JPS60143498A - Semiconductor input circuit - Google Patents

Semiconductor input circuit

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JPS60143498A
JPS60143498A JP58250247A JP25024783A JPS60143498A JP S60143498 A JPS60143498 A JP S60143498A JP 58250247 A JP58250247 A JP 58250247A JP 25024783 A JP25024783 A JP 25024783A JP S60143498 A JPS60143498 A JP S60143498A
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voltage
mos transistor
mos
circuit
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JP58250247A
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Yoichi Hida
洋一 飛田
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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Abstract

PURPOSE:To allow interruption of the supply current which flows at the time of waiting by providing a transistor between a VCC terminal and an MOS transistor on the VCC terminal side, which constitutes an inverter circuit, and by giving a constant voltage which is lower than the VCC voltage. CONSTITUTION:Since the current from a load MOS transistor 17 is small, the voltage of a connecting point 24 is decided by overlapping of threshold voltages of MOS transistors 18-23. When the voltage is impressed on the gate electrode of an MOS transistor 15, the MOS transistor 15 executes the operation of the source follower, and a voltage V16 which is lower than the voltage of the gate electrode of the MOS transistor 15 by the threshold voltage, appears at a connecting point 16. Under this condition, the voltage difference between the source electrode of an MOS transistor 3 and the gate electrode becomes smaller than the threshold voltage from the aspect of the absolute vale even if ''1'' level of a CS signal lowers, the MOS transistor 3 turns off, and the supply current does not flow.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はMOSトランジスタを用いた半導体集積回路の
入力回路に関し、特に半導体記憶回路に用いて有効な低
消費電力の入力回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an input circuit for a semiconductor integrated circuit using MOS transistors, and particularly to a low power consumption input circuit that is effective for use in a semiconductor memory circuit.

〔従来技術〕[Prior art]

一般に半導体メモリシステムは多数の半導体記1、α素
子から構成される。この様なメモリシステムにおいて、
そこで必要なデータの読み出しあるいは書き込みは番地
指定された記憶素子のみで行われ、他の素子は待機状態
に置かれる。この動作をチップセレクトと呼び、これを
制御する信号(百■あるいはa)の加わる端子(面端子
あるいはσπ端子)が記憶素子に設けられている。この
ε1端子に加わるn信号のレベルが“L”の場合、記憶
素子は読み出しあるいは書き込みの動作状態に、“ト■
”の場合は待機状態になる。
Generally, a semiconductor memory system is composed of a large number of semiconductor elements. In such a memory system,
Therefore, reading or writing of necessary data is performed only in the memory element designated by the address, and the other elements are placed in a standby state. This operation is called chip select, and the memory element is provided with a terminal (plane terminal or σπ terminal) to which a signal (102 or a) for controlling this operation is applied. When the level of the n signal applied to the ε1 terminal is “L”, the storage element is in the read or write operation state.
”, it goes into standby mode.

通常、動作状態では素子の内部回路が動作するので電源
電流は大きくなり、待機状態では内部回路が動作しない
ので電流は小さくなる。この様子を第1図に示している
。同図+alはn信号を、同図伽)は電源電流Iceを
示し、動作時における該電流値1ccAは数10mAで
ある。
Normally, in the operating state, the internal circuit of the element operates, so the power supply current becomes large, and in the standby state, the internal circuit does not operate, so the current decreases. This situation is shown in FIG. In the same figure, +al indicates the n signal, and in the same figure, C) indicates the power supply current Ice, and the current value 1 ccA during operation is several tens of mA.

停電時において電池でバックアップするようにしたメモ
リシステムにおいては、第1図の待機時の電流T cc
sができるだけ小さいことが要求され、現在は数10μ
Aの程度のものが一般に製造されている。
In a memory system that is backed up by a battery in the event of a power outage, the standby current T cc in Figure 1 is
It is required that s be as small as possible, and currently it is several tens of microns.
Grade A products are generally manufactured.

