JPS60153181A - 圧覚センサ - Google Patents
圧覚センサInfo
- Publication number
- JPS60153181A JPS60153181A JP59009793A JP979384A JPS60153181A JP S60153181 A JPS60153181 A JP S60153181A JP 59009793 A JP59009793 A JP 59009793A JP 979384 A JP979384 A JP 979384A JP S60153181 A JPS60153181 A JP S60153181A
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- JP
- Japan
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- pressure
- sensitive structure
- fixed
- force
- tips
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/84—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、支持体に固定された一導電形の半導体からな
る感圧構造体の受圧面に対し角度をなす面に逆導電形の
複数の抵抗素子領域を備え、抵抗素子から構成されるブ
リッジ回路に受圧面に力が印加された際の抵抗素子の抵
抗変化により生ずる出力電圧より印加された力の3成分
を検出する圧覚センサに関する。
る感圧構造体の受圧面に対し角度をなす面に逆導電形の
複数の抵抗素子領域を備え、抵抗素子から構成されるブ
リッジ回路に受圧面に力が印加された際の抵抗素子の抵
抗変化により生ずる出力電圧より印加された力の3成分
を検出する圧覚センサに関する。
各種の物体を取り扱うロボットハンドは、取り扱う物体
に応じて適正な力で杷持することが望まれる。そのため
には把持力の3成分を精密に検出し、あるいはその面状
分布を知る必要がある。この要求に応するために第1図
ないし第3図に示すような半導体圧覚センサが提案され
ている。すなわち1例えばN形シリコン単結晶からなる
直径1簡のリング状の感圧構造体1は一方の側に受圧面
11を有し、この受圧面に垂直な面12に12個のp形
抵抗素子領域21〜24.31〜34.41〜44が拡
散により形成される。これらの抵抗素子は第2図に示す
ように三つのブリッジ回路Bx。
に応じて適正な力で杷持することが望まれる。そのため
には把持力の3成分を精密に検出し、あるいはその面状
分布を知る必要がある。この要求に応するために第1図
ないし第3図に示すような半導体圧覚センサが提案され
ている。すなわち1例えばN形シリコン単結晶からなる
直径1簡のリング状の感圧構造体1は一方の側に受圧面
11を有し、この受圧面に垂直な面12に12個のp形
抵抗素子領域21〜24.31〜34.41〜44が拡
散により形成される。これらの抵抗素子は第2図に示す
ように三つのブリッジ回路Bx。
By、 Bzを形成する。感圧構造体1は力を安定した
状態で受けるためには、第3図に示すように支持体5に
固定する必要があり1例えばセラミックからなる支持体
5に溝51を形成し、その中に感圧構造体1の受圧面1
1に対向する側の突出部13を挿入し固着することが考
えられる。受圧面11に印加される力の3成分Fx、
Fy、 Fzに対応してブリッジBx、 By、 Bz
に出力電圧が発生する。この出力電圧より力の3成分F
x、 Fy、 Fzを検出するためには、第2図のVc
c 、 GND 、 Gxt 、 GX2 、 Gyi
。
状態で受けるためには、第3図に示すように支持体5に
固定する必要があり1例えばセラミックからなる支持体
5に溝51を形成し、その中に感圧構造体1の受圧面1
1に対向する側の突出部13を挿入し固着することが考
えられる。受圧面11に印加される力の3成分Fx、
Fy、 Fzに対応してブリッジBx、 By、 Bz
に出力電圧が発生する。この出力電圧より力の3成分F
x、 Fy、 Fzを検出するためには、第2図のVc
c 、 GND 、 Gxt 、 GX2 、 Gyi
。
GY2. GZI、 GZ2に対応する6個の端子6と
支持体上の端子7とをリード線8によって接続しなけれ
ばならない。しかし微小な感圧構造体1から複数の導線
をとり出す場合、リード線間の間隔が狭く、短絡が起こ
りやすい欠点がある。また各ブリッジB?c、 By、
Bzの出力電圧は数mV程度で微弱なため外部のノイ
ズに弱い欠点がある。
支持体上の端子7とをリード線8によって接続しなけれ
ばならない。しかし微小な感圧構造体1から複数の導線
をとり出す場合、リード線間の間隔が狭く、短絡が起こ
りやすい欠点がある。また各ブリッジB?c、 By、
Bzの出力電圧は数mV程度で微弱なため外部のノイ
ズに弱い欠点がある。
本発明は、上述の欠点のない外部のノイズに強く、リー
ド線間の短絡の少ない圧覚センサを提供することを目的
とする。
ド線間の短絡の少ない圧覚センサを提供することを目的
とする。
本発明は感圧構造体の受圧面に対向する側に設けられる
突出部の中間部を挾んだ先端部に抵抗素子からなるブリ
ッジ回路の出力の増幅回路を内蔵し、感圧構造体が中間
部において支持体に固着されることによって上述の目的
を達成す′る。
突出部の中間部を挾んだ先端部に抵抗素子からなるブリ
ッジ回路の出力の増幅回路を内蔵し、感圧構造体が中間
部において支持体に固着されることによって上述の目的
を達成す′る。
第4図ないし第6図は本発明の一実施例を示し、第1図
ないし第3図と共通の部分には同一の符号が付されてい
る。第5図において圧覚センサの感圧構造体1のシリコ
ン単結晶の突出部は支持体への固定部14をはさんで先
端部15を有し、先端部には第5図に示す演算増幅器3
5,45.55を含む集積回路9が形成されている。こ
の感圧構造体1の突出部14.15は第6図に示すよう
に下部52が広い断面を有する溝51の中に挿入され、
固定部14のみを溝51の壁に密着させて、例えば接着
剤により固定する。受圧面11に印加される力は固定部
14のみで受けとめられるため集積回路9には印加され
る力の影響がなく、直線性のよい増幅ができる。増幅器
25,35.45では入力、出力が絶縁されているから
、出力端子の一方は接地することができるので出力端子
はAx。
ないし第3図と共通の部分には同一の符号が付されてい
る。第5図において圧覚センサの感圧構造体1のシリコ
ン単結晶の突出部は支持体への固定部14をはさんで先
端部15を有し、先端部には第5図に示す演算増幅器3
