JPS60154769A - 光学読取装置におけるシエ−デイング補正方式 - Google Patents

光学読取装置におけるシエ−デイング補正方式

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JPS60154769A
JPS60154769A JP59012292A JP1229284A JPS60154769A JP S60154769 A JPS60154769 A JP S60154769A JP 59012292 A JP59012292 A JP 59012292A JP 1229284 A JP1229284 A JP 1229284A JP S60154769 A JPS60154769 A JP S60154769A
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JP
Japan
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white plate
reference white
original
imaging lens
optical
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JP59012292A
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English (en)
Inventor
Seikichi Nakamura
盛吉 中村
Masahiro Mori
雅博 森
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 この発明はファクシミリ装置における原稿読取部あるい
は光学文字読取装置などのように原稿を光学的に読み取
る装置に係り、特に原稿を照射する光源の輝度の不均一
あるいは結像レンズの透過光量の不均一に起因するシェ
ーディングを補正する方式に関する。
(bl 技術の背景 たとえばファクシミリ装置の原稿読取部では原稿の主走
査方向に伸びる管状螢光灯などの光源からの光によって
原稿を照射し、その反射光を結像レンズを介してCCD
などの光電変換部に導き、ここで電気信号に変換するこ
とにより画像情報を光学的に読み取っている。したがっ
て、光源の原稿に対する光の照射量が場所によって不均
一であると読み取り濃度が異なり、原稿の画像情報を正
しく読み取ることができない。また、結像レンズの透過
光量の不均一も原稿の画像情報を正しく読み取ることが
できない要因の一つになる。
(C1従来技術と問題点 このようなシェーディングに起因する画像の読取誤差に
対処するために、シェーディング補正方式が提案されて
いる。、〕の方式は、原稿の読み取りに先立って基準白
色板を読み取ることによりシェーディング補正用の信号
を得、原稿の読み取り時に読取信号をこのシェーディン
グ補正用の信号により補正するものである。これにより
前記原稿の光照射量、結像レンズの透過光量の不均一に
起因する読取誤差を除去することができる。
しかしながら、前記基準となる白色板に傷があったり、
また塵埃が付着していたりするとシェーディング補正用
の信号としてこの傷や塵埃の影響が生じ、正確なシェー
ディングを検出できず、結果的にはその信号によって読
取信号を補正しても画像を正しく読み取ることができな
い。そのために基準白色板を複数回走査してその最大値
をシェーディング補正用の信号とすることも提案されて
いるが、傷や塵埃の大きさが特定できないためにその走
査回数を規定することができず、マージンを大きくとる
ために走査回数を多く設定せざるを得す、シェーディン
グ補正用の信号を得る工程に長時間を必要とするだけで
なく、制御回路も複雑となりコストアンプとなるという
欠点を有していた。
(dl 発明の目的 この発明は基準白色板に傷や塵埃があっても、光源や結
像レンズのシェーディングを正しく検出でき、L7たが
って原稿のの画像情報を正しく読み取ることができる光
学読取装置を提供するものである。
fe) 発明の構成 この発明はシェーディング補正用の信号を得るに際して
は光学系の焦点をずらして基準白色板を読み取ることに
より基準白色板上の傷や塵埃の存在を軽減できることを
利用したものである。すなわち、原稿を照射する光源と
、この原稿からの反射光を結像する結像レンズおよびこ
の結像を受光して電気信号に変換する光電変換部よりな
る光学系と、原稿の移送面近傍に設けられた基準白色板
とを含み、原稿の読み取りに先立って前記基準白色板を
走査することによりシェーディング補正用の信号を得、
原稿の走査時は前記光電変換部からの読み取り信号を前
記シェーディング補正用の信号により補正する光学読取
装置において、前記基準白色板を走査するに際しては光
学系の焦点をずらし、原稿の走査時は光学系の焦点を合
わせることを特徴とする。