第2図はこの種の記憶素子に用いられている入力回路を
示している。図において、1は電源端子、2はσゑ信号
が加わる入力端子、3,4は電源端子1と接地との間に
直列に設けられた相互に逆導電性のMOS)ランジスタ
で、それぞれのゲート電極が共通の入力端子2に接続さ
れ、上記面信号を入力とする相補性MOSインバータ回
路30を形成している。そして該インバータ回路30に
おいて、電源端子1側にはPチャネルMOSトランジス
タ3が、接地側にはNチャネルMO3)ランジスタ4が
接続されている。5は上記インバータ回路30の出力端
子である。また40は上記インバータ回路30と同様に
構成された相補性MOSインバータ回路であり、この入
力端子に上記インバータ回路30の出力端子5が直結さ
れている。
FIG. 2 shows an input circuit used in this type of memory element. In the figure, 1 is a power supply terminal, 2 is an input terminal to which the σ signal is applied, and 3 and 4 are MOS transistors with opposite conductivity connected in series between the power supply terminal 1 and the ground. The electrodes are connected to a common input terminal 2, forming a complementary MOS inverter circuit 30 which receives the above surface signal as input. In the inverter circuit 30, a P-channel MOS transistor 3 is connected to the power supply terminal 1 side, and an N-channel MOS transistor 4 is connected to the ground side. 5 is an output terminal of the inverter circuit 30. Further, 40 is a complementary MOS inverter circuit configured similarly to the above inverter circuit 30, and the output terminal 5 of the above inverter circuit 30 is directly connected to the input terminal of this complementary MOS inverter circuit.

8は上記インバータ回路40の出力端子であり、この出
力端子8には出力信号C8°が得られるようになってい
る。
8 is an output terminal of the inverter circuit 40, and an output signal C8° is obtained at this output terminal 8.

9は記憶素子の入力信号のうちの1つであるアドレス信
号Aが加わる入力端子である。10.11は直列に接続
された互いに逆導電性のMOSトランジスタで、それぞ
れのゲート電極が共通の入力端子9に接続されている。
Reference numeral 9 denotes an input terminal to which address signal A, which is one of the input signals of the storage element, is applied. Reference numerals 10 and 11 designate MOS transistors having opposite conductivity and connected in series, each having its gate electrode connected to a common input terminal 9.

12は上記MO3)ランジスタlOと同一導電性のMO
S)ランジスタで、上記M6Sトランジスタ10と直列
に接続されている。13は上記MOSトランジスタ11
と同一導電性のMoSトランジスタで、上記MOSトラ
ンジスタ11と並列に接続されている。そして両MO3
I−ランジスタ12.13のそれぞれのゲート電極は上
記インバータ回路40の出力端子8に接続され、該イン
バータ40回路からのU丁゛信号が加えられるようにな
っている。
12 is an MO with the same conductivity as the above MO3) transistor lO
S) A transistor connected in series with the M6S transistor 10. 13 is the above MOS transistor 11
is a MoS transistor having the same conductivity as , and is connected in parallel with the MOS transistor 11 . And both MO3
The gate electrodes of each of the I-transistors 12, 13 are connected to the output terminal 8 of the inverter circuit 40, so that the U signal from the inverter circuit 40 is applied thereto.

なお第2図においては記憶素子のアドレス信号としてA
oのみを示したが、他の入力信号(A1゜A2.・・・
、 DIN、R/W ’)に対する入力回路も上記MO
3)ランジスタ10〜13によるものと同一構成である
ので省略している。
In FIG. 2, A is used as the address signal of the memory element.
o is shown, but other input signals (A1゜A2...
, DIN, R/W') is also the same as the above MO.
3) It is omitted because it has the same configuration as the transistors 10 to 13.

次に第2図の回路動作を第3図の波形図を用いて説明す
る。第3図の波形はアドレス信号AO=“0”となる番
地の記憶素子がメモリ動作を行なうことを示している。
Next, the operation of the circuit shown in FIG. 2 will be explained using the waveform diagram shown in FIG. The waveforms in FIG. 3 indicate that the memory element at the address where address signal AO="0" performs a memory operation.

まず時刻t1において番地指定のためAo倍信号“0”
に変化する。しかしζ否信号が“1”なのでで1゛信号
は“1”で、MOS)ランジスタ13はONになってお
り、アドレス信号Aoは“O”に保たれたままである。
First, at time t1, the Ao multiplication signal is “0” for address specification.
Changes to However, since the ζ/NO signal is "1", the 1' signal is "1", the MOS transistor 13 is turned on, and the address signal Ao remains at "O".

