JPS60220049A - 計算機トモグラフイ装置 - Google Patents
計算機トモグラフイ装置Info
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/408—Dual energy
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、主として電子医療機器の分野で使用される計
算機トモグラフィ装置に関する。特に、ファンビーム放
射線によりビューデータの収集を行い、被検体の断面部
分に関する放射線吸収係数の分布画像を複数の放射線エ
ネルギについて、それぞれ別個に再構成する計算機トモ
グラフィ装置の改良に関する。
算機トモグラフィ装置に関する。特に、ファンビーム放
射線によりビューデータの収集を行い、被検体の断面部
分に関する放射線吸収係数の分布画像を複数の放射線エ
ネルギについて、それぞれ別個に再構成する計算機トモ
グラフィ装置の改良に関する。
ｘｌｉｌの吸収係数は、その物質を構成する元素の種類
とその密度に依存する。このうち、元素の密度に対する
依存性は異なる光子エネルギに対して変化しない。しか
し、元素の種類による依存性は光子エネルギにより大き
く変化する。このため、異なる光子エネルギによるＸ線
吸収係数の分布画像を比較することにより、通常の白色
Ｘ線による吸収係数の分布画像では得られないような、
元素や分子の組成に関する情報を得ることが可能となる
。
とその密度に依存する。このうち、元素の密度に対する
依存性は異なる光子エネルギに対して変化しない。しか
し、元素の種類による依存性は光子エネルギにより大き
く変化する。このため、異なる光子エネルギによるＸ線
吸収係数の分布画像を比較することにより、通常の白色
Ｘ線による吸収係数の分布画像では得られないような、
元素や分子の組成に関する情報を得ることが可能となる
。
このような測定を行うためには、従来の計算機トモグラ
フィ装置では、ＸｖＡ管に印加する電圧を変化させ、そ
れぞれの印加電圧の下で別々にＸ線ビームを走査して、
これにより異なる光子エネルギによる吸収係数分の右画
像を得ていた。
フィ装置では、ＸｖＡ管に印加する電圧を変化させ、そ
れぞれの印加電圧の下で別々にＸ線ビームを走査して、
これにより異なる光子エネルギによる吸収係数分の右画
像を得ていた。
しかし、複数回のＸ線ビーム走査を行うために時間がか
かり、被検体の動きや被検体内の組織の動きが生じてし
まう。このために、得られた複数の分布画像には、印加
電圧（すなわち光子エネルギ）の差異以外の要素が含ま
れる欠点があった。
かり、被検体の動きや被検体内の組織の動きが生じてし
まう。このために、得られた複数の分布画像には、印加
電圧（すなわち光子エネルギ）の差異以外の要素が含ま
れる欠点があった。
本発明は、異なる光子エネルギによるＸ線吸収係数の分
布画像を１回の走査により高速で得ることのできる計算
機トモグラフィ装置を提供することを目的とする。
布画像を１回の走査により高速で得ることのできる計算
機トモグラフィ装置を提供することを目的とする。
本発明の計算機トモグラフィ装置は、放射線発生源と放
射線検出器との間に、放射線のエネルギを選択的に吸収
する物体が配置されたことを特徴とする。
射線検出器との間に、放射線のエネルギを選択的に吸収
する物体が配置されたことを特徴とする。
すなわち、被検体の断面部分に向けてビーム状の放射線
を発生する放射線発生源と、このビーム状の放射線を上
記被検体の裏側の多数の位置で検出する多数の放射線検
出器と、上記放射線発生源と上記放射線検出器とを上記
被検体の周りに回転させる機構手段と、上記被検体の断
面部分に関してそれぞれ上記多数の放射線検出器の出力
から上記機構手段の回転に伴い多数の角度方向について
得られる多数のビューデータより上記断面部分に関する
放射線吸収係数の分布画像を再構成する演算手段とを備
えた計算機トモグラフィ装置においζ、上記ビーム状の
放射線の通路にそのビーム状の放射線の少なくとも半分
の部分に放射線エネルギにより放射線唆収率の異なる物
体が配置されたことを特徴とする。
を発生する放射線発生源と、このビーム状の放射線を上
記被検体の裏側の多数の位置で検出する多数の放射線検
出器と、上記放射線発生源と上記放射線検出器とを上記
被検体の周りに回転させる機構手段と、上記被検体の断
面部分に関してそれぞれ上記多数の放射線検出器の出力
から上記機構手段の回転に伴い多数の角度方向について
得られる多数のビューデータより上記断面部分に関する
放射線吸収係数の分布画像を再構成する演算手段とを備
えた計算機トモグラフィ装置においζ、上記ビーム状の
放射線の通路にそのビーム状の放射線の少なくとも半分
