JPS60135855A - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置Info
- Publication number
- JPS60135855A JPS60135855A JP59254251A JP25425184A JPS60135855A JP S60135855 A JPS60135855 A JP S60135855A JP 59254251 A JP59254251 A JP 59254251A JP 25425184 A JP25425184 A JP 25425184A JP S60135855 A JPS60135855 A JP S60135855A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- gas ion
- voltage
- current
- time interval
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/406—Cells and probes with solid electrolytes
- G01N27/4065—Circuit arrangements specially adapted therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、第１空間中のガス成分の濃度を測定するため
の、ガス分析装置に関するものである。
の、ガス分析装置に関するものである。
この分析装置において、少なくとも壁の一部がイオン導
電性を示し外壁の少なくとも一部が分析すべきガスを含
む第１空間と接触する分離壁を有する気密測定空間と、
ガスイオン排出期間中はガスイオン排出電流を分離壁に
周期的に供給して、分離壁中のイオン電流によってガス
成分を測定空間から除去し、ガスイオン充填期間時には
ガスイオン排出電流と逆極性のガスイオン充填電流を分
離壁に周期的に供給して、ガス成分を測定空間へ供給す
る制御ユニットと、分離壁のそれぞれの側に設けた、電
極層に接続され、その外側電極層が第１空間と接触して
いる検知回路とを具え、この検知回路は、電極層間の電
圧が第１の参照値に達したときガスイオン充填電流を遮
断するガスイオン充填中断信号を供給する第１電圧検知
器と、電極電圧が第２の参照値に達したときガスイオン
排出電流を遮断するガスイオン排出中断信号を供給する
第２電圧検知器とを具え、分離壁内の電荷がガス成分の
濃度の目やすとなるよう構成されたち上述したようなガ
ス分析装置は米国特許明細書第４．３８’４．９３５号
より公知である。
電性を示し外壁の少なくとも一部が分析すべきガスを含
む第１空間と接触する分離壁を有する気密測定空間と、
ガスイオン排出期間中はガスイオン排出電流を分離壁に
周期的に供給して、分離壁中のイオン電流によってガス
成分を測定空間から除去し、ガスイオン充填期間時には
ガスイオン排出電流と逆極性のガスイオン充填電流を分
離壁に周期的に供給して、ガス成分を測定空間へ供給す
る制御ユニットと、分離壁のそれぞれの側に設けた、電
極層に接続され、その外側電極層が第１空間と接触して
いる検知回路とを具え、この検知回路は、電極層間の電
圧が第１の参照値に達したときガスイオン充填電流を遮
断するガスイオン充填中断信号を供給する第１電圧検知
器と、電極電圧が第２の参照値に達したときガスイオン
排出電流を遮断するガスイオン排出中断信号を供給する
第２電圧検知器とを具え、分離壁内の電荷がガス成分の
濃度の目やすとなるよう構成されたち上述したようなガ
ス分析装置は米国特許明細書第４．３８’４．９３５号
より公知である。
分離壁中の電荷を測定する間、分離壁のインピーダンス
は電気抵抗分として作用するため、この電荷は、供給あ
るいは排出された電荷として分離壁の外側から測定され
、あるいは測定される電流と時間隔の積としてさらには
一定電流のもとての時間隔として測定される。
は電気抵抗分として作用するため、この電荷は、供給あ
るいは排出された電荷として分離壁の外側から測定され
、あるいは測定される電流と時間隔の積としてさらには
一定電流のもとての時間隔として測定される。
しかしながら、温度、密封測定スペースの体積、選択さ
れた測定電流、測定されるべき濃度の範囲等の種々のパ
ラメータが、測定時間隔が比較的小さくなるような値を
もっているときは、測定結果はスイッチの第１．シーオ
フ時の過渡現象の影響を大きく受ける。言い換えると、
