ルデータを9個の被参照ブロックと比較するステップが
3ステツプあシ、比較回数は16X9X3≠432回と
なシ、第1図及び第2図の場合に比べて大幅に少なくな
っているので、回路規模は少さくて済む。しかしながら
、領域A内の参照するブロック数とブロック内の比較す
るデータ数が少ないので、比較領域を段階的に狭くして
いく時に、被参照ブロックの中に、特異点が存在してい
てもこれを検出できず、特異点のブロックに影響されて
希望する領域とは異なる方向に参照領域が進み、動ベク
トル検出のための最適被験前ブロックが検出できない可
能性があるという問題がある。
発明の目的 本発明の目的は、上述の従来技術における諸問題に鑑み
、前処理段階で被参照ブロックの候補を数個選び、それ
らと基準ブロックとの比較によシ得られる信号レベル差
と位置の差とに応じて被参照ブロック候補の位置に重み
付けを施し、これらの重み付けされた位置の重心から最
適被参照ブロック中心を得ることにより、フレーム間差
分符号化方式において、少ない比較回数で済む小規模な
回路で、しかも特異点に影響されることなく、現フレー
ムの基準ブロックの前フレームに対する勤ベクトルを適
確に検出可能にすることにある。
発明の実施例 以下本発明の実施例を第4図以降によって説明する。
第4図は本発明の一実施例によるフレーム間動ベクトル
検出装置を示すブロック図、第5図は第4図の装置によ
る前処理動作を説明するための概念図、第6図は第4図
の装置による主処理動作を説明するだめの概念図である
。第4図から第6図において、1は入力端子Iに入力さ
れた現フレームの画像データから、着目する基準ブロッ
クRBI(第1図)を抽出する基準ブロック抽出回路で
あシ、基準ブロックRB1は本実施例では第1図に示し
た従来例同様に7X7=49個のサンプルデータからな
っている。2は基準ブロックRB1から第1の所定数、
本実施例では4個のサンプルデータRD 3 + 3 
+ RDSl + 5 r RDS r m T RD
S r 5 を抽出した前処理用基準ブロックRB4(
第5図)を抽出出力する前処理用基準ブロック抽出回路
である。3は前フレームの第1の所定領域Aから前処理
用被参照サンプルデータSD2,2 +・・・、 5D
I2.12の各々を中心として1ブロツク当シのデータ
数及びデータ位置が前処理用基準ブロックRB、内のデ
ータ数及びデータ位置と同じである前処理用被参照ブロ
ックを抽出しブロック内データを発生する前処理用被参
照ブロック抽出回路である。このデータは、周囲のデー
タとの平均値をめて出力する様にしてもよい。前処理用
被参照ブロック抽出回路3から出力される各被参照ブロ
ックと前処理用基準ブロック抽出回路2から出力される
基準ブロックとの間で対応するデータ毎に信号レベルの
差分が引算回路4によって演算され、前処理用差分総和
検出回路5において、各被参照ブロック毎に上記信号レ
ベルの差分の絶対値の総和が検出される。主処理用被参
照ブロック候補検出回路6は、前処理用差分総和検出回
路5によって演算されたブロック毎の差分の絶対値の総
和の小さい順に選んだ所定数の前処理用被参照ブロック
の中心、本実施例では、第5図に◎印で示すように3個
の中心5DI0.4 +SD4.10 r 5DII、
11 の位置をそれぞれ3つの主処理用被参照ブロック
候補の中心点として出力する。
主処理用被参照ブロック候補の3つの中心点に対して、
第1の重み付は回路7及び第2の重み付は回路8によシ
重み付けを施した後、主処理用被参照領域決定回路9に
よシ、これら重み付けされた中心点を三角形の頂点とし
、その三角形の重心をめ、この重心を主処理用被参照領
域の中心点として出力する。第1の重み付は回路7は主
処理用被参照ブロック候補の中心の各々について、信号
レベル差の総和が小さい程その位置に大きい夏み付けを
施す。第2の重み付は回路8は主処理用被参照ブロック
候補の1つの中心が他の主処理用被参照ブロック候補の
中心に近い程、大きい重み付けを逆に他の点よシ遠いは
ど小さな重み付けを尚該1つの中心に施こす。これら第
1及び第2の重み付は回路7及び8の重み付けのパラメ
ータは上d己の条件を満たすように適宜定められる。こ
うして、主処理用の被参照領域は、領域A内に特異点が
存在していて7によって検出されてその影響を直接的に
受けない位置に定められる。例えは、第5図においては
、サンプルデータ8D16.4は、他の2つのサンプル
データSD4..。p 5I)a、ttの位置から離れ