の部分に放射線エネルギにより放射線唆収率の異なる物
体が配置されたことを特徴とする。
第１図は本発明第１実施例計算機トモグラフィ装置の構
成を示す図である。
成を示す図である。
Ｘ線発生源２はＸｖＡ発生源制御装置６に接続される。
Ｘ線検出器群４はデータ収集装置９に接続される。ガン
トリｌとテーブル５とはガントリ・テーブル制御装置７
に接続される。Ｘ線発生源制御装置６とガントリ・テー
ブル制御装置７とは撮影制御装置８に接続される。撮影
制御装置８とデータ収集装置９とはデータ処理装置１０
に接続される。さらにデータ処理装置ｌＯには、大容量
記憶装置１１と画像表示装置１２と写真撮影制御装置１
３とが接続される。
トリｌとテーブル５とはガントリ・テーブル制御装置７
に接続される。Ｘ線発生源制御装置６とガントリ・テー
ブル制御装置７とは撮影制御装置８に接続される。撮影
制御装置８とデータ収集装置９とはデータ処理装置１０
に接続される。さらにデータ処理装置ｌＯには、大容量
記憶装置１１と画像表示装置１２と写真撮影制御装置１
３とが接続される。
ガントリｌにはＸ線発生源２とＸ線検出器群４とフィル
タ１４とが備えられ、テーブル５に載置された被検体３
が挿入される。さらにガントリ】には、Ｘ線発生源２と
Ｘ線検出器群４とフィルタ１４とを一体として被検体３
の周りに回転させる機構手段が含まれている。
タ１４とが備えられ、テーブル５に載置された被検体３
が挿入される。さらにガントリ】には、Ｘ線発生源２と
Ｘ線検出器群４とフィルタ１４とを一体として被検体３
の周りに回転させる機構手段が含まれている。
Ｘ線発生源２はｘｌ管やコリメータを含み、被検体３の
断面部分に向けてファンビーム状のＸ線を発生する。
断面部分に向けてファンビーム状のＸ線を発生する。
Ｘ線検出器群４は、多数のＸ線検出器を備え、ＸｖＡ発
生源２の発生したファンビーム状のＸ線を被検体３の裏
側の位置で検出する。
生源２の発生したファンビーム状のＸ線を被検体３の裏
側の位置で検出する。
テーブル５は被検体３を載置し、ガントリｌ内に被検体
３を導入する。
３を導入する。
Ｘ線発生源制御装置６は高電圧発生器を含み、Ｘ線発生
源２によるＸ線の発生を制御する。
源２によるＸ線の発生を制御する。
ガントリ・テーブル制御装置７はガントリ１およびテー
ブル５を制御し、被検体３の位置やＸ線の照射方向等を
制御する。
ブル５を制御し、被検体３の位置やＸ線の照射方向等を
制御する。
撮影制御装置８は、操作者との対話や各装置の状況監視
、さらには各装置の制御を行う。
、さらには各装置の制御を行う。
データ収集装置９は、ＸｖＡ検出検出器群上り検出され
たＸ線検出信号を電気信号のデータに変換し、ガントリ
１の回転にともない多数の角度方向について多数のビュ
ーデータを収集する。
たＸ線検出信号を電気信号のデータに変換し、ガントリ
１の回転にともない多数の角度方向について多数のビュ
ーデータを収集する。
データ処理装置１０は、このビューデータをアナログ・
ディジタル変換し、高速フーリエ変換等の演算処理を行
い、Ｘ線吸収係数の分布画像データとして再構成する。
ディジタル変換し、高速フーリエ変換等の演算処理を行
い、Ｘ線吸収係数の分布画像データとして再構成する。
データ処理装置１０の演算については、あとで詳しく説
明する。
明する。
大容量記憶装置１１は分布画像データを格納する。
画像表示装置１２は分布画像データによる再構成画像を
表示する。
表示する。
写真撮影制御装置１３は、必要な場合に、再構成画像の
写真撮影を行うための装置である。
写真撮影を行うための装置である。
フィルタ１４は、本実施例の特徴であり、ｘ１発生源２
と被検体３との間の片側半分の部分に挿入される。フィ
ルタ１４は、光子エネルギの低いＸ線が光子エネルギの
高いＸ線に比べて物質に吸収されやすいことを利用して
、Ｘ線の吸収によるスペクトルの変化をもたらし、ｘｌ
検出器群４に到達する光子エネルギの変化をもた゛らす
。これについては後で詳しく説明する。
と被検体３との間の片側半分の部分に挿入される。フィ
ルタ１４は、光子エネルギの低いＸ線が光子エネルギの
高いＸ線に比べて物質に吸収されやすいことを利用して
、Ｘ線の吸収によるスペクトルの変化をもたらし、ｘｌ
検出器群４に到達する光子エネルギの変化をもた゛らす
。これについては後で詳しく説明する。
第２図にアンチモンｓｂと、モリブデンＭｏと、タング
ステンＷと、鉄Ｆｅとの光子エネルギに対する質量吸収
係数を示す。
ステンＷと、鉄Ｆｅとの光子エネルギに対する質量吸収
係数を示す。
第３図および第４図は、第１実施例計算機トモグラフィ
装置によるデータの収集を示す図であり、被検体３のＡ
Ｂの間に関するデータの収集を示している。
