JPS60207015A - ホトマルチプライヤ安定化回路 - Google Patents

ホトマルチプライヤ安定化回路

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Publication number
JPS60207015A
JPS60207015A JP6365784A JP6365784A JPS60207015A JP S60207015 A JPS60207015 A JP S60207015A JP 6365784 A JP6365784 A JP 6365784A JP 6365784 A JP6365784 A JP 6365784A JP S60207015 A JPS60207015 A JP S60207015A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomultiplier
light
circuit
amplifier
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP6365784A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Masanobu
正信 和則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J43/00Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
    • H01J43/04Electron multipliers
    • H01J43/30Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1発明の技術分野] 本発明は光電子増倍管(ホトマルチプライV;以小、ホ
トンルと称する)の測定回路にかかり、特にil; 1
〜マルのゲインを安定化するホトマルチプライヤ安定化
回路に関するものである、。
「発明の技術的菌属」 ホトマルは入力光をカソードで受け、電子に変換した後
、多数のダイノードで増幅し、陽極から電流または電荷
として取出(ものであって、増幅度が高いので、微小光
の測定に広く利用されている。
さて、このホトマル出力をアナログ電流としC取出ず場
合には、第1図に示したようにホトマルの入射光のレベ
ルを急′f!!ニ変化させてみると、ホ1〜マルのゲイ
ンが変化ザることが観測される。
すなわら、入射光が高いレベルの場合はゲインの低下が
、また、逆に入射光のレベルが低い場合には、ゲインの
上昇がみられる。これは主として、ダイノードの疲労・
回復現象と考えられており、現在のゲインは過去の動作
履歴によって決定されるため、履歴現象とも呼ばれてい
る。
入射光を精密に測定しようとりる場合には、このゲイン
変動が無視できない。入射光がパルス的にチョッピング
できる場合にはホトマルのゲインの補償を?ラザ方法が
あるが、入射光が直流的に入力される場合には、これの
補償が不可能であった。
従って、一定線量の放射線源から放射線を放出して、被
検査体の透過放射線量を例えば、シンチレータで光に変
換し、これをホトマルで検出して該被検査体の厚みを計
測する厚み計などにおいては、検査対象が製造(検査)
ライン上を流れる板体なとであり、従って、それまでと
厚みの異なるものをラインに流し始めた場合などでは、
上記の点が測定精度を得る上で大きな問題となる。
[発明の目的] 本発明は上記の事情に鑑みて成されたものであり、入射
光が直流的に入力される場合にホトマルのゲイン変動を
安定化させることができ、ホトマルを測定器などに使用
する場合にその精度を維持できるようにしたホトマルチ
プライヤ安定化回路を提供することを目的とする。
[発明の概要コ すなわら、上記目的を達成するため本発明は、各ダイノ
ードに分圧用ブリーダ抵抗を介して高電圧を印加するよ
っにしてなり、測光対象光を検出して電気信号に変換す
るホトマルチプライヤの前記ブリーダ抵抗電流を検出す
る回路と、前記高圧電圧を検出する回路と、これら両回
路出力の差出力を得る差動回路と、ホトマルチプライヤ
に補償光を与える光源と、平均陽極電流を定める基準信
号発生回路と、この基準信号発生回路出力と前記差動回
路出力との加算出力を増幅して前記光源に与える回路と
より構成し、ブリーダ抵抗電流よりホトマルの陽極電流
を検出するとともに、これと前記高圧電圧との差を得て
、これより、ホトマル員か電圧変動と入射光量の変化に
よる陽極電流お変動を検知するとともにこの検知出力に
応じた光現象が生じないようにしてゲインの安定化を計
るようにする。