次に時刻t2で面信号が“0”に変わるとび茗”信号は
“0”になり、MOS)ランジスタ12がON、MOS
)−77ジスタ13がOFFするので(MOS)ランジ
スタ10はすでにON、11はOFFしている〕、6゛
信号は“1”になる。この心°信号のレベルがこの素子
のデコーダ回路(図示省略)に伝えられ指定されたメモ
リセルが選ばれ、この後データの読み出しあるいは書き
込みが行なわれる。
Next, at time t2, when the surface signal changes to "0", the MOS signal changes to "0", and the MOS) transistor 12 turns on, MOS
)-77 resistor 13 is turned off, (MOS) transistor 10 is already turned on and transistor 11 is turned off], so the 6' signal becomes "1". The level of this heart signal is transmitted to a decoder circuit (not shown) of this element, a designated memory cell is selected, and data is then read or written.

上記メモリ動作が終ると時刻t3で6百信号が再び“1
”になる。この場合時刻t1と同様にヒ茗。
When the above memory operation is completed, the 600 signal becomes "1" again at time t3.
”. In this case, the same as time t1.

信号が1”になり、MOS)ランジスタ12が0、FF
、MOS)ランジスタ13がONとなり、蔦゛信号はA
o倍信号は無関係に“0”となる。
The signal becomes 1", MOS) transistor 12 becomes 0, FF
, MOS) transistor 13 is turned on, and the voltage signal becomes A.
The o times signal becomes "0" regardless.

従って時刻t4でAo倍信号“1”に変わってもAθ信
号の入力回路は動作しない。
Therefore, even if the Ao multiplied signal changes to "1" at time t4, the Aθ signal input circuit does not operate.

第3図(flに本人力回路の電源電流波形が示されてい
る。同図に示されているように時刻t2.t3において
はσ百信号およびA、信号に対して設けられた入力回路
のインバータ回路が動作するときの過度的な電流が流れ
ている。この電流はインバータを構成するPチャネルM
O3I−ランジスタとNチャネルMO3)ランジスタが
所定時間に同時にONすることによって流れるものであ
る。
Figure 3 (fl shows the power supply current waveform of the personal power circuit. As shown in the figure, at times t2 and t3, the input circuit provided for the σ100 signal, A, and A transient current flows when the inverter circuit operates.This current flows through the P-channel M
The current flows when the O3I transistor and the N-channel MO3 transistor are turned on simultaneously at a predetermined time.

ここで問題にすべきはσ3信号がl”の期間、すなわち
待機時に流れる電流である。この電流は面信号の入力レ
ベルに依存する。具体的にはτ百信号のレベルが電源電
圧と同じ(=Vcc)ならばMOS)ランジスタ3が完
全にOFFとなり電源電流は流れない(第3図+fl中
、実線で示すようにP−N接合のリーク電流のみとなる
)。しかるにC8信号のレベルがTTLレベル、即ち2
.4■の場合、Vcc=5VとするとMOSトランジス
タ3のしきい値電圧は−0,5V程度に設定されるので
、入力とVce間の電圧差(2,4V −5V = −
2,6■)がMOS)ランジスタ3のしきい値電圧−〇
、5Vを越えてしまい、MO3I−ランジスタ3はON
し、第3図(flの破線に示すような数mAの電流が流
れることとなる。この電流値は電池でバンクアップする
場合許容できない値である。
What should be considered here is the current that flows during the period when the σ3 signal is l", that is, during standby. This current depends on the input level of the plane signal. Specifically, the level of the τ100 signal is the same as the power supply voltage ( = Vcc), then the MOS) transistor 3 is completely OFF and no power supply current flows (only the leakage current from the P-N junction as shown by the solid line in Figure 3 + fl).However, the level of the C8 signal is TTL. level, i.e. 2
.. In the case of 4■, if Vcc = 5V, the threshold voltage of MOS transistor 3 is set to about -0.5V, so the voltage difference between the input and Vce (2.4V -5V = -
2,6■) exceeds the threshold voltage of MOS) transistor 3 -〇,5V, MO3I-transistor 3 is turned on.
However, a current of several mA as shown by the broken line fl in FIG. 3 (fl) will flow. This current value is unacceptable when bank-up with batteries.