装置によるデータの収集を示す図であり、被検体３のＡ
Ｂの間に関するデータの収集を示している。
計算器トモグラフィ装置では、ガントリ１ （すなわち
、Ｘ線発生源２およびＸ線検出器群４、さらに本実施例
の場合にはフィルタ１４）が被検体３の周りを１回転し
、この間に同じデータを２回収集している。すなわち、
被検体３のＡとＢとの間のＸ線吸収率を、第３図で示し
た位置と第４図で示した位置とで収集している。この場
合には、第３図のチャネルｉの位置と第４図のＸ線発生
源２の位置とは一致し、第４図のチャネルｊの位置と第
３図のＸ線発生源２の位置とは一致し、さらに、チャネ
ルｉとチャネルｊとは、Ｘ線検出器群４の中心に対して
対称な位置になる。
、Ｘ線発生源２およびＸ線検出器群４、さらに本実施例
の場合にはフィルタ１４）が被検体３の周りを１回転し
、この間に同じデータを２回収集している。すなわち、
被検体３のＡとＢとの間のＸ線吸収率を、第３図で示し
た位置と第４図で示した位置とで収集している。この場
合には、第３図のチャネルｉの位置と第４図のＸ線発生
源２の位置とは一致し、第４図のチャネルｊの位置と第
３図のＸ線発生源２の位置とは一致し、さらに、チャネ
ルｉとチャネルｊとは、Ｘ線検出器群４の中心に対して
対称な位置になる。
第３図では、Ｘ線発生源２が発生した照射角θのＸ線ビ
ームが、フィルタエ４と被検体３のＡＢを通過し、Ｘ線
検出器群４のチャネルｉに入射する。
ームが、フィルタエ４と被検体３のＡＢを通過し、Ｘ線
検出器群４のチャネルｉに入射する。
ここで、ｘｙｌの照射角とは、Ｘ線発生源２の中心Ｓと
ガントリ１の回転の中心Ｏとを結ぶ線に対する角度を表
す。これに対して第４図では、ガントリ１の回転角が１
８０ °−２θの位置にあり、Ｘ線発生源２が発生した
照射角−θのＸ線ビームは、フィルタ１４を通過せずに
直接に被検体３のＢＡを通過し、ｘｗＡ検出器群４のチ
ャネルｊに入射する。
ガントリ１の回転の中心Ｏとを結ぶ線に対する角度を表
す。これに対して第４図では、ガントリ１の回転角が１
８０ °−２θの位置にあり、Ｘ線発生源２が発生した
照射角−θのＸ線ビームは、フィルタ１４を通過せずに
直接に被検体３のＢＡを通過し、ｘｗＡ検出器群４のチ
ャネルｊに入射する。
このようにして、Ｘ線検出器群４の片側半分はフィルタ
１４を通過したＸ線による透過Ｘ線を検出し、もう一方
の片側半分はフィルタ１４を通過しないＸ線による透過
Ｘ線を検出する。これにより、１回の走査により光子エ
ネルギの異なる２組のデータを収集することができる。
１４を通過したＸ線による透過Ｘ線を検出し、もう一方
の片側半分はフィルタ１４を通過しないＸ線による透過
Ｘ線を検出する。これにより、１回の走査により光子エ
ネルギの異なる２組のデータを収集することができる。
次にフィルタ１４による光子エネルギの変換について説
明する。
明する。
被検体によるＸ線の減衰率、すなわち、被検体を挿入し
た場合の検出信号強度Ｉと挿入しない場合の検出信号強
度■。との比は、次の代で表される。
た場合の検出信号強度Ｉと挿入しない場合の検出信号強
度■。との比は、次の代で表される。
ここで、Ｅは光子エネルギを、Ｆ （Ｅ）は多色Ｘ線発
生源のエネルギ強度の分布関数を、ＤＶｉ（Ｉｉ）は被
検体のＸ線透過特性を、Ｋ （Ｅ）はＸＩ検出器の検出
特性をそれぞれ示す。ここで、 Ｆ（Ｅ） Ｋ（Ｅ） −ρ（Ｅ） （２１とおくと＋１
１式は、 と変形される。これは、Ｘ線透過特性Ｄ ｖｒ （Ｅ）
のρ（Ｅ）による重み付は平均である。
生源のエネルギ強度の分布関数を、ＤＶｉ（Ｉｉ）は被
検体のＸ線透過特性を、Ｋ （Ｅ）はＸＩ検出器の検出
特性をそれぞれ示す。ここで、 Ｆ（Ｅ） Ｋ（Ｅ） −ρ（Ｅ） （２１とおくと＋１
１式は、 と変形される。これは、Ｘ線透過特性Ｄ ｖｒ （Ｅ）
のρ（Ｅ）による重み付は平均である。
本発明の計算機トモグラフィ装置は、Ｆ （Ｅ）または
Ｋ （Ｅ）の値をフィルタにより変化させ、異なるρ（
Ｅ）の値による測定を１度に行うように構成されている
。Ｘ線の通路にフィルタを挿入した場合のρ（Ｅ）がρ
°（Ｅ）に変化した場合には、Ｘ線の減衰率は、 で表される。（４）式は（３）式のρ（Ｅ）をρ°（Ｅ
）に置き換えた式にすぎない。したがって減衰率の差は
、Δ □ ■。
Ｋ （Ｅ）の値をフィルタにより変化させ、異なるρ（
Ｅ）の値による測定を１度に行うように構成されている
。Ｘ線の通路にフィルタを挿入した場合のρ（Ｅ）がρ
°（Ｅ）に変化した場合には、Ｘ線の減衰率は、 で表される。（４）式は（３）式のρ（Ｅ）をρ°（Ｅ
）に置き換えた式にすぎない。したがって減衰率の差は
、Δ □ ■。
ρ’ （Ｅ）−ρ（Ｅ）＝ρｓ （Ｅ） −−−＋６１
