JPS60195089A - Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof - Google Patents

Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof

Info

Publication number
JPS60195089A
JPS60195089A JP5064884A JP5064884A JPS60195089A JP S60195089 A JPS60195089 A JP S60195089A JP 5064884 A JP5064884 A JP 5064884A JP 5064884 A JP5064884 A JP 5064884A JP S60195089 A JPS60195089 A JP S60195089A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid phase
phase epitaxial
epitaxial growth
growth
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5064884A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Nakagome
弘 中込
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP5064884A priority Critical patent/JPS60195089A/en
Publication of JPS60195089A publication Critical patent/JPS60195089A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B19/00Liquid-phase epitaxial-layer growth
    • C30B19/12Liquid-phase epitaxial-layer growth characterised by the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

PURPOSE:To produce a high-quality liquid-phase epitaxial growth layer, at a low cost, by covering the cavity for holding the growth substrate with a protection substrate having a frame-shaped thin film resistant to the etchant of the main body, and heating the growth substrate, etc. CONSTITUTION:The growth substrate 4 is placed in the cavity 3 of the substrate table 1, and the cavity 3 is covered with the protection substrate 5 composed of the protection substrate main body 13 made of a material containing an element dissipating from said growth substrate 4 by heating and the frame-shaped thin film 14 made of a material resistant to the etchant of the main body. The sliding member 6 having a hole 10 holding the molten liquid 12 of the raw material of the growing layer is placed on the protection substrate 5. The frowth substrate 4 is heated at a prescribed temperature, the sliding member 6 is transferred along the direction of the arrow, the protection substrate 5 is removed from the cavity 4, and the molten llquid 12 is made to contact with the growth substrate 4 to form a liquid-phase epitaxial growth layer. Since the protection substrate 5 has said thin film 14 on the surface contacting with the surface of the substrate table 1 in the etching and mending of the substrate, good flatness of the substrate can be maintained to prevent the damage of the growth substrate 4.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の分野 本発明は、成長用基板上に液相エピタキシャル成長層を
形成させる液相エピタキシャル成長法、及びそれに用い
る保護用基板の改良に関す゛る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a liquid phase epitaxial growth method for forming a liquid phase epitaxial growth layer on a growth substrate, and to improvements in a protective substrate used therein.

本発明の背景 成長用基板上に液相エピタキシャル成長層を形成させる
液相エピタキシャル成長法として、従来、次に述べる方
法が提案されでいる。
Background of the Invention As a liquid phase epitaxial growth method for forming a liquid phase epitaxial growth layer on a growth substrate, the following method has been proposed.

すなわち、第1図に示されているような、平らな表面2
を有し、且つその表面2側から形成されている、液相エ
ピタキシャル成長層の形成されるべき成長用基板4が配
される基板配置用凹所3を有する基板配置用台1を用い
る。
That is, a flat surface 2 as shown in FIG.
A substrate arranging table 1 is used which has a substrate arranging recess 3 formed from the surface 2 side thereof and in which a growth substrate 4 on which a liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is arranged.

また、基板配置用台1の表面2上に、その基板配置用凹
所3を覆って、配置される保護用基板5を用いる。この
場合、保護用具板5は、成長用基板4が加熱されること
によってその成長用基板4から解離して外部に蒸散する
元素を含む材料でなる。
Further, a protective substrate 5 is used, which is placed on the surface 2 of the substrate placement table 1, covering the substrate placement recess 3. In this case, the protective equipment plate 5 is made of a material containing an element that dissociates from the growth substrate 4 and evaporates to the outside when the growth substrate 4 is heated.

さらに、基板配置用台1の表面2と摺接する平らな下面
8を有し、且つ液相エピタキシャル成長層となる材料の
融液12を保持する融液保持部9を基板配置用台1の表
面2と共働して形成する、土面7から下面8に貫通して
いる孔10を有するとともに、下面8側から形成されて
いる、保護用基板5を配置する保護用基板配置用凹所1
1を有する摺動体6を用いる。
Further, a melt holding section 9 having a flat lower surface 8 that is in sliding contact with the surface 2 of the substrate placement table 1 and holding a melt 12 of the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer is attached to the surface 2 of the substrate placement table 1. A recess 1 for arranging a protective substrate 5 in which a protective substrate 5 is disposed, having a hole 10 penetrating from the soil surface 7 to the lower surface 8 and formed from the lower surface 8 side.
1 is used.

しかして、上述した基板配置用台1と、保護用基板5と
、摺動体6とを用いて次の工程をとる。
The next step is then carried out using the above-mentioned substrate placement table 1, protective substrate 5, and sliding body 6.

すなわち、まず、第1図に示すように、基板配置用台1
の基板配置用凹所3内に、液相エピタキシャル成長層の
形成されるべき成長用基板4を配置し、そして、保護用
基板5を、基板配置用台1の表面2上に、成長用基板4
が配置されている基板配置用凹所3を覆って配置した状
態で、且つ基板配置用台1の基板配置用凹所3上に、摺
動体6を、その保護用基板配置用凹所11内に保護用基
板5を配置した状態に配置し、摺動体6の融液保持部9
内に液相エピタキシャル成長層となる材料を収容し1c
状態で、成長用基板3を加熱するとともに、融液保持部
9内に収容されている液相エピタキシャル成長層となる
材料をその融液12が得られるように加熱するという工
程をとる。
That is, first, as shown in FIG.
A growth substrate 4 on which a liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is placed in the substrate placement recess 3, and a protective substrate 5 is placed on the surface 2 of the substrate placement table 1.
The sliding body 6 is placed over the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1, and is placed in the protective substrate placement recess 11. The protective substrate 5 is placed on the melt holding portion 9 of the sliding body 6.
A material that will become a liquid phase epitaxial growth layer is housed in the 1c
In this state, a step is taken in which the growth substrate 3 is heated and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer housed in the melt holding section 9 is heated so that the melt 12 is obtained.

次に、摺動体6を矢示のように、摺動させることによっ
て、成長用基板4を配置している基板配置用凹所3を保
護用基板5に゛よって覆われ □ていない状態にし、そ
して、融液保持部9内に保持されている融液12を基板
配置用凹所3内に配置されている成長用基板4に触れさ
せ、よって、成長用基板4上に融液保持部に保持されて
いる融液の材料でなる液相エピタキシャル成長層を形成
するという工程をとる。
Next, by sliding the slider 6 as shown by the arrow, the substrate placement recess 3 in which the growth substrate 4 is placed is not covered by the protective substrate 5, Then, the melt 12 held in the melt holding part 9 is brought into contact with the growth substrate 4 placed in the substrate placement recess 3, so that the melt 12 is placed on the growth substrate 4 in the melt holding part. A step is taken to form a liquid phase epitaxial growth layer made of the material of the retained melt.