ff) 発明の実施例 以下に本発明の実施例を図面に沿って詳細に説明する。
第1図は光学読取装置の構成を示す概要図であり、10
は原稿、11は光源、12は基準白色板、13は結像レ
ンズ、14は光電変換部を示す。
原稿10は図示しない搬送機構により走行面Pに沿って
矢印方向に搬送される。光源11は紙面と垂直方向換言
すると光電変換部の走査方向(主走査方向)に沿って伸
びる螢光灯よりなり、その光は走行面P上の画像読取位
置を照射する。基準白色板12はその上面が走行面Pと
同一面となるように結像レンズ13の光軸上に設けられ
る。結像レンズ13は基準白色板と光電変換部との間に
あり、原稿あるいは基準白色板からの反射光を光電変換
部14に導く。光電変換部14は複数個の光電変換素子
を原稿の搬送方向と垂直な方向に沿って配列したライン
型イメージセンサよりなり、受光した光量に比例した電
圧値の電気信号を出力する。光電変換部14と結像レン
ズ13とは光学系を構成している。
増幅回路15はこの光電変換部14の出力信号を増幅し
、回路16あるいは17に出力する。スイッチ19は端
子a、bを有し、増幅回路15の出力を回路16あるい
は17に選択的に供給する。回路16は基準白色板12
の走査時に増幅回路15からの信号を受けてシェーディ
ング補正用のデータを作成し、かつ記憶する機能を有す
る。回路17には原稿10の読取信号と前記記憶された
補正用のデータが入力され、補正用のデータにより原稿
の読取信号を除算することにより原稿の読取信号におけ
るシェーディングを補正する。
原稿検知部18は原稿10の搬送方向の位置を検出する
ものであり、例えばその先端を光学的に検出するために
発光素子と受光素子とが走行面を介して対向配置されて
いる。この原稿検知部18の出力は前記スイッチ19の
接続を制御する。
ここで、基準白色板12、結像レンズ13、光電変換部
14の位置関係に注目する。基準白色板12と光電変換
部14とはそれぞれ固定して設けられているが、結像レ
ンズ13はその光軸方向に移動可能となっている。すな
わち、結像レンズ13は実線にて示す位置と点線にて示
す二つの位置をとることができる。そして、実線位置で
は結像レンズ13と光電変換部14との距離をFl、結
像レンズ13と基準白色板12との距離をF2となるよ
うに固定され、この状態では光学系の焦点は合っている
。一方、点線位置では光電変換部14との距離が(F1
+31)となり、基準白色板12との距離が(F2− 
SL)となるように固定される。したがって、点線位置
では光学系の焦点がずらされた所謂ピンボケの状態とな
り、実線位置では焦点が一致した状態となる。
次ぎに、原稿10の読取動作について簡単に説明する。
まず、原稿10の読み取りに先立って基準白色板12の
読み取りが行なわれる。これは原稿検知部18が原稿I
Oの先端を検知することにより開始される。原稿10が
検知されると、結像レンズ13は点線の位置に移動され
固定される。とともに、スイッチ19をして端子aに接
続せしめるので、基準白色板12を読み取った信号は回
路16に入力される。
この時前記のように結像レンズ13は点線位置にあるの
で、その読取信号は基準白色板12上の傷や塵埃の影響
が軽減され、光源11や結像レンズ13のシェーディン
グを正しく検出することができる。基準白色板読取時の
走査回数は複数回でもよいが、読み取り時間の短縮のた
めには走査回数は一回が望ましい。
原稿検知部18が原稿9先端を検知してから一定時間が
経過すると、結像レンズ13は点線の位置から実線の位
置に移動され固定されるとともに、スイッチ19は端子
すに固定される。この状態で原稿10上の画像情報を読
み取った信号は回路17の一方に入力され、他方には回
路16から補正データが入力され、原稿読取信号が補正
される。
なお、この実施例では光学系の焦点をずらすために結像
レンズ13をその先軸方向に移動したが、光電変換部1
4あるいは基準白色板12を単独に光軸方向に移動する
ことによっても焦点をずらすことができる。また、これ
ら3つの構成部材のうちの2つあるいは3つの部材を相
対的に光軸方向に移動しても同様の効果を得ることがで
きる。
第2図は本発明による別に実施例を示し、第1図と同一
部品は同一の参照符号を付している。
第1図では基準白色板の読み取り時は基準白色板12、
結像レンズ13あるいは光電変換部15の少なくとも一
つを光軸方向に移動することにより光学系の焦点をずら
せる方式を採用している。したがって、原稿10の読み
取り時には焦点ずれが生じないようにその位置決め精度
を高精度に維持することが必要となる。
それに対して、第2図においては、基準白色板20を結
像レンズ13に関して、原稿1oの走行面Pより更に距
離S2だけ離した位置に固定しである。すなわち、光電
変換部14との間隔はFlに設定され、基準白色板20
との間隔は(F2 + 32)に設定されている。勿論
、走行面Pとの間隔はF2に設定されている。したがっ
