JPS6022668A - 導体盤試験のための試験装置用試験針 - Google Patents

導体盤試験のための試験装置用試験針

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JPS6022668A
JPS6022668A JP59089214A JP8921484A JPS6022668A JP S6022668 A JPS6022668 A JP S6022668A JP 59089214 A JP59089214 A JP 59089214A JP 8921484 A JP8921484 A JP 8921484A JP S6022668 A JPS6022668 A JP S6022668A
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head
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Wincor Nixdorf International GmbH
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、ヘッドを有する針軸を具備する、導体盤試験
のための試験装置用試験針に関する。
技術的背景 この種の装置は、導体盤上のハンダ付は位置の数に応じ
てしばしば１００個のこの種の試験針を含有し、該試験
針は軸長方向に伸長し、）ラドがら遠い端部は装置接触
子と接触し、一方該試験針の針ヘッドは導体盤のハンダ
付は位置に接する。既知の剣は、はぼ円筒状であってｔ
’Ｊ　Ｊｔｌ形尖９１ｆｉｉを具１１ｉ＋ｉするヘッド
が針軸に溶接されて〜・る。この方法では針の製作費は
比較的高価である。ｔｉ’ｌｌｌとヘッドとを別個に製
作することおよび２つの部分な浴接接合することにより
この柚の試Ｄ　ｉｔｔとしては製作費は比較的高価であ
り、このことは必要付本数が多数の場合にＭ要となる。
発明の摘要 本発明は、冒頭記述の種類の試賑針であって聞単かつ安
価に製作可能なものを提供するという課題を基礎として
いる。
本課題は本発明により、ヘッドが扁平とされかどの尖っ
た被形の接触プロフィル乞提示する針１１の端部片とし
て形成されることで）リイ決される。したがって、試験
針のヘッド片は簡単な方法たとえば圧印で成形され、ま
たと（に鍛造ではヘッド片を扁平とするばかりでなく同
時に接触プロフィルも形成してヘッド片の研削を不要と
することが可能である。この試験針の製作費は通常の試
験針の製作費の約１０％であり、したがって必要な試恢
針本数が多数の場合かなりの節約が達成される。
さらに、本発明の試験針を有する試験装置は針の装着が
容易である。針の装着は次のように行われる。すなわち
、試験すべき導体盤のハンダ位置パ５ターンに対応する
穿孔パターンを有する穿孔板に一束の試験針を装着し、
該束を上下に動かして試験針を穿孔内に導入する。した
がって、穿孔に１本ずつ針を挿入する８峡がない。通常
の試験針においては、ヘッドが半径方向に幅広であり、
束は上端では下端より実質的に幅広となるので試ｊ験針
は束の中で相互に平行とはなりえない。これに対し本発
明の試験針においてはヘッドはせいぜい半径方向で一方
向を向き剣！１１ｔの上方に突出するので、東向の試緊
針は相互に平行となり、したがって袴１孔板の案内孔内
に容易に進入する。
良好な接触を確実にするためヘッドは目的に適うように
かどの尖った被形の接触プロフィルを示し、該接触プロ
フィルは研削または圧印工程で成形可能である。接触プ
ロフィルはたとえば角度以下に相互に屋根状の傾斜を有
する２つの稜線で形成することが可能で、この場合稜線
間の角度は目的に沿って約１２０度とする。稜線は直線
状または凹あるいは凸曲線状に形成可能であろ６接触プ
ロフイルはまた複数個の尖端を有することも可能である
。
試験針が案内板から抜は落ちたりあるいは試験すべき導
体盤を取り除いたとき該導体盤に懸垂したまま抜は出し
たりすることを防止するために、本発明においては、針
軸はその中間領域において拡幅部を有し、該拡幅部はた
とえば軸直径の約２０％とする。拡幅部はたとえば圧印
にて同時に形成可能で、したがってこの拡幅部とヘッド
とは一回の作業工程で製作可能である。拡幅部は場合に
よってはまた企巨ＩＩのすえ込みても、製作可能である
。拡幅部の大ぎさはいずれの場合においても、針がある
程度の圧力で系内孔を貝］［ｎしまたある程度力を加え
ないと案内孔から抜は出せないようにし、一方この拡幅
部により、案内孔からの針の抜は落ち−が確実に防止さ
れるように選択される。
実施例 以乍、本発明を添伺図面に示した実施例に基づき説明す
る。
第１図には、導体盤試験のための試験装置の構造原理図
が記載されている。この構造原理図では本発明による試
験針が使用されている。該試験装置は、接点位置１２を
有するベース１０を有し、該ｊ〆点位置は４本体盤の格
子口内に配設され、図示されない方法で試験回路に接続
されている。ペースの上方にはある間隔をなして案内板
１４が存在し、該案内板は導体盤の格子目に対応する穿
孔パターンを具備し、個々の穿孔１６はベース１０内の
それぞれの接点位置１２と芯が一致する。案内板１４の
上方で該案内板と平行にかつある間隔をなしてＷ孔２２
を有した他の案内板２０が配設され、該穿孔のパターン
は試験すべき導体盤のノ・ンダ伺は位置に対応しまた該
穿孔は下方の案内板１４内の穿孔１６およびベース１０
内の接点位置１２と芯が一致して℃・る。
ここに記述の装置は試験針２４が装着され、該試験針は
穿孔２２および１６を貫通しかつその下方の研削された
尖端２６で接点位置上に直立している。
ここで第２図および第３図は不発明による試験針の第１
の実施形状を拡大して示している。試験針は軸２８を含
有し、該軸はその下端に尖端２６を有し、その上端はヘ
ッド３０の形状に扁平にされている。この場合、扁平片
は第２図かられかるように半径方向のある一方向を回き
かつｉｉ４！］　２８の上方に芙出している。ヘッド３
０はその上端で２つの鋭い接触稜線３２の形状に研削さ
れている。
該接触稜線はとくに相互に約１２０度の角度を形成して
いるが、しかしそれより／」・または犬なる角度もまた
可能である。コストの面からヘッド３０はとくに圧印で
成形される。ヘッドのフライス盤による切削加工もまた
可能であるが、しかしこの製作方法は高価である。
第４図および第５図は本発明の試験針の第２の実施形状
を示し、該形状は第１の実施形状とはヘッド３０におけ
る接触稜線３２が直線状でな（凹曲線状に形成されてい
る点で異なる。この稜線な凸曲線状に形成することも可
能であろう。
第４図および第５図に示す試験針はさらに、該試験針が
厚幅部あるいは拡幅部３４を具備する点で異なり、該拡
幅部はとくに圧印で同時に製作され、この場合拡幅と直
角方向には第５図かられかるように針軸直径の減少が発
生する。拡幅部３４の最大直径は針ｔｉｌ＋　２８の他
の部分の直径の約２０係増である。
第６α図はその正面図内に、圧印で製作された針軸２８
の拡幅部のその他の実施形状を示す。第６ｂ図および第
６ｃ図は第６α図内に示す実施形状を両側圧印をなした
もの（第６ｈ図）及び片側圧印な１ヱしたもの（第６Ｃ
図）を側面図で示したものである。
第７図は針軸の軸長方向のすえ込みで成形された針軸２
８の拡幅部を示す。
第８α図および第８ｂ図は圧印により片側もしくは両側
に配設された針軸２８の拡幅部の他の実施形状を示す。
第９図は圧印により成形された針軸２８の拡幅部の更に
他の実施形状を示す。
第１０図および第１１図はそれぞれ針軸２８の厚幅部を
示し、該厚幅部は針軸な真直な円筒形状から局部的に屈
曲することにより成形されろ。
第１２図ないし第１５図はさらに拡幅部自体が圧印によ
って成形される場合の針軸２８の第６図相当立面図を示
す。
針軸の拡幅部３４は針ヘッド３０がら少くとも上部案内
板２０の厚さに等しい間隔ケなして存在する。第１図か
られかるように、拡幅部３４は、試験針がその尖端２６
で接点位置１２上に直立したときに該拡幅部が案内板２
０の下側に接近するように配設することが可能である。
この揚台試験針には上方に全く遊びがない。試験針は紛
失することも、試験導体盤に１付着」して抜き出ること
もありえない。
本発明による試験針は既知の試験針まりも実質的に低コ
ストで製作可能であり、その形状によっては組立の際通
常の試験針に比較して約”２０％０）製作時間の短縮を
可能とする。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の試験針を使用した試験装置の概略部
分側面図；第２図は、本発明による第１の実施形状の試
験針の正面図；第３図は、第２図に記載の試験針の側面
