JPS6017389A - パルス計数装置 - Google Patents
パルス計数装置Info
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- JPS6017389A JPS6017389A JP12441783A JP12441783A JPS6017389A JP S6017389 A JPS6017389 A JP S6017389A JP 12441783 A JP12441783 A JP 12441783A JP 12441783 A JP12441783 A JP 12441783A JP S6017389 A JPS6017389 A JP S6017389A
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- Japan
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- signal
- pulse train
- pulse
- pulses
- counting
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
- G04F10/04—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by counting pulses or half-cycles of an ac
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパルス計数装置に係り、特に一定周波数で発振
している発振器からの信号パルス数を の計数装置やこの計数装置や応用した各種物理量の測定
装置等に適用し得るパルス計数装置に関するものである
。
している発振器からの信号パルス数を の計数装置やこの計数装置や応用した各種物理量の測定
装置等に適用し得るパルス計数装置に関するものである
。
従来例えばディジタル回路技術、パルス技術の発展及び
コンピュータ処理への適応等から、各種物理量（回転角
、移動量、速度等）を、時間を基準スケールとして測定
する装置がさかんに用いられている。その基本構成を等
１図によって説明する。
コンピュータ処理への適応等から、各種物理量（回転角
、移動量、速度等）を、時間を基準スケールとして測定
する装置がさかんに用いられている。その基本構成を等
１図によって説明する。
第１図に於て１は時間軸の基準スケールとする基準発根
器であり、例えば２に示すような周波数Ｆの基準信号を
発生している。３はゲート回路であり、例えば信号４，
５によってその開閉がなされているものとする。６はパ
ルス計数器であり、ゲート回路３を通過した信号７（信
号７は信号２の一部分を取り出したものとなっている）
中のパルス数Ｎを計数している（第１図ではＮ＝７とな
っている。） ここで、例えば、信号４，５が一定速度で回転している
回転軸の回転中に、何らかの手段で検出されるものとす
れば、パルス計数器６の計数値から、当該回転軸の回転
角をめることができる０逆に１信号４２５が当該軸の回
転に同期して検出されていれば、当該軸の回転速度をめ
ることができる。
器であり、例えば２に示すような周波数Ｆの基準信号を
発生している。３はゲート回路であり、例えば信号４，
５によってその開閉がなされているものとする。６はパ
ルス計数器であり、ゲート回路３を通過した信号７（信
号７は信号２の一部分を取り出したものとなっている）
中のパルス数Ｎを計数している（第１図ではＮ＝７とな
っている。） ここで、例えば、信号４，５が一定速度で回転している
回転軸の回転中に、何らかの手段で検出されるものとす
れば、パルス計数器６の計数値から、当該回転軸の回転
角をめることができる０逆に１信号４２５が当該軸の回
転に同期して検出されていれば、当該軸の回転速度をめ
ることができる。
このように、信号４，５の検出・作成方法を適当にえら
谷ば、第１図に示した基本構成を用いて、各種の物理量
を基準信号中のパルス数を計数することによって測定す
ることができる。
谷ば、第１図に示した基本構成を用いて、各種の物理量
を基準信号中のパルス数を計数することによって測定す
ることができる。
しかし、第１図の装置には次のような問題点がある。
（１）信号７中のパルス数Ｎを計数する方法である為、
信号′７の±１パルスに相当するディジタル誤差が発生
する。
信号′７の±１パルスに相当するディジタル誤差が発生
する。
＋２１ （１１項の誤差分を抑制する為にはＮを大きく
する必要があるが、そのためには、信号２の周波数Ｆを
大きくしなければならない。
する必要があるが、そのためには、信号２の周波数Ｆを
大きくしなければならない。
（３） 周波数Ｆを大きくすることの限界から、測定精