とおくと、 となり、（３）式および（４）弐と同形の式になる。し
たかって、異なる光子エネルギ分布でのデータを減算し
、減算後のデータを演算処理して分布画像データを得る
ことが可能であり、これは原理に忠実な演算方法である
。
とおくと、 となり、（３）式および（４）弐と同形の式になる。し
たかって、異なる光子エネルギ分布でのデータを減算し
、減算後のデータを演算処理して分布画像データを得る
ことが可能であり、これは原理に忠実な演算方法である
。
このように、本実施例計算機トモグラフィ装置では、フ
ィルタを通過したＸ線によるデータと、フィルタを通過
しないＸ線によるデータと比較することにより、異なる
光子エネルギ分布でのデータの収集が可能である。
ィルタを通過したＸ線によるデータと、フィルタを通過
しないＸ線によるデータと比較することにより、異なる
光子エネルギ分布でのデータの収集が可能である。
また、フィルタを通過したＸ線によるデータと、フィル
タを通過しないＸ線によるデータとを、別個に演算処理
して２つの分布画像データを作ることもできる。この２
つの分布画像データは、減産を行ってから画像表示して
もよく、別個に画像表示してもよい。
タを通過しないＸ線によるデータとを、別個に演算処理
して２つの分布画像データを作ることもできる。この２
つの分布画像データは、減産を行ってから画像表示して
もよく、別個に画像表示してもよい。
さらに、
ρｓ （ｇ） ＝αδ（Ｅ Ｅｏ）
のとき（ただし、δ（Ｅ−Ｅｌｌ）はディラックのデル
タ関数、αは定数）には、 １ ／ Ｉ ｏ−αＤ ＶＩ（Ｅ、） となり、単色Ｘ線に近いＸ線分布によるデータの収集が
可能である。単色Ｘ線によるデータの収集については、
後で述べる。
タ関数、αは定数）には、 １ ／ Ｉ ｏ−αＤ ＶＩ（Ｅ、） となり、単色Ｘ線に近いＸ線分布によるデータの収集が
可能である。単色Ｘ線によるデータの収集については、
後で述べる。
第５図は本発明第２実施例計算機トモグラフィ装置の要
部説明図である。
部説明図である。
フィルタ１４とフィルタ１５とは、Ｘ線発生源２の中心
Ｓとガントリの回転の中心Ｏとを結ぶ線に対して対称に
配置されている。これらのフィルタの材質は、原子番号
が少しだけ異なる物質が用いられる。このために、それ
ぞれの物質の特性吸収端付近の光子エネルギに対しては
吸収係数が大きく異なるが、それ以外の光子エネルギに
対してはほとんど同じ吸収係数となる。したがって、フ
ィルタ１４を透過したＸ線による分布画像データと、フ
ィルタ１５を透過したＸ線による分布画像データとの減
算により、単色Ｘ線に近いＸ線分布によるデータの収集
が可能となる。さらに、フィルタ１４とフィルタ１５と
を差し換え可能にすることにより、複数の単色Ｘ線によ
るデータの収集が可能である。
Ｓとガントリの回転の中心Ｏとを結ぶ線に対して対称に
配置されている。これらのフィルタの材質は、原子番号
が少しだけ異なる物質が用いられる。このために、それ
ぞれの物質の特性吸収端付近の光子エネルギに対しては
吸収係数が大きく異なるが、それ以外の光子エネルギに
対してはほとんど同じ吸収係数となる。したがって、フ
ィルタ１４を透過したＸ線による分布画像データと、フ
ィルタ１５を透過したＸ線による分布画像データとの減
算により、単色Ｘ線に近いＸ線分布によるデータの収集
が可能となる。さらに、フィルタ１４とフィルタ１５と
を差し換え可能にすることにより、複数の単色Ｘ線によ
るデータの収集が可能である。
第６図と第７図とは、フィルタの材料による、光子エネ
ルギに対する質量吸収係数を示す図である。
ルギに対する質量吸収係数を示す図である。
第６図は、フィルタの材料としてタリウムとタングステ
ンとを用いた例を示す。これにより、６５ｋｅＶの単色
Ｘ線による吸収係数分布画像を、演算処理により得るこ
とが可能である。
ンとを用いた例を示す。これにより、６５ｋｅＶの単色
Ｘ線による吸収係数分布画像を、演算処理により得るこ
とが可能である。
第７図は、フィルタの材料として白金と金を用いた例を
示す。これにより、８０ｋｅνの単色ｘｗＡによる吸収
係数分布画像を、演算処理により得ることが可能である
。
示す。これにより、８０ｋｅνの単色ｘｗＡによる吸収
係数分布画像を、演算処理により得ることが可能である
。
単色ｘｗＡによるビーム走査は、ビームハードニングを
生じない利点がある。また、互いに近接したエネルギの
２つの単色Ｘ線によるデータを収集して２つのデータの
減算を行うことにより、これらのＸ線のエネルギ近傍に
光子エネルギの吸収端を有するような、特定元素の分布
を知ることができる利点がある。
生じない利点がある。また、互いに近接したエネルギの
２つの単色Ｘ線によるデータを収集して２つのデータの