ているため位置に関しては特異点とみなされるので、サ
ンプルデータ5DI0.4の位置を中心とする被参照ブ
ロックについての信号レベル差の絶対値の総和が他の2
つのサンプルデータSD4,10+SD6,11の位置
を中心とする被参照ブロックについての信号レベル差の
絶対値の総和よシ小であってもサンプルデータ5DI0
.4の位置の近くが被参照領域の中心として選ばれるこ
とはない。
主処理用被参照領域決定回路9によシ、サンプルデータ
SD4,10の位置が主処理用被参照領域A1の中心と
して出力されたとすると、主処理用被参照ブロック抽出
回路11は前フレームから領域Al内のサンプルデータ
SDI、7 p 5I)t、s t・・・SDI、ta
 rSD2.、 、・・・r Sn2,7 +・・・、
 SDt、tsf:中心とするブロックを抽出出力する
。主処理用基準ブロック抽出回路12は基準ブロックR
Bl(第1図)から、第1の所定数よシ多い第2の所定
数、本実施例では9個のサンプルデータRD2.z +
 RD2,4 r RD2,61RD4,2+・・・R
D6.6を抽出した主処理用基準ブロックRB5(第6
図)を抽出出力する。主処理用被参照ブロック抽出回路
11は領域Al内の各サンプルデータの位置を中心とし
、主処理用基準ブロックRB5内のサンプルデータと同
数で同位置のサンプルデータからなる主処理用被参照ブ
ロックを抽出出力する。主処理用基準ブロックと各主処
理用被参照ブロックとの間で、対応するデータ毎に信号
レベルの差分カ引算回路13によりて演算され、主処理
用差分総和検出回路14において、各主処理用被参照ブ
ロック毎に上記信号レベルの差分の絶対値の総和が検出
される。最終被参照ブロック決定回路15は、上記差分
の絶対値の総和が最小の主処理用被参照ブロックの中心
を最終被参照ブロックの中心として決定する。例えば第
6図において、領域Al円のサンプルデータ83,11
 ’!:中心とする主処理用被参照ブロックと主処理用
基準ブロックとの間での信号レベル差分の絶対値の総和
が最小であったとすると、サンプルデータ83,11の
位置が最終被参照ブロックの中心となる。サンプルデー
タ8m、11の位置は、第1の領域Aの中心のサンプル
データS7,7の位置からの最適動ベクトルv1 とし
て出力端子0!に出力されると共に、最終被参照ブロッ
ク発生回路16に入力される。最終被参照ブロック発生
回路16はこれを受けて、前フレームから最終的な被参
照ブロックを発生する。最終被参照ブロック内のデータ
数及びデータ位置は基準ブロックRB亘(第1図)内の
データ数及びデータ位置と同等である。基準ブロックR
B1と最終被参照ブロックとの間の毎号レベル差分が引
算回路17によって演算され、その結果が童子化回路1
8によ多量子化されて出力端子02に出力される。19
は1フレーム遅延回路であって、前フレームを得るため
のものである。
第4図の回路中、主処理用被参照ブロック候補検出回路
6の一例を第7図に示す。第7図において、回路6は3
つの比較回路71〜73と5つの選択回路74〜78と
、3つのMΦ回路79〜81と3つのフリップフロップ
回路82〜84を備えている。
回路6には、前処理用差分総和検出回路5(第4図)か
ら、各被参照ブロック毎の差分の絶対値の総和mn(1
≦n≦36)と各被参照ブロックの位置を表わす情@p
n(1≦n≦36)が対になって入力される。
第7図の動作を説明する。Mの回路79の一方の入力C
1はml+p1が入力された時だけo −(リレベルと
なシ、フリップフロップ回路82の出力紘1.P1にm
1lP1が出力されるようにしている。AND回路80
の一方の入力C2はm 2 +p2が入力された時だけ
Lレベルとなる。いまm 2 ) m 1の関係があう
たとすると、mlとmzは比較回路71で比較され、そ
の出力A≦Bはハイ(H)レベルとなシ、フリップフロ
ップ回路82の出力Ml ・Plにはml ・9里が、
フリップフロップ回路83の出力M!+P鵞に砿mz+
pzが出力される。AND回路81′の一方の入力c3
はm3r、p3が入力された時だけLレベルとなる。
msは比較回路71でml と比較回路72でmzと比
較される。いまms <ml<mzでありたとすると、
比較回路71の出力A≦BはLレベル、比較回路72の
出力A≦BもLレベルとなシ、フリップフロップ回路8
2の出力M1 、Plにはms 19B +7リツプフ
ロツプ回路83の出力M2 ・P2にはml ・p! 