この分離壁は純粋な抵抗として挙動していない。理論的
に考えて、分離壁の等価回路は抵抗分の他静電容量分を
含んでおり、そのためＲＣ時定数と蓄積された電荷の影
響が生じる。
れた測定電流、測定されるべき濃度の範囲等の種々のパ
ラメータが、測定時間隔が比較的小さくなるような値を
もっているときは、測定結果はスイッチの第１．シーオ
フ時の過渡現象の影響を大きく受ける。言い換えると、
この分離壁は純粋な抵抗として挙動していない。理論的
に考えて、分離壁の等価回路は抵抗分の他静電容量分を
含んでおり、そのためＲＣ時定数と蓄積された電荷の影
響が生じる。
この等価回路は例えば０．１ｔｌｚから１００ｋ Ｈｚ
の間の種々の周波数におけるインピーダンスを測定する
ことにより得ることができ、そのインピーダンスは複素
平面中に書くことができる。上述した内容は、例えばＡ
、Ｄ、Ｆｒ’ａ’ｎｋ Ｉ ｉｎによるｒＪ ｏ −ｕ
’ｒ’ｎａ’ｌ ’ｏｆ’ ｔｈｅ Δｍｅｒｉｃａｎ
Ｃ’ｅｒａ’ｍ’ｉｃ ５ｏｃｉｅｔｙＪＶｏｌ’ｕｍ
ｅ５８、Ｎｏ、１１／１２． Ｎｏｖｅｍｂｅｒ／Ｄｅ
ｃｅ−ｍｂｅ’ｒ’ １９７５．ページ４６５−４７３
中のｒＥｌｅｃｔｒｏｄｅ Ｅｆｆｅｃｔｓ １ｎｔｈ
ｅ Ｍｅａｓｕｒｍｅ’ｎｔ ｏｆ ＩｏｎｉｃＣｏｎ
ｄｕｃｔｉ’ｖｉｔｙｊ中にみることができる゛。
の間の種々の周波数におけるインピーダンスを測定する
ことにより得ることができ、そのインピーダンスは複素
平面中に書くことができる。上述した内容は、例えばＡ
、Ｄ、Ｆｒ’ａ’ｎｋ Ｉ ｉｎによるｒＪ ｏ −ｕ
’ｒ’ｎａ’ｌ ’ｏｆ’ ｔｈｅ Δｍｅｒｉｃａｎ
Ｃ’ｅｒａ’ｍ’ｉｃ ５ｏｃｉｅｔｙＪＶｏｌ’ｕｍ
ｅ５８、Ｎｏ、１１／１２． Ｎｏｖｅｍｂｅｒ／Ｄｅ
ｃｅ−ｍｂｅ’ｒ’ １９７５．ページ４６５−４７３
中のｒＥｌｅｃｔｒｏｄｅ Ｅｆｆｅｃｔｓ １ｎｔｈ
ｅ Ｍｅａｓｕｒｍｅ’ｎｔ ｏｆ ＩｏｎｉｃＣｏｎ
ｄｕｃｔｉ’ｖｉｔｙｊ中にみることができる゛。
分離壁の物理的モデルを考察することによりほとんどす
べての状態において、空間電荷および電極層と関連した
空間電荷との間に存在する電界は両電極層下側の分離壁
材料中に発生することがわかる。
べての状態において、空間電荷および電極層と関連した
空間電荷との間に存在する電界は両電極層下側の分離壁
材料中に発生することがわかる。
この空間すなわち電極層の電位は分離壁の各側においで
、ガス成分の濃度または圧力に応じて変化する。
、ガス成分の濃度または圧力に応じて変化する。
分離壁の両電極層間の電位差はネルンストの法則により
、分離壁の両側におけるガス成分の圧力の関係として示
される。
、分離壁の両側におけるガス成分の圧力の関係として示
される。
圧力を変化させると、対応する電位変化は蓄積されたり
放出されたりして生じる空間電荷の変化に対応すること
が望まれる分離壁を電極層を介して充填および排出電流
を供給するための電源に接続する場合には、電荷はその
電流によって供給されたり排出されたりする。センサと
して使用され、雰囲気すなわち測定空間との分子交換に
よってほとんど無電解でのネルンスト電圧測定が行われ
る分離壁の場合でも電荷は供給されたり排出されたりす
る。
放出されたりして生じる空間電荷の変化に対応すること
が望まれる分離壁を電極層を介して充填および排出電流
を供給するための電源に接続する場合には、電荷はその
電流によって供給されたり排出されたりする。センサと
して使用され、雰囲気すなわち測定空間との分子交換に
よってほとんど無電解でのネルンスト電圧測定が行われ
る分離壁の場合でも電荷は供給されたり排出されたりす
る。
これらの電荷は、測定空間中の分子移動による望ましい
圧力変化には寄与しない。このことは一定の充填および
排出電流を供給する場合測定時間の一部をなすむだ時間
（ｄｅａｄ ｔｉｍｅ）において顕著となる。すなわち
、測定時間と測定されるべき圧力との間の関係を示すグ
ラフは、直線部以外にむだ時間を表わす期間を含んでい
る。これら二種の変数の間の関係は２つの較正を行うこ
とによって見出すことができる。これには、２種の既知
のガス試料を使用する必要があり、例えば二酸化ジルコ
ニアの分離壁で酸素を分析する場合はその一つとして大
気を使用することができる。
圧力変化には寄与しない。このことは一定の充填および
排出電流を供給する場合測定時間の一部をなすむだ時間
（ｄｅａｄ ｔｉｍｅ）において顕著となる。すなわち
、測定時間と測定されるべき圧力との間の関係を示すグ
ラフは、直線部以外にむだ時間を表わす期間を含んでい