以上が、従来提案されている成長用基板上に液相エピタ
キシャル成長層を形成させる液相エピタキシャル成長法
である。
The above is a conventionally proposed liquid phase epitaxial growth method for forming a liquid phase epitaxial growth layer on a growth substrate.

このような液相エピタキシャル成長法によれば、基板配
置用台1の基板配置用凹所3内に配置された成長用基板
4と、融液保持部9内に収容された液相エピタキシャル
成長層となる材料とを加熱する工程において、その成長
用基板4及び液相エピタキシャル成長層となる材料の加
熱を、成長用基板4が配置されている基板配置用凹所3
が保護用基板5によって覆われている状態で行なってい
るので、成長用基板4から、それが加熱されることによ
って、成長用基板4を構成している元素が解離して蒸散
しても、その蒸散蒸気は基板配置用凹所3内に閉込めら
れ不必要に外部に蒸散しない。また、保護用基板5から
、それが加熱されることによって、保護用基板5を構成
している、成長用基板4から解離蒸散する元素が、基板
配置用凹所3側にも解離蒸散し、そしてそれもまた基板
配置用凹所内に閉じ込められる。
According to such a liquid phase epitaxial growth method, the growth substrate 4 placed in the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1 and the liquid phase epitaxial growth layer accommodated in the melt holding part 9 are formed. In the step of heating the material, the growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer are heated in the substrate placement recess 3 where the growth substrate 4 is placed.
Since the process is performed while the growth substrate 4 is covered with the protective substrate 5, even if the elements constituting the growth substrate 4 dissociate and evaporate from the growth substrate 4 when it is heated, The evaporated vapor is confined within the substrate placement recess 3 and is not unnecessarily evaporated to the outside. Furthermore, when the protective substrate 5 is heated, the elements that dissociate and evaporate from the growth substrate 4 that constitutes the protective substrate 5 also dissociate and evaporate from the substrate placement recess 3 side, And it is also confined within the substrate placement recess.

このため、上述した従来の液相エピタキシャル成長法の
場合、基板配置用台1の基板配置用 ゛凹所3内に配置
された成長用基板4と、融液保持部9内に収容された液
相エピタキシャル成長層となる材料とを加熱する工程に
おいて、成長用基板4から、それを構成している元素が
解離蒸散しても、その量は極めて少なく、従って、成長
用基板4が、この加熱工程において損傷をほとんど受け
ない、という特徴を有する。
For this reason, in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above, the growth substrate 4 placed in the recess 3 of the substrate placement table 1 and the liquid phase accommodated in the melt holding part 9 Even if the constituent elements dissociate and evaporate from the growth substrate 4 in the step of heating the material that will become the epitaxial growth layer, the amount thereof is extremely small. It has the characteristic of being virtually undamaged.

また、このため、成長用基板4上に、液相エピタキシャ
ル成長層を形成する工程において、その液相エピタキシ
↑・ル成長層を所期の特性を有するものとして、容易に
、形成するこ石ができる、という特徴を有する。
Furthermore, in the process of forming a liquid phase epitaxial growth layer on the growth substrate 4, it is possible to easily form a liquid phase epitaxial growth layer with desired characteristics. It has the following characteristics.

しかしながら、上述した従来の液相エピタキシャル成長
法の場合、上述したように、基板配置用台1の基板配置
用凹所3内に配置された成長用基板4と、融液保持部9
内に収容された液相エピタキシャル成長層となる4オ料
とを加熱する工程において、その成長用基板4と、−液
保持部9内に収容された液相エピタキシセル成長層とな
る材お1との加熱を、成長用基板4が配置されている基
板配置用凹所3が保護用基板5によって覆われている状
態で行なっているが、基板配置用台1と保護用基板5と
の間に、上)!トシた基板配置用凹所3内に閉じ込めら
れた蒸散蒸気を通す僅かな間隙を有していることは否め
ない。このため、基板配置用凹所3内に閉じ込められた
上述した元素の蒸散蒸気が、摺動体6を通ったり、基板
配置用台1と摺動体6との間の僅かな間隙を通ったりし
て外部に蒸散するので、保護用基板5がその表面側から
損傷を受け、よってその保護用基板5からの基板配は用
凹所3内への上述した元素の蒸散Mが少なくなる。
However, in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above, as described above, the growth substrate 4 placed in the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1 and the melt holding part 9
In the step of heating the material 1 which will become the liquid phase epitaxial growth layer housed in the liquid-phase epitaxial growth layer, the growth substrate 4 and the material 1 which will become the liquid-phase epitaxial cell growth layer housed in the liquid holding part 9 are heated. Heating is performed with the substrate placement recess 3 in which the growth substrate 4 is placed covered by the protective substrate 5, but there is no space between the substrate placement table 1 and the protective substrate 5. ,Up)! It is undeniable that there is a slight gap through which the evaporated vapor trapped in the depressed substrate placement recess 3 passes. Therefore, the evaporated vapor of the above-mentioned elements trapped in the substrate placement recess 3 passes through the slider 6 or the slight gap between the substrate placement table 1 and the slider 6. Since the element evaporates to the outside, the protective substrate 5 is damaged from its surface side, and therefore, the evaporation M of the above-mentioned elements from the protective substrate 5 into the recess 3 is reduced.

このため、上述した液相エピタキシャル成長法に一旦使
用された保護用基板5は、上述したように、保護用基板
5がその表面側から損傷を受けているので、その保護用
基板5が加熱されても、その保護用基板5からの上述し
た元素の蒸散の母が少なくなっている。従っ°(、上述
した液相エピタキシャル成長法に一旦使用された保護用
基板5は、それをその21、ま上述した液相■ビタキシ
ャル成長法に繰返1)で多数回使用す−ることができず
、従って上述した液相エピタキシャル成長法を繰返して
多数回行なうことによって、液相エピタキシャル成長層
を形成している成長用基板4の多数を廉価に製造するこ
とができない。
For this reason, the protective substrate 5 once used in the liquid phase epitaxial growth method described above is damaged from the surface side as described above, so the protective substrate 5 is heated. Also, the amount of evaporation of the above-mentioned elements from the protective substrate 5 is reduced. Therefore, the protective substrate 5 once used in the liquid phase epitaxial growth method described above can be used many times in the liquid phase bitaxial growth method described above. First, by repeating the liquid phase epitaxial growth method described above many times, it is not possible to inexpensively manufacture a large number of growth substrates 4 on which liquid phase epitaxial growth layers are formed.