度が制約される。特に、ゲート回路３の開閉を行なう信
号４，５の時間的へだたりが小さい時には上記の影響が
著しく、測定精度が低下してしまう。
度が制約される。特に、ゲート回路３の開閉を行なう信
号４，５の時間的へだたりが小さい時には上記の影響が
著しく、測定精度が低下してしまう。
本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもので、その目
的とするところは前記従来の問題点を解消し、高精度で
パルス数を測定し得るパルス計数装置を提供するにある
。
的とするところは前記従来の問題点を解消し、高精度で
パルス数を測定し得るパルス計数装置を提供するにある
。
本発明によるパルス計数装置は
（１）時間差をもって発生する入信号とＢ信号との間の
時間的間隔を連続的な一定周期のパルス列信号中のパル
ス数を計数することにより測定するパルス計数装置にお
いて、前記人信号によって一定周期の基準パルス列信号
のパルス列中のパルス数を計数し始め、前記Ｂ信号によ
って前記基準パルス列の計数を終了させると同時に、一
定周期の補助パルス列信号を発生させる手段と、前記基
準パルス列信号と前記補助パルス列信号のパルス部が重
畳するまでの前記補助パルス列信号中のパルス数を計数
する手段と、前記基準パルス列信号のパルス計数値と前
記補助パルス列信号のパルス計数値を用いて前記ＡＳａ
号とＢ信号との間の時間的間隔をめる手段とを具備して
なることを特徴とする。
時間的間隔を連続的な一定周期のパルス列信号中のパル
ス数を計数することにより測定するパルス計数装置にお
いて、前記人信号によって一定周期の基準パルス列信号
のパルス列中のパルス数を計数し始め、前記Ｂ信号によ
って前記基準パルス列の計数を終了させると同時に、一
定周期の補助パルス列信号を発生させる手段と、前記基
準パルス列信号と前記補助パルス列信号のパルス部が重
畳するまでの前記補助パルス列信号中のパルス数を計数
する手段と、前記基準パルス列信号のパルス計数値と前
記補助パルス列信号のパルス計数値を用いて前記ＡＳａ
号とＢ信号との間の時間的間隔をめる手段とを具備して
なることを特徴とする。
さらにまた
（２）時間差をもって発生するＡ信号とＢ信号との間の
時間的間隔を連続的な一定周期のパルス列信号中のパル
ス数を計数することにより測定するパルス針数装置にお
いて、予め一定周期の基準パルス列信号を発生させてお
き、前記Ａ信号によって前記基準パルス列信号のパルス
列中のパルス数を計数し始め、同時に一定周期の補助パ
ルス列信号を発生させると同時にそのパルス列信号のパ
ルス列中のパルス数を計数し始める手段と、前′記Ｂ信
号によって前記基準パルス列信号のパルス列中のパルス
数の計数を終了させる手段と、前記基準パルス列信号と
前記補助パルス列信号のパルス部が重畳するまでの前記
補助パルス列信号中のパルス数を計数する手段と、前記
基準パルス列信号のパルス計数値と前記補助パルス列信
号のパルス計数値を用いて前記Ａ信号（！：Ｂ信号との
間の時間的間隔をめる手段とを具備してなることを特徴
とする。
時間的間隔を連続的な一定周期のパルス列信号中のパル
ス数を計数することにより測定するパルス針数装置にお
いて、予め一定周期の基準パルス列信号を発生させてお
き、前記Ａ信号によって前記基準パルス列信号のパルス
列中のパルス数を計数し始め、同時に一定周期の補助パ
ルス列信号を発生させると同時にそのパルス列信号のパ
ルス列中のパルス数を計数し始める手段と、前′記Ｂ信
号によって前記基準パルス列信号のパルス列中のパルス
数の計数を終了させる手段と、前記基準パルス列信号と
前記補助パルス列信号のパルス部が重畳するまでの前記
補助パルス列信号中のパルス数を計数する手段と、前記
基準パルス列信号のパルス計数値と前記補助パルス列信
号のパルス計数値を用いて前記Ａ信号（！：Ｂ信号との
間の時間的間隔をめる手段とを具備してなることを特徴
とする。
本発明による計数装置は前記の構成要件を具備すること
により、例えばノギスやマイクロメータ等の精密測寸器
に適用されている副尺方式（バーニア）の信号処理を行
うことによって、第１図における信号２の見掛は上の周
波数Ｆを大きくシ、信号７中のパルス数の計数精度を向
上させるようにしたものである。
により、例えばノギスやマイクロメータ等の精密測寸器
に適用されている副尺方式（バーニア）の信号処理を行
うことによって、第１図における信号２の見掛は上の周
波数Ｆを大きくシ、信号７中のパルス数の計数精度を向
上させるようにしたものである。
本発明の一実施例を添付図面に基いて詳細に説明する。
第２図は本発明による装置の一実施例の構成を示すブロ
ック線図であり、第３図は、第２図中の各部信号の関係
を示したものである。
ック線図であり、第３図は、第２図中の各部信号の関係
を示したものである。