このため従来、この様な用途に対してはC8回路を駆動
するTTL回路の出力と電源端子との間にプルアップ抵
抗を設けてTTLの出力レベルを電源電圧Vccまで上
げて待機時の電流を減らすようにしている。
For this reason, conventionally, for such applications, a pull-up resistor was provided between the output of the TTL circuit that drives the C8 circuit and the power supply terminal to raise the TTL output level to the power supply voltage Vcc and reduce the current during standby. I'm trying to reduce it.

しかしながらプルアンプ抵抗を設けると、これにより実
装スペースが増加するという欠点があった。
However, providing a pull amplifier resistor has the drawback of increasing mounting space.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は上記の様な従来のものの欠点を除去するために
なされたもので、Vcc端子とインバータ回路を構成す
るVcc端子側MO3)ランジスタとの間にl・ランジ
スタを設け、このトランジスタのゲート電極にVcc電
圧よりも低い一定電圧を与えることにより、待機時に流
れる電源電流を遮断することができる半導体入力回路を
提供することを目的としている。
The present invention has been made in order to eliminate the drawbacks of the conventional ones as described above, and an L transistor is provided between the Vcc terminal and the MO3) transistor on the Vcc terminal side constituting the inverter circuit, and the gate electrode of this transistor is It is an object of the present invention to provide a semiconductor input circuit that can cut off the power supply current flowing during standby by applying a constant voltage lower than the Vcc voltage to the input circuit.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例を図について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第4図は本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention.

図において、第2図と同一符号は同一のものを示してい
る。4は一方の主電極が接地され、ゲート電極が入力端
子2に接続されたNチャネルMOSトランジスタ(第1
のMOS)ランジスタ)、3は一方の主電極が上記MO
3)ランジスタ4の他方の主電極に接続され、ゲート電
極が上記入力端子2に接続されたPチャネルMO3)ラ
ンジスタ(第2のMO5Lラントランジスタり、上記両
トランジスタ4.3の接続点5が出方端子となっている
。また15は一方の主電極が上記MO3)ランジスタ3
の他方の主電極に、他方の主電極が電源端子1に接続さ
れたNチャネルMOS)ランジスタ(第3のMO3I−
ランジスタ)である。16はMOSトランジスタ15と
3との接続点である。
In the figure, the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same parts. 4 is an N-channel MOS transistor (first
(MOS) transistor), 3 has one main electrode as the above MO
3) A P-channel MO transistor (second MO5L run transistor) connected to the other main electrode of the transistor 4 and whose gate electrode is connected to the input terminal 2; In addition, one main electrode of 15 is the MO3) transistor 3.
The other main electrode of the N-channel MOS transistor (third MO3I-
). 16 is a connection point between MOS transistors 15 and 3;

17〜23は電源端子1と接地(第1の電源端子)との
間に直列に接続されたNチャネルMOS)ランジスタで
、17は高抵抗の負荷Mosトランジスタ、18〜23
はドレインとゲート電極とが接続されたMOS)ランジ
スタである。24はMOS)ランジスタ17と18〜2
3との接続点である。そして図中の50fJ(MOS)
ランジスタ15のゲート電極に、電源電圧より低い一定
電圧を印加する電圧発注回路となっている。
17 to 23 are N-channel MOS) transistors connected in series between the power supply terminal 1 and the ground (first power supply terminal); 17 is a high resistance load Mos transistor; 18 to 23
is a MOS transistor whose drain and gate electrodes are connected. 24 is MOS) transistors 17 and 18~2
This is the connection point with 3. And 50fJ (MOS) in the figure
This is a voltage ordering circuit that applies a constant voltage lower than the power supply voltage to the gate electrode of the transistor 15.

次に第4図の回路の動作について説明する。Next, the operation of the circuit shown in FIG. 4 will be explained.

第4図の様な電源電圧Vccが5Vの回路においては、
NチャネルMOS)ランジスタのしきい値電圧は3M常
0.5V程度に設定される。また高抵抗MO3)ランジ
スタ17は接続点24に電圧を供給するのみであり、例
えばIMΩ程度の非常に高抵抗に設定される。
In a circuit where the power supply voltage Vcc is 5V as shown in Fig. 4,
The threshold voltage of the N-channel MOS transistor is usually set to about 0.5V for 3M. Further, the high resistance MO3) transistor 17 only supplies voltage to the connection point 24, and is set to have a very high resistance of, for example, IMΩ.