また、このような理由で、従来、上述した液相エピタキ
シャル成長法によって一旦使用された保護用基板5を、
上述した液相エピタキシ!/ル成長法を繰返して多数回
使用するために、保護用基板5を上述した液相エピタキ
シャル成長法に1回または少ない回数使用する毎に、そ
の保護用基板5を、それに対するエツチングによってそ
の保護用基板5の表面に受けているii、I (uを除
去して用いることが提案されている。
Moreover, for this reason, conventionally, the protective substrate 5 once used by the above-mentioned liquid phase epitaxial growth method is
Liquid phase epitaxy mentioned above! In order to repeatedly use the epitaxial growth method many times, each time the protective substrate 5 is used once or a small number of times in the above-mentioned liquid phase epitaxial growth method, the protective substrate 5 is etched. It has been proposed to remove ii and I(u) from the surface of the substrate 5.

しかしながら、このように保護用1.I5板5に対しエ
ツチングを施した場合、保護用基板5の下面の平坦性が
、第2図中曲線ANで示8J’ J、うに、側面側から
大きく崩れる。なお、第2図中、曲線AOは、保護用基
板5が、その下面をして平面研磨されたままであるとき
の、保護用基板5の下面の平坦性を示し、また曲線AI
は、保護用基板5が、その下面をして平面研磨されて後
、軽くエツチングされている、保護用基板5が初めて使
用されるときの保護用基板5の下面の平坦性を示してい
る。
However, in this way, protective 1. When etching is performed on the I5 plate 5, the flatness of the lower surface of the protective substrate 5 is greatly degraded from the side surface side, as shown by the curve AN in FIG. In addition, in FIG. 2, the curve AO indicates the flatness of the lower surface of the protective substrate 5 when the lower surface of the protective substrate 5 remains surface-polished, and the curve AI
1 shows the flatness of the lower surface of the protective substrate 5 when the protective substrate 5 is used for the first time, in which the lower surface of the protective substrate 5 is polished and then lightly etched.

従って、保護用基板5を、それに対するエツチングを施
して上述した液相エピタキシャル成長法に使用し、基板
配置用台1の表面2上に保護用基板5を、基板配置用台
1の基板配置用凹所3を覆って配した場合、基板配置用
台1と保護用基板5との間に比較的大なる間隙が局部的
に生じ、よって、上述した成長用基板4と液相エピタキ
シャル成長層となる材料とを加熱する工程において、保
護用基板5から上述した元素の蒸散が多量前られるとし
ても、それが基板配置用凹所3外に蒸散するので、成長
用基板4が損傷を受ける。
Therefore, the protective substrate 5 is etched and used in the liquid phase epitaxial growth method described above, and the protective substrate 5 is placed on the surface 2 of the substrate placement table 1 in the substrate placement groove of the substrate placement table 1. When disposed to cover the substrate 3, a relatively large gap is locally formed between the substrate placement table 1 and the protective substrate 5, so that the growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer are Even if a large amount of the above-mentioned elements are evaporated from the protective substrate 5 during the heating step, the growth substrate 4 is damaged because it evaporates outside the substrate placement recess 3.

このため、保護用基板5を、それに対してエツチングを
施して使用するとしても、その使用する回数に制限を受
ける、という欠点を有し゛(い 1こ 。
Therefore, even if the protective substrate 5 is used after being etched, it has the disadvantage that the number of times it can be used is limited.

本発明の開示 よって、本発明は上述した欠点のない新規な液相エピタ
キシャル成長法を提案せんとするものである。
By the disclosure of the present invention, the present invention seeks to propose a novel liquid phase epitaxial growth method that does not have the above-mentioned drawbacks.

また、本発明は、上述した欠点のない新規な液相エピタ
キシャル成長法に用いる新規な保護用基板を提案せんと
するものである。
The present invention also aims to propose a new protective substrate for use in a new liquid phase epitaxial growth method that does not have the above-mentioned drawbacks.

本願第1番目の発明による液相エピタキシャル成長法に
よれば、第1図を伴なって上述しに従来の液相エピタキ
シャル成長法の場合と同様に、第1図に示されていると
同様の基板配置用台と、保護用基板と、摺動体とを用い
、そして、成長用基板と、液相エピタキシャル成長層と
なる材料とを加熱する工程と、摺動体を摺動させること
によって成長用基板上に液相エピタコ1シヤル成長層を
形成させる工程とをとる。
According to the liquid phase epitaxial growth method according to the first invention of the present application, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above with reference to FIG. A process of heating the growth substrate and the material that will become the liquid-phase epitaxial growth layer using a base, a protective substrate, and a sliding body, and a step of heating the growth substrate and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer, and applying the liquid onto the growth substrate by sliding the sliding body. and a step of forming a phase epitaxial growth layer.

しかしながら、本願第1番目の発明による液相エビタギ
シャル成長法においては、成長用基板と、液相エビクキ
シャル成長層となる材料とを加熱する工程において、成
長用基板を配置している基板配置用台の基板配置用凹所
を覆っている′操短用基板どして、平らな下面を有し、
且つ成長用基板が加熱されることによって成長用基板か
ら解離して外部に蒸散する元素を含む材料でなる保護用
基板本体と、平らな表面を有し、且つ保護用基板本体に
対するエッチャントに対し耐性を有する材料でなる、保
冷用基板本体の下面上に枠状に形成されている薄1模と
を有する保護用基板を用い、しかして、保護用基板本体
と簿膜とを有する保護用基板を、その薄膜が基板配置用
台の表面に接するように、基板配置用台の表面上に、成
長用基板が配置されている基板配置用凹所を覆って配置
した状1で、成長用基板及び液相エピタキシャル成長層
となる材料の加熱を行う。
However, in the liquid phase epitaxial growth method according to the first invention of the present application, in the step of heating the growth substrate and the material that will become the liquid phase evictional growth layer, the substrate placement table on which the growth substrate is placed is heated. A control board covering the board placement recess has a flat bottom surface,
The protective substrate body is made of a material containing an element that dissociates from the growth substrate and evaporates to the outside when the growth substrate is heated, and has a flat surface and is resistant to etchants. A protective substrate having a thin film formed in a frame shape on the lower surface of a cold insulation substrate body made of a material having , the growth substrate and The material that will become the liquid phase epitaxial growth layer is heated.