・フリップフロップ回路84の出力M3 、p、にはm
*+p*が出力される。
m41p4からmss + paaが入力されている期
間は比較回路71〜73の出力A≦Bによりて、Ml。
Plにはその時点までに入力されたmの中から一番小さ
い被参照ブロックのmとpが出力される。
Ml 、p、には二番目に小さいものが、M3.p3に
は三番目に小さいものが出力される。こうして、すべて
の前処理用被参照ブロックについて比較した後で、M、
pIM、p!M、P、に出力されている値゛が主処理用
被参照ブロック候補の差分の絶対値の総和と位置を表わ
す情報となる。
重み付は回路8及び9は読出し専用メモIJ (ROM
)を用いて実現できる。すなわち、ROM内に中心位置
及び信号レベル差分の絶対値の総和に対応した重み付け
を示す・92メータを予め格納しておき、主処理用被参
照ブロック候補検出回路6の出力に応じてROMをアク
セスして必要な・母うメータを読み出し、前述の如く重
心を演算すればよい。具体的には主処理用被参照ブロッ
ク候補検出回路6(第4図)にて、前処理用被参照ブロ
ックの中心■、■、■が第8図のように検出されたとす
る。
第8図において、(xl −yl)I(X2Iy2ンt
(x3 * 3’3 )は中心■、■、■の座標、D、
 、Dl。
DSは各々のブロックの差分の絶対値総和の逆数に比例
した値を示している。
本方式にて決定される、最終参照ブロック領域の中心値
の座標G = (xa r 1(1)は次式で表わせる
ここでL1〜L3+L1〜L3 は、重み付け2の作用
をする関数で次式のように示される。
Ll=f(xl lX21!! ) 本実施例では、r、1’ff:以下のように定義する。
L21L3についても同様に定義する。
もちろんLl 、L2 、LHの値はハード規模と特性
との関係によって、任意に定義されるものである。
式(1) 、 (2) 、 (3)よシG=(11,9
)と決定される。回路構成の一実施例は、第9図のよう
になる。
第9図において、読出し専用メモリROMI〜ROM3
で(1)式のXI Di Ll + DI Ll 、 
x2 L2 Dl 、D2I4゜XS Ll DS ’
e DS Lmを各々を演算する。加算回路ADD 1
で(1)式の分子を演算し、加算回路ADD 2で(1
)式の分母を演算し、GOxg標をROM 4に2演算
する。y座標についても同様である。
第5図に示した前処理においては、回路規模の増大を避
けるために、領域A内の1つおきのサンプルデータの位
置を前処理用被参照ブロックの中心としたが、比較ポイ
ントが少ないことによシ主処理用被参照領域の決定が不
適切となることがある。これを避けるために特に動きの
少ない画像に対して最適なブロックが検出されるように
するために、第10図に示した本発明の第2の実施例に
よれは、領域A内の中心の被参照サンプルデータSD7
,7の近傍における比較ポイントを第5図に比べて増大
させである。一般に、前フレームの領域A内のデータS
7,7を中心とする領域A2内のデータと現フレームの
基準ブロック内のデータとの間の動きは少ないと考えら
れるので領域A2内のサンプルデータの密度を大きくす
ることによシ主処理用被参照領域の決定は第5図の実施
例よシも適切に行うことができる。
本発明は上述の実施例に限定されるものではなく、様々
の変形が可能である。例えは基準ブロックを構成するサ
ンプルデータの数は7×7に限らず、他の任意のもので
よく、また所定領域Aもフレーム間の物体の可動範囲内
で任意に選定され得る。勿論、前処理用基準プロ、り及
び前処理用被参照ブロック、或いは主処理用基準ブロッ
ク及び主処理用被参照ブロック内のデータ数及びデータ
位置も上述の実施例以外の様々の変形が可能である。ま
た、最適ブロックを決定する際に行う演算であつかり値
は絶対値でだけでなく、最適ブロックの検出の効果をも
たらす他の値例えば1フレーム遅延回路19(第4図)
における符号長でも行なうことが可能である。
発明の効果 以上の説明によシ明らかなように、本発明によれは、前
処理段階で予め被参照ブロック候補をめ、それらと基準
ブロックとの比較によシ得られる信号レベル差と位置の
差とに応じて上記候補の位置に重み付けを施した抜重心
をめてこれを中心にした領域同で最適被参照ブロックの
検出を行なったことにより、フレーム間差分符号化方式
において、比較回数が少なくなったことにより回路規模
が小屋化し、しかも、特異点に影響されることなく現フ
レームの基準ブロックの前フレームに対する動ベクトル
が適確に検出される。
【図面の簡単な説明】
第1図から第3図はそれぞれ、従来のフレーム向差分符
号化方式の3つの例を説明するだめの概念図、第4図は
本発明の一実施例による動ベクトル検出装置を示すブロ
ック図、第5図は第4図の装置による前処理動作を説明
するための概念図、第6図は第4図の装置による主処理
動作を説明するための概念図、第7図は第4図の装置に
あ・ける主処理用被参照ブロック候補検出回路の例を示
すブロック図、第8図は主処理用被参照10ツク候補検
出回路によシ検出された被参照ブロックを示す図、第9
図は重みづけ回路の一例を示す図、第10図は本発明の
第2の実施例による前処理動作を説明するための概念図
である。 l・・・基準ブロック抽出回路、2・・・前処理用基準
ブロック抽出回路、3・・・前処理用被参照ブロック抽
出回路、4・・・引算回路、5・・・前処理用差分総和
検出回路、6・・・主処理用被参照ブロック候補検出回
路、7・・・第1の重み付は回路、8・・・第2の重み