この様に負荷MO3)ランジスタ17がらの電流を少な
くしているので、接続点24の電圧はMOS)ランジス
タ18〜23のしきい値電圧の積み重ねによって決まる
。第4図の場合MO3)ランジスタが6個接続されてい
るので、接続点24の電圧V24は0.5VX6=3V
となる。次にこの電圧がMOS)ランジスタ15のゲー
ト電極に印加された場合、MOS)ランジスタ15はい
わゆるソースフォロワの動作を行ない接続点16にはM
OSトランジスタ15のゲート電極の電圧よりもMOS
トランジスタ15のしきい値電圧(=0.5V)分だけ
低い電圧V16= 3 V −0,5V = 2.5V
が現われる。
Since the current flowing through the load transistor 17 is reduced in this way, the voltage at the connection point 24 is determined by the accumulation of the threshold voltages of the transistors 18 to 23 (MOS). In the case of Fig. 4, six MO3) transistors are connected, so the voltage V24 at the connection point 24 is 0.5V x 6 = 3V.
becomes. Next, when this voltage is applied to the gate electrode of the MOS transistor 15, the MOS transistor 15 performs a so-called source follower operation, and the connection point 16 has an M
The voltage of the gate electrode of the OS transistor 15 is higher than that of the MOS transistor 15.
Voltage V16 lower by the threshold voltage (=0.5V) of transistor 15 = 3V -0.5V = 2.5V
appears.

この状態においては、面信号の“1”レベルが2.4■
になってもMOSトランジスタ3のソース電極〔接続点
16〕とゲート電極〔入力端子2〕との間の電圧差V1
B−V2は、2.5V−2,4V=0.IVとなり、こ
れはMOS)ランジスタ3のしきい値電圧よりも絶対値
で小さく、従ってMo3)ランジスタ3はOFFとなり
電源電流は流れない。
In this state, the "1" level of the surface signal is 2.4■
Even if the voltage difference V1 between the source electrode [connection point 16] and the gate electrode [input terminal 2] of the MOS transistor 3
B-V2 is 2.5V-2,4V=0. IV, which is smaller in absolute value than the threshold voltage of the MOS transistor 3, so the Mo3 transistor 3 is turned off and no power supply current flows.

ただし、■信号が“0”のとき接続点5の“1″出力電
圧のレベルは2.5■となり、Mo3)ランジスタロ、
7を通して電源電流が流れる。しかるにこの場合の電流
は動作時の電流であり、動作時の電流全体の数%程度で
あるので問題とはならない。
However, when the ■signal is "0", the level of the "1" output voltage at the connection point 5 is 2.5■.
Power supply current flows through 7. However, the current in this case is a current during operation, and is only a few percent of the total current during operation, so it does not pose a problem.

このように本実施例では、σ百信号の入力回路と電源端
子との間にMo3I−ランジスタ15を設け、このMo
3)ランジスタ15のゲート電極に、電源端子と接地と
の間に設けた電圧発生回路の一定電圧を加えるようにし
たので、e1入力信号がTTLレベルであってもσ茗入
力回路の電源電流を遮断でき、従来回路で設けられてい
たプルアップ抵抗が不要となり、実装スペースを節約で
きる効果がある。
As described above, in this embodiment, the Mo3I-transistor 15 is provided between the input circuit for the σ100 signal and the power supply terminal, and the
3) Since a constant voltage from a voltage generation circuit provided between the power supply terminal and the ground is applied to the gate electrode of the transistor 15, the power supply current of the σI input circuit is reduced even if the e1 input signal is at TTL level. It can be shut off, eliminating the need for a pull-up resistor provided in conventional circuits, which has the effect of saving mounting space.

また上記電圧発生回路50を設けたことによる電源電流
の増加分は(5V−3V)/IMΩ−2μA程度であり
、バンテリーパフクアソプの許容電流よりも十分に小さ
い。
Further, the increase in power supply current due to the provision of the voltage generating circuit 50 is approximately (5V-3V)/IMΩ-2 μA, which is sufficiently smaller than the allowable current of the Vanteri Puff Assop.

