JPS6017746Y2 - 金属探知器 - Google Patents
金属探知器Info
- Publication number
- JPS6017746Y2 JPS6017746Y2 JP6420481U JP6420481U JPS6017746Y2 JP S6017746 Y2 JPS6017746 Y2 JP S6017746Y2 JP 6420481 U JP6420481 U JP 6420481U JP 6420481 U JP6420481 U JP 6420481U JP S6017746 Y2 JPS6017746 Y2 JP S6017746Y2
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- JP
- Japan
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- magnetic field
- magnetic
- excitation
- winding
- detection
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- Expired
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は金属探知器に関する。
電磁的な金属探知器は金属探知を行うべく空間に交流磁
界を形成し、金属が存在するとき金属内に誘起される渦
電流によって形成される2次磁界或は強磁性体の場合誘
導磁気による2次磁界を検出するよういなっている。
界を形成し、金属が存在するとき金属内に誘起される渦
電流によって形成される2次磁界或は強磁性体の場合誘
導磁気による2次磁界を検出するよういなっている。
この種の金属探知器では検出感度を上げるためには受磁
線輪が大形かつ多巻数になるので小型化が困難であった
。
線輪が大形かつ多巻数になるので小型化が困難であった
。
本考案は電磁的な金属探知器の小型化を目的としてなさ
れた。
れた。
この目的に従って本考案は、磁気飽和特性を有する磁心
に励振巻線及び検出巻線を施し、励振巻線に金属探知を
行うべき空間に印加する交流磁界の2倍周波数の電流を
流し、検出巻線に誘起される起電力の励振巻線電流に対
する位相が金属の存在による2次磁界によってずれるの
を検出するようにして金属探知器を提供する。
に励振巻線及び検出巻線を施し、励振巻線に金属探知を
行うべき空間に印加する交流磁界の2倍周波数の電流を
流し、検出巻線に誘起される起電力の励振巻線電流に対
する位相が金属の存在による2次磁界によってずれるの
を検出するようにして金属探知器を提供する。
以下実施例によって本考案を説明する。
図は本考案の実施例を示す。
第1図で1は励磁コイルで金属探知を行う空間に交番磁
界を印加するものであり、周波数fの交流電源2に接続
されており、Ml、M2は探知器磁心で夫々に励振巻線
DI、D2及び検出巻線CI、C2が巻装しである。
界を印加するものであり、周波数fの交流電源2に接続
されており、Ml、M2は探知器磁心で夫々に励振巻線
DI、D2及び検出巻線CI、C2が巻装しである。
磁心Ml、M2は飽和特性を有する高透磁率材料よりな
り、両者は近接して平行に配置されている。
り、両者は近接して平行に配置されている。
励振巻線DI、D2は夫々の磁心における起磁力の方向
が反対になるように直列接続されて周波数2f(励磁コ
イル1の電流の2倍の周波数)の交流電源3に接続され
ている。
が反対になるように直列接続されて周波数2f(励磁コ
イル1の電流の2倍の周波数)の交流電源3に接続され
ている。
検出巻線C1、C2は励振巻線DI、D2による誘導起
電力が相殺されるように差動的に直列接続され、受信器
4に接続されている。
電力が相殺されるように差動的に直列接続され、受信器
4に接続されている。
従って磁心Ml、M2を外部磁界が通っていないときは
受信器4に印加される電圧は0である。
受信器4に印加される電圧は0である。
図中りは前述した被探知金属による2次磁界と励磁コイ
ル1による磁界とが合皮された磁界で周波数fの交番磁
界であり磁心Ml、M2を貫通している。
ル1による磁界とが合皮された磁界で周波数fの交番磁
界であり磁心Ml、M2を貫通している。
Heは励振巻線D1、D2により発生する磁界で磁心M
1.M2内では互に反対向きである。
1.M2内では互に反対向きである。
第2図Aは磁心Ml、M2のB−H特性を示し、第2図
Bは一つの磁心に磁界Heによって生ずる磁束を示す。
Bは一つの磁心に磁界Heによって生ずる磁束を示す。
磁心は飽和特性を有するから磁束の変化は周波数ガの台
形波となる。
形波となる。
この磁束により同じ磁心に巻いである検出コイルに誘起
される起電力は第2図Cのような波形となり、励振電流
0の位相点にピークを生ずる正負のパルス波形となる。
される起電力は第2図Cのような波形となり、励振電流
0の位相点にピークを生ずる正負のパルス波形となる。
本考案は磁心Ml、M2等に上述2次磁界が重なると、
検出コイルCI、C2等の誘起起電力のピーク位置が励
振コイルDI、D2の励振電流0の位相点よりずれるの
を検出するものである。
検出コイルCI、C2等の誘起起電力のピーク位置が励
振コイルDI、D2の励振電流0の位相点よりずれるの
を検出するものである。
次にその動作を説明する。第3図Aは一つの磁心(例え