このため、本願第1番1]の発明による液相エピタキシ
ャル成長法によれば、その液相エピタキシャル成長法に
一旦使用された保護用基板を、繰返して多数回使用する
ために、その保護用基板を、その保護用基板本体に対す
るエツチングによってその保護用基板の保護用基板本体
の表面に受けている損傷を除去して、本発明による液相
エピタキシャル成長法に用いても、一旦使用された保護
用基板の保護用基板本体に対するエツチング時に、保護
用基板の薄膜がエツチングされないかエツチングされて
いるとしても僅かしかエツチングされないので、成長用
基板と液相エピタキシャル成長層となる材料とを加熱す
る工程において、基板配置用台と保護用基板との間に大
なる間隙が局部的に生じておらず、従って、基板配置用
台と保護用基板とが良好な密着性を保っているので、前
述した従来の液相エピタキシャル成長法の欠点を伴うこ
とがない、という特徴を有する。
Therefore, according to the liquid phase epitaxial growth method according to the invention of No. 1 of the present application, in order to repeatedly use the protective substrate that has been used in the liquid phase epitaxial growth method many times, the protective substrate is Even if the damage to the surface of the protective substrate main body of the protective substrate is removed by etching the protective substrate main body and used in the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention, the protective substrate once used can be protected. When etching the main body of the protective substrate, the thin film of the protective substrate is not etched, or if it is etched, it is only slightly etched. Since there is no large gap locally between the substrate placement table and the protective substrate, and therefore good adhesion is maintained between the substrate placement table and the protective substrate, it is possible to use the conventional liquid phase epitaxial growth method described above. It has the characteristic that it does not have the disadvantages of

また、本願第2番目の発明ににる保護用基板によれば、
それが、平らな下面を有し、且っ液相エピタキシャル成
長法によって液相エピタキシャル成長層の形成されるべ
き成長用基板が加熱されるーことによってその成長用基
板から解離して外部に蒸散する元素を含む材料でなる保
護用基板本俸と、平らな表面を有し、且つ保護用基板本
体に対するエッチャントに対し耐性を有゛リ−る材料で
なる、1tVA用基板本体の下面上に枠状に形成された
薄膜とを有している構成を有する。
Further, according to the protective substrate according to the second invention of the present application,
It has a flat lower surface and contains an element that dissociates from the growth substrate and evaporates to the outside when the growth substrate on which the liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is heated by the liquid phase epitaxial growth method. A protective substrate main body made of material, and a frame-shaped frame formed on the lower surface of the 1tVA substrate main body, which has a flat surface and is made of a material that is highly resistant to etchants on the protective substrate main body. It has a structure including a thin film.

このため、本願第2番目の発明による保護用基板によれ
ば、それを、本願第1番目の発明による液相エビタキシ
レル成長法に用いることによって、その本願第1番目の
発明による液相エピタキシャル成長法において、上述し
た特徴を効果的に発揮さ、せることかできる、という特
徴を有する。
Therefore, according to the protective substrate according to the second invention of the present application, by using it in the liquid phase epitaxial growth method according to the first invention of the present application, , it has the characteristic of being able to effectively exhibit the above-mentioned characteristics.

その他、本発明による液相エピタキシレル成長法、及び
それに用いる保護用基板の特徴、利益は、第3図以下の
図面を伴なって以下述べるところから、明らかとなるで
あろう。
Other features and benefits of the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention and the protective substrate used therein will become clear from the following description with reference to FIG. 3 and the subsequent drawings.

本発明の好適な・−前例 第3図は、本発明による液相エピタキシVル成長法の一
例、及びそれに用いる本発明による保護用基板の一例を
示す。
PREFERRED EXAMPLE OF THE INVENTION FIG. 3 shows an example of a liquid phase epitaxial growth method according to the invention and an example of a protective substrate according to the invention used therein.

第3図において、第1図との対応部分には、同一符号を
付して詳細説明を省略する。
In FIG. 3, parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals and detailed explanations are omitted.

第3図に示す本発明による液相エピタキシャル成長法の
一例においては、第1図で上述した従来の液相エピタキ
シ1アル成長法の場合と同様に、第1図に示されている
と同様の、平らな表面2を有し、且つその表面2側から
形成されている、液相エピタキシャル成長層の形成され
るべき成長用基板4が配される基板配置用凹所3を有す
る基板配置用台1を用いる。
In the example of the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention shown in FIG. 3, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above in FIG. A substrate placement stand 1 having a flat surface 2 and a substrate placement recess 3 formed from the surface 2 side and in which a growth substrate 4 on which a liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is placed. use

また、第1図の場合と同様に、基板配置iff用台1の
表面2上に、その基板配置用凹所3を覆って、配置され
る保護用基板5を用いる。しかしながら、その保護用基
板5は、第4図と共に参照して明らかなにうな、平らな
下面を有し、且つ成長用基板4が加熱されることによっ
てその成長用基板4から解離して外部に蒸散−りる元素
を含む材料でなる保護用基板本体13と、平らな表面を
有し、■つ保護用基板71.体に対するエッヂヤントに
対し耐性を有する材料でなる、保護用基板本体13の下
面上に枠状に形成された薄膜14とを有する構成を有す
る。
Further, as in the case of FIG. 1, a protective substrate 5 is used, which is placed on the surface 2 of the board placement if table 1, covering the substrate placement recess 3. However, the protective substrate 5 has a flat lower surface, which is clearly seen with reference to FIG. A protective substrate main body 13 made of a material containing an element that evaporates, and a protective substrate 71 having a flat surface. It has a structure including a thin film 14 formed in a frame shape on the lower surface of the protective substrate main body 13, which is made of a material that is resistant to edgeants on the body.

この場合、基板配置用台1の基板配置用凹所3内に配置
される成長用基Fi4が■−v族化合物半導体例えばl
npでなる場合、成長用基板4が加熱されることによっ
てその成長用基板4から解離して外部に蒸散する元素が
、V1/A元素のPであることにより、保護用基板本体
13は、例えば成長用基板4と同様のIII−v族化合
物例えばInPでなる。
In this case, the growth group Fi4 placed in the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1 is a -v group compound semiconductor, e.g.
In the case of np, the element that dissociates from the growth substrate 4 and transpires to the outside when the growth substrate 4 is heated is P of the V1/A element, so that the protective substrate main body 13 is, for example, It is made of the same III-v group compound as the growth substrate 4, such as InP.