第２図に於て、８はパルス計数を開始させる為の何らか
の信号を検出中作成する計数開始信号発生器であり、信
号９を発生尋出力する。
の信号を検出中作成する計数開始信号発生器であり、信
号９を発生尋出力する。
１０はパルス計数を終了させる為の何らかの信号を検出
・作成する計数終了信号発生器であり、信号１１を発生
・出力する。１２は時間軸の基準となる基準周波数信号
１３を発生する主発振器であり、信号９をトリガ信号と
して発振を開始する。（第３図参照）。Ｉ４は、副尺方
式による信号処理を行なう為の副尺信号Ｉ５を発生する
開発振器であり、信号１１をトリガ信号として発振を開
始する。（第３図参照）。Ｉ６はＡＮＤ回路であり、信
号１３と信号１５の論理が一致した時に信号１７を出力
する。１８は主ゲート回路であり、信号９によってゲー
トを開き、信号Ｚ１によってゲートを閉じる。即ぢ、信
号９が入力された後信号ＩＩが入力されるまでの時間だ
けゲートを開き、信号Ｉ３の一部分である信号１９を通
過させる。２０は副ゲート回路であり、′信号ｉｔによ
ってゲートを開き、信号Ｉ７によってゲートを閉じる。
・作成する計数終了信号発生器であり、信号１１を発生
・出力する。１２は時間軸の基準となる基準周波数信号
１３を発生する主発振器であり、信号９をトリガ信号と
して発振を開始する。（第３図参照）。Ｉ４は、副尺方
式による信号処理を行なう為の副尺信号Ｉ５を発生する
開発振器であり、信号１１をトリガ信号として発振を開
始する。（第３図参照）。Ｉ６はＡＮＤ回路であり、信
号１３と信号１５の論理が一致した時に信号１７を出力
する。１８は主ゲート回路であり、信号９によってゲー
トを開き、信号Ｚ１によってゲートを閉じる。即ぢ、信
号９が入力された後信号ＩＩが入力されるまでの時間だ
けゲートを開き、信号Ｉ３の一部分である信号１９を通
過させる。２０は副ゲート回路であり、′信号ｉｔによ
ってゲートを開き、信号Ｉ７によってゲートを閉じる。
即ち、信号１１が入力された後信号Ｉ７が入力されるま
での時間だけゲートを開き、信号Ｉ５の一部分である信
号２１を通過させる。２２は主パルス計数器であり、信
号１９中のパルス数を８＋撤する、２３は副パルス計数
器であり、信号２Ｉ中のパルス数を計数する。
での時間だけゲートを開き、信号Ｉ５の一部分である信
号２１を通過させる。２２は主パルス計数器であり、信
号１９中のパルス数を８＋撤する、２３は副パルス計数
器であり、信号２Ｉ中のパルス数を計数する。
なお、主発振器１２及び開発振器Ｉ４の発振周波数は、
ある単位時間あたりのパルス政が、基準周波数信号Ｉ３
はｍ−１、副尺信号１５はｍになるように調整しておく
ものとする。
ある単位時間あたりのパルス政が、基準周波数信号Ｉ３
はｍ−１、副尺信号１５はｍになるように調整しておく
ものとする。
上記本発明の一実施例の作用についてｉｉｉ！明する。
第３図におては、−例として、上述のｍの値をｍ＝１０
としている。
としている。
信号９によって信号１３が発生し、主ゲート回路１８が
開いて、信号１９が通過する。信号１１によって主ゲー
ト回路１８が閉じ、信号１９はストップされる。第３図
の例では、主パルス計数器２′２での計数値Ｎ（信号１
９中のパルス数）は、Ｎ＝８である。これと同時に、信
号１１によって信号１５が発生し、副ゲート回路２０が
開いて、信号２Ｉが通過する。信号１３と信号１５のパ
ルスが重なり合った時に信号１７が発生し、副ゲート回
路２ｏを閉じ、信号２１はストップされる。第３図の例
では、副パルス計数器２３での計数値ｎ（信号２Ｉ中の
パルス数）は、ｎ ＝ ５である。副尺方式の原理から
、信号９から信号１１までの時間差Ｔは、次式でめられ
る。
開いて、信号１９が通過する。信号１１によって主ゲー
ト回路１８が閉じ、信号１９はストップされる。第３図
の例では、主パルス計数器２′２での計数値Ｎ（信号１
９中のパルス数）は、Ｎ＝８である。これと同時に、信
号１１によって信号１５が発生し、副ゲート回路２０が
開いて、信号２Ｉが通過する。信号１３と信号１５のパ
ルスが重なり合った時に信号１７が発生し、副ゲート回
路２ｏを閉じ、信号２１はストップされる。第３図の例
では、副パルス計数器２３での計数値ｎ（信号２Ｉ中の
パルス数）は、ｎ ＝ ５である。副尺方式の原理から
、信号９から信号１１までの時間差Ｔは、次式でめられ
る。
Ｔ＝（Ｎ＋−）ｘ−＋ΔＴ 可曲 （１） Ｆ
たゾし
Ｎ：主パルス計数器２２での計数値
ｎ：副パルス計数器２３での計数値
ｍ：ある単位時間あたりのパルス数
Ｆ：主発振器１２の発振周波数
ΔＴ：電気的な遅れ時間の総和
（例えば、信号９によって信号１３が発生する際の時間
遅れ、信号１１によって信号１５が発生する際の時間遅
れ等の総和） ΔＴの値は、システム構成が定まればほぼ一定の値であ
り、あらかじめ何らかの方法によって把握することがで