て、基準白色板2oの読み取り時は光学系の焦点がずれ
ており、基準白色板上の傷や塵埃の影響は軽減でき、原
稿読み取り時は光学系の焦点が合っているので原稿を正
しく読み取ることができる。
第3図は本発明による第3の実施例を示し、第1図・第
2図と同一部品は同一の参照符号を付している。
第1図、第2図は基準白色板の読み取り時と原f高読み
取り時の焦点ずれを基準白色板、結像レンズおよび光電
変換部の位置関係を変更することにより光路長を変更し
、もって焦点をずらしている。
光学系の焦点をすらず方法として、光学系の構成要素の
位置関係を変更することなく、実質的に光路長を変更す
ることが考えられる。第3図はこの方法を利用したもの
である。ずなわら、光学系の焦点が合うように、レンズ
13と光電変換部14との間隔はFlに、基準白色板1
2との間隔はF2に設定されて3者は固定されている。
一方、走行面Pは基準白色板12の上面と一致するよう
に設定される。
そして、光路長変更部材30は結像レンズ13と基準白
色板12との間に介入した位置とその位置から退避した
二つの位置をとるように設けられる。この光路長変更部
材30は空気とは異なる光屈折率を有し、光透過率の良
い例えばガラス板よりなる。光路長変更部材30が退避
した位置にある時はその光路長はR1となり、光路に介
在した実線位置にある時はそれがR2となり光路長は増
加する。したがって、基準白色板12を読み取る時はこ
の光路長変更部材30を実線位置に位置決めすることに
より、光学系の焦点はずれを生じることとなり、基準白
色板上の傷や塵埃の影響を軽減もきる。一方、原稿を読
み取る時はこの光路長変更部材30を光路から退避すれ
ばよい。
なお、光路長変更部材30の介在位置は結像レンズ13
と光電変換部14との間でもよく、あるいはその両者で
もよいが、一般に装置の小型化のために焦点距離は小さ
いので、レンズ13と基準白色板12間に介在させるこ
とが望ましい。また、屈折率の変化を利用するのではな
く、プリズム、ミラー、あるいはそれらの組み合わせに
より構成してもよい。
fg) 発明の詳細 な説明したように、基準白色板を走査するに際しては光
学系の焦点をずらしたものであるから、基準白色板上の
傷や塵埃の存在に関係なく光源や結像レンズのシェーデ
ィングを正しく補正できる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明による光学読取装置に係り、第1図は第1
の実施例を示す概要図、第2図は第2の実施例を示す概
要図、第3図は第3の実施例を示す概要図である。 図中、10は原稿、11は光源、12・20は基準白色
板、13は結像レンズ、14は光電変換部、30は光路
長変更部材示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11原稿を照射する光源と、この原稿からの反射光を
    結像する結像レンズおよびこの結像を受光して電気信号
    に変換する光電変換部よりなる光学系と、原稿の走行面
    近傍に設けられた基準白色板とを含み、原稿の読み取り
    に先立って前記基準白色板を走査することによりシェー
    ディング補正用の信号を得、原稿の走査時は前記光電変
    換部からの読み取り信号を前記シェーディング補正用の
    信号により補正する光学読取装置において、前記基準白
    色板を走査するに際しては光学系の焦点をずらし、原稿
    の走査時は光学系の焦点を合わせることを特徴とする光
    学読取装置におけるシェーディング補正方式。 (2)結像レンズと光電変換部および基準白色板の少な
    くとも一つを光軸方向に移動することにより光学系の焦
    点をずらすことを特徴とする特許請求の範囲第(1)に
    記載の光学読取装置におけるシェーディング補正方式。 (3) 基準白色板を結像レンズに対して原稿の走行面
    よりも光軸方向に離して設けることにより光学系の焦点
    をずらせることを特徴とする特許請求の範囲第(11項
    に記載の光学読取装置におけるシェーディング補正方式
    。 (4)結像レンズと光電変換部との間および結像レンズ
    と基準白色板との間の少なくとも一方に光路長を変更す
    るための手段を介在することにより光学系の焦点をずら
    せることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項に記載
    の光学読取装置におけるシェーディング補正方式。
JP59012292A 1984-01-25 1984-01-25 光学読取装置におけるシエ−デイング補正方式 Pending JPS60154769A (ja)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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