また、保護用基板本体13がInPでなるとき、その保
護用基板本体13は、例えば硫酸(H+ SO+ ) 
と化酸化水素(H+O+)と水(H+O)との混合液を
エッチャントとして用いてエツチングすることができる
ので、薄膜14は、いま述べようなエッヂヤントに対し
て耐性を有する例えばシリコン酸化物(例えば5iO7
)、シリコン窒化物(例えば3!IN+)などでなる。
Further, when the protective substrate body 13 is made of InP, the protective substrate body 13 is made of, for example, sulfuric acid (H+ SO+ ).
Since the thin film 14 can be etched using a mixture of hydrogen oxide (H+O+) and water (H+O) as an etchant, the thin film 14 can be made of silicon oxide (e.g., 5iO
), silicon nitride (for example, 3!IN+), etc.

さらに、第3図に示ず本発明にょる液相エピタキシャル
成長法の一例においては、第1図に示されていると同様
の、基板配置用台1の表面2と摺接する平らな下面8を
有し、且つ液相エピタキシャル成長層となる材料の融液
12を保持する融液保持部9を基板配置用台1の表面2
と共働して形成する、上面7から下面8に貫通している
孔10を有するとともに、下面8側から形成されている
、保護用基板5を配置αする保護用基板配置用凹所11
を有する摺動体6を用いる。
Furthermore, in an example of the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention, which is not shown in FIG. 3, it has a flat lower surface 8 similar to that shown in FIG. In addition, a melt holding part 9 that holds a melt 12 of the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer is placed on the surface 2 of the substrate placement table 1.
A recess 11 for arranging the protective substrate 5 in which the protective substrate 5 is placed α, which is formed in cooperation with the upper surface 7 and has a hole 10 penetrating from the upper surface 7 to the lower surface 8, and which is formed from the lower surface 8 side.
A sliding body 6 having the following is used.

しかして、」−述した基板配置用台1と、保護用基板5
と、摺動体6とを用いて、次の工程をとる。
Therefore, the board arrangement stand 1 and the protective board 5 described above are
and the sliding body 6 to perform the next step.

すなわら、まず、第3図に示で−ように、第1図で上述
した従来の液相エピタキシャル成長法の場合と同様に、
絡板配置用台1の基板配置用凹所3内に、液相エピタキ
シャル成長層の形成されるべき成長用基板4を配置し、
そして、保護用基板5を、基板配置用台1の表面2土に
、成長用基板4が配置されている基板配置用凹所3を覆
って配置した状態で、且つ基板配置用台1の基板配置用
凹所3上に、摺動体6を、その保護用基板配置用凹所1
1内に保護用基板5を配置した状態に配置し、摺動体6
の融液(′A: JjJ部9内に液相エピタキシャル成
長層となる材料を収容した状態で、成長用基板3を加熱
するとともに、融液保持部9内に収容されている液相エ
ピタキシVル成長層となる材料をその融液12が得られ
るように加熱するという工程をとる。
That is, first, as shown in FIG. 3, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above in FIG.
A growth substrate 4 on which a liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is placed in a substrate placement recess 3 of a board placement table 1,
Then, the protective substrate 5 is placed on the surface 2 of the substrate placement table 1, covering the substrate placement recess 3 in which the growth substrate 4 is placed, and the substrate of the substrate placement table 1. The sliding body 6 is placed on the recess 3 for placement, and the recess 1 for placement of the protective substrate is placed on the recess 3 for placement.
The protective substrate 5 is placed inside the sliding body 6.
The growth substrate 3 is heated with the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer accommodated in the JJJ section 9, and the liquid phase epitaxial V layer accommodated in the melt holding section 9 is heated. The process involves heating the material that will become the growth layer so that a melt 12 of the material is obtained.

ただし、この工程にJ3いて、保護用基板5を、保護用
基板5の簿膜14の平らな表面のみが基板配置用台1の
表面2上に接するように、基板配置用台1の表面2に配
した状態で、上述した成長用基板4及び液相エピタキシ
ャル成長層となる材料の加熱を行なう。
However, during this process, the protective substrate 5 is placed on the surface of the substrate placement table 1 so that only the flat surface of the film 14 of the protective substrate 5 is in contact with the surface 2 of the substrate placement table 1. The above-described growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer are heated in the state in which they are placed in the substrate.

次に、第1図で上述した従来の液相エピタキシャル成長
法の場合と同様に、摺動体6を矢示のように、摺動させ
ることによって、成長用基板4を配置している基板配置
用凹所3を保護用基板5によって覆われていない状態に
し、そして、融液保持部9内に保持されている融液12
を基板配置用凹所3内に配置されている成長用基板4に
触れさせ、よって、成長用基板4上に融液保持部に保持
されている融液の材料でなる液相エピタキシャル成長層
を形成するという工程をとる。
Next, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above in FIG. 3 is not covered by the protective substrate 5, and the melt 12 held in the melt holding part 9 is removed.
is brought into contact with the growth substrate 4 placed in the substrate placement recess 3, thereby forming a liquid phase epitaxial growth layer made of the material of the melt held in the melt holding part on the growth substrate 4. The process of doing this is taken.

以上が、本発明による成長用基板上に液相エピタキシャ
ル成長層を形成させる液相エピタキシャル成長法の一例
である。
The above is an example of a liquid phase epitaxial growth method for forming a liquid phase epitaxial growth layer on a growth substrate according to the present invention.

このような液相エピタキシャル成長法によれば、第1図
で一ヒ述した従来の液相エピタキシャル成長法の場合と
同様に、基板配置用台1の基板配置用凹所3内に配置さ
れた成長用基板4と、融液保持部9内に収容された液相
エピタキシ1フル成長層となる材料とを加熱する工程に
おいて、その成長用基板4及び液相エピタキシャル成長
層となる材料の加熱を、成長用基板4が配置されている
基板配置用凹所3が保護用基板5によって覆われている
状態で行なっているので、成長用基板4から、それが加
熱されることによって、成長用基板4をBar成してい
る元素が解離して蒸散しても、その蒸散蒸気は基板配置
用凹所3内に閉込められ、不必要に外部に蒸散しない。
According to such a liquid phase epitaxial growth method, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described in FIG. In the process of heating the substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer 1 that is housed in the melt holding part 9, the heating of the growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer is Since the substrate placement recess 3 in which the substrate 4 is placed is covered with the protective substrate 5, the growth substrate 4 is heated and the growth substrate 4 is exposed to the Bar. Even if the constituent elements dissociate and evaporate, the evaporated vapor is confined within the substrate placement recess 3 and does not unnecessarily evaporate to the outside.