きる。
遅れ、信号１１によって信号１５が発生する際の時間遅
れ等の総和） ΔＴの値は、システム構成が定まればほぼ一定の値であ
り、あらかじめ何らかの方法によって把握することがで
きる。
第１図に示した従来例によれば、得られる時間差Ｔ／は
？二Ｎ×−＋ΔＴ′ ・・・曲（２）
であり、本装置によって、パルス計数（即ち時間差測定
）の精度及び分解能をｍ倍に向上させることができるこ
とがわかる。
）の精度及び分解能をｍ倍に向上させることができるこ
とがわかる。
なお、例えば、パルスの計数を方形波信号の１立ち上り
で実施し、ＡＮＤ回路１６での判定を信号のレベルで実
施する時には、第３図中でのｎはｎ＝５＋１となるが、
この時には、副パルス計数器２３での計数値から１だけ
減じた値をｎとしておけばよいことになる。
で実施し、ＡＮＤ回路１６での判定を信号のレベルで実
施する時には、第３図中でのｎはｎ＝５＋１となるが、
この時には、副パルス計数器２３での計数値から１だけ
減じた値をｎとしておけばよいことになる。
この他、本装置の実現にあたっては、信号１３及び信号
１５のパルス副δ１．δ、は、信号１５のｍパルス毎に
両信号が１度だけ重なり合うようにしておいたり、Ｎ及
びｎの計数終了後に全体装置を再セットしておく（計数
を開始する前の初期状態にもどしておく）等の考慮が必
要であることはいうまでもない。
１５のパルス副δ１．δ、は、信号１５のｍパルス毎に
両信号が１度だけ重なり合うようにしておいたり、Ｎ及
びｎの計数終了後に全体装置を再セットしておく（計数
を開始する前の初期状態にもどしておく）等の考慮が必
要であることはいうまでもない。
第４図は本発明の他の実施例の構成を示すブロック線図
であり、第５図は第４図中の各部信号の関係を示したも
のである。
であり、第５図は第４図中の各部信号の関係を示したも
のである。
第４図において第３図と同一の番号をつけた部分及び信
号は、第３図と同一の機能、作用を有するものであり、
同一番号にダッシュをつけたものは同種の機能会作用を
有するものである。
号は、第３図と同一の機能、作用を有するものであり、
同一番号にダッシュをつけたものは同種の機能会作用を
有するものである。
第２図及び第３図で説明したものとの相異点は、主発振
器１２′の発振が計数信号発生器８からの信号９によっ
て開始されるのではなく、常時信号１３を出力している
という点である。以下に、第２図及び第３図で説明した
ものとの相異点について説明する（第３図と同一の部分
については説明を省略する）。Ｚ ２’は時間軸の基準
となる基準周波数信号１３を発生する主発振器であり、
常時、信号１３を出力している。１４′は、副尺信号１
５′を発生する副発振器であり、信号９をトリガ信号と
して発振を開始する。（第５図参照）。１６′はＡＮＤ
回路であり、信号１３と信号Ｚ ５’の論理が一致した
時に信号１７′を出力する。２０′は副ゲート回路であ
り、信号９によってゲートを開き、信号１７′によって
ゲートを閉じる。即ち、信号９が入力された後信号Ｉ７
１が人力されるまでの時間だけゲートを開き、信号１５
′の一部分である信号２１′を通過させる。
器１２′の発振が計数信号発生器８からの信号９によっ
て開始されるのではなく、常時信号１３を出力している
という点である。以下に、第２図及び第３図で説明した
ものとの相異点について説明する（第３図と同一の部分
については説明を省略する）。Ｚ ２’は時間軸の基準
となる基準周波数信号１３を発生する主発振器であり、
常時、信号１３を出力している。１４′は、副尺信号１
５′を発生する副発振器であり、信号９をトリガ信号と
して発振を開始する。（第５図参照）。１６′はＡＮＤ
回路であり、信号１３と信号Ｚ ５’の論理が一致した
時に信号１７′を出力する。２０′は副ゲート回路であ
り、信号９によってゲートを開き、信号１７′によって
ゲートを閉じる。即ち、信号９が入力された後信号Ｉ７
１が人力されるまでの時間だけゲートを開き、信号１５
′の一部分である信号２１′を通過させる。
２３′は副パルス計数器であり、信号２１′中の、Ｎ６
ルス数を計数する。
ルス数を計数する。
なお、主発振器１２′及び副発振器１４′の発振周波数
は、ある単位時間あたりのパルス数が、信号１３につい
てはｇ−１、信号１５′についてはｌになるように調整
しておくものとする０第５図は、第２図及び第３図で説
明したものと相異する部分ｌこついて、第４図中の各信
号の関係を示したものである。（同一の部分については
説明を省略する）第５図に於ては、−例として、ｇの値
をｇ＝１０としている。信号１３は常時発生している。
は、ある単位時間あたりのパルス数が、信号１３につい
てはｇ−１、信号１５′についてはｌになるように調整
しておくものとする０第５図は、第２図及び第３図で説
明したものと相異する部分ｌこついて、第４図中の各信