[発明の実施例] 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。第2図はホトマルの一般手金使用回路であり
、ここでは本発明の動作原理を説明するために用いてい
る。
第3図は本発明の一実施例を示す回路図であり、図中1
はボトマルで、このホトマル1のカソード(受光面)K
には測定光5と補償光6とが入るように光学的に結合さ
れる。また、ホトマル1のツノソードには直流の高圧電
源3に接続され、ダイノードDY1.〜DY4 (一般
的には10段程度のダイノード使用するが、ここでは4
段に省略した)には抵抗R1〜R5によるブリーダ抵抗
4によって分圧された各々異なる電圧が印加される。こ
のブリーダ抵抗4のアース側にはアンプA2の入出方間
に負帰還用の抵抗R6を接続した電流検出アンプが接続
されており、前記ブリーダ抵抗4におけるR5の抵抗に
流れる電流に化例した電圧V1が出力される。
一方、前記高圧電源3には、イの負極側に、もう一つの
抵抗R7が接続され、この抵抗R7は負韻 帰還用の抵抗R8を入出ノJ鰹に接続したアンプAや 3に接続されていR7を流れる電流はこのアンプA3に
より、電圧V2に変換される。7はアンプA2とアース
間に直列抵抗R9,R10を接続し、ぞの分圧点の出力
をオペアンプA4の非反転側の入力端子に接続するとと
もにアンプA3の出力V2を入力抵抗R11を介して、
オペアンプA4の反転個人ツノ端子に与え、また、オペ
アンプA4の反転側入力端子と出力端子間に負帰還用の
抵抗R12を接続してなる差動増幅器である。この差動
増幅器7は前記検出電圧V1.V2の差電圧v3を出力
する。8は制御アンプであり、前記差電圧V3はこの制
御アンプ8によって増幅され、抵抗R14,スイッチS
3の直列回路を介して、前記ホトマル1への補償光6を
発光するための発光ダイオードD3をドライブする構成
としである。制御アンプ8はオペアンプA5の反転側入
力端子と出ノ〕端子との間にコンデンサC1と可変抵抗
VR1の並列回路を接続し、また、反転側入力端子とア
ース間には抵抗R15と可変直流電源VRの直列回路を
接続し、更に、非反転側入力端子&、!設置して構成し
である。R13は反転個人ツノ端子とアンブ7の出力端
子との間にぼ続された入力抵抗で・ある。
一方、ホトンル1の出力(プレート側出力)はスイッチ
$2を介してオペアンプA1とコンデンサCf、抵抗R
fよりなる電流検出アンプ2に接続されるとともに、ス
イッチS2と逆の動作をするスイッチS1を介して接地
されでいる。スイッチSl、S2,83はタイミング信
号を出力するタイミング制御部9の該タイミング信号に
よりオン、Aノ制御されるが、ここではSl、$3と8
2は互いに逆タイミングでオン、オフを繰り返すように
制御される。
尚、上記可変直流電源VRはホトマル1の平均陽極電流
を決める為の基準電源であり、また、Dl、D2はアン
プAI、A3の入力保護用のダイオードである。
つぎに上記構成の本装置の作用について説明す理を説明
する。今、ダイノードDYI〜DY4各々の間に接続さ
れた抵抗R1〜R5にそれぞれiもとにホトマル陽極電
流ipを制御しようとするものである。従って、ipと
15の関係をめるとつぎのようになる。
i4.+−タ+謙(t J> <匁しべ1才ダイノーL
−一段5つのt沁輻年)−m−・(1) j”’ ”” 7(1−c!、)−LrlF(1”、:
)−(を十4)−−−(2) L 2 = t−3+ 、<−(’ −a ) :tξ
すiP(+−,:)/+士、;す―ト、)−−−(’、
) ε1:i2+透(1−如請÷1P(I−C+X1+麦i
ら)−−−(4) また、粕”し、高圧・5尉、シ乞fニーEtTh ’c
第3ヒRミεH?t−cε2・lJ2+(:3・R3t
i4・餌tis、p、t; −−−リ= )εj+CP
<11cA’)(ff7千、、1− 雀) k・R1十
(IL、t”Lp (f−伎)(tri十協)1・幻q
u+jr(イー1)(ri −、長子)Ii≧3−+1
ir十1r(t−f)’3−a<−t−i、r−Flr
 −−−<AノR(、〜R5,へt−乞上す3ヒ VH=L計A +1−p−e> −m−09士((土+
)・R3t R45−C10)パ、bp=看(R+−A
・を女) −(I+)と6)。
今、VHが一定とすると15を想定することによって一
義的にipを決定することができる。
しかしながら、ホトマルの高電圧V+は、ホトマルの感
度変化やホトマルを交換した場合には変えることが多い
。従って、陽極電流ipを検出するためにはVl(の影
響があってはならない。
すなわら、上記第11式からV+/Bを減算することに
よって、VHの影響をなくすことができる。
jp’= j、p−手 ・・・(12)パ、εP’=舌
・A−εr ・・・(13)以上のことから、第2図の
