JPS60176639A - Νmr−ct断層面測定用フアントム - Google Patents

Νmr−ct断層面測定用フアントム

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JPS60176639A
JPS60176639A JP59031844A JP3184484A JPS60176639A JP S60176639 A JPS60176639 A JP S60176639A JP 59031844 A JP59031844 A JP 59031844A JP 3184484 A JP3184484 A JP 3184484A JP S60176639 A JPS60176639 A JP S60176639A
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JP
Japan
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plate
tomographic
phantom
nmr
plane
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JP59031844A
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JPH0233382B2 (ja
Inventor
日置 信雄
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Asahi Kasei Corp
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Asahi Kasei Kogyo KK
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Publication date
Application filed by Asahi Chemical Industry Co Ltd, Asahi Kasei Kogyo KK filed Critical Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は核磁気共鳴(NWIR)夕月いて’f)a 
il!!+定物(一般に人体)の断層画像を形成する装
置と1、いわゆるNMR−CT装置におけるスライス装
置(断層面位iEc )及びスライス厚さを測定するた
めに用いられる検定用試才・1、いわゆるファントl、
に関する。
〈背景〉 NMR−C’l”装置ハ″は例えは特開昭’、> 4−
158988号公報に示さノー1.でいる。NMR−C
T装置6゛は被6川定物の断層画像を得ることができる
が、その断層面の位置及びそのスライス厚みを正しく把
jノ艇する心安がある。特にNMR−CT装置は同時に
多層の断層画像を撮影することができ、頗る便利である
が、その各断層面の位置鞘層及びスライス厚みの精度を
正しく知ることが問題である。従来において断層面位置
の判別法としてヒーズ配列によるものがあり、またスラ
イス厚み測定として斜板を用いたものがあった。しかし
従来において断層面位置敷O・スライス厚みを同時に定
量的に測定するものはなかった。
〈発明の概要〉 この発明の目的は断層面の位置及びそのスライス厚みを
同時に測定することができるNMR−CT断層面測定用
ファントムを提供することにある。
この発明によれは核磁気共鳴信号を生じる材質からなる
複数の板状体が互に交差状に配置される。
これら板状体の配置及び形状+d全全体して、NMR−
CT装置6の走査領域を十分カバーするように長さ。
高さ、奥行が選定されている。
〈実施例〉 例えば第1図に示すように板状体11及び]2が互に交
差して設けられる。板状体J1kl: Jtt; tf
/iとなる水平位置をtiえるもので、直交1!l’:
 (票のxy半面上にあり、かつこの例ではその長手方
向がy軸と平行とされ、幅方向がX軸と平行とされてい
る3、根状体12は根状体11JC対し傾斜し−こf!
ii’、され、その−妬11緑は根状体12の一端縁と
神結さJl、この例ではこの連結縁はX1Iqll上に
これと乎1−1シて位置されている。また板状体12の
根状体11に対する角度−例えd:45°とされる。N
M R−CT :9.:Mの走査領域がxIIIli1
方向で報、y軸方向でSy、z軸方向でSzの場合に、
板状体11,1.2のX軸方向の長さは限以」二であり
、y軸方向の長さはSy以上であり、Z軸方向の長さは
87.以」二とされる3゜ 板状体1.1.12は核磁気共鳴信冴を発生するもので
あり、例えば第2図に示すようにポリメチルメタアクリ
ル/−1・のような保持板13内に伯を酸銀溶液、塩化
マノガン、水、グロi・ン含イ」高分子月利などの感応
層14が1月人され、又&J積層されて保持板13は感
応層14が保持される。保持イ反13の核イ1B気共鳴
に対する感応性はゼロ又は感応層14の核磁気共鳴に対
する感応性よりも小さいものであり、この感応層14が
根状体11として作用する。保持板13を用いることな
く板状体11を構成することもできる0 この第1図に示したファントムをNMR−CT装置に配
して、例え(ば第3図に示すようにXZ面と平行な面1
5で断層画像をめると、その断層面15と板状体11 
、12との各交差位置で断層[Ti1.51cよる板状
体11 、12の断面形状が断層画像16.17として
それぞれ得られる。この例で(は板状体11.12間の
角度が45度で、板状体11i:xy面」二にあり、か
つ板状体11 、12の交差位置がX軸上、つまりy=
Qにある。従ってこの断層画像16 、17の中心距D
H(IZlを測定すると、この値Z1ば、y軸上の基点
y=0から断層面15と板状体11との交線までの距1
1i111Y+に等しく、ZIの固定によシ断層而15
の位置がわかる。
まだ斜めの板状体12は45度て配置しであるため、断
層画像17の信号強度の形状18をめることによりスラ
イス〃みを4川定できる3、 このようなハ’+’、 lit!により、例えはマルチ