号の関係を示したものである。（同一の部分については
説明を省略する）第５図に於ては、−例として、ｇの値
をｇ＝１０としている。信号１３は常時発生している。
その周波数をＦとする。
信号９によって主ゲート回路１８が開いて信号１９が通
過する。これと同時に、信号９によって信号１５′が発
生し、副ゲート回路２ ｏｌが開いて、信号２２／が通
過する。信号１３と信号１５′のパルスが重なり合った
時に信号１７’が発生し、副ゲート回路を閉じ、信号２
ｒ’はストップされる。第５図の例では、副パルス計
数器２３′での計数値Ｒ（信号２１′中のパルス数）は
、Ｒ＝７でおる。
過する。これと同時に、信号９によって信号１５′が発
生し、副ゲート回路２ ｏｌが開いて、信号２２／が通
過する。信号１３と信号１５′のパルスが重なり合った
時に信号１７’が発生し、副ゲート回路を閉じ、信号２
ｒ’はストップされる。第５図の例では、副パルス計
数器２３′での計数値Ｒ（信号２１′中のパルス数）は
、Ｒ＝７でおる。
第５図では省略したが、ついで信号１１が発生し、第２
図、第３図で説明したように各信号１５．２１．１７が
発生し、副パルス計数器２３によって、信号２１中のパ
ルス数が計数される。
図、第３図で説明したように各信号１５．２１．１７が
発生し、副パルス計数器２３によって、信号２１中のパ
ルス数が計数される。
副尺方式の原理及び（１）式から、信号９から信号１１
までの時間差Ｔは次式でめられる。
までの時間差Ｔは次式でめられる。
（３）式から第′１図に示した従来例１こよる測定結果
（（２）式で示した）に比べて、測定精度及び分解能を
飛躍的に向上できることがわかる。
（（２）式で示した）に比べて、測定精度及び分解能を
飛躍的に向上できることがわかる。
以上の如く本発明によれば、パルス数の計数精度を向上
させることができる。従って本発明を例えば時間を基準
スケールとして各種の物理、量を測定する測定装置等に
適用すれば、高精度の測定ができる等の優れた効果が奏
せられるものである。
させることができる。従って本発明を例えば時間を基準
スケールとして各種の物理、量を測定する測定装置等に
適用すれば、高精度の測定ができる等の優れた効果が奏
せられるものである。
第１図は従来例の概略構成を示すブロック線図、
第２図は本発明の一実施例の構成を示すブロック線図、
第３図は第２図における各部信号の関係を示す波形図、
第４図は本発明の他の実施例の構成を示すブロック線図
、 第５図は第４図における各部信号の関係を示す波形図で
ある。 ８・・・計数開始信号発生器、９・・・信号、１０・・
・計数終了信号発生器、１−１・・・信号、１２’、１
２’・・・主発振器、１３・・・基準周波数信号、１４
゜１４′・・・開発振器、１５ 、 Ｉ ５’・・・副
尺信号、１６゜１６′・・・ＡＮＤ回路、１７ 、１７
’・・・信号、１８・・・主ゲート回路、１９・・・信
号、２０．２０’・・・副ゲート回路、２１．２１’・
・・信号、２２・・・主パルス計数器、２３．２３’・
・・副パルス計数器。
、 第５図は第４図における各部信号の関係を示す波形図で
ある。 ８・・・計数開始信号発生器、９・・・信号、１０・・
・計数終了信号発生器、１−１・・・信号、１２’、１
２’・・・主発振器、１３・・・基準周波数信号、１４
゜１４′・・・開発振器、１５ 、 Ｉ ５’・・・副
尺信号、１６゜１６′・・・ＡＮＤ回路、１７ 、１７
’・・・信号、１８・・・主ゲート回路、１９・・・信
号、２０．２０’・・・副ゲート回路、２１．２１’・
・・信号、２２・・・主パルス計数器、２３．２３’・
・・副パルス計数器。
Claims (2)
- （１）時間差をもって発生するＡ信号とＢ信号との間の
時間的間隔を連続的な一定周期のノクルス列信号中のパ
ルス数を計数することにより測定するパルス計数装置に
おいて、前記入信帯によって一定周期の基準パルス列信
号の、Ｎ６ルス列中のパルス数を計数し始め、前記Ｂ信
号によって前記基準パルス列の計数を終了させると同時
に、一定周期の補助パルス列信号を発生させる手段と、
前記基準パルス列信号と前記補助パルス列信号のパルス
部が重畳するまでの前記補助パルス列信号中の７寸ルス
数を計数する手段と、前記基準パルス列信号のパルス計
数値と前記補助パルス列信号のパルス計数値を用いて前
記入信帯とＢ信号との間の時間的間隔をめる手段とを具
備してなることを特徴とするパルス計数装置。 - （２）時間差をもって発生するＡＩＮ号と１３４Ｍ号と
の間の時間的間隔を連続的な一定周期のパルス列信号中
のパルス数を計数することにより測定するパルス計数装
置において、予め一定周期の基準パルス列信号を発生さ
せておき、前記Ａ信号によって前記基準パルス列信号の
パルス列中のパルス数を計数し始め、同時に一定周期の
補助パルス列信号を発生させると同時にそのパルス列信
