JPS60147731A - 感光性樹脂組成物 - Google Patents

感光性樹脂組成物

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Publication number
JPS60147731A
JPS60147731A JP59004082A JP408284A JPS60147731A JP S60147731 A JPS60147731 A JP S60147731A JP 59004082 A JP59004082 A JP 59004082A JP 408284 A JP408284 A JP 408284A JP S60147731 A JPS60147731 A JP S60147731A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
compds
group
photosensitive resin
resin composition
photosensitive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59004082A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeru Koibuchi
滋 鯉渕
Asao Isobe
磯部 麻郎
Daisuke Makino
大輔 牧野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPS60147731A publication Critical patent/JPS60147731A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/008Azides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、感光性樹脂組成物に関し、更にil’pしく
は最大吸収波長の異なる芳香族アジド化合物を2種以上
用いることにより、多波長の光に感光して感光膜の下層
までも硬化させうる感光性樹脂組成物に関する。 。
従来、芳香族アジド化合物を感光性化合物として使用す
ることは公知であり、これらは特公昭45−22082
号公報、、特公昭44−26048号公報、特公昭53
−34902号公報、特公昭49−4481号公報等に
開示されている。
また芳香族アジド化合物を用いていくつかの感光性組成
物が実用化されており、例えば日立化成工業(株)製の
感光性組成物(商品名 RD−200ON)等がある。
芳香族アジド化合物により、例えばアルカリ水溶液可溶
性の高分子材料を光化学的に硬化し、アルカリ水溶液に
不溶とするには、十分な添加量の芳香族アジド化合物を
使用しなければならない。
しかも硬化した高分子膜の支持体である基板からの光反
射による露光が起こらないようにするためにも、十分な
添加量の芳香族アジド化合物を用いる必要がある。
光反射による、像の露光を防ぐためには、感光膜中の光
吸収を強くすることが行なわれる。しかしながら、これ
は、感光膜の下層の硬化が、上層に比べて小さいという
結果をもたらし、その、ため現像条件によって、硬化し
た感光膜の形状が変化するという欠点を生じる。感光性
樹脂組成物を使用する用途によっては、硬化した感光膜
の形状が現像条件により変化してもよいこともあるが、
電子工業等の精密分野においては、硬化した感光膜の形
状が現像条件により変化することは好ましくない。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除去し、感光膜
の下層までも硬化させうる安定な感光性樹脂組成物を提
供することにある。
本発明者らはこの目的達成のため、鋭意研究の結果、最
大吸収波長の異なる2種以上の芳香族アジド化合物を用
いることにより、多波長の光に感光して感光膜の下層ま
でも硬化させうる感光性樹脂組成物が得られることを見
出し、本発明に到達した。
本発明は、最大吸収波長が異なり、それぞれ200〜3
300m未満の範囲と330〜500nmの範囲にある
2種以上の芳香族アジド化合物およびこれらの化合物に
より光化学的に硬化し、アルカリ水溶液に不溶化しうる
ア、ルカリ水溶液可溶性高分子を含有してなる感光性樹
脂組成物に関する。
本発明に使用する芳香族アジド化合物は、200〜33
0nm未滴に最大吸収波長を有するA群の化合物と、3
30〜500nmに最大吸収波長を有するB群の化合物
を組合せたものからなる。
すなわち、A群の化合物として、例えば、4.4′−ジ
アジドジフェニルエーテル(最大吸収波長:264nm
) 、4.4’−ジアジドジフェニルスルフィド(27
3nm) 、4.4’−ジアジドジフェニルスルホン(
284nm)、3. 3 ’−ジアジドジフェニルスル
ホン(240nm) 、4゜4′−ジアジドジフェニル
メタン(256nm)、3.3′−ジクロロ−4,4′
−ジアジドジフェニルメタン(258nm) 、4.4
’−ジアジドジフェニルジスルフィド(266nm)、
4.4’−ジアジドジベンジル(270nm) 、p−
アジド安息香酸2−(N、N−ジメチルアミノ)エチル
(274nm)、p−アジド安息香酸3−(N。
N−ジメチルアミノ)プロピル(274nm)、p−ア
ジド安息香酸2−ヒドロキシエチル(274nm) 、
N、N−ジメチル−N’−p−アジドベンゾイルエチレ
ンジアミン(270nm) 、N。
N−ジメチル−N’−p−アジドベンゾイルプロピレン
ジアミン(27(lnm) 、p−アジドフェニル−2
−(N、N−ジメチルアミノ)エチルケトン(273n
m)、p−スルホニルアジド安息香酸2− (N、N−
