JPS60150637A - Ic素子の認識方法及びその装置 - Google Patents

Ic素子の認識方法及びその装置

Info

Publication number
JPS60150637A
JPS60150637A JP59005772A JP577284A JPS60150637A JP S60150637 A JPS60150637 A JP S60150637A JP 59005772 A JP59005772 A JP 59005772A JP 577284 A JP577284 A JP 577284A JP S60150637 A JPS60150637 A JP S60150637A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
camera
deviation angle
recognition
approximate
relative
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59005772A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH021369B2 (ja
Inventor
Hideaki Miyoshi
秀明 三好
Seiji Hayashi
誠治 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Denki Co Ltd
Marine Instr Co Ltd
Original Assignee
Kaijo Denki Co Ltd
Marine Instr Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kaijo Denki Co Ltd, Marine Instr Co Ltd filed Critical Kaijo Denki Co Ltd
Priority to JP59005772A priority Critical patent/JPS60150637A/ja
Publication of JPS60150637A publication Critical patent/JPS60150637A/ja
Publication of JPH021369B2 publication Critical patent/JPH021369B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/1016Shape being a cuboid
    • H01L2924/10162Shape being a cuboid with a square active surface

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、リードフレーム上などにおいてIC素子にワ
イヤボンディングを行なう際に、IC素子の位置及び/
又は方向を認識カメラを用いて認識するIC素子の認識
方法及びその装置に関するものである。
リードフレーム或いはパッケージなどのIC素子の担持
体上のIC素子にワイヤボンディングを行なう場合、パ
ターン認識用カメラによりIC素子の標準位置からのズ
レを検出し、そのズレ量に基づいてIC素子のパッドの
実際の位置の座標をj寅算し請求められたパッドの位置
に基づいてポンチ゛イングヘッドがXY方向に移動せし
められて自動ボンディングが行なわれる。
パターンマツチング方法によるIC素子のノくターン認
識について説明する。
例えば第1図に示すIC素子1がリードフレームのマウ
ント部2上にグイボンドされている。3はリードである
。4はパッド、5は回路部である。
IC素子1の二個所(対角線上が好ましい)に認識用の
ウィンドー領域6,7を定め、マウント部2に正しくグ
イボンドされているIC素子を標準IC素子として選ん
で、その標準IC素子のウィンドー領域6,7に入るパ
ッド4及び回路部5の一部のパターンを標準パターンと
して記憶せしめる。
標準パターンはモニター19上に表わせば例えばウィン
ドー領域6に対しては第2図の如くなる。
認識用カメラの撮像及びモニター19」二の表示は、第
2図の如く、直交した細かい格子により分割された単位
領域に従って表示される。
成るIC素子が認識用カメラの認識位置に到達したとき
に、カメラにより撮像されたパターンは、ウィンドー領
域6.7それぞれにおいて標準パターンと最良マツチン
グ点を以てズレ量が検出され、ウィンドー領域6におけ
るズレ量△X1.△Yl。
及びウィンド領域7におけるズレ△X2.△Y2 vに
よりIC素子の中心のズレ△X、△Y及び方向のズレ△
θが演算され、△X、△Y及びΔθにより各パッド4の
実際の座標が算出され、この実際の座標に基づいて自動
ボンディングが行なわれる。
このような従来の方法においては、IC素子の方向のズ
レ角Δθか小さな場合は、XY方向の撮像の格子或いは
モニター19の格子に対するIC素子1のズレ角が小さ
く、△Xi、ΔYl、△X2゜△Y2の検出値の誤差は
少ないが、ズレ角△θが大きくなると、例えば第3図に
示す如く矩形のパターン8を格子の目に応じて不規則な
みかけのパターン9として認識するため、△X1.ΔY