る。これら二種の変数の間の関係は２つの較正を行うこ
とによって見出すことができる。これには、２種の既知
のガス試料を使用する必要があり、例えば二酸化ジルコ
ニアの分離壁で酸素を分析する場合はその一つとして大
気を使用することができる。
しかしながら、実際はエージング現象によりむだ時間は
変化するため、面倒で高価な較正を繰り返し行なわなけ
ればならない。
変化するため、面倒で高価な較正を繰り返し行なわなけ
ればならない。
本発明は上述した不具合を解消して、−回の較正で補正
が可能なガス分析装置を提供しようとするものである。
が可能なガス分析装置を提供しようとするものである。
このため、本発明のガス分析装置はその検知回路がさら
に第３．第４．第５の電圧検知器を具えることを特徴と
するものである。これら、第３゜４．５の電圧検知器は
、電極電圧が各々、第３゜第４．第５の参照値に達した
とき出力信号を供給する。これらの参照値は第１および
第２参照値の間に存在し、第４参照値の２倍が第３参照
値と第５参照値の和に等しい関係である。一方、ガス成
分の濃度の測定には、第３および第４電圧検知器が各々
の出力信号を供給する瞬時によって規定される第１の時
間隔中に移動した電荷と、第４および第５電圧検知器が
各々の出力信号を供給する瞬時によって規定される第２
の時間隔中に移動した電荷との差を測定している。
に第３．第４．第５の電圧検知器を具えることを特徴と
するものである。これら、第３゜４．５の電圧検知器は
、電極電圧が各々、第３゜第４．第５の参照値に達した
とき出力信号を供給する。これらの参照値は第１および
第２参照値の間に存在し、第４参照値の２倍が第３参照
値と第５参照値の和に等しい関係である。一方、ガス成
分の濃度の測定には、第３および第４電圧検知器が各々
の出力信号を供給する瞬時によって規定される第１の時
間隔中に移動した電荷と、第４および第５電圧検知器が
各々の出力信号を供給する瞬時によって規定される第２
の時間隔中に移動した電荷との差を測定している。
そのため、むだ時間はほとんどゼロとなり、その結果較
正は装置の調整中に工場で行うことができる一回の較正
で十分となる。サービスステーションで行う再較正はほ
とんど必要がなくなり、また再較正が必要な場合でもガ
ス較正用試料例えば酸素の測定の場合は大気を用いる簡
単な方法で較正を行うことができる。
正は装置の調整中に工場で行うことができる一回の較正
で十分となる。サービスステーションで行う再較正はほ
とんど必要がなくなり、また再較正が必要な場合でもガ
ス較正用試料例えば酸素の測定の場合は大気を用いる簡
単な方法で較正を行うことができる。
本発明は、測定におけるスイッチのオン−オフ時の過渡
現象の影響をこれらの現象や影響がほとんどないか変化
しないで保たれている時に測定を行い、その結果、測定
値から適当な値を除くことによって、これらの影響を補
正することができるという思想に基づいて成されたもの
である。そのため、分離壁の見かけの容量による電荷変
化は、ある時間隔中に電圧変化■を生ずるが、この電圧
変化は電荷変化が静電容量×電圧の変化と一致するとい
う事実に基づき他の時間隔中に同じ電圧変化Ｖを生ずる
電荷変化によって補償することができる。
現象の影響をこれらの現象や影響がほとんどないか変化
しないで保たれている時に測定を行い、その結果、測定
値から適当な値を除くことによって、これらの影響を補
正することができるという思想に基づいて成されたもの
である。そのため、分離壁の見かけの容量による電荷変
化は、ある時間隔中に電圧変化■を生ずるが、この電圧
変化は電荷変化が静電容量×電圧の変化と一致するとい
う事実に基づき他の時間隔中に同じ電圧変化Ｖを生ずる
電荷変化によって補償することができる。
本発明によれば、ガスイオン充填期間中のみあるいはガ
スイオン排出期間中のみまたは両時間隔中に測定を行う
ことができる。その測定は好適な実施例では電流源、３
個の電圧検知器を使用し、１つの検知器の出力信号に対
してパルス時間の測定を行うことにより単純化される。
スイオン排出期間中のみまたは両時間隔中に測定を行う
ことができる。その測定は好適な実施例では電流源、３
個の電圧検知器を使用し、１つの検知器の出力信号に対
してパルス時間の測定を行うことにより単純化される。
以下、本発明を図面を参照して詳細に説明する。
第１図は本発明を適用することができる上述した米国特
許明細書に示されたガス分析装置である。
許明細書に示されたガス分析装置である。