ジメチルアミノ)エチル(24Qnm)からなる群(A
群)から選ばれた少なくとも1種の化合物と、B群の化
合物として、例えば1−4′−アジドベンジリデンイン
デン(356nm) 、1−4’−アジドシンナミリデ
ンインデン(384nm) 、1−4’−アジドベンジ
リデン−3−α−ヒドロキシベンジルインデン(357
nm)、9 4’−アジドベンジリデンフルオレン(3
40nm) 、9−4’アジドシンナミリデンフルオレ
ン(390nm) 、4’−アジドベンザル−2−メト
キシアセトフェノン(33Qnm)、4’−アジドベン
ザル−3−メトキシアセトフェノン(330nm) 、
3.− (4’−アジドスチリル)−5,5−ジメチル
−2−シクロヘキセン−1−オン(’346nm) 、
3− (4−アジドフェニル−1,3−ブタジェニル)
−5゜5−ジメチル−2−シクロヘキセン−1−オン(
368nm) 、2.6−ビス(4′−アジドベンジリ
デン)シクロヘキサノン(355nm) 、2゜6−ビ
ス(4′−アジドベンジリデン)−4−メチルシクロヘ
キサノン(355nm)からなる群(B群)から選ばれ
た少なくとも1種の化合物とからなる。A群に属する化
合物の最大吸収波長は200〜330nm未満であり、
またB群に属する化合物の最大吸収波長は330〜5Q
Qnmである。上記芳香族アジド化合物のうち、A群か
ら選ばれた化各物とB−から選ばれた化合物との混合割
合には、特に制限はない。
通常市販されている光源は、200〜500nmに種々
の発光強度を有しているので、本発明の樹脂組成物は、
芳香族アジド化合物を前記2群からそれぞれ少なくとも
1種ずつ選び、前記光源中の種々の光に感光す葛組成物
とすることによって、広域に感光させて、光の透過性の
7よい部分を生じせしめ、その結果、感光膜の下層の硬
化を達成したものである。
本発明に使用する上記の芳香族アジド化合物によりアル
カリ水溶液に不溶化し得るアルカリ水溶液可溶性高分子
は、水酸基またはカルボキシル基を有する高分子化合物
である。これらの例としては、ノボラック樹脂、ポリヒ
ドロキシスチレン樹脂、アクリル酸またはメタアクリル
酸の重合体等が挙げられる。これらは、ホモ縮合体まは
共縮合体、ホモ重合体または共重合体の形で、単独また
は2種以上混合して用いられる。
これらの樹脂は市販品としてもめることができ、例えば
ノボラック樹脂としては、フェノールノボラック樹脂、
タレゾールノボランク樹脂、フェノール・クレゾールノ
ボラック樹脂等が挙げられる。またポリヒドロキシスチ
レン樹脂としては、ポリ (p−ビニルフェノール)、
ポリ (p−ビニルフェノール)の臭素化物等が挙げら
れる。アクリル酸またはメタアクリル酸の重合体として
は、アクリル酸またはメタアクリル酸ポリマー、アクリ
ル酸またはメタアクリル酸とアクリル酸エステルまたは
メタアクリル酸エステルとの共重合体、アクリル酸また
はメタアクリル酸とスチレンとの共重合体等が挙げられ
る。
アルカリ水溶液可溶性高分子は、脱溶剤後、成膜できる
ことが好ましく、そのためには数平均分子量は500以
上が好ましく、更に感光性組成物としての耐熱性を考慮
すると、数平均分子量はl。
000以上が好ましい。
本発明の感光性樹脂組成物において、芳香族アジド化合
物のアルカリ可溶性高分子に対する混合割合は、アルカ
リ可溶性高分子に対し5〜100重量%が好ましく、5
〜50重量%が更に好ましい。
また本発明の感光性組成物は更に溶剤を含んでいてよい
。本発明の感光性組成物は溶剤に溶解した状態でシリコ
ン、アルミ等の基板表面に塗布される。この際使用され
る溶剤としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン
、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケト
ン系溶剤、メチルセロソルブ、メチルセロソルブアセテ
ート、エチルセロソルブアセテート等の七ロソイブ系溶
剤、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸イソアミル等のエス
テル系溶剤等がある。これらの溶剤は単独でまたは2種
以上混合して用いられる。
本発明の樹脂組成物において、アルカリ水溶液可溶性高
分子は光化学的に硬化し、硬化後アルカリ水溶液に不溶
となるが、光化学的な硬化は水銀灯等の照射など、公知
の手段により行なわれる。
この硬化によってアルカリ水溶液可溶性高分子はアルカ
リ水溶液に不溶性となり、その結果アルカリ水溶液によ
って現像可能となる。該アルカリ水溶液としては、例え
ば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、テトラメチルア
ンモニウム等の5重量%以下の水溶液が用いられる。
本発明の感光性樹脂組成物は、その目的に応じて副次的
な成分を含有していてもよい。これらの例としては、貯
蔵安定性を図るための熱重合防止剤、基板からのハレー
ションを防止するためのハ”レーション防止剤、基板と
の密着性を向上させるための密着性向上剤等が挙げられ
る。
本発明の感光性樹脂組成物は、感光膜の下層までも十分
に硬化した感光膜を形成することができるので、現象時
に上下層の硬化差を生じることな(、正確でシャープな
画像を形成することができる。このため、本発明の感光
性組成物は、現像工程におけるパターン形状の管理がよ
り容易になるという利点を有する。
本発明の感光性組成物は、写真工業、印刷工業、電子工
業等の分野に広く用いることができる。
以下、実施例により本発明の詳細な説明にする。
実施例1 4.4′−ジアジドジフェニルスルフィド(最大吸収波