回路においてブリーダ電流i5を検出し、VH/’Bを
差し引くことによって、ホトマルの陽極電流を知ること
ができる。
つぎに第3図に示す本装置の作用について説明イミング
制御部9の出力する亙いに反転した出力であるタイミン
グ信号によりスイッチS1.S3とS2は亙いに相補的
に動作し、本実施例ではSl、S3のオン時間がims
、オフ時間が100m5に設定しである。従って、当然
のことながらスイッチS2のAン/オフ時間はスイッチ
81゜S3と逆になる。尚、このオン/オフの周期とデ
コーディはホ1〜マルのゲイン変動の時間的速さと、こ
の測定系の哨定数と、補償光6の強度およびホトマルの
最大陽極電流によって決められる範囲なら特に制約はな
い。
つぎに測定光5の測定について説明する。このモードで
はスイッチS2のみが閉になっ−Cおり、スイッチS1
.S3は開になっている。従って。
補償光6は消灯しており、測定光5のみがホトマル1へ
入則し、このホトマルにて増幅され(、陽極からスイッ
チS2を経て出力アンプ2に入り、ここで電圧に変換さ
れて、測定出力Vo になる。
つキニ補償光6の入射タイミングについて説明する。こ
の時はスイッチS1と83が閉になっており、スイッチ
82は間になっている。従って、この期間ではアンプ2
にはホトマル1の出九電流は入力されない。
一方、スイッチS3の閉により制御アンプ8の出力が発
光ダイオードD3に印加されるので、発光ダイオードD
3は、この印加電圧に対応した光を発光してホトマル1
に補償光6として与える。
従って、ボトマルコには該補償光6と測定光5が入則し
、このホトマル1によって増幅されて、電流信舅として
出力される。この電流(8@はスイッチS1を介してア
ースf\と流れ、アンプ2へは入力されない。この時、
補償光の強度(明るさ)は制御アンプ8の可変抵抗VR
1によりゲイン制御されて小トマルの平均陽極電流が一
定になるような値にコントロールされている。
一方、ボトマル陽極電流検出系は、スイッチ81〜S3
の動作に関係なく常時、働いている。すなわち、該検出
系を構成するアンプA2の出力V1は第11式より Vイ −p+ −pb = EL−(1,−e−ir 
)へ ・・・ (14) となり、高圧検出用のアンプA3の出力V2はVz−釘
′:V8 に7 °−(15) となる。従って、差動アンプ7の出力電圧V3はR9=
R10=R11=R12とづるとV3℃l/I−Vz 、 同 A (V+−+ 13tP)−可°Vsそして、昭−!
に定数を選、s;と 八 k7 V3=−医」・ip ・・・(17) となり、差動アンプ7の出力電圧V3はボトマル陽極電
流に化例した値となる。この出力電圧V3はアンプA3
の出力と設定電圧v2との差を取り、制御アンプ8で増
幅して発光ダイオードD3を点灯ざゼる。制御アンプ8
のゲイン調整用抵抗VR1は、ホ1〜マル陽極電流制御
の安定度や精度に応ボトマルの安定度(刻時間)や測定
光5の時間変動の速さによって選択される。
この結果、補償光はホトマル1の平均陽極電流を一定に
保つに必要な光れ整される。
このように補償光より平均陽極電流を一定に制御するの
で、測定光が変化したとしても平均陽極電流は変化ゼず
、従って、ボトマルのゲイン変動が極めC少なく、精度
の良い測定が出来るようになり、また、比較的簡単な回
路によって高い安定度か得られる。特に、特別な基準光
を用意して、これによって、ゲイン変動を検出し、ボト
マルに印加づる高電圧を制御する方式に比較づると、使
のアンプへ3で検出して差動アンプ7に与えるようにし
lこ高圧変動に対する補償回路を有しているため、ホト
・マルに印加している高圧電圧を変化ざゼても、平均陽
極電流は変化しないことから測定装置の信頼性を飛躍的
に向上させることができる。
また、補償光のオン77オフのタイミングとデコーディ
の変動は測定光に対づる出力電圧Vo や制御系V1.
V3に対して木質的に影響しないため、回路設計が楽に
なるなとの利点が得られる。
なお、本発明は上記し、かつ図面に示す実施例に限定す
ることなくその装置を変更しない範囲内で適宜変形して
実施し得るものであり、例えば上記実施例では補償光源
に発光ダイオードを用いた例を示したが、その他、白熱
ランプ等を用いても良い他、差動アンプ7と制御アンプ
8は一体にしても良い。また、電流検出アンプA3を省
略して、差動アンプ7で直接検出するようにしても良い
更に、本発明はパルスカウント方式の回路に適用やる場
合には、上記スイッチSl、S2.S3を省略して、タ
イミング制御部を取り除くこともできる。この場合、ス
イッチS1の部分は開、S2゜S3の位置は開になるよ
うにしておく。これにより、常時、発光ダイオードが点
灯して平均陽極電流を一定にすることができる。
