JPS60183875U - Ccd出力信号検査装置 - Google Patents

Ccd出力信号検査装置

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Publication number
JPS60183875U
JPS60183875U JP7120184U JP7120184U JPS60183875U JP S60183875 U JPS60183875 U JP S60183875U JP 7120184 U JP7120184 U JP 7120184U JP 7120184 U JP7120184 U JP 7120184U JP S60183875 U JPS60183875 U JP S60183875U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ccd
output signal
write pulse
designated address
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP7120184U
Other languages
English (en)
Inventor
信雄 中村
Original Assignee
日本電気株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP7120184U priority Critical patent/JPS60183875U/ja
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示すブロック図である。 SO・・・・・−CCDの出力信号、Sl・・・・・・
CCDの移送りロック、S2・・・・・・CCDのピッ
トクロック、S3・・・・・・サンプルパルス、S4・
・・・・・書キ込みパルス、S5・・・アドレス更新パ
ルス、1・・・プリセットカウンタ、2・・・・・・シ
フトレジスタ、3・・・・・・サンプルホールド回路、
4・・・・・・A/Dコンバータ、5・・・・・・加算
器、6・・・・・・記憶部、7・・・・・・表示部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 立上り及び立下りの時点がCCDの移送りロックに同期
    しており、時間幅がその移送りロックの゛周期の整数倍
    である矩形波の信号を生ずる回路と、前記矩形波信号の
    前記時間幅内に前記CCDのピットクロックを受けたと
    きに、このピットクー  ロックから第1の所定時間遅
    れたサンプルパルス、このサンプリングパルスから第2
    の所定時間遅れた書き込みパルス及び二の書き込みパル
    スから第3の所定時間遅れたアドレス更新パルスを発生
    する回路と、前記サンプルパルスに同期して前記CCD
    の出力信号の標本化及び符号化を行いデジタルデータを
    発生する回路と、第1及び第2のデータ入力端子があり
    、その第1のデータ入力端子に前記デジタルデータを受
    ける加算器と、前記移送りロックに同期して指定アドレ
    スがクリヤされ、その指定アドレスは前記アドレス更新
    パルスにより1つずつ増加又は減少し、前記指定アドレ
    スの内容を読み出して前記第2のデータ入力端子に導き
    、前記書き込みパルスに同期して前記指定アドレスに前
    記加算器の出力を書き込む記憶部と、この記憶部の記憶
    内容を表示する表示部とからなるCCD出力信号検査装
    置。
JP7120184U 1984-05-16 1984-05-16 Ccd出力信号検査装置 Pending JPS60183875U (ja)

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JP7120184U JPS60183875U (ja) 1984-05-16 1984-05-16 Ccd出力信号検査装置

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JP7120184U JPS60183875U (ja) 1984-05-16 1984-05-16 Ccd出力信号検査装置

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JPS60183875U true JPS60183875U (ja) 1985-12-06

Family

ID=30608470

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JP7120184U Pending JPS60183875U (ja) 1984-05-16 1984-05-16 Ccd出力信号検査装置

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