長=273nm、以下波長のみを記載)0.7重量部と
4′−アジドベンザル−2−メトキシアセトフェノン(
330nm) 0.2重量部とを、丸善石油(株)製ポ
リ (p−ビニルフェノール)(商品名レジンM)5重
量部と共に、シクロヘキサノン25重量部に溶解させ、
感光性樹脂組成物を調製した。得られた組成物をアルミ
ニウム膜を蒸着したシリコンウェーハ上に、3.000
rpmで30秒間回転塗布し、乾燥して、1μmの感光
膜を形成させた。
次いでこの基板を250Wの水銀灯を用いて、10mW
/cIi!(365nmで測定)の強度の光で7秒間露
光し、更に未露光層を1重量%のテトラメチルアンモニ
ウム水溶液を用いて、23℃で100秒間現像し、水で
リンスして、1.5μm幅のラインの繰り返しパターン
を形成させた。(株)日立製作所製走査型電子顕1wl
鎮(以下SEMと称する)を用いて、このパターンの上
層と下層とを観察したところ、矩形断面のパターンがI
Jられ、下層も十分に硬化していることが分った。
実1缶仔す2 3.3′−ジアジドジフェニルスルボン(240nm)
0.8重量部と3−(4’−アジドスチリル)−5,5
−ジメチル−2−シクロヘキセン−1−オン(368n
m) 0.2重量部とを、群集化学(株)製クレゾール
ノボラック樹脂(商品名PSF−2807)4重量部と
共に、シフUへキサノン25重量部に熔解させ、感光性
樹脂組成物を調製した。得られたMi成物をシリコンウ
ェーハ上に、3.OOOrpmで30秒間回転塗布し、
乾燥して、1μmの感光膜を形成させた。
次いでこの基板を実施例1と同じ水銀灯を用いて、クロ
ムマスクを介して7秒間露光し、更に未露光層を2重量
%のテトラメチルアンモニウム水溶液を用いて、23℃
で2分間現像し、水でリンスして、2μm幅のラインの
繰り返しパターンを形成させた。SEMを用いて、この
バタニンの上層と下層とを観察したところ、矩形断面の
パターンが得られ、下層も十分に硬化していることが分
った。
実施例3 p−アジド安息香酸2− (N、N−ジメチルアミノ)
エチル(274nm)0.9重量部と2,6−ビス(4
′−アジドベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノ
ン(355nm、> 0.1重量部とを、実施例1で用
いたレジンM5重量部と共に、シクロヘキサノン25重
量部に熔解させ、感光性樹脂組成物を調製した。得られ
た組成物をシリコンウェーハ上に、3.00Orpmで
30秒間回転塗布し、乾燥して、1μmの感光膜を形成
させた。
次いでこの基板を実施例1と同じ水銀灯を用いて、クロ
ムマスクを介して8秒間露光し、更に未露光層を1重量
%のテトラメチルアンモニウム水溶液を用いて、23℃
で80秒間現像し、水でリンスして、1.5μm幅のラ
インの繰り返しパターンを形成させた。SR,Mを用い
て、このパターンの上層と下層とを観察したところ、矩
形断面のパターンが得られ、下層も十分に硬化している
ことが分った。
比較例1 4′−アジドベンザル−2−メトキシアセトフェノンを
用いず、その他は実施例1と同様にして感光性樹脂組成
物を調製し、以下、実施例1と同様に処理して、1,5
μm、幅のラインの繰り返しパターンを形成させた。S
EMを用いて、このパターンの上層と下層とを観察した
ところ、逆台形断面のパターンが得られ、下層の硬化が
実施例1の組成物と比較して十分でないことが分った。
比較例2 3−(4’−アジドスチリル)−5,5−ジメチル−2
−シクロヘキセン−1−オンを用いず、その他は実施例
2と同様にして感光性樹脂組成物を調製し、以下実施例
2と同様に処理して、2μm幅のラインの繰り返しパタ
ーンを形成させた。
SEMを用いて、このパターンの上層と下層とを観察し
たところ、逆台形断面のパターンが得られ、下層の硬化
が実施例2の組成物と比較して十分でないことが分った
比較例3

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、最大吸収波長が異なり、それぞれ200〜330n
    m未満の範囲と330〜500nmの範囲にある2種以
    上の芳香族アジド化合物と、これらの化合物により光化
    学的に硬化し、アルカリ水溶液に不溶化し得るアルカリ
    水溶液可溶性高分子とを含有してなる感光性樹脂組成物
JP59004082A 1984-01-11 1984-01-11 感光性樹脂組成物 Pending JPS60147731A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000058275A1 (fr) * 1999-03-31 2000-10-05 Sanyo Chemical Industries, Ltd. Compose photosensible et composition photosensible
JP2019530024A (ja) * 2016-09-20 2019-10-17 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィのための投影露光方法および投影露光装置

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WO2000058275A1 (fr) * 1999-03-31 2000-10-05 Sanyo Chemical Industries, Ltd. Compose photosensible et composition photosensible
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