JPH0412819B2 - - Google Patents

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JPH0412819B2
JPH0412819B2 JP25255184A JP25255184A JPH0412819B2 JP H0412819 B2 JPH0412819 B2 JP H0412819B2 JP 25255184 A JP25255184 A JP 25255184A JP 25255184 A JP25255184 A JP 25255184A JP H0412819 B2 JPH0412819 B2 JP H0412819B2
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JP
Japan
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signal
light
pulse signal
intensity
pulse
Prior art date
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Expired
Application number
JP25255184A
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English (en)
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JPS61129538A (ja
Inventor
Hiroyuki Sakakibara
Yoshuki Kago
Nobuyoshi Onoki
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Denso Corp
Soken Inc
Original Assignee
Nippon Soken Inc
NipponDenso Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Soken Inc, NipponDenso Co Ltd filed Critical Nippon Soken Inc
Priority to JP25255184A priority Critical patent/JPS61129538A/ja
Publication of JPS61129538A publication Critical patent/JPS61129538A/ja
Publication of JPH0412819B2 publication Critical patent/JPH0412819B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、周期的に入射するパルス光の強度を
測定するパルス光パワーメータに関する。
〔従来の技術〕
近年、距離測定や通信等の分野において広くパ
ルス光が使用されており、特に可視領域で、高出
力のレーザパルス光を使用する場合には、その強
度を人間の目の安全基準値以下の設定する必要が
ある。
そこで、パルス光の強度を正確に測定できるパ
ワーメータが要望されているが、従来のパワーメ
ータは連続光の測定を目的としたものであつて、
所定時間内に入射するパルス光の平均強度を測定
するものであるから、同一強度のパルス光でもそ
のパルスデユーテイ比によつて測定値が変化して
正確なパルス光強度が得られないという問題があ
つた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明は上記問題点に鑑み、パルスデユーテイ
比に無関係にパルス光の強度を正確に測定するこ
とが可能なパルス光パワーメータを提供すること
を目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のパワーメータの構成を第1図に示す。
パワーメータは、受光素子1、トリガパルス発生
回路2、延長パルス発生回路3、光強度出力回路
4およびフイードバツク路5より構成される。
受光素子1は、周期的に入力するパルス光Lを
受光して、これに応じて受光パルス信号Viを発す
る。トリガパルス発生回路3は、上記受光パルス
信号Viを入力して、そのピークレベルが参照信号
Vrの信号よりも大きい場合にトリガパルス信号
V2を発する。
延長パルス発生回路3は、上記トリガパルス信
号V2により作動せしめられ、上記パルス光Lの
周期よりもやや長いパルス幅の延長パルス信号
V3を発する。光強度出力回路4は、延長パルス
信号V3入力時に所定の傾きで増加し、延長パル
ス信号V3非入力時に所定の傾きで減少する信号
を光強度信号V0として出力する。光強度信号V0
は、フイードバツク路5により、参照信号Vr
してトリガパルス発生回路2にフイードバツクさ
れる。
〔作用、効果〕
上記構成により、光強度信号V0は、受光パル
ス信号Viのピークレベルに良く追従して変化せし
められる。したがつて、パルス光Lのパルスデユ
ーテイ比には無関係に、上記光強度信号V0より
正確にパルス光の強度を知ることができる。
〔実施例〕
第2図に本発明のパワーメータの構造を示す。
パワーメータは角形ケース7を有し、該ケース7
は内部を二室に区画されてその一方には後述する
各回路を形成したプリント基板8が収納され、他
方には上記各回路に電源を供給する乾電池9A,
9Bが収納してある。上記ケース7の側面にはパ
ルス光Lを受光するPIN型フオトダイオード1が
設けられ、またケース7の上面には光強度を指示
する電圧計6および電源投入用スイツチ10が設
けてある。これらはリード線によりプリント基板
8に接続されている。乾電池9A,9Bを収納し
た室の側壁は着脱可能な蓋71としてある。
第3図には、プリント基板8上に形成した各回
路の回路図を示す。図中2はトリガパルス発生回
路としてのレベルコンパレータ、3は延長パルス
発生回路としての単安定マルチバイブレータ、4
は光強度出力回路、5はフイードバツク路であ
る。光強度出力回路4はレベルコンパレータ4
1、積分回路を構成する抵抗42およびコンデン
サ43、バツフア用オペアンプ44より構成され
ている。
以下、上記各回路の作動を第4図を参照しつつ
説明する。
バイアス電圧VBを印加したフオートダイオー
ド1は、これに入射する一定周期T1のパルス光