第１空間１は少なくとも部分的に遮へいされた測空空間
２を取り囲み、その測定空間の壁部分３はイオン導電性
を示す分離壁より構成されている。
２を取り囲み、その測定空間の壁部分３はイオン導電性
を示す分離壁より構成されている。
イオンは、測定されるべきガス成分の帯電した原子また
は分子である。もう一方の壁部４は壁部３と同一の組成
から構成されている。残りの壁部５は例えばプラチナ等
の金属より構成され、多孔性の電極層６．７が壁部５に
接続されている。分離壁３．４の外側にはそれぞれ同一
組成の電極層８゜９が設けられている。上述した各部材
は、壁部に接続され、例えば環状の形状を有する端子１
１と、電極層９と接続した端子１２と、電極層８と接続
した端子１３を有する測定装置１０を構成している。電
流ユニット１４は端子１１と１２に接続され、スイッチ
１５により分離壁４を介して正逆方向の電流を流してい
る。時間間隔は、導線１７を介してスイッチ１５を制御
する検知回路１６によって決定される。電流の向きに応
じて、ガス分子の供給と排出が電極層６と電極層９の両
層において起こる。そのため、空間２に対してガスが供
給されたり排出されたりする。原理上皇として、空間２
内のガス成分の圧力は、第１空間ｌ中の圧力より高くな
ったり低くなったりする。しかしながら、ネルンストの
式に従う対数の形で表わされるより急な電圧エッヂ部゛
が存在するため、圧力が第１空間１よりも低いようなシ
ステムでもこのシステムはほとんどの場合使用し得る。
は分子である。もう一方の壁部４は壁部３と同一の組成
から構成されている。残りの壁部５は例えばプラチナ等
の金属より構成され、多孔性の電極層６．７が壁部５に
接続されている。分離壁３．４の外側にはそれぞれ同一
組成の電極層８゜９が設けられている。上述した各部材
は、壁部に接続され、例えば環状の形状を有する端子１
１と、電極層９と接続した端子１２と、電極層８と接続
した端子１３を有する測定装置１０を構成している。電
流ユニット１４は端子１１と１２に接続され、スイッチ
１５により分離壁４を介して正逆方向の電流を流してい
る。時間間隔は、導線１７を介してスイッチ１５を制御
する検知回路１６によって決定される。電流の向きに応
じて、ガス分子の供給と排出が電極層６と電極層９の両
層において起こる。そのため、空間２に対してガスが供
給されたり排出されたりする。原理上皇として、空間２
内のガス成分の圧力は、第１空間ｌ中の圧力より高くな
ったり低くなったりする。しかしながら、ネルンストの
式に従う対数の形で表わされるより急な電圧エッヂ部゛
が存在するため、圧力が第１空間１よりも低いようなシ
ステムでもこのシステムはほとんどの場合使用し得る。
壁部３はセンサとして使用され、このセンサによって電
極層７．８の電圧を測定することにより、第１空間１中
の圧力と測定空間２中の圧力との間の望ましい圧力比を
決定することができる。このため、検知回路１６は（リ
ング５を介して）電極層８．７に接続されている端子１
３．１１に接続する。
極層７．８の電圧を測定することにより、第１空間１中
の圧力と測定空間２中の圧力との間の望ましい圧力比を
決定することができる。このため、検知回路１６は（リ
ング５を介して）電極層８．７に接続されている端子１
３．１１に接続する。
端子１８では、パルス列を得ることができ、そのパルス
持続期間からガス濃度を測定することができる。
持続期間からガス濃度を測定することができる。
第２図において、センサ電圧Ｖｂｃを時間に対してプロ
ットしている。示された曲線は主としてネルンストの式
によって与えられる対数関数の部分であり、前記の米国
特許明細書に示されたガス分析装置や本発明の装置から
得られるものである。
ットしている。示された曲線は主としてネルンストの式
によって与えられる対数関数の部分であり、前記の米国
特許明細書に示されたガス分析装置や本発明の装置から
得られるものである。
検知回路１６中の第１の電圧検知器は、センサ電圧Ｖｂ
ｃがほぼゼロボルトである第１参照値ｖ１ になった瞬
時ｔ０でスイッチ１５の２位置で電流ユニット１４から
得られるガスイオン充填電流ｌ、をオフにして、スイッ
チ１５のＸ位置において得られるガスイオン排出電流１
６ をオンにする。この電流は、センサ電圧Ｖｂｃが第
２参照値ｖ２ に達した時に第２電圧検知器が切換え信
号を発生する瞬時１．まで供給され続ける。導線１７を
介して、スイッチ１５はＸ位置から２位置まで切換えら
れ、次にガスイオン充填電流ｌｔが流れ始める。瞬時ｔ
２ においては、上述したｔ。に対する状態が再び現れ
る。
ｃがほぼゼロボルトである第１参照値ｖ１ になった瞬
時ｔ０でスイッチ１５の２位置で電流ユニット１４から
得られるガスイオン充填電流ｌ、をオフにして、スイッ
チ１５のＸ位置において得られるガスイオン排出電流１
６ をオンにする。この電流は、センサ電圧Ｖｂｃが第
２参照値ｖ２ に達した時に第２電圧検知器が切換え信
号を発生する瞬時１．まで供給され続ける。導線１７を
介して、スイッチ１５はＸ位置から２位置まで切換えら
れ、次にガスイオン充填電流ｌｔが流れ始める。瞬時ｔ
２ においては、上述したｔ。に対する状態が再び現れ
る。
図において、オーバーシュートの影響が１９と２０によ
って示され、これらの部分はむだ時間部分を構成し、Ｒ
Ｃ時定数によって表すことができる。第２図から明らか
なように、本発明によれば、このオーパージニート時間
を、第３および第５参照値ｖ３ とＶ、によってめられ
る瞬時ｔ３ と１Ｓの間に測定時間隔を固定することに
よって除去することができる。同様に測定は瞬時ｔ６
とｔ、の間でも行うことができる。しかしながらむだ時
間はなお完全に除去できるわけではない。すなわち、ガ
スイオン充填および排出電流の他に分離壁中の有効容量
とネルンスト電圧の変化との積に対応する電荷変化を表
わす部分が除去されていない。このため、本発明のガス
分析装置においては、参照値ｖ３ とＶ、のための電圧
検知器の他に第４の電圧検知器を設け、参照値ｖ４ に
達する瞬時を検知している。コノとき、２ Ｖ、 ＝Ｖ
、＋ ｖ、あるいはＶｓ−Ｖ、＝Ｖ、−Ｖ３ の条件
を満足する必要がある。時間間隔１４＝ １．から時間
間隔１ｓ−１４を減するか、時間間１Ｑｉ ｈ −ｔ＠
カら１．−１．を減ずれば、ガス成分濃度の測定にほ
とんど影響を与えない小さいむだ時間しか含まない時間
間隔を得ることができる。
って示され、これらの部分はむだ時間部分を構成し、Ｒ
Ｃ時定数によって表すことができる。第２図から明らか
なように、本発明によれば、このオーパージニート時間
を、第３および第５参照値ｖ３ とＶ、によってめられ
る瞬時ｔ３ と１Ｓの間に測定時間隔を固定することに
よって除去することができる。同様に測定は瞬時ｔ６
とｔ、の間でも行うことができる。しかしながらむだ時
間はなお完全に除去できるわけではない。すなわち、ガ
スイオン充填および排出電流の他に分離壁中の有効容量
とネルンスト電圧の変化との積に対応する電荷変化を表
わす部分が除去されていない。このため、本発明のガス
分析装置においては、参照値ｖ３ とＶ、のための電圧
検知器の他に第４の電圧検知器を設け、参照値ｖ４ に
達する瞬時を検知している。コノとき、２ Ｖ、 ＝Ｖ
、＋ ｖ、あるいはＶｓ−Ｖ、＝Ｖ、−Ｖ３ の条件
を満足する必要がある。時間間隔１４＝ １．から時間
間隔１ｓ−１４を減するか、時間間１Ｑｉ ｈ −ｔ＠
カら１．−１．を減ずれば、ガス成分濃度の測定にほ
とんど影響を与えない小さいむだ時間しか含まない時間
間隔を得ることができる。
参照値Ｖ、を参照値ｖ２ に一致させることにより、Ｖ
、をｖｌに一致させて測一定をｔ。からｔ２ の全範囲
に亘って行った場合、微小なむだ時間しか残らないこと
がわかる。ｔ４ ｔｏとｔ、 −−ｔ’ｓ の和から１
＊−１，と１．−１．の和を減算すると、その値は１＠
−１，からｔｓ ’ ｔ４を減算した値と対応する。
、をｖｌに一致させて測一定をｔ。からｔ２ の全範囲
に亘って行った場合、微小なむだ時間しか残らないこと
がわかる。ｔ４ ｔｏとｔ、 −−ｔ’ｓ の和から１
＊−１，と１．−１．の和を減算すると、その値は１＠
−１，からｔｓ ’ ｔ４を減算した値と対応する。
第２図において、オーバーシュート部２ｏにおけるＲＣ
時定数が１９に右けるＲＣ時定数によってキャンセルさ
れることは明らかである。
時定数が１９に右けるＲＣ時定数によってキャンセルさ
れることは明らかである。
第３Ａ図は、測定装置の詳細な等価回路を示す図で、上
述した米国特許明細書に示された公知の回路から得られ
る電気制御も合わせて示している。
述した米国特許明細書に示された公知の回路から得られ
る電気制御も合わせて示している。
測定装置１０の分離壁部４によって、矢印２１で示され
る空間２（シンボルで表わしている）から空間１へまた
は空間１から空間２への、さらに空間２から矢印２２で
示す任意の空間へまたは任意の空間から空間２へのガス
移動が行われる。壁部内では、この移動はイオン電流に
よって達成され、そのために必要な電荷の交換は端子１