減算を行うことにより、これらのＸ線のエネルギ近傍に
光子エネルギの吸収端を有するような、特定元素の分布
を知ることができる利点がある。
第８図は、本発明第３実施例計算機トモグラフィ装置の
要部説明図である。この例では、ｘｖＡ検出器群４をフ
ィルタ１６で覆っている。この効果は第１実施例と同等
であるが、フィルタの位置の精度を高くすることができ
、また、Ｘ線発生源の幾何的な大きさを考慮する必要が
ない利点がある。
要部説明図である。この例では、ｘｖＡ検出器群４をフ
ィルタ１６で覆っている。この効果は第１実施例と同等
であるが、フィルタの位置の精度を高くすることができ
、また、Ｘ線発生源の幾何的な大きさを考慮する必要が
ない利点がある。
第９図は、本発明第４実施例計算機トモグラフィ装置の
要部説明図である。この例では、Ｘ線検出器群４を異な
る物質製のフィルタ１６とフィルタ１７で覆っている。
要部説明図である。この例では、Ｘ線検出器群４を異な
る物質製のフィルタ１６とフィルタ１７で覆っている。
この効果は第２実施例と同等であるが、第８図に示した
例と同じ利点がある。
例と同じ利点がある。
第８図と第９図に示した例では、フィルタがＸ線検出器
群４に接触しているが、これらは、必ずしも接触する必
要はなく、被検体３とＸ線検出器群４との間に挿入され
ていれば充分である。
群４に接触しているが、これらは、必ずしも接触する必
要はなく、被検体３とＸ線検出器群４との間に挿入され
ていれば充分である。
第１実施例ないし第４実施例のフィルタは差し換え可能
であることが望ましい。これにより、フィルタの材質や
厚さを適宜選択するが可能である。
であることが望ましい。これにより、フィルタの材質や
厚さを適宜選択するが可能である。
また、第２実施例または第４実施例では、同一の装置で
連続して複数の単色Ｘ線によるデータを収集することも
可能である。
連続して複数の単色Ｘ線によるデータを収集することも
可能である。
また、第２実施例または第４実施例では、フィルタを同
一の物質により形成し、両者の厚さがそれぞれ異なるよ
うにすることも可能である。これにより、第１実施例ま
たは第３実施例と同等の効果の他に、分布画像の強調の
度合を変化させることが可能となる。
一の物質により形成し、両者の厚さがそれぞれ異なるよ
うにすることも可能である。これにより、第１実施例ま
たは第３実施例と同等の効果の他に、分布画像の強調の
度合を変化させることが可能となる。
さらに、Ｘ線検出器として気体を検出媒体とする検出器
を用いる場合には、Ｘ線検出器群４の両側の気体の圧力
を変えても、第１実施例と同様の効果が得られる。これ
は、気体の圧力の高いＸＭＩ検出器は高いエネルギのＸ
線も低いエネルギのＸ線も充分に吸収するが、気体の圧
力の低いＸ線検出器では、高いエネルギのＸ線が透過し
、低いエネルギのＸｗａのみの検出が可能になるがらで
ある。
を用いる場合には、Ｘ線検出器群４の両側の気体の圧力
を変えても、第１実施例と同様の効果が得られる。これ
は、気体の圧力の高いＸＭＩ検出器は高いエネルギのＸ
線も低いエネルギのＸ線も充分に吸収するが、気体の圧
力の低いＸ線検出器では、高いエネルギのＸ線が透過し
、低いエネルギのＸｗａのみの検出が可能になるがらで
ある。
また、Ｘ＆Ｉ検出器＃４の両側の気体の種類を変えても
、同等の効果が得られる。これは、原子番号の小さい気
体では高いエネルギのＸ線が透過するからである。
、同等の効果が得られる。これは、原子番号の小さい気
体では高いエネルギのＸ線が透過するからである。
さらに、Ｘ線検出器の検出電極の長さを変えても、第１
実施例と同等の効果が得られる。これは、検出電極を短
くすることにより、高いエネルギのＸ線が透過するから
である。
実施例と同等の効果が得られる。これは、検出電極を短
くすることにより、高いエネルギのＸ線が透過するから
である。
以上説明したように、本発明計算機トモグラフィ装置に
より、異なる光子エネルギによるＸ線吸収係数の分布画
像を１回の走査により高速で得ることが可能となる。こ
れにより、被検体の動きの影響を考慮する必要なしに、
異なる光子エネルギによる分布画像を得ることができる
。
より、異なる光子エネルギによるＸ線吸収係数の分布画
像を１回の走査により高速で得ることが可能となる。こ
れにより、被検体の動きの影響を考慮する必要なしに、
異なる光子エネルギによる分布画像を得ることができる
。
さらに、異なる光子エネルギによるデータを同時に収集
するため、Ｘ線検出器の出力をリアルタイムに直接比較
できる。これにより、Ｘ線走査の段階で骨の存在を検出
し、骨と肉のＸ線吸収係数が異なるために生じるアーテ
ィファクトを補正することも可能になる。