号のパルス列中のパルス数を計数し始める手段と、前記
Ｂ信号によって前記基準パルス列信号のパルス列中のパ
ルス数の計数を終了させる手段と、前記基準パルス列信
号と前記補助パルス列信号のパルス部が重畳するまでの
前記補助パルス列信号中のパルス数を計数する手段と、
前記基準パルス列信号のパルス計数値と前記補助パルス
列信号のパルス計数値を用いて前記Ａ信号とＢ信号との
間の時間的間隔をめる手段とを具備してなることを特徴
とするパルス計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12441783A JPS6017389A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | パルス計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12441783A JPS6017389A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | パルス計数装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6017389A true JPS6017389A (ja) | 1985-01-29 |
Family
ID=14884958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12441783A Pending JPS6017389A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | パルス計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6017389A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6236586A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | デイジタル計時装置 |
| JP2001141853A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-05-25 | Communication Research Laboratory Mpt | タイムインターバルカウンタ装置 |
| JP2002214369A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-07-31 | Denso Corp | 時間測定装置及び距離測定装置 |
| WO2020100374A1 (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-22 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 遅延時間検出回路、打刻情報生成装置および遅延時間検出方法 |
-
1983
- 1983-07-08 JP JP12441783A patent/JPS6017389A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6236586A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | デイジタル計時装置 |
| JP2001141853A (ja) * | 1999-11-11 | 2001-05-25 | Communication Research Laboratory Mpt | タイムインターバルカウンタ装置 |
| JP2002214369A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-07-31 | Denso Corp | 時間測定装置及び距離測定装置 |
| WO2020100374A1 (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-22 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 遅延時間検出回路、打刻情報生成装置および遅延時間検出方法 |
| JP2020079717A (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-28 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 遅延時間検出回路、打刻情報生成装置および遅延時間検出方法 |
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