また、保護用基板5の保護用基板本体13から、ぞれが
加熱されることににって、保護用基板5の保護用基板本
体13を構成している、成長用基板4から解離蒸散する
元素が、基板配置用凹所3側にも解離蒸散し、そしてそ
れもまた基板配置用凹所3内に閉じ込められる。
Furthermore, as each of the protective substrate bodies 13 of the protective substrate 5 is heated, the growth substrate 4 forming the protective substrate body 13 of the protective substrate 5 is dissociated and evaporated. The elements also dissociate and evaporate toward the substrate placement recess 3, and are also confined within the substrate placement recess 3.

このため、上述した本発明による液相1ビタキシヤル成
長法の場合も、工法した従来の液相エピタキシャル成長
法の場合と同様に、基板配置用台1の基板配置用凹所3
内に配置された成長用基板4と、融液保持部9内に収容
された液相エピタキシャル成長層となる材料とを加熱す
る工程において、成長用基板4から、それを構成してい
る元素が解離蒸散しても、その量は極めて少なく、従っ
て、成長用基板4が、この加熱工程において損傷をほと
んど受けない、という特徴を有する。
Therefore, in the case of the liquid phase 1 bitaxial growth method according to the present invention described above, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method, the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1 is
In the process of heating the growth substrate 4 placed in the growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer housed in the melt holding part 9, the elements constituting the growth substrate 4 are dissociated. Even if it evaporates, the amount thereof is extremely small, so that the growth substrate 4 is hardly damaged in this heating process.

また、このため、第1図で上述した従来の液相エピタキ
シャル成長法の場合と同様に、成長用基板4上に、液相
エビタキシレル成長層を形成する工程において、その液
相エピタキシャル成長層を所期の特性を有するものとし
て、容易に、形成することができる、という特徴を有す
る。
Furthermore, as in the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above in FIG. It has the characteristic that it can be easily formed.

さらに、上述した本発明による液相エピタキシャル成長
法の場合、上述した従来の液相エピタキシャル成長法の
場合と同様に、基板配置用台1の基板配置用凹所3内に
配置された成長用基板4ど、融液保持部9内に収容され
た液相エピタキシせル成長層となる材料とを加熱りる工
程において、基板配置用台1と保護用基板5との間に、
上述した基板配置用凹所3内に閉じ込められた蒸散蒸気
を通す僅かな間隙を右していることが否めないために、
上述した本発明による液相エピタキシャル成長法に一旦
使用された保護用基板5は、上述したように、保護用基
板5の保護用基板本体13がその表面側から損傷を受け
ているとしても、その保護用基板5の保護用基板本体1
3に対するエツチングによって、その保護用基板5の保
護用基板本体13の表面゛に受けている損傷を除去する
ことができる。
Furthermore, in the case of the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention described above, similarly to the case of the conventional liquid phase epitaxial growth method described above, the growth substrate 4 is placed in the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1. In the process of heating the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer accommodated in the melt holding part 9, between the substrate placement table 1 and the protective substrate 5,
Since it is undeniable that there is a slight gap through which the evaporated vapor trapped in the above-mentioned substrate placement recess 3 is formed,
As described above, even if the protective substrate main body 13 of the protective substrate 5 is damaged from the surface side, the protective substrate 5 once used in the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention described above cannot be protected. Protective board body 1 of board 5
By etching 3, damage to the surface of the protective substrate main body 13 of the protective substrate 5 can be removed.

そして、このように保護用基板5の保護用基板13に対
しエツチングを施しても、−保護用基板5の薄膜14が
エツチングされないかエツチングされているとしても僅
かしかエツチングされないので、保護用基板5が、その
薄膜14の下面の平坦性について、第5図中曲線ANで
示すJ:うに、当初の平坦性から実質的に崩れることが
ない。なお、第5図中、曲ね△0は、保護用基板5が、
その保護用基板本体13の下面をして平面研磨されたま
まであるときの、保護用基板5の下面の平坦性を示し、
また曲線AIは、保護用基板5が、その保護用基板本体
−13の下面をして平面研磨されて後、軽くエツチング
されている、保護用基板5が初めて使用されるときの保
護用基板5の下面の平坦性を示している。
Even if the protective substrate 13 of the protective substrate 5 is etched in this way, the thin film 14 of the protective substrate 5 is not etched, or if it is etched, it is only slightly etched. However, the flatness of the lower surface of the thin film 14 does not substantially deteriorate from its original flatness, as shown by the curve AN in FIG. In addition, in FIG. 5, the bend Δ0 indicates that the protective substrate 5 is
Showing the flatness of the lower surface of the protective substrate 5 when the lower surface of the protective substrate main body 13 remains flat-polished,
Further, the curve AI shows the protective substrate 5 when the protective substrate 5 is used for the first time, in which the lower surface of the protective substrate main body 13 has been flat-polished and then lightly etched. It shows the flatness of the lower surface of

従って、保護用基板5を、その保護用基板本体13に対
するエツチングを施して上述した本発明にJ:る液相エ
ピタキシャル成長法に使用し、基板配置用台1の表面2
上に保護用基板5を、基板配置用台1の基板配置用凹所
3を覆って配した場合、基板配置用台1と保護用基板5
との間が良好な密着性を保っている。よって、−F述し
た成長用基板4と液相エピタキシャル成長層となる材料
とを加熱する工程において、保護用基板5からの上述し
た元素の蒸散が多量骨られるとしても、それが基板配置
用凹所3外に不必要に蒸散することがなく、従って、成
長用基板4が損傷を受ける。
Therefore, the protective substrate 5 is used in the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention described above by etching the protective substrate main body 13, and the surface 2 of the substrate placement table 1 is etched.
When the protective substrate 5 is disposed on top of the substrate placement table 1 to cover the substrate placement recess 3 of the substrate placement table 1, the substrate placement table 1 and the protection substrate 5
Maintains good adhesion between the two. Therefore, even if a large amount of the above-mentioned elements are evaporated from the protective substrate 5 in the process of heating the growth substrate 4 and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer as described above, it will not be possible to remove the evaporation of the above-mentioned elements from the substrate placement recess. Therefore, the growth substrate 4 is not damaged.

このため、保護用u板5を、それに対してエッチン゛グ
を施して使用する場合、その使用する回数の制限を、大
幅に緩和°りることができる、という特徴を有する。
Therefore, when the protective U-plate 5 is used after being etched, it has the characteristic that restrictions on the number of times it can be used can be significantly relaxed.

また、上述した本弁明による液相エピタキシャル成長法
に用いる、第4図に示すにうな保護用基板5によれば、
上述した本発明による液相エピタキシャル成長法におい
て、上述した特徴を効果的に発揮させることができる、
という特徴を有する。
Further, according to the protective substrate 5 shown in FIG. 4 used in the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention described above,
In the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention described above, the above-mentioned characteristics can be effectively exhibited.
It has the following characteristics.