するため、Ｘ線検出器の出力をリアルタイムに直接比較
できる。これにより、Ｘ線走査の段階で骨の存在を検出
し、骨と肉のＸ線吸収係数が異なるために生じるアーテ
ィファクトを補正することも可能になる。
このように、本発明計算機トモグラフィ装置は、医療診
断の分野に大きな効果がある。
断の分野に大きな効果がある。
第１図は本発明第１実施例計算機Ｉ・モグラフィ装置の
構成を示す図。 第２図は各元素の光子エネルギに対する質量吸収係数を
示す図。 第３図は第１実施例計算機トモグラフィ装置によるデー
タの収集を示す図。 第４図は第１実施例計算機トモグラフィ装置によるデー
タの収集を示す図。 第５図は本発明第２実施例計算機トモグラフィ装置の要
部説明図。 第６図はフィルタの材料による光子エネルギに対する質
量吸収係数を示す図。 第７図はフィルタの材料による光子エネルギに対する質
量吸収係数を示す図。 第８図は本発明第３実施例計算機トモグラフィ装置の要
部説明図。 第９図は本発明第４実施例ｉｔ′ｌｔ機トモグラフィ装
置の要部説明図。 ■・・・ガントリ、２・・・ｘｗＡ発生源、３・・・被
検体、４・・・Ｘ線検出器群、５・・・テーブル、６・
・・Ｘ線発ｔ１−源制御装置、７・・・ガントリ・テー
ブル制御装置、８・・・撮影制御装置、９・・・データ
収集装置、１０・・・データ処理装置、１１・・・大容
量記憶装置、】２・・・画像表示装置、１３・・・写真
撮影制御装置、１４．１５．１６．１７・・・フィルタ 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社代理人
弁理士 井 出 直 Ｘ １ ロ 治２０ 把３し 爪４図 光子エネルｑ−（ｋｅＶ） ；￥）６（２ 光子エネル！（” （ｋｅＶ） 尼
構成を示す図。 第２図は各元素の光子エネルギに対する質量吸収係数を
示す図。 第３図は第１実施例計算機トモグラフィ装置によるデー
タの収集を示す図。 第４図は第１実施例計算機トモグラフィ装置によるデー
タの収集を示す図。 第５図は本発明第２実施例計算機トモグラフィ装置の要
部説明図。 第６図はフィルタの材料による光子エネルギに対する質
量吸収係数を示す図。 第７図はフィルタの材料による光子エネルギに対する質
量吸収係数を示す図。 第８図は本発明第３実施例計算機トモグラフィ装置の要
部説明図。 第９図は本発明第４実施例ｉｔ′ｌｔ機トモグラフィ装
置の要部説明図。 ■・・・ガントリ、２・・・ｘｗＡ発生源、３・・・被
検体、４・・・Ｘ線検出器群、５・・・テーブル、６・
・・Ｘ線発ｔ１−源制御装置、７・・・ガントリ・テー
ブル制御装置、８・・・撮影制御装置、９・・・データ
収集装置、１０・・・データ処理装置、１１・・・大容
量記憶装置、】２・・・画像表示装置、１３・・・写真
撮影制御装置、１４．１５．１６．１７・・・フィルタ 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社代理人
弁理士 井 出 直 Ｘ １ ロ 治２０ 把３し 爪４図 光子エネルｑ−（ｋｅＶ） ；￥）６（２ 光子エネル！（” （ｋｅＶ） 尼
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋ｌ） 被検体の断面部分に向けてビーム状の放射線を
発生ずる放射線発生源と、 このビーム状の放射線を上記被検体の裏側の多数の位置
で検出する多数の放射線検出器と、上記放射線発生源と
上記放射線検出器とを上記被検体の周りに回転させる機
構手段と、上記被検体の断面部分に関してそれぞれ上記
多数の放射線検出器の出力から上記機構手段の回転に伴
い多数の角度方向について得られる多数のビューデータ
より上記断面部分に関する放射線吸収係数の分布画像を
再構成する演算手段とを儂えた計算機トモグラフィ装置
において、上記ビーム状の放射線の通路にそのビーム状
の放射線の少なくとも半分の部分に放射線エネルギによ
り放射線吸収率の異なる物体が配置されたことを特徴と
する計算機トモグラフィ装置。 （２）放射線吸収率の異なる物体は放射線検出器の近傍
に配置された特許請求の範囲第（１）項に記載の計算機
トモグラフィ装置。 （３）放射線吸収率の異なる物体は放射線発生源の近傍
に配置された特許請求の範囲第＋１１項に記載の計算機
トモグラフィ装置。 （４）放射線吸収率の異なる物体は、同一の物質により
形成され、２つの部分について放射線の通路の部分の厚
さがそれぞれ異なる物体である特許請求の範囲第（１１
項に記載の計算機トモグラフィ装置。 （５） 放射線吸収率の異なる物体は、ビーム状放射線
の半分の部分についてそれぞれ異なる２つの物質が配置
された物体である特許請求の範囲第（１）項に記載の計
算機トモグラフィ装置。 （６） 多数の放射線検出器は気体を検出媒体とする検