L(第4図1)に応じた光電流を出力し、該光電
流は抵抗12にて電圧に変換されて受光パルス信
号Vi(第4図2)として出力される。なお、図中
11はバイパス用キヤパシタである。
受光パルス信号Viはコンパレータ2に入力し、
ここで参照信号Vrと比較される。該参照信号Vr
は、後述の光強度信号V0をフイードバツク路5
を経てフイードバツクしたものである。コンパレ
ータ2は、受光パルス信号Viのピークレベルが参
照信号Vrより大きい場合にトリガパルス信号V2
(第4図3)を発する。
トリガパルス信号V2を入力したマルチバイブ
レータ3は、上記パルス光Lの周期T1よりもや
や長いパルス幅T2の延長パルス信号V3(第4図
4)を発する。なお、上記パルス幅T2は抵抗3
1とコンデンサ32で設定される。
延長パルス信号V3はコンパレータ41へ入力
する。該信号V3は、定電圧Vthと比較されてその
二値レベルが判定され、コンパレータ41は上記
判定結果に応じて所定電圧VAで正負に変化する
比較信号V4(第4図5)を出力する。上記電圧VA
は受光パルス信号Viの電圧VBよりも大きく設定
しておく。
抵抗42とコンデンサ43は上記信号V4を積
分し、その正負に応じて所定量づつ増加しあるい
は減少する積分信号V5(第4図6)を発する。積
分信号V5はボルテージフオロワとして構成した
オペアンプ44によりインピーダンス変換されて
光強度信号V0(第4図7)として出力され、光強
度指示用電圧計6に入力する。また、上記信号
V0は上述の如くフイードバツク路5によりコン
パレータ2にフイードバツクされる。
受光パルス信号Viのピークレベルが参照信号
Vrすなわち光強度信号V0の信号レベルより高い
間は、上記信号Viの入力毎にトリガパルス信号
V2が出力される。これにより、延長パルス信号
V3はこの間「1」レベルに維持され、光強度信
号V0は一定の傾きで増加する。光強度信号V0
信号レベルが受光パルス信号Viのそれよりも大き
くなると(図中A点)トリガパルス信号V2は停
止し、延長パルス信号V3はその後「0」レベル
となる。
延長パルス信号V3が「0」レベルになると、
光強度信号V0は一定の傾きで減少する。光強度
信号V0が受光パルス信号Viよりも小さくなると
(図中B点)再びトリガパルス信号V2が出力され
て光強度信号V0が増加を開始する。このような
過程を繰り返すことにより、光強度信号V0の信
号レベルは、ほぼ受光パルス信号Viのピークレベ
ルに追従一致せしめられる。かくの如き光強度信
号V0を入力した電圧計6の指示値よりパルス光
Lの強度を知ることができる。
すなわち、フオトダイオード1の有効受光面積
をS〔cm2〕、その放射感度をK〔A/W〕、抵抗12
の抵抗値をr〔Ω〕とすると、単位面積当りの光
パワー密度Pは P=V0/K・r・S で与えられ、電圧計6の目盛は、上記密度Pを直
読可能なように換算して付しておく。
なお、本発明のパワーメータの較正は、一定の
連続光の光源を測定して、従来のメータと比較す
ることにより行なうことができる。
上記抵抗42とコンデンサ43の時定数は、光
強度信号V0の追従性を悪化せしめない程度に、
パルス光Lの周期1よりも充分大きくしておく。
フオトダイオード1より受光パルス信号Viを得
る経路には第5図に示す如く利得可変回路を設け
ることができる。すなわち、図において、抵抗1
2にはこれと並列に、互いに直列に接続した抵抗
13とスイツチ14を接続する。19は、抵抗1
6,17,18およびスイツチ15とともに非反
転増幅回路を構成するオペアンプである。上記ス
イツチ14,15を適宜開閉することにより、利
得の調整が可能である。
第6図に示す如く、フオトダイオード1の前方
に集光レンズ72を設けて、入射光を効率的に上
記ダイオード1に集光せしめることにより、測定
感度を上昇せしめることも可能である。
以上の如く、本発明のパルス光パワーメータ
は、周期的に入射するパルス光のピークレベルを
精度良く知ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示す図、第2図はパワ
ーメータの構造を示す断面図、第3図はその回路
図、第4図はその作動を示す波形図、第5図は他
の実施例を示す回路図、第6図はさらに他の実施
例を示すパワーメータの部分断面図である。 1……フオトダイオード(受光素子)、2……
コンパレータ(トリガパルス発生回路)、3……
単安定マルチバイブレータ(延長パルス発生回
路)、4……光強度出力回路、41……コンパレ
ータ、42……抵抗、43……コンデンサ、44
……オペアンプ、5……フイードバツク路、6…
…電圧計、72……集光レンズ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一定周期のパルス光を受光し、これに応じて
    受光パルス信号を発する受光素子と、上記受光パ
    ルス信号を入力してそのピークレベルが参照信号
    の信号レベルよりも大きい場合にトリガパルス信
    号を発するトリガパルス発生回路と、上記トリガ
    パルス信号により作動せしめられ上記パルス光の
    周期よりやや長いパルス幅の延長パルス信号を発
    する延長パルス発生回路と、延長パルス信号入力
    時に所定の傾きで増加し、延長パルス信号非入力
    時に所定の傾きで減少する信号を光強度信号とし
    て出力する光強度出力回路と、該光強度信号を参
    照信号として上記トリガパルス発生回路へフイー
    ドバツクするフイードバツク路とを具備し、上記
    光強度信号よりパルス光の強度を知るパルス光パ
    ワーメータ。
JP25255184A 1984-11-29 1984-11-29 パルス光パワ−メ−タ Granted JPS61129538A (ja)

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JP25255184A JPS61129538A (ja) 1984-11-29 1984-11-29 パルス光パワ−メ−タ

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JPS61129538A JPS61129538A (ja) 1986-06-17
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