l、△X2.△Y2の検出誤差が大きくなり、パッド4
の実際の座標に誤差を生じ、円滑なボンディング作業を
妨げることがあった。
本発明は、従来における上記の欠点を除外、IC素子の
ズレ角Δθに影響されずにズレ量及びズレ角を正確に検
出することがでトるIC素子の認識方法及びその装置を
提供することを目的とするものである。
本発明は、ワイヤボンディング作業におけるIC素子の
位置及び/又は方向を、認識カメラを用いて認識するI
C素子の認識方法において、前記認識用カメラの標準方
向に対する前記IC素子の方向の概略の相対的ズレ角を
検出し、前記認識用カメラと前記IC素子とをカメラ光
軸又は該光軸に並行な軸のまわりに、前記概略の相対的
ズレ角の値だけ回転せしめて相対的ズレ角を僅小となし
、その後前記IC素子の、前記認識用カメラに対する位
置及び/又は方向を正確に検出し、絃正確な検出値と前
記概略の相対的ズレ角とに基づ外標準位置及び/又は標
準方向に対する前記IC素子の位置及び/又は方向をめ
ることを特徴とするIC素子の認識方法及びその装置で
ある。
本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第5図において、10はボンディングヘッドであり、X
テーブル11、Yテーブル12上にあって水平面内を二
次元移動する。13はボンディングステージであり、θ
ケーブル14上に設けられ、垂直な回転軸のまわりに回
転し得るようになっている。15はボンディングアーム
、16はボンディングツール、17はパターン認識用の
カメラである。θテーブル14の回転軸は、ボンディン
グステージ13上のIC素子面にほぼ垂直であれば、ボ
ンディングツール16を通るか或いはカメラ17の光軸
と一致するか、或いは他の点を通り光軸に平行な軸でも
よい。
18は認識装置、19はモニター、20は制御装置であ
る。
作用につき説明すれば、例えばIC素子が標準状態から
真のズレ角 △θ0 のスレ角を以てグイボンドされて
いたとする。ウィンドー領域6゜7のパターンマツチン
グによる認識により第3図の如くズレ角が Δθ1であ
ると算出されたとする。この △θ冒よ格子の目とのス
゛し角が大きいために真のズレ角 △θ0 とはやや異
なる概略の相対的なズレ角となる。
次に、θテーブル14を概略の相対的なズレ角△θ1だ
け回転せしめ、Ic素子の方向を、カメラ17の格子の
方向とほぼ一致せしめ相対的なズレ角を僅少となしその
後カメラ17によりもう一度パターンマツチングにより
認識動作を行ない、ズレ量△X1′、△Y1′、△X2
′、△Y2’をめズレ角Δθ′をめる。
この2回目のパターンマツチングにおいて1よ、IC素
子の方向と標準パターンの方向との相対的ズレ角Δθ′
は僅がであるので△X1′、△Y1′。
△X2′、ΔY2’の検出値の誤差は極めて小さくなる
これらの検出値△X1′、ΔY1′、△X2′。
△Y2′、△θ′及び△θ1により、IC素子1の中心
の真のズレ量△Xo、△Yo及び真の方向のズレ角 △
θ0 を算出し、これに基づき実際のパッド4の座標を
め、自動ボンディングを行なう。
第6図は、別の実施例を示し、ボンディングステージ1
3を回転させる代りにカメラ17をθチーフル14上に
設けてカメラ光軸或いはこれに並行な軸のまわりに回転
せしめるようにしたものである。
作用は前述の実施例とほぼ同様であるが、ボンディング
ステージ13は回転せず、カメラ17が概略のズレ角△
θ1だけ回転して第4図に示す如くカメラ17の格子が
IC素子とほぼ一致するようになって第2回目のパター
ンマツチングによる認識動作が行なわれる。
以上の実施例において、カメラ17と認識装置18によ
り、概略ズレ角検出手段が形r&され、制御装置20、
θテーブル14によりカメラ17とボンディングステー
ジ13上のIC素子とを相対的に回転せしめて相対的ズ
レ角を僅少とする相対回転手段が形成され、カメラ17
と認識装置18とにより、相対的ズレ角が僅少なる状態
でIC素子1の位置及び/又は方向を認識する認識手段
が形成されている。
本発明により、IC素子がスル角を有してグイボンディ
ングされていても、その影響をなくした状態で正確な認
識を行ない、ズレ角に基因する誤差を防ぎ、円滑なワイ
ヤボンディングを行なうことが可能となるIC素子の認
識方法及びその装置を提供することかで外、実用上極め
て大なる効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はIc素子の装着状態の平面図、第2図はパター
ンを表示しているモニターの正面図、第3図、第4図は
パターンと格子の向きとの関係を示す説明図、第5図及
び第6図は本発明の実施例の正面図である。 1−−− I C素子、2〜−−マウント部、3−−−
り一ド、4−−−パッド、5−−一回路部、Ei、?−
−−ウインドー領域、8−一一パターン、9−一一見か
けのパターン、10−m−ボンディングヘッド、l+−
−−Xテーブル、+2−−−Yテーブル、13−−−ボ
ンディングステージ、14−−−θテーブル、15−−
−ボンディングアーム、16−−−ボンデイングツール
、17−−−カメラ、18−−一認識装置、19−m−
モニター、2o−m−制御装置。 特許出願人 海上電機様式会社 代理人弁理士 高 木 正 行 同 千 1) 捻 回 入山 隆夫