なお、上述においては、本発明による液相エピタキシャ
ル成長法、及びそれに用いる保護用基板のそれぞれにつ
ぎ、−例を述べたに留まり、例えば成長用基板が■−V
族化合物でなる場合ばかりでなく、■−VI M化合物
でなる場合であっても、本発明を適用し得ることは明ら
かであろう。
In the above description, the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention and the protective substrate used therein have only been described as examples. For example, the growth substrate may be
It is clear that the present invention can be applied not only to cases where the compound is a group compound, but also to a case where the compound is a 1-VIM compound.

その他、本発明の精神を説することなしに、種々の変型
、変更をなし得るであろう。
Various other modifications and changes may be made without departing from the spirit of the invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の液相エピタキシャル成長法、及びそれ
に用いる保護用基板を示す路線的断面図である。 第2図は、従来の保護用基板を用いた従来の液相エピタ
キシャル成長法における基板配置用台の基板配置用凹所
内に配置された成長用基板と、液相エピタキシャル成長
層となる材料とを、基板配置用台の表面上に、保護用基
板を、基板配置用凹所を覆って配した状態で加熱する工
程において、基板配置用台と保護用基板との間の密着性
がどうであるかを説明するための、保護用基板の下面の
平坦性を示す図である。 第3図は、本発明による液相エピタキシャル成長′法の
一例、及びそれに用いる保護用基板の一例を示す路線的
断面図である。 第4図は、本発明による液相エピタキシャル成長法に用
いる保護用基板の一例を示す斜視図である。 915図は、本発明による保護用基板を用いIC1本発
明による液相エピタキシャル成長法における、基板配置
用台の基板配置用凹所内に配置された成長用基板と、液
相エピタキシャル成長層となる材1′!1とを、基板配
置用台の表面上に、保護用基板を、基板配置用凹所を覆
って配した状態で加熱する工程において、基板配置用台
と保護用基板との間の密着性がどうであるかを説明する
ための、保護用基板の下面の平坦性を示ず図である。 1・・・・・・・・・基板配置用台 2・・・・・・・・・基板配置用台1の表面3・・・・
・・・・・基板配置用台1に形成されCいる基板配置用
凹所 4・・・・・・・・・液相エピタキシャル成長層の形成
されるべき成長用基板 5・・・・・・・・・保護用基板 6・・・・・・・・・摺動体 7・・・・・・・・・摺動体6の上面 8・・・・・・・・・摺動体6の下面 9・・・・・・・・・融液保持部 10・・・・・・・・・融液保持部9を構成している孔
11・・・・・・・・・保護用基板5が配置される保護
用基板配置用凹所 12・・・・・・・・・液相エピタキシャル成長層とな
る材料の融液 13・・・・・・・・・・保護用基板5の保護用基板本
体14・・・・・・・・・保護用基板5の薄膜出願人 
日本電信電話公社 第1図 旦 第2図 I[17向の足置−一◆ 第3図 第4図 第5図 口ηpJu凪肛□
FIG. 1 is a sectional view showing a conventional liquid phase epitaxial growth method and a protective substrate used therein. FIG. 2 shows a growth substrate placed in a substrate placement recess of a substrate placement table in a conventional liquid phase epitaxial growth method using a conventional protective substrate, and a material that will become a liquid phase epitaxial growth layer. In the process of heating the protective substrate placed on the surface of the placement table, covering the substrate placement recess, the adhesion between the substrate placement table and the protection substrate is checked. It is a figure which shows the flatness of the lower surface of a protective board|substrate for explanation. FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention and an example of a protective substrate used therein. FIG. 4 is a perspective view showing an example of a protective substrate used in the liquid phase epitaxial growth method according to the present invention. Figure 915 shows the growth substrate placed in the substrate placement recess of the substrate placement table and the material 1' that will become the liquid phase epitaxial growth layer in the liquid phase epitaxial growth method of the present invention using the protective substrate of the present invention. ! In the step of heating 1 with the protective substrate placed on the surface of the substrate placement table covering the substrate placement recess, the adhesion between the substrate placement table and the protection substrate is improved. FIG. 4 is a diagram that does not show the flatness of the lower surface of the protective substrate for explaining the situation. 1...... Board placement stand 2... Surface of board placement stand 1 3...
. . . Substrate placement recess 4 formed in the substrate placement table 1 . . . Growth substrate 5 on which a liquid phase epitaxial growth layer is to be formed. ...Protection substrate 6...Sliding body 7...Top surface 8 of sliding body 6...Bottom surface 9 of sliding body 6... ...... Melt holding section 10 ... Hole 11 constituting melt holding section 9 ... Protective substrate 5 is arranged Recess for arranging the protective substrate 12... Melt liquid 13 of the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer... Protective substrate main body 14 of the protective substrate 5... ... Thin film applicant of protective substrate 5
Nippon Telegraph and Telephone Public Corporation Figure 1 Figure 2 Figure I [17 direction foot rest - 1◆ Figure 3 Figure 4 Figure 5 mouth