１と１２にまたはこれから供給される電流を介して行わ
れる。イオン電流は直列抵抗２３と並列抵抗２４を流れ
ると共にコンデンサ２５を充電する。またこの電流は、
必要なコンデンサ２６の電荷を変化させる。電流の大部
分は直流抵抗２７とネルンスト電圧を記号的に示すバッ
テリ２８を経て電極層６にまたはこれから流れる。スイ
ッチ１５を位置ｙにすることによって第１図に示される
ように、端子１１．１２間の電流がゼロの場合、コンデ
ンサ２５は抵抗２４を介して放電し、コンデンサ２６の
電圧はバッテリ２８のネルンスト電圧に調整され、その
電荷を固定する。バッテリ２８の電圧は、ネルンストの
式より、電極層９及び空間２中のガス成分の圧力比に依
存することは明らかである。同様に、バッテリ２９の電
圧は、空間１および空間２の間の圧力比に依存するネル
ンスト電圧を示している。形状が壁４と同一の分離壁３
はネルンスト電圧を測定するセンサとして使われている
。この電圧はほぼ無電解の手法で測定されるので、端子
１１と１３間の電気回路には何の電流も流れない。しか
しながら、分離壁３中には、イオン電流が流れ、そのイ
オンは空間１中では矢印３゜および空間２中では矢印３
１に示すように電極層８および７でも流れる。コンデン
サ３２の電荷を空間２中の圧力変化によって生ずるネル
ンスト電圧の変化に適合するよう移動することにより、
イオン電流が流れる。この蓄積電荷の移動は測定時間に
顕著な影響を与える。主としてその理由は抵抗３３とコ
ンデンサ３２のＲＣ時定数のためおよび矢印３１で示さ
れるガス分子が矢印２１で示す供給および排出に対応す
るためである。もちろん直列抵抗３６が重要でないと共
に抵抗３４およびコンデンサ３５は測定にはほとんど重
要でない。
る空間２（シンボルで表わしている）から空間１へまた
は空間１から空間２への、さらに空間２から矢印２２で
示す任意の空間へまたは任意の空間から空間２へのガス
移動が行われる。壁部内では、この移動はイオン電流に
よって達成され、そのために必要な電荷の交換は端子１
１と１２にまたはこれから供給される電流を介して行わ
れる。イオン電流は直列抵抗２３と並列抵抗２４を流れ
ると共にコンデンサ２５を充電する。またこの電流は、
必要なコンデンサ２６の電荷を変化させる。電流の大部
分は直流抵抗２７とネルンスト電圧を記号的に示すバッ
テリ２８を経て電極層６にまたはこれから流れる。スイ
ッチ１５を位置ｙにすることによって第１図に示される
ように、端子１１．１２間の電流がゼロの場合、コンデ
ンサ２５は抵抗２４を介して放電し、コンデンサ２６の
電圧はバッテリ２８のネルンスト電圧に調整され、その
電荷を固定する。バッテリ２８の電圧は、ネルンストの
式より、電極層９及び空間２中のガス成分の圧力比に依
存することは明らかである。同様に、バッテリ２９の電
圧は、空間１および空間２の間の圧力比に依存するネル
ンスト電圧を示している。形状が壁４と同一の分離壁３
はネルンスト電圧を測定するセンサとして使われている
。この電圧はほぼ無電解の手法で測定されるので、端子
１１と１３間の電気回路には何の電流も流れない。しか
しながら、分離壁３中には、イオン電流が流れ、そのイ
オンは空間１中では矢印３゜および空間２中では矢印３
１に示すように電極層８および７でも流れる。コンデン
サ３２の電荷を空間２中の圧力変化によって生ずるネル
ンスト電圧の変化に適合するよう移動することにより、
イオン電流が流れる。この蓄積電荷の移動は測定時間に
顕著な影響を与える。主としてその理由は抵抗３３とコ
ンデンサ３２のＲＣ時定数のためおよび矢印３１で示さ
れるガス分子が矢印２１で示す供給および排出に対応す
るためである。もちろん直列抵抗３６が重要でないと共
に抵抗３４およびコンデンサ３５は測定にはほとんど重
要でない。
第１図に示すブロックを第３Ａ図にさらに詳しく記載す
る。ここで、電流源３７．３８およびそれら制御点３９
の構成については、公知の文献を参照されたい。本実施
例では、スイッチ１５を制御導線１７に接続したセット
、リセット人力４０．４１を有するフリップフロップと
して構成する。公知のように、壁部５は、端子１１を介
してクップ４３を有する分圧器４２、増幅器４４、出力
用トランジスタ４５．４６によって電位供給用回路に対
して固定電位になるよう保たれている。電位レベルｖ、
、 ｖ２． ｖ３． ｖ４．およびＶｓ は分圧器４２
上に現れる。またｖｌ は０ボルトである。抵抗Ｒ３と
Ｒ３′およびＲ４とＲ１／はそれぞれ、はぼ同一値を持
ち、さらに分圧器４２は抵抗Ｒ，およびＲ２も有してい