出器であり、放射線吸収率の異なる物体は放射線検出器
の気体である特許請求の範囲第（１）項に記載の計算機
トモグラフィ装置。 （７） 気体は、ビーム状の放射線の半分の部分でそれ
ぞれ圧力の異なる特許請求の範囲第（６）項に記載の計
算機トモグラフィ装置。 （８）気体は、ビーム状の放射線の半分の部分でそれぞ
れ種類の異なる特許請求の範囲第（６）項に記載の計算
機トモグラフィ装置。 （９） 放射線吸収率の異なる物体は、放射線検出器の
検出電極である特許請求の範囲第（１）項に記載の計算
機トモグラフィ装置。 （１０） 放射線吸収率の異なる物体の種類および厚さ
が変更できるように設定された特許請求の範囲第（１）
項に記載の計算機トモグラフィ装置。 （１１） 演算手段は、 多数のビューデータのビーム状の放射線の半分の部分に
相当するデータと、ビーム状の放射線の残りの半分の部
分に相当するデータとを、被検体の同一部分に関して減
算する手段と、 この減算する手段による減算結果に関して放射線吸収係
数の分布画像を再構成する手段とを含む 特許請求の範囲第（１）項に記載の計算機トモグラフィ
装置。 （１２）演算手段は、 半分の部分についてそれぞれ断面部分に関する放射線吸
収係数の分布画像を別個に再構成する手段を含む 特許請求の範囲第（］）項に記載の計算機トモグラフィ
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59075315A JPS60220049A (ja) | 1984-04-14 | 1984-04-14 | 計算機トモグラフイ装置 |
| DE1985902110 DE211956T1 (de) | 1984-04-14 | 1985-04-11 | Tomographie-einheit mit rechner. |
| PCT/JP1985/000188 WO1985004565A1 (en) | 1984-04-14 | 1985-04-11 | Computerized tomography unit |
| EP19850902110 EP0211956A4 (en) | 1984-04-14 | 1985-04-11 | COMPUTERIZED TOMOGRAPHY UNIT. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59075315A JPS60220049A (ja) | 1984-04-14 | 1984-04-14 | 計算機トモグラフイ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60220049A true JPS60220049A (ja) | 1985-11-02 |
Family
ID=13572697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59075315A Pending JPS60220049A (ja) | 1984-04-14 | 1984-04-14 | 計算機トモグラフイ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0211956A4 (ja) |
| JP (1) | JPS60220049A (ja) |
| WO (1) | WO1985004565A1 (ja) |
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| JP2014036872A (ja) * | 2013-10-03 | 2014-02-27 | Canon Inc | Ｘ線ｃｔ撮影装置、ｘ線ｃｔの撮影方法、ｘ線センサ、及び再構成装置 |
| JP2014183857A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-10-02 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、線量減弱装置、線量減弱器投影データ発生方法 |
| JP2016107084A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-20 | 株式会社モリタ製作所 | Ｘ線撮影装置、画像処理装置及びｘ線撮影方法 |
| US9962131B2 (en) | 2014-11-28 | 2018-05-08 | J. Morita Manufacturing Corporation | X-ray photography apparatus, image processing device, and X-ray photography method |