図；第４図は、拡幅針Ｓ＋ｔＸ有する本発明に係る第２
の実施形状の試験針の第２図相当立面図；第５図は第４
図記載の試験針の第３図相当立面図；そして第６図ない
し第１５図は本発明の試験針における針軸の拡幅部また
は厚幅部の種々の実施形状を示す図；である。 ２４・・・試験針　２６・・・尖頭 ２８・・・針軸　３０・・・ヘッド ３２・・稜＆ｌ　３４・・・拡幅部（厚幅部）特許出願
人　エックスドルフ・コンブ−ター・アクチェンゲゼル
シャフト （外５名） 図面の浄書（内容に変更なし） ＲＧ、　１ ＦＩ［］、４ ［ｏ）　ｆｂｌ　ｆｃｌ　（，１１ ［ｂｌ　ｆｃｌ （ｂｌ　ｆｃ） ［ｏ）　（ｂ）　（ｃｌ （ｏｌ　（ｂｌ　（ｃ１ 手続補正書 昭和珂年６月２−７日 に官志　賀　字数 牙の表示 明の名称 ぶエイＡミクＡうへ屹実　ノ）　Ｌ　菖　つ　包ｐ、只
゛：！、　小ｊ１て−（［θミ９ｑ６、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住所 名　く乍　二Ｉフストルフ・１１ンー、　ｒ、　、　、
、ノーアクトン’Ｔ　”ｔ、”イしし２−７１−埋入

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 （１）　ヘッドを有する針軸を具備していて、ヘッド（
    ３０）は、針軸（２８）の端部片で形成され、扁平とさ
    れ、かどの尖った液形の接触プロフィルを有するように
    されていることを特徴とする導体盤試験のための試験装
    置用試験針０（２）ヘッド（３０）は扁平方間に直角な
    半径方向を回き針軸（２８）の上方に突出することを特
    徴とする特許請求の頓囲第１項記載の試験針。 （３）接触プロフィルはＭｆｌ心に対し９０１Ｂ１以下
    の種種の角度をとる少くとも１個の稜線を有することン
    特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の試
    験針。 （４）接触グロフィルは相互に屋根状の傾斜を有する２
    つの稜！！（３２）で形成されていることを特徴とする
    特許請求の範囲第３項記載の試験針。 （５）稜線（３２）間の角度は約１２０度を有すること
    を特徴とする特許請求の範囲第４項記載の試嫉針。 （６）稜線（３２）は直線状であることを特徴とする特
    許請求の範囲第３項ないし第５項のいずれかに記載の試
    験針。 （７）稜線（３２）は凹曲線状に形成されていることを
    特徴とする特許請求の範囲第３現ないし第５項のいずれ
    かに記載の試験針。 （８）稜線は凸曲線状に形成されていることを特徴とす
    る特許請求の範囲第３項ないし第５項のいずれかに記載
    の試験針。 （９）　稜線グロフィルは複数個の尖端を有することを
    特徴とする特許請求の範囲第１項ないし柁・１項のいず
    れかに記載の試験針。 （１０）ヘッドは圧印で成形されていることを特徴とす
    る特許請求の範囲第１填ブよいし巣９項のいずれかに記
    載の試験針。 αυ　針軸（２８）はヘッド（３０）からある間隔をな
    して拡幅部を有することを特徴とする特許請求の範囲第
    １項ないし第１０項のいずれかに記Ｙ）ａの試ｊ・ｆ針
    。 （１２１拡幅部は軸直径より約２０％大きい幅とされて
    いることを午′ｉ徴とする特許請求の範囲第１１項記載
    の試験針。 ■　拡幅部（３４）は圧印で成形されていることを特徴
    とする特許請求の範囲第１１項または第１２項記載の試
    験針。 （１４）拡幅部（３４）は針軸（２８）のすえ込みで成
    形されていることを特徴とする特許請求の範囲第１１項
    または第１２項記載の試験針。
JP59089214A 1983-05-03 1984-05-02 導体盤試験のための試験装置用試験針 Pending JPS6022668A (ja)

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DE33161038 1983-05-03
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JP (1) JPS6022668A (ja)
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