る。第３Ａ図において、検知回路１６は第３８図に示す
ように構成することもできる。第３Ａ図に示す例では、
検知回路１６は分圧器４２のほか電位レベルｖ１ から
Ｖｓ の検知のための複数の電圧検知器４７がら５１を
具えている。
る。ここで、電流源３７．３８およびそれら制御点３９
の構成については、公知の文献を参照されたい。本実施
例では、スイッチ１５を制御導線１７に接続したセット
、リセット人力４０．４１を有するフリップフロップと
して構成する。公知のように、壁部５は、端子１１を介
してクップ４３を有する分圧器４２、増幅器４４、出力
用トランジスタ４５．４６によって電位供給用回路に対
して固定電位になるよう保たれている。電位レベルｖ、
、 ｖ２． ｖ３． ｖ４．およびＶｓ は分圧器４２
上に現れる。またｖｌ は０ボルトである。抵抗Ｒ３と
Ｒ３′およびＲ４とＲ１／はそれぞれ、はぼ同一値を持
ち、さらに分圧器４２は抵抗Ｒ，およびＲ２も有してい
る。第３Ａ図において、検知回路１６は第３８図に示す
ように構成することもできる。第３Ａ図に示す例では、
検知回路１６は分圧器４２のほか電位レベルｖ１ から
Ｖｓ の検知のための複数の電圧検知器４７がら５１を
具えている。
各電圧検知器の入カニを端子１３に接続して、センサ電
圧を受け、人力」は各検知レベルに接続する。
圧を受け、人力」は各検知レベルに接続する。
電圧検知器４７は、電位レベルＶ 、＝ Ｏとなったと
きにその出カニに検知出力を発生し、その結果’ｌ ”
レベルの信号がフリップフロップ５２のリセット人力４
１に供給される。そのため、出力“Ｑ″には゛０″ルベ
ルの信号が発生し、電流源３７はガスイオン排出信号を
供給するためオンとなり、ガスイオン充填電流ｉｔ は
オフとなる。続いて、センサ電圧が電位レベルｖ３ に
達すると、電圧検知器４９は出ヵ匹に検知出力を発生し
、さらにセンサ電圧が電位レベルＶ、、ｖ５ およびｖ
２ に達すると電圧検知器５１．５０および４８は出カ
ニにＩＩＩ Ｉ＋レベルの信号を出力しこれをフリップ
フロップ５２のセット入力４ｏに供給する。その結果出
力″０″′は”１ ”レベルの信号を出力し、電流源３
８はオンとなり、ガスイオン排出電流１８ は流れなく
なる。その後、センサ電圧は上述した順序と逆の順序で
各電位レベルに到達する。電圧検知器４９．５０．５１
の各出カニでは、電圧が゛′０″レベルから゛じレベル
およびその逆に変化して、第２図においてｔ３． ｔ４
． ｔｓおよびｔ６＋ｊ７ｔｅ で示される瞬時を検知
する。電圧検知器４９ 、５０゜５１の各出力Ｃに接続
された時間隔測定装置を持つデータ処理装置によって、
第１の時間隔１、−１．または１、−１８と第２の時間
隔ｔ ｓ−ｔ４またはｔ ｓ−ｔ６さらにそれらの差を
めることができ、それが測定対象の濃度の測定結果を示
すことになる。
きにその出カニに検知出力を発生し、その結果’ｌ ”
レベルの信号がフリップフロップ５２のリセット人力４
１に供給される。そのため、出力“Ｑ″には゛０″ルベ
ルの信号が発生し、電流源３７はガスイオン排出信号を
供給するためオンとなり、ガスイオン充填電流ｉｔ は
オフとなる。続いて、センサ電圧が電位レベルｖ３ に
達すると、電圧検知器４９は出ヵ匹に検知出力を発生し
、さらにセンサ電圧が電位レベルＶ、、ｖ５ およびｖ
２ に達すると電圧検知器５１．５０および４８は出カ
ニにＩＩＩ Ｉ＋レベルの信号を出力しこれをフリップ
フロップ５２のセット入力４ｏに供給する。その結果出
力″０″′は”１ ”レベルの信号を出力し、電流源３
８はオンとなり、ガスイオン排出電流１８ は流れなく
なる。その後、センサ電圧は上述した順序と逆の順序で
各電位レベルに到達する。電圧検知器４９．５０．５１
の各出カニでは、電圧が゛′０″レベルから゛じレベル
およびその逆に変化して、第２図においてｔ３． ｔ４
． ｔｓおよびｔ６＋ｊ７ｔｅ で示される瞬時を検知
する。電圧検知器４９ 、５０゜５１の各出力Ｃに接続
された時間隔測定装置を持つデータ処理装置によって、
第１の時間隔１、−１．または１、−１８と第２の時間
隔ｔ ｓ−ｔ４またはｔ ｓ−ｔ６さらにそれらの差を
めることができ、それが測定対象の濃度の測定結果を示
すことになる。
第３Ｂ図は単純化した検知回路１６を示している。参照
電位レベルｖ ３＋ ’Ｖ、を検知する電圧検知器４９
．５０は除かれている。その機能は電圧検知器４７．４
８によって果たされる。第３Ｂ図では瞬時ｔ３とｔ。＋
”Ｔとｔ２゜ｔｓおよびｔｌとｔ６および１．が一致