5,45.55を含む集積回路9が形成されている。こ
の感圧構造体1の突出部14.15は第6図に示すよう
に下部52が広い断面を有する溝51の中に挿入され、
固定部14のみを溝51の壁に密着させて、例えば接着
剤により固定する。受圧面11に印加される力は固定部
14のみで受けとめられるため集積回路9には印加され
る力の影響がなく、直線性のよい増幅ができる。増幅器
25,35.45では入力、出力が絶縁されているから
、出力端子の一方は接地することができるので出力端子
はAx。
Ay 、 Azの3端子で済み、全体の端子数は従来の
8より5に減することができる。従って第5図のVcc
、 GND、 Ax、 Ay、 Azに対応する抵抗
素子21〜24.31〜34.41〜44および集積回
路9に接続される端子6は5個で、第3図の場合に比較
してリード線8の間隔が広くとれるため、リード線間の
短絡が少なくなる。また端子7から得られる出力電圧は
増幅されているため外部ノイズに対しても強くなる。
8より5に減することができる。従って第5図のVcc
、 GND、 Ax、 Ay、 Azに対応する抵抗
素子21〜24.31〜34.41〜44および集積回
路9に接続される端子6は5個で、第3図の場合に比較
してリード線8の間隔が広くとれるため、リード線間の
短絡が少なくなる。また端子7から得られる出力電圧は
増幅されているため外部ノイズに対しても強くなる。
本発明は、圧覚センサの感圧構造体の半導体素体の突出
部に抵抗素子ブリッジの出力電圧の増幅回路を内蔵させ
、この回路には感圧構造体の受圧面に印加される力が影
響しないように突出部の中間部により感圧構造体を支持
するもので、出力電圧が増幅されて外部ノイズに対して
強く、また端子数の減少により引出しリードの間隔が広
くとれて短絡の虞の少ない信頼性の高い圧覚センサが得
られるのでその効果は極めて大きい。
部に抵抗素子ブリッジの出力電圧の増幅回路を内蔵させ
、この回路には感圧構造体の受圧面に印加される力が影
響しないように突出部の中間部により感圧構造体を支持
するもので、出力電圧が増幅されて外部ノイズに対して
強く、また端子数の減少により引出しリードの間隔が広
くとれて短絡の虞の少ない信頼性の高い圧覚センサが得
られるのでその効果は極めて大きい。
第1図は圧覚センサの感圧構造体の正面図、第2図はそ
の回路図、第3図は圧覚センサの構造として考えられる
一例の斜視図、第4図は本発明の一実施例の感圧構造体
の正面図、第5図はその回路図、第6図はその組立状態
を示す斜視図である。 1・・・感圧構造体、11・・・受圧面、14・・・固
定部、15・・・先端部、21,22,23,24,3
1゜32.33,34,41,42,43,44・・・
抵抗素子領域、25,35,45・・・演算増幅器、5
・・・支持体、51・・・溝、52・・・断面拡張部。 71 口 Cyr (rr2(rap ?yz ケzl ケzzT
Z 記 7’3 IF T4 日
の回路図、第3図は圧覚センサの構造として考えられる
一例の斜視図、第4図は本発明の一実施例の感圧構造体
の正面図、第5図はその回路図、第6図はその組立状態
を示す斜視図である。 1・・・感圧構造体、11・・・受圧面、14・・・固
定部、15・・・先端部、21,22,23,24,3
1゜32.33,34,41,42,43,44・・・
抵抗素子領域、25,35,45・・・演算増幅器、5
・・・支持体、51・・・溝、52・・・断面拡張部。 71 口 Cyr (rr2(rap ?yz ケzl ケzzT
Z 記 7’3 IF T4 日
Claims (1)
- 1)支持体に固定された一導電形の半導体からなる感圧
構造体の受圧面に対し角度をなす面に逆導電形の複数の
抵抗素子領域を備え、抵抗素子から構成されるブリッジ
回路lこ受圧面に力が印加された際に生ずる出力電圧よ
り印加された力の3成分を検出するものにおいて、感圧
構造体の受圧面に対向する側に設けられる突出部の中間
部を挾んだ先端部に前記ブリッジ回路の出力電圧の増幅
回路を内蔵し、感圧構造体が前記中間部において支持体
に固着されたことを特徴とする圧覚センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59009793A JPS60153181A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 圧覚センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59009793A JPS60153181A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 圧覚センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60153181A true JPS60153181A (ja) | 1985-08-12 |
Family
ID=11730083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59009793A Pending JPS60153181A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 圧覚センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60153181A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009541752A (ja) * | 2006-06-29 | 2009-11-26 | ヴェルトシュツキー,ローラント | 少なくとも1つの力成分を検出する力センサおよび方法 |
JP2009543029A (ja) * | 2006-07-06 | 2009-12-03 | ヴェルトシュツキー,ローラント | 力ベクトルの検出用力センサ |
-
1984
- 1984-01-23 JP JP59009793A patent/JPS60153181A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009541752A (ja) * | 2006-06-29 | 2009-11-26 | ヴェルトシュツキー,ローラント | 少なくとも1つの力成分を検出する力センサおよび方法 |
JP2009543029A (ja) * | 2006-07-06 | 2009-12-03 | ヴェルトシュツキー,ローラント | 力ベクトルの検出用力センサ |
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