ばMl)を貫通している磁界を示し、Heは励振コイル
(Dl)が発生している磁界、hは2次磁界(と励磁コ
イル1の磁界の合成磁界:面倒だから単に2次磁界と云
う)である。
ばMl)を貫通している磁界を示し、Heは励振コイル
(Dl)が発生している磁界、hは2次磁界(と励磁コ
イル1の磁界の合成磁界:面倒だから単に2次磁界と云
う)である。
これら2つの磁界の合成磁界は鎖線He+hで示すよう
に、それがOになる時点はHe単独の時よりずれる。
に、それがOになる時点はHe単独の時よりずれる。
第3図Bは磁界He十りにより磁心Ml内を通る磁束を
示し、合波形は正負非対称になり、検出コイルC1の起
電力は第3図C実線にようになる。
示し、合波形は正負非対称になり、検出コイルC1の起
電力は第3図C実線にようになる。
第3図Cで点線はHe単独のときの01起電力を示す。
他方の磁心M2に関しても全同様にして、この場合第3
図AのHeが逆相になるので、検出巻線C2の起電力は
第3図りのようになる。
図AのHeが逆相になるので、検出巻線C2の起電力は
第3図りのようになる。
検出巻線CI、C2はHeによる起電力が相殺されるよ
うに接続しであるので、CI、C2の直列接続の出力電
圧は第3図Eのようになる。
うに接続しであるので、CI、C2の直列接続の出力電
圧は第3図Eのようになる。
2次磁界りがないときはCI、C2の出力パルスは同相
で正負反対になるからC1、C2直列接続の出力電圧は
0である。
で正負反対になるからC1、C2直列接続の出力電圧は
0である。
従って受信器4はCI、C2の直列接続の出力を整流し
て、その出力が適当に設定したレベルを超えたとき検知
信号を出力すればよい。
て、その出力が適当に設定したレベルを超えたとき検知
信号を出力すればよい。
上の説明では2次磁界りと磁心の励振磁界Heとが特別
の位相関係の場合について行っているが、両者の位相が
任意であっても、上述と全く同様の説明で金属探出がで
きる。
の位相関係の場合について行っているが、両者の位相が
任意であっても、上述と全く同様の説明で金属探出がで
きる。
第1図の構成で地磁気のような直流磁界があるときは検
出巻線CI、C2の直列接続の両端には2次磁界0の場
合でも第4図にdで示す波形の信号が生ずる。
出巻線CI、C2の直列接続の両端には2次磁界0の場
合でも第4図にdで示す波形の信号が生ずる。
この波形の基本波は周波数4fであるから、磁心Ml、
M2に補償巻線を施し、CI。
M2に補償巻線を施し、CI。
C2直列接続の出力から4fの成分を取出し、これが所
定レベル以下になるように補償巻線に流す直流電流の値
を制御することによって地磁界その他ゆっくり変動する
外部磁界の影響を打消すことができる。
定レベル以下になるように補償巻線に流す直流電流の値
を制御することによって地磁界その他ゆっくり変動する
外部磁界の影響を打消すことができる。
第3図Eの信号波形の基本波の周波数はfであるが、第
5図を参照すれば、この信号はJの高調波が強い信号で
あることが判る。
5図を参照すれば、この信号はJの高調波が強い信号で
あることが判る。
即ち第5図aはfの信号、bはJの信号、Cはf+3f
の信号波形で、dはCの信号を角形に変形した信号であ
り、dの信号が主たる成分としてfと(の信号から戒っ
ていることが判り、第3図Eの波形は第5図dの波形と
同種のものであることから以上のことが判る。
の信号波形で、dはCの信号を角形に変形した信号であ
り、dの信号が主たる成分としてfと(の信号から戒っ
ていることが判り、第3図Eの波形は第5図dの波形と
同種のものであることから以上のことが判る。
従って受信器4としては入力信号からダ周波数の成分を
取出し、特定の位相で同期整流することによって金属探
知信号を得るようにしてもよい。
取出し、特定の位相で同期整流することによって金属探
知信号を得るようにしてもよい。
上述実施例では磁心Ml、M2が対になっているが、単
一磁心だけでも例えば検出巻線C1の出力波形をブラウ
ン管に表示させ、第3図Cにおけるピークpの所定の位
置からのずれを監視することによっても金属探知は可能
である。
一磁心だけでも例えば検出巻線C1の出力波形をブラウ
ン管に表示させ、第3図Cにおけるピークpの所定の位
置からのずれを監視することによっても金属探知は可能
である。
なお本考案装置は単一でも励磁コイル1が作る磁界に対
して磁心Ml、M2直交するように配置することにより
、探知すべき金属がないとき磁心Ml、M2に2次磁界
が通らず、金属の存在によって始めて2次磁界がMl、
M2を通るようにして金属探知が可能である。
して磁心Ml、M2直交するように配置することにより
、探知すべき金属がないとき磁心Ml、M2に2次磁界
が通らず、金属の存在によって始めて2次磁界がMl、
M2を通るようにして金属探知が可能である。
また本考案の構成で励振巻線DI、D2に直流を流した
場合を考えると、この直流による磁心Ml、M2の磁化
が第2図のB−H曲線で丁度側の所になるようにしない
と感度が得られず、電源の変動、温度による磁心の磁気
特性の変動等で、磁化が常にB−H曲線の肩の所になる
ようにすることはきわめて困難であり、直流を使っては
安定した感度が得られない。
場合を考えると、この直流による磁心Ml、M2の磁化
が第2図のB−H曲線で丁度側の所になるようにしない
と感度が得られず、電源の変動、温度による磁心の磁気