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 ワイヤボンディング作業におけるIC素子の位置
    及び/又は方向を、認識カメラを用いて認識するIC素
    子の認識方法において、前記認識用カメラの標準方向に
    対する前記IC素子の方向の概略の相対的ズレ角を検出
    し、前記認識用カメラと前記IC素子とをカメラ光軸又
    は該光軸に並行な軸のまわりに、前記概略の相対的ズレ
    角の値だけ回転せしめて相対的ズレ角を僅小となし、 その後前記IC素子の、前記認識用カメラに対する位置
    及び/又は方向を正確に検出し、岐正確な検出値と前記
    概略の相対的ズレ角とに基づき標準位置及び/又は標準
    方向に対する前記IC素子の位置及び/又は方向をめる
    ことを特徴とするIC素子の認識方法。 2、 ワイヤボングにおける、IC素子の位置及び/又
    は方向を、認識用カメラを用いて認識するIC素子の認
    識装置において、 前記認識用カメラの標準方向に対する前記IC素子の方
    向の概略のズレ角 △θ1 を検出する概略ズレ角検出
    手段と、 前記認識用カメラと前記IC素子とを、前記概略のズレ
    角 △θ1 だけ相対的に、カメラ光軸又は該光軸に並
    行な軸のまわりに回転せしめて相対的ズレ角を僅小とす
    る相対回転手段と、相対的ズレ角が僅小なる状態で前記
    IC素子の位置及び/又は方向を認識する認識手段とを
    有することを特徴とするIC素子の認識装置。 3、 前記相対回転手段が、前記認識用カメラをカメラ
    光軸又は該光軸に並行な軸のまわりに回転せしめる手段
    である特許請求の範囲第2項記載の装置。
JP59005772A 1984-01-18 1984-01-18 Ic素子の認識方法及びその装置 Granted JPS60150637A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59005772A JPS60150637A (ja) 1984-01-18 1984-01-18 Ic素子の認識方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59005772A JPS60150637A (ja) 1984-01-18 1984-01-18 Ic素子の認識方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60150637A true JPS60150637A (ja) 1985-08-08
JPH021369B2 JPH021369B2 (ja) 1990-01-11

Family

ID=11620411

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59005772A Granted JPS60150637A (ja) 1984-01-18 1984-01-18 Ic素子の認識方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60150637A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH021369B2 (ja) 1990-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4759073A (en) Bonding apparatus with means and method for automatic calibration using pattern recognition
US5113565A (en) Apparatus and method for inspection and alignment of semiconductor chips and conductive lead frames
US5119436A (en) Method of centering bond positions
US7013039B2 (en) Image processing method, an image processing device and a bonding apparatus
US6868176B2 (en) Image processing method and device
US6917699B2 (en) Image processing method, an image processing device and a bonding apparatus
US5040293A (en) Bonding method
US5292050A (en) Wire bonder
JPS60150637A (ja) Ic素子の認識方法及びその装置
JPH0335108A (ja) リード位置認識装置
JP3157751B2 (ja) 半導体基板のダイシング方法
JP3161234B2 (ja) バンプ付電子部品の実装方法
JP2871696B2 (ja) 集積回路装置
JP3763229B2 (ja) 画像認識による位置検出方法
JP2533375B2 (ja) テ―プボンディングにおけるリ―ドとバンプの位置検出方法
JP2999298B2 (ja) 画像認識手段による電子部品の位置検出装置
JP2704426B2 (ja) インナーリードボンディング装置
JP2977953B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JPH0455529B2 (ja)
JP2630692B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JPH0462944A (ja) インナーリードボンディング方法
JP2592337B2 (ja) テープボンディング方法
JP2584836B2 (ja) プローブカードの自動位置合せ方法
JP2683697B2 (ja) ペレットボンディング装置
JPH0512421A (ja) 画像認識手段による電子部品の位置検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees