JPH0233382B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0233382B2
JPH0233382B2 JP59031844A JP3184484A JPH0233382B2 JP H0233382 B2 JPH0233382 B2 JP H0233382B2 JP 59031844 A JP59031844 A JP 59031844A JP 3184484 A JP3184484 A JP 3184484A JP H0233382 B2 JPH0233382 B2 JP H0233382B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
tomographic
phantom
plane
nmr
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59031844A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60176639A (ja
Inventor
Nobuo Hioki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Chemical Industry Co Ltd filed Critical Asahi Chemical Industry Co Ltd
Priority to JP59031844A priority Critical patent/JPS60176639A/ja
Publication of JPS60176639A publication Critical patent/JPS60176639A/ja
Publication of JPH0233382B2 publication Critical patent/JPH0233382B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は核磁気共鳴(NMR)を用いて被測
定物(一般に人体)の断層画像を形成する装置、
いわゆるNMR―CT装置におけるスライス装置
(断層面位置)及びスライス厚さを測定するため
に用いられる検定用試料、いわゆるフアントムに
関する。
<背景> NMR―CT装置は例えば特開昭54−158988号
公報に示されている。NMR―CT装置は被測定
物の断層画像を得ることができるが、その断層面
の位置及びそのスライス厚みを正しく把握する必
要がある。特にNMR―CT装置は同時に多層の
断層画像を撮影することができ、頗る便利である
が、その各断層面の位置精度及びスライス厚みの
精度を正しく知ることが問題である。従来におい
て断層面位置の判別法としてビーズ配列によるも
のがあり、またスライス厚み測定として斜板を用
いたものがあつた。しかし従来において断層面位
置及びスライス厚みを同時に定量的に測定するも
のはなかつた。
<発明の概要> この発明の目的は断層面の位置及びそのスライ
ス厚みを同時に測定することができるNMR―
CT断層面測定用フアントムを提供することにあ
る。
この発明によれば核磁気共鳴信号を生じる材質
からなる複数の板状体が互に交差状に配置され
る。これら板状体の配置及び全体として、NMR
―CT装置の走査領域を十分カバーするように長
さ,高さ,奥行が選定されている。
<実施例> 例えば第1図に示すように板状体11及び12
が互に交差して設けられる。板状体11は基準と
なる水平位置を与えるもので、直交座標のxy平
面上にあり、かつこの例ではその長手方向がy軸
と平行とされ、幅方向がx軸と平行とされてい
る。板状体12は板状体11に対し傾斜して配さ
れ、その一端縁は板状体12の一端縁と連結さ
れ、この例ではこの連結縁はx軸上にこれと平行
して位置されている。また板状体12の板状体1
1に対する角度は例えば45゜とされる。NMR―
CT装置の走査領域がx軸方向でSx,y軸方向で
Sy,z軸方向でSzの場合に、板状体11,12の
x軸方向の長さはSx以上であり、y軸方向の長さ
はSy以上であり、z軸方向の長さはSz以上とされ
る。
板状体11,12は核磁気共鳴信号を発生する
ものであり、例えば第2図に示すようにポリメチ
ルメタアクリルシートのような保持板13内に硫
酸銅溶液,塩化マンガン,水,プロトン含有高分
子材料などの感応層14が封入され、又は積層さ
れて保持板13は感応層14が保持される。保持
板13の核磁気共鳴に対する感応性はゼロ又は感
応層14の核磁気共鳴に対する感応性よりも小さ
いものであり、この感応層14が板状体11とし
て作用する。保持板13を用いることなく板状体
11を構成することもできる。
この第1図に示したフアントムをNMR―CT
装置に配して、例えば第3図に示すようにxz面
と平行な面15で断層画像を求めると、その断層
面15と板状体11,12との各交差位置で断層
面15による板状体11,12の断面形状が断層
画像16,17としてそれぞれ得られる。この例
では板状体11,12間の角度が45度で、板状体
11はxy面上にあり、かつ板状体11,12の
交差位置がx軸上、つまりy=0にある。従つて
この断層画像16,17の中心距離Z1を測定する
と、この値Z1は、y軸上の基点y=0から断層面
15と板状体11との交線までの距離Y1に等し
く、Z1の測定により断層面15の位置がわかる。
また斜めの板状体12は45度に配置してあるた
め、断層画像17の信号強度の形状18を求める
ことによりスライス厚みを測定できる。
このような原理により、例えばマルチスライス
(同時多層断層撮影)を行うと、例えば第4図に
示すように、その各断層面151,152……15
に対し、板状体11との各交差断層画像161
162……169、板状体12との各交差断層画像
171,172……179がそれぞれ同時に得られ
る。これら断層画像161,162……169と断
層画像171,172……179との各対応するも
のの中心距離をそれぞれ測定して、断層面151
152……159の位置精度がわかり、各断層画像
の信号強度の形状からスライス厚みのばらつきを
測定することができる。同時にスライスする断層
面の数は9に限らない。
第5図にこの発明の他の実施例を示す。この例
では板状体11,12はx軸方向にx0だけずらさ
れ、これら板状体11,12を含む面は互に90度
で交差している。板状体11,12の各下縁は支
持板21に各上縁は支持板22にそれぞれ固定さ
れて保持される。
このフアントムの断層画像をとると、第6図に
示すように断層面15と板状体11,12との各
交差位置と対応して断面画像16,17が得られ
る。断面画像16,17のz軸方向(上下方向)
における中心距離Z1から、断層面15が基準点y
=0よりY2=Z1/2の位置であることがわかる。
また断面画像16,17の信号強度の形状19,
18からそのスライス位置でのスライス厚みが求
まる。更に断面画像16,17のx軸方向におけ
る中心距離X1を測定することにより画像の歪量
も測定できる。
この第5図に示したフアントムは第1図に示し
たものよりスライス位置(断層面位置)の検出感
度は2倍になり、その他空間的スライス厚みの均
一度や、歪量などの定量的測定も同時に行うこと
ができる。
第5図に示したフアントムに対してマルチスキ
ヤンを行つた場合の断面画像の例を第7図に示
す。なお第1図,第5図において板状体11,1
2の交差角は45,90度に限らない。
<効果> 以上述べたようにこの発明のフアントムを用い
ればNMR―CT装置の断層面の位置、及びスラ
イス厚みの各精度を同時に求めることができ、特
にNMR―CT装置に特有なマルチスライスによ
る各断層面の位置精度とスライス厚みの測定とを
同時に行うことができ、患者診断における疾患位
置を正しく把握することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明によるフアントムの一例を示
す斜視図、第2図は板状体11の一部を示す断面
斜視図、第3図は第1図に示したフアントムを用
いた断層画像の例を示す図、第4図は第1図のフ
アントムをマルチスキヤンした場合の断層画像の
例を示す図、第5図はこの発明のフアントムの他
の例を示す斜視図、第6図は第5図のフアントム
を用いた断層画像の例を示す図、第7図は第5図
のフアントムをマルチスキヤンした断層画像の例
を示す図である。 11,12:板状体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 核磁気共鳴信号を生じる材質からなる複数の
    板状体が互に交差状に配置され、核磁気共鳴断層
    画像形成装置の走査領域をカバーするに十分な長
    さ,高さ,奥行をもつように大きさが選定されて
    いるNMR―CT断層面測定用フアントム。
JP59031844A 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム Granted JPS60176639A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59031844A JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59031844A JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60176639A JPS60176639A (ja) 1985-09-10
JPH0233382B2 true JPH0233382B2 (ja) 1990-07-26

Family

ID=12342358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59031844A Granted JPS60176639A (ja) 1984-02-22 1984-02-22 Νmr−ct断層面測定用フアントム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60176639A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299533A (ja) * 1988-05-26 1989-12-04 Toshiba Corp Ct装置用位置決め装置
JPH0642877B2 (ja) * 1989-03-23 1994-06-08 株式会社東芝 プローブコイル装置及びmri装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60176639A (ja) 1985-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4056970A (en) Ultrasonic velocity and thickness gage
JPH1033524A (ja) 医用画像化における画像歪みの検出及び補正の方法
US6853744B2 (en) System and method for confirming electrical connection defects
US4644276A (en) Three-dimensional nuclear magnetic resonance phantom
US20080075227A1 (en) Coordinate Measuring Apparatus And Method For Measuring An Object
US6671349B1 (en) Tomosynthesis system and registration method
KR20060046356A (ko) 자기 공명 장치를 이용하여 검사 영역을 측정하기 위한방법
US6847900B2 (en) System and method for identifying solder joint defects
EP3082603B1 (en) Universal phantom structure for quality inspections both on computerized tomography and on magnetic resonance tomography
JPH0236260B2 (ja)
White et al. Evaluating performance characteristics in computerized tomography
JPH0345693Y2 (ja)
JPH0435645A (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JP3208426B2 (ja) 高速x線ctによる被写移動体速度及び高解像度情報の計測方法及びその装置
US5228071A (en) CT system and method of using the same
JP3081002B2 (ja) ガンマ又はx線によるテスト対象物検査装置
JPH0233382B2 (ja)
US10775321B2 (en) Method and calibration configuration for calibrating a coordinate measuring machine irradiating measurement objects with invasive radiation
Latson et al. Resolution and accuracy in two dimensional echocardiography
KR20150121024A (ko) X선 비파괴 검사 장치
JPS59157547A (ja) Nmr−ct断層面歪測定用フアントム
JPS61167849A (ja) 放射線吸収の定量的測定方法及び装置
US20070064869A1 (en) Laminography apparatus
KR101098417B1 (ko) Ct장비의 복셀 위치 보정용 지그
JPS61175553A (ja) 物質の密度測定法