付は回路、9・・・主処理用被参照ブロック決定回路、
12・・・主処理用基準ブロック抽出回路、11・・・
主処理用被参照ブロック抽出回路、13・・・引算回路
、14・・・主処理用差分総和検出回路、15・・・最
終被参照ブロック決定回路、16・・・最終被参照ブロ
ック発生回路、17・・・引算回路、18・・・量子化
回路、RBl・・・基準ブロック、19・・・1フレー
ム遅延回路、20・・・たし算回路、RB4・・・前処
理用基準20ツク、A・・・第1の所定領域、RB、・
・・主処理用基準ブロック、AI・・・生処理用被参照
領域、vl・・・最適勤ベクトル。 第1図 第2図 第 5図 ?B4 +)LI+2 、2 +)IJIo 、 4第6図 RD6,4 、l]し 7 I謳1 1 234 56 78910111213×

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ■、入力データの各フレームを複数のブロックに分け、
    各ブロック毎に符号化する画像信号のフレーム間差分符
    号化方式において、 入力データの基準ブロックから第1の所定数のデータを
    抽出し、前処理用基準ブロックとして出力する前処理用
    基準ブロック抽出回路、前フレーム内の第1の所定領域
    からF5)足の点を中心として1ブロツク当シのデータ
    数及びデータ位置が該前処理用基準ブロック内のデータ
    数及びデータ位置と同等のサングルデータを複数ブロッ
    クについて抽出出力する前処理用被参照ブロック抽出回
    路、 該前処理用基準ブロック内のサンプルデータと該前処理
    用被参照ブロック内の対応する位置のサンプルデータと
    の間の第1の信号レベル差の絶対値の総和を該前処理用
    被参照ブロック毎に検出する前処理用差分総和検出回路
    、 該第1の信号レベル差の絶対晶相の小さい順に選んだ所
    定数の前処理用被参照ブロックの位置を主処理用被参照
    ブロック候補の位置として出力する主処理用被参照ブロ
    ック候補検出回路、該主処理用被参照ブロック候補の各
    々について、信号レベル差の絶対値の総和が小さい程該
    主処理用被参照ブロック候補の位置に大きい重み付けを
    施す第1の重み付は回路、 該主処理用被参照ブロック候補の各々について他の主処
    理用被参照ブロック候補の位置との相対的位置関係に基
    づいて該1つの位置に重み付けを施す第2の重み付は回
    路、 該第1の重み付は回路及び該第2の重み付は回路により
    重み付けされた、該主処理用被参照ブロック候補の位置
    の重心を主処理用被参照ブロックの中心位置とする主処
    理用被参照ブロック決定回路、 入力データの基準ブロックから、該第1の所定数よ多多
    い第2の所定数のサンプルデータを抽出し、主処理用基
    準ブロックとして出力する主処理用基準ブロック抽出回
    路、 該第2の所定の領域内の所定の点を中心として1ブロツ
    ク当シのデータ数及びデータ位置が該主処理用基準ブロ
    ック内のデータ数及びデータ位置と同等のサンプルデー
    タを複数ブロックについて抽出出力する主処理用被参照
    ブロック抽出回路、及び 該主処理用基準ブロック内のサンプルデータと該主処理
    用被参照ブ日ツク内の対応するツク毎に検出する主処理
    用差分総和検出回路る主処理用被参照ブロックの位置を
    前フレームに対する現フレームの基準ブロックの最適動
    ベクトルとすることを特徴とするフレーム間動ベクトル
    検出収装置。
JP59082812A 1984-04-26 1984-04-26 フレ−ム間動ベクトル検出装置 Granted JPS60227583A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0637894A2 (en) * 1993-07-21 1995-02-08 Daewoo Electronics Co., Ltd Apparatus and method for detecting motion vectors to half-pixel accuracy

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0637894A2 (en) * 1993-07-21 1995-02-08 Daewoo Electronics Co., Ltd Apparatus and method for detecting motion vectors to half-pixel accuracy
EP0637894A3 (en) * 1993-07-21 1995-03-22 Daewoo Electronics Co Ltd Apparatus and method for detecting motion vectors with half a pixel accuracy.
US5587741A (en) * 1993-07-21 1996-12-24 Daewoo Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for detecting motion vectors to half-pixel accuracy

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