| JP2018528842A (ja) * | 2015-07-24 | 2018-10-04 | フォト・ダイアグノスティック・システムズ，インコーポレイテッド | 多重エネルギー（二重エネルギーを含む）コンピュータ断層撮影（ｃｔ）イメージングを行うための方法および装置 |
| US11373345B2 (en) | 2017-04-07 | 2022-06-28 | Photo Diagnostic Systems, Inc. | Method for artifact reduction using monoenergetic data in computed tomography |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2164081C2 (ru) * | 1999-04-27 | 2001-03-20 | Кванта Вижн, Инк. | Устройство для малоугловой рентгеновской томографии |
| GB0107551D0 (en) | 2001-03-27 | 2001-05-16 | Matra Bae Dynamics Uk Ltd | Radiation monitor |
| US7050529B2 (en) * | 2002-07-23 | 2006-05-23 | Ge Medical Systems Global Technolgy Company, Llc | Methods and apparatus for performing a computed tomography scan |
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| JPS57145645A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-08 | Tokyo Shibaura Electric Co | X-ray diagnostic apparatus |
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| JPS5425189A (en) * | 1977-07-28 | 1979-02-24 | Toshiba Corp | X-ray tomogram diagnosis unit |
| DE2800761A1 (de) * | 1978-01-09 | 1979-07-12 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur ermittlung der raeumlichen verteilung der absorption einer strahlung |
-
1984
- 1984-04-14 JP JP59075315A patent/JPS60220049A/ja active Pending
-
1985
- 1985-04-11 EP EP19850902110 patent/EP0211956A4/en not_active Withdrawn
- 1985-04-11 WO PCT/JP1985/000188 patent/WO1985004565A1/ja not_active Application Discontinuation
Patent Citations (6)
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| JPS50110687A (ja) * | 1974-02-12 | 1975-08-30 | ||
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| US11373345B2 (en) | 2017-04-07 | 2022-06-28 | Photo Diagnostic Systems, Inc. | Method for artifact reduction using monoenergetic data in computed tomography |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1985004565A1 (en) | 1985-10-24 |
| EP0211956A1 (en) | 1987-03-04 |
| EP0211956A4 (en) | 1987-04-14 |
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