なおこの実施例では正極性の電源を用いた場合について
述べたが、各信号の極性とMOSトランジスタの極性を
逆にして負極性の電源で実施することも可能である。
In this embodiment, a case has been described in which a positive polarity power source is used, but it is also possible to perform the process using a negative polarity power source by reversing the polarity of each signal and the polarity of the MOS transistor.

また、この実施例では記憶素子の場合について述べたが
、本発明は動作状態と待機状態を持つ半導体集積回路で
あれば、どのようなものにも適用でき、上記実施例と同
様の効果が得られる。
Furthermore, although this embodiment describes the case of a memory element, the present invention can be applied to any semiconductor integrated circuit that has an active state and a standby state, and the same effects as in the above embodiment can be obtained. It will be done.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、本発明によれば、半導体集積回路中の動
作状態と待機状態とを制御するためのτ子回路と電源端
子との間にMoSトランジスタを設け、このMo3I−
ランジスタのゲート電極に電源端子と接地との間に設け
た一定電圧発生回路の電圧を加えるようにしたので、上
記C8回路の入力信号がTTLレベルのときでも、待機
時に流れる電源電流を確実に遮断して低消費電力とする
ことができ、しかもその実装スペースを節約できる効果
がある。
As described above, according to the present invention, a MoS transistor is provided between a τ circuit and a power supply terminal for controlling the operating state and standby state in a semiconductor integrated circuit, and the MoS transistor is
Since the voltage of the constant voltage generation circuit installed between the power supply terminal and the ground is applied to the gate electrode of the transistor, the power supply current flowing during standby is reliably cut off even when the input signal of the C8 circuit is at TTL level. This has the effect of reducing power consumption and saving mounting space.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は5人力を持つ半導体集積回路のCS信号及び電
源電流波形図、第2図は従来のσ茗入力回路の回路図、
第3図は第2図の回路の各部波形図、第4図は本発明の
一実施例を示す回路図である。 4・・・第1のMo3)ランジスタ、3・・・第2のM
o3)ランジスク、15・・・第3のMo3I−ランジ
スタ、1・・・第2の電源端子、50・・・電圧発生回
路、17〜23・・・NチャネルMo3)ランジスタ。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 第2図 第3図 t1t2t3t4 第・4図
Fig. 1 is a CS signal and power supply current waveform diagram of a semiconductor integrated circuit with 5 manpower, Fig. 2 is a circuit diagram of a conventional σ-input circuit,
FIG. 3 is a waveform diagram of various parts of the circuit of FIG. 2, and FIG. 4 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. 4... first Mo3) transistor, 3... second M
o3) Ranjisku, 15... Third Mo3I-ransistor, 1... Second power supply terminal, 50... Voltage generating circuit, 17-23... N-channel Mo3) transistor. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts. Agent Masuo Oiwa Figure 1 Figure 2 Figure 3 t1t2t3t4 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)半導体集積回路に信号を入力するための回路であ
って、一方の主電極が第1の電源端子に他方の主電極が
出力端子にゲート電極が入力端子に接続された第1のM
O3I−ランジスタと、一方の主電極が上記出力端子に
ゲート電極が上記入力端子に接続された上記第1のMO
S)ランジスタと逆導電形の第2のMOS)ランジスタ
と、一方の主電極が上記第2のMOS)ランジスタの他
方の主電極に他方の主電極が第2の電源端子に接続され
た上記第1のMO’SI−ランジスタと同一導電形の第
3のMOS)ランジスタと、該第3のMOSトランジス
タのゲート電極に上記第2の電源端子の電圧よりも小さ
い一定電圧を加える電圧発生回路とを備えたことを特徴
とする半導体入力回路。
(1) A circuit for inputting signals to a semiconductor integrated circuit, wherein one main electrode is connected to a first power supply terminal, the other main electrode is connected to an output terminal, and a gate electrode is connected to an input terminal.
O3I-transistor, and the first MO having one main electrode connected to the output terminal and a gate electrode connected to the input terminal.
S) a second MOS transistor of opposite conductivity type to the transistor; one main electrode of the transistor is connected to the other main electrode of the second MOS transistor; a third MOS) transistor of the same conductivity type as the first MO'SI transistor, and a voltage generation circuit that applies a constant voltage smaller than the voltage of the second power supply terminal to the gate electrode of the third MOS transistor. A semiconductor input circuit characterized by comprising:
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