[発明の効果] 以上、詳述したように本発明によれば、ホトマルの入射
光量や印加高電圧が変化しても、平均陽極電流が一定に
なるように陽極電流に応して補償光の量を制御りるよう
にしたので、安定したゲインが肖られ、したがって、ダ
イノードの疲労・回復現象の影響を受【プなくなり、1
111〜ンルによる測定装置において、高宥定でしかも
高精度の測定ができるホトマルチプライヤ安定化回路を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はij\トマルチプライヤの入射光量変化とそれ
によるゲインの変動の関係を示す図、第2図は本発明の
詳細な説明するための図、第3図は本発明の一実施例を
示す回路図である。 1・・・ボトマル、2・・・電流検出アンプ、3・・・
高圧電源、4・・・ブリーダ抵抗、5・・・測定光、6
・・・補償光、7・・・差動アンプ、8・・・制御アン
プ、9・・・タイミング制御部、D3・・・発光ダイオ
ード。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 糎 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 各ダイノートに分圧用ブリーダ抵抗を介して高@汗を印
    加するようにしてなり、測光対象光を検出しC電気信号
    に変換するホトマルチプライヤの前記ブリーダ抵抗電流
    を検出する回路と、前記高圧電圧を検出覆る回路と、こ
    れら両回踏出力の差出ツノを得る差動回路と、ホトマル
    チプライヤに補償光を5える光源と、平均陽極電流を定
    める基準信号発生回路と、この基準信号発生回路出力と
    前記差動回路用ツノとの加算出力を増幅して前記光源に
    与える回路とより構成したことを特徴とするホトマルチ
    プライヤ安定化回路。
JP6365784A 1984-03-31 1984-03-31 ホトマルチプライヤ安定化回路 Pending JPS60207015A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6365784A JPS60207015A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 ホトマルチプライヤ安定化回路
US06/717,819 US4661693A (en) 1984-03-31 1985-03-29 Photomultiplier control circuit having a compensating light source

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6365784A JPS60207015A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 ホトマルチプライヤ安定化回路

Publications (1)

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JPS60207015A true JPS60207015A (ja) 1985-10-18

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ID=13235635

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JP6365784A Pending JPS60207015A (ja) 1984-03-31 1984-03-31 ホトマルチプライヤ安定化回路

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JP (1) JPS60207015A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5179423A (en) * 1991-07-26 1993-01-12 Kollmorgen Corporation Gain stabilized self-scanning photo-diode array

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5179423A (en) * 1991-07-26 1993-01-12 Kollmorgen Corporation Gain stabilized self-scanning photo-diode array

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