スライス(同時多層断層撮影)を行うと、例えば第4図
に示すように、その各断ノー面15+ + 1.52 
・・159に対し、板状体11との各交差断層画像1.
6+ 、 162・・169、板状体12との各交差断
層画像17+ 、 172・・・・ 179がそれぞれ
同時に得らiする。これら断層画像16+ 、 ]−6
2・・・169と断層画像171 、 ]−72179
との各対応するものの中心距割をそれぞれ61t1定し
て、断層面151 、’152・−・ 159の位置精
度がわかり、各断層画像の信号強度の形状からスライス
厚みのばらつきを測定することができる。同時にスライ
スする断層面の数は9 &C限らない。
第5図にこの発明の他の実施例を示す。この例では板状
体11 、12は・軸方向に・・/とけず5され、これ
ら板状体11 、12を含む而kl: !j’、 &こ
90度で交差している。板状体14 、12の各下縁t
1、支」1−板21に各上縁は支持板22眞それぞれ固
定さ7+、て保長される。
このファントムの断層面′@をとると、第6図に示すよ
うに断層面15と根状体11 、12との各交差位置と
対応して断11Jj画像16 、17がイ11ら11−
る。断面画像16 、17のZ軸方向(」三下方向)に
;j、・ける中心距離Z+から、断層面15が基準点y
= OJ:すY2 = Z+ /2の位置であるととが
わかる。また断面画像16゜17の信号強度の形状1.
9 、18からそのスライス位置でのスライス厚みがす
る。更に断面画像16.17のX軸方向における中心距
離X+を411j定することにより画像の歪量も測定で
きる。
この第5図に示したファントムは第1図に示したものよ
りもスライス位ff?(断層面位屑)の検出感度は2倍
になり、その低空間的スライス厚みの均一度や、歪量な
どの定量的測定も同時に行うことができる。
第5図に示したファントムに対してマルチスキャンを行
った場合の断面画像の例を第7図に示す。
なお第1図、第5図において板状体1.1. 、12の
交差角は45 、90度に限らない。
〈効 果〉 以上述べたようにこの発明のファントムを用いればNM
R−CT装置Wの断面層の位1方、及びスライス厚みの
各精度を同時知求めることができ、特にNMR−CT装
置に特有なマルチスライスによる各断層面の位置精度ど
スライスjワみの測定とを同時尾行うことができ、患者
診断におり−)る疾患位置を正しく把握することが可能
々なる1、
【図面の簡単な説明】
第1図1この発明によるフ゛ノ′ントノ、の−例を示す
斜視図、第2図は板状体11の 部を小ず断面斜視図、
第3図U第1図だ示し/こソアノトムを用いた断層画像
の例を示す図、第41ツl &:l: :′A′+、 
1図のファントムをマルチスキャンした1混合の断層画
像の例を示す図、第5図にこの発明のノアン[・ムの他
の例を/ドす斜視図、第6図は第51ン1のノアノトム
を用いた断層画像の例を示す図、第7図は第5図のファ
ントムをマルチスキャンした断層画像の例を示す図であ
る1、 11.1.2:板状体。 特d1出願人 旭化成工業株式会社 代理人 草野 卓 オ 1 図 71″72 図 ;73 図 7174 図 升 5ス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)核磁気共鳴信号を生じるAA11’↓からなる複
    数の板状体が互に交差状に配置さ71、核磁気共鳴断層
    画像形成装置の走査領域をカバーするに十分な長さ、高
    さ、奥行をもつようpc大きさが選定されているNMR
    −CT断層面訓定川用ァントム。
JP59031844A 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム Granted JPS60176639A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59031844A JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59031844A JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60176639A true JPS60176639A (ja) 1985-09-10
JPH0233382B2 JPH0233382B2 (ja) 1990-07-26

Family

ID=12342358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59031844A Granted JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

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JP (1) JPS60176639A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299533A (ja) * 1988-05-26 1989-12-04 Toshiba Corp Ct装置用位置決め装置
JPH02249532A (ja) * 1989-03-23 1990-10-05 Toshiba Corp プローブコイル装置及びmri装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299533A (ja) * 1988-05-26 1989-12-04 Toshiba Corp Ct装置用位置決め装置
JPH02249532A (ja) * 1989-03-23 1990-10-05 Toshiba Corp プローブコイル装置及びmri装置

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JPH0233382B2 (ja) 1990-07-26

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