特性の変動等で、磁化が常にB−H曲線の肩の所になる
ようにすることはきわめて困難であり、直流を使っては
安定した感度が得られない。
また励振巻線に励磁コイルの電流と同じ周波数の交流を
流した場合を考えると、この場合、励振巻線による磁界
Heと外部磁界りとの位相関係は被検体の状態で異なり
、両者の位相が一致する状態も有り得る。
流した場合を考えると、この場合、励振巻線による磁界
Heと外部磁界りとの位相関係は被検体の状態で異なり
、両者の位相が一致する状態も有り得る。
そしてこの場合磁心Ml、M2の磁束変化は互いに反位
相で重なることになる(第2図のB、Cを磁心M1の磁
束変化及び検出巻線C1の出力とすると、M2のそれら
は丁度第2図のB、 Cを反転したものになる)ので感
度が得られない。
相で重なることになる(第2図のB、Cを磁心M1の磁
束変化及び検出巻線C1の出力とすると、M2のそれら
は丁度第2図のB、 Cを反転したものになる)ので感
度が得られない。
つまりhとHeの位相関係で感度が変化し実用にならな
い。
い。
励振巻線に流す電流の周波数を励磁コイル1の電流周波
数の2倍にすぬことによって安定した感度が得られるの
である。
数の2倍にすぬことによって安定した感度が得られるの
である。
要するに本考案は磁心Ml、M2等を励振磁界の半分の
周波数の磁界が通るのを敏感に検出する装置なのである
。
周波数の磁界が通るのを敏感に検出する装置なのである
。
もちろん本考案装置を2つ用い、金属が存在しないとき
2つの受信器の出力が相殺されるように励磁コイル1及
びび2台の探知器を配置するようにしてもよい。
2つの受信器の出力が相殺されるように励磁コイル1及
びび2台の探知器を配置するようにしてもよい。
本考案金属探知器は上述したような構成で、飽和特性の
磁心を交流励磁するときの磁化の立上り立下りの位相が
外部磁界によってずれるのを検出するものであり、信号
の位相のずれの検出は外部磁界による誘導起電力の量的
な検出よりも容易であり高感度に行われるから、本考案
金属探知器は高感度であり、磁心に巻装する巻線も小型
小巻数で良く、装置も小型となる。
磁心を交流励磁するときの磁化の立上り立下りの位相が
外部磁界によってずれるのを検出するものであり、信号
の位相のずれの検出は外部磁界による誘導起電力の量的
な検出よりも容易であり高感度に行われるから、本考案
金属探知器は高感度であり、磁心に巻装する巻線も小型
小巻数で良く、装置も小型となる。
第1図は本考案の一実施例装置の構成を示すブロック図
、第2図乃至第5図は上記装置の動作を説明する信号波
形図である。 1・・・・・・励磁コイル、2・・・・・・励磁電源、
Ml、M2・・・・・・磁心、DI、D2・・・・・・
励振巻線、CI、C2・・・・・・検出巻線、3・・・
・・・励振巻線用電源、4・・・・・・受信器。
、第2図乃至第5図は上記装置の動作を説明する信号波
形図である。 1・・・・・・励磁コイル、2・・・・・・励磁電源、
Ml、M2・・・・・・磁心、DI、D2・・・・・・
励振巻線、CI、C2・・・・・・検出巻線、3・・・
・・・励振巻線用電源、4・・・・・・受信器。
Claims (1)
- 金属を探知すべき周波数fの交番磁界を印加する励磁コ
イルと、飽和特性を有する磁心に励振巻線と検出巻線と
を施し、励振巻線に周波数2fの交流を流すようにした
受磁装置と、検出巻線に生ずる起電力ピークの励振巻線
電流Oの時点からのずれを検出する受信器とよりなる金
属探知器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6420481U JPS6017746Y2 (ja) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | 金属探知器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6420481U JPS6017746Y2 (ja) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | 金属探知器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57175077U JPS57175077U (ja) | 1982-11-05 |
JPS6017746Y2 true JPS6017746Y2 (ja) | 1985-05-30 |
Family
ID=29860286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6420481U Expired JPS6017746Y2 (ja) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | 金属探知器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6017746Y2 (ja) |
-
1981
- 1981-04-30 JP JP6420481U patent/JPS6017746Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57175077U (ja) | 1982-11-05 |
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