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、平らな表面を有し、且つその表面側から形成されて
いる、液相エピタキシ1?ル成長層の形成されるべき成
長用基板が配置される基板配置用凹所を有する基板配置
用台と、 上記基板配置用台の表面上に、上記基板配置用凹所を覆
って、配置される保護用基板と、上記基板配置用台の表
面と摺接する平らな下面を右し、且つ液相エピタキシト
ル成長層となる材料の融液を保持する融液保持部を上記
基板配置用台の表面と共働し°C形成する、上面から下
面に貫通している孔を有するとともに、上記保護用基板
を伴ない、且つ上記融液収容部内に上記融液を保持して
いる状態で、上記基板配置用台の表面上を、上記基板配
置用凹所上を通って摺動する摺動体とを用い、上記基板
配置用台の基板配置用凹所内に液相エピタキシャル成長
層の形成されるべき成長用基板を配置し、上記保護用基
板を、上記基板配置用台の表面上に、上記成長用基板が
配置されている上記基板配置用凹所を覆って配置した状
態で、且つ上記基板配置用台の表面上に、上記摺動体を
配置し、上記摺動体の融液保持部内に、液相エピタキシ
ャル成長層となる材料を収容した状態で、上記成長用基
板を加熱するとともに、上記融液保持部内に収容されて
いる上記液相エピタキシャル成長層となる材料をその融
液が得られるように加熱する工程と、 次に、上記摺動体を、上記融液保持部内に保持されてい
る融液が上記基板配置用凹所内に配置されている上記成
長用基板に触れるように、摺動させることによって、上
記成長用基板上に、上記融液の材料による液相エピタキ
シャル成長層を形成させる工程とをとる液相エピタキシ
ャル成長法において、 上記保護用基板として、平らな下面を有し、且つ上記成
長用基板が加熱されることによって上記、成長用基板か
ら解離して外部に蒸散する元素を含むU IIでなる保
護用基板本体と、平らな表面を有し、且つ上記保護用基
板本体に対するエッチャントに対し耐性を有する材料で
なる、上記保護用基板本体の下面上に枠状に形成されて
いる薄膜とを有する保護用基板を用い、 上記成長用基板及び上記液相エピタキシャル成長層とな
る材料を加熱する上記工程において、上記保護用基板本
体と上記薄膜とを有する保護用基板を、その薄膜が上記
基板配置用台の表面に接するように、上記基板配置用台
の表面上に、上記成長用基板が配置されている上記基板
配置用凹所を覆って配置した状態で、上記成長用基板及
び上記液相エピタキシャル成長層どなる材料の加熱を行
うことを特徴とする液相エピタキシャル成長法。 2、平らな下面を有し、且つ液相エピタキシャル成長法
によって液相エピタキシャル成長層の形成されるべき成
長用基板が加熱されることによって上記成長用基板から
解離して外部に蒸散する元素を含む材料でなる保護用基
板本体と、平らな表面を有し、且つ上記保護用基板本体
に対するエッチャントに対し耐性を有する材料でなる、
上記保護用基板本体の下面上に枠状に形成された薄膜と
を有することを特徴とする液相エピタキシt・ル成長法
に用いる保護用基板。
[Claims] 1. Liquid phase epitaxy having a flat surface and formed from the surface side 1? a substrate placement table having a substrate placement recess in which a growth substrate on which a growth layer is to be formed is placed; A protective substrate is placed on the right side of the substrate placement table, and a melt holding portion that holds the melt of the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer is placed on the right side of the substrate placement table and has a flat bottom surface that is in sliding contact with the surface of the substrate placement table. The above-mentioned device has a hole penetrating from the upper surface to the lower surface that cooperates with the surface to form a °C, and is accompanied by the protective substrate and holds the melt in the melt storage section. A liquid phase epitaxial growth layer is to be formed in the substrate placement recess of the substrate placement table using a sliding member that slides over the substrate placement recess on the surface of the substrate placement table. the protective substrate is placed on the surface of the substrate placement table, covering the substrate placement recess in which the growth substrate is placed, and The above-mentioned sliding body is arranged on the surface of the table, and with the material to be a liquid phase epitaxial growth layer accommodated in the melt holding part of the above-mentioned sliding body, the growth substrate is heated, and the melt holding part is heated. a step of heating the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer housed in the liquid phase epitaxial growth layer so as to obtain a melt of the material; A liquid phase forming a liquid phase epitaxial growth layer of the melt material on the growth substrate by sliding the growth substrate placed in the placement recess so as to touch the growth substrate. In the epitaxial growth method, the protective substrate is made of U II, which has a flat lower surface and contains an element that dissociates from the growth substrate and evaporates to the outside when the growth substrate is heated. A protective substrate having a substrate body, and a thin film formed in a frame shape on the lower surface of the protective substrate body, which is made of a material that has a flat surface and is resistant to the etchant applied to the protective substrate body. In the step of heating the growth substrate and the material that will become the liquid phase epitaxial growth layer using a substrate, the protective substrate having the protective substrate main body and the thin film is heated so that the thin film is on the surface of the substrate placement table. The growth substrate and the liquid phase epitaxial growth layer are placed on the surface of the substrate placement table so as to be in contact with the substrate placement recess in which the growth substrate is placed. A liquid phase epitaxial growth method characterized by heating. 2. A material having a flat lower surface and containing an element that dissociates from the growth substrate and evaporates to the outside when the growth substrate on which the liquid phase epitaxial growth layer is to be formed is heated by the liquid phase epitaxial growth method. a protective substrate body having a flat surface and made of a material that is resistant to etchants on the protective substrate body;
A protective substrate for use in a liquid phase epitaxial growth method, comprising a thin film formed in a frame shape on the lower surface of the protective substrate main body.
JP5064884A 1984-03-15 1984-03-15 Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof Pending JPS60195089A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5064884A JPS60195089A (en) 1984-03-15 1984-03-15 Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5064884A JPS60195089A (en) 1984-03-15 1984-03-15 Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60195089A true JPS60195089A (en) 1985-10-03

Family

ID=12864755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5064884A Pending JPS60195089A (en) 1984-03-15 1984-03-15 Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60195089A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0368386A (en) * 1989-08-08 1991-03-25 Namco Ltd Shooting game machine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0368386A (en) * 1989-08-08 1991-03-25 Namco Ltd Shooting game machine

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3740280A (en) Method of making semiconductor device
EP0046501B1 (en) Process of forming recessed dielectric regions in a silicon substrate
US4361600A (en) Method of making integrated circuits
EP0520216B1 (en) Fabrication of defect free silicon on an insulating substrate
KR970011134B1 (en) Process for preferentially etching polycrystalline silicon
US4199384A (en) Method of making a planar semiconductor on insulating substrate device utilizing the deposition of a dual dielectric layer between device islands
US4053350A (en) Methods of defining regions of crystalline material of the group iii-v compounds
JPS5474682A (en) Semiconductor and its manufacture
US3743552A (en) Process for coplanar semiconductor structure
JPS57176772A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
GB2106419A (en) Growth of structures based on group iv semiconductor materials
JPS59207632A (en) Method of producing metal silicide or silicide polysilicon double layer structure
US3698947A (en) Process for forming monocrystalline and poly
JPS60195089A (en) Method for liquid-phase epitaxial growth and protecting substrate with use thereof
US5336633A (en) Method of growing single crystal silicon on insulator
JPH0468770B2 (en)
JPH01313974A (en) Method of manufacturing polycrystalline silicon semiconductor resistance layer on silicon substrate and silicon pressure sensor manufactured by the method
JP2527016B2 (en) Method for manufacturing semiconductor film
JPS5772346A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS56129337A (en) Insulative separation structure for semiconductor monolithic integrated circuit
JPH02152221A (en) Manufacture of soi substrate
JPS56130940A (en) Manufacture of semiconductor device
JP3011741B2 (en) Semiconductor substrate manufacturing method
JPH049371B2 (en)
JPH0727983B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for semiconductor