する。上述したように第１時間隔と第２時間隔との和を
処理する場合には、ｊ４ からｔ６ およびｔ８ から
（、の間を測定することで十分となる。これらの瞬時は
、第３Ｂ図中の電圧検知器５１の出力端子匹において検
出されるので、この出力は第１Ｆｌ！Ｊの端子１８をも
構成する。第３Ｂ図においては、ポテンシオメータＲ５
によって電位レベルｖ４ を外部から、正確に調整して
、正確に２Ｖ’４＝Ｖ、＋Ｖ２の関係を満たすことがで
きるので、非線型性を補正することができる。これらの
非線型性は、測定装置１０の動作中に現れ、第３図に示
す等偏口路中に示すことができない。このようなポテン
シオメータＲｓ はもちろん第３八図中の分圧器４２中
に含ませることができるが、簡単のため図面では示して
いない。また、第３Ｂ図と第３Ａ図は同一であり、矢印
の点でそれぞれを接続することができる。第諷図の制御
点３９には、さらに遅延回路を設けることができ、その
場合はガスイオン排出および供給電流はガスイオン供給
および排出電流がオフになると同時にスイッチオンとな
ることはない。
電位レベルｖ ３＋ ’Ｖ、を検知する電圧検知器４９
．５０は除かれている。その機能は電圧検知器４７．４
８によって果たされる。第３Ｂ図では瞬時ｔ３とｔ。＋
”Ｔとｔ２゜ｔｓおよびｔｌとｔ６および１．が一致
する。上述したように第１時間隔と第２時間隔との和を
処理する場合には、ｊ４ からｔ６ およびｔ８ から
（、の間を測定することで十分となる。これらの瞬時は
、第３Ｂ図中の電圧検知器５１の出力端子匹において検
出されるので、この出力は第１Ｆｌ！Ｊの端子１８をも
構成する。第３Ｂ図においては、ポテンシオメータＲ５
によって電位レベルｖ４ を外部から、正確に調整して
、正確に２Ｖ’４＝Ｖ、＋Ｖ２の関係を満たすことがで
きるので、非線型性を補正することができる。これらの
非線型性は、測定装置１０の動作中に現れ、第３図に示
す等偏口路中に示すことができない。このようなポテン
シオメータＲｓ はもちろん第３八図中の分圧器４２中
に含ませることができるが、簡単のため図面では示して
いない。また、第３Ｂ図と第３Ａ図は同一であり、矢印
の点でそれぞれを接続することができる。第諷図の制御
点３９には、さらに遅延回路を設けることができ、その
場合はガスイオン排出および供給電流はガスイオン供給
および排出電流がオフになると同時にスイッチオンとな
ることはない。
本発明の上述した実施例では、はぼ周囲雰囲気の圧力と
同様の圧力が空間２に存在している。しかしながら本発
明は、空間１より高い圧力が空間２に存在する場合でも
使用することができる。そのときは、上述したガスイオ
ン供給電流とガスイオン排出電流の機能は、互いに交換
される。すなわちネルンスト電圧は負となる（第２図参
照）。また自然対数曲線のよりいっそうゆるやかな部分
を第２図と同一レベルすなわち負のレベルで使用するが
、より一層長い時間ｔ。からｔ９ となる（第２図の曲
線５５を参照のこと）。第３八図においで、電源端一３
′５３が正のままであり、電源端子５４が負のままであ
れば、２，３の接続を変更する必要がある。すなわち接
続点５６をＱ出力に接続するよう変更し、電圧検知器の
人力−品、１則を相互に交換し、分圧器４２を供給電流
に対して逆の接続になるよう変更する必要がある。
同様の圧力が空間２に存在している。しかしながら本発
明は、空間１より高い圧力が空間２に存在する場合でも
使用することができる。そのときは、上述したガスイオ
ン供給電流とガスイオン排出電流の機能は、互いに交換
される。すなわちネルンスト電圧は負となる（第２図参
照）。また自然対数曲線のよりいっそうゆるやかな部分
を第２図と同一レベルすなわち負のレベルで使用するが
、より一層長い時間ｔ。からｔ９ となる（第２図の曲
線５５を参照のこと）。第３八図においで、電源端一３
′５３が正のままであり、電源端子５４が負のままであ
れば、２，３の接続を変更する必要がある。すなわち接
続点５６をＱ出力に接続するよう変更し、電圧検知器の
人力−品、１則を相互に交換し、分圧器４２を供給電流
に対して逆の接続になるよう変更する必要がある。
酸素に対するガス分析装置を、実施例により説明する。
測定装置１０は、例えば酸化イッ゛トリウムまたは酸化
カルシウムを不純物として含むと酸化ジルコニウムの分
離壁３および４と、プラチナ電極層６゜７．８．９と、
プラチナ・リング５を具えている。
カルシウムを不純物として含むと酸化ジルコニウムの分
離壁３および４と、プラチナ電極層６゜７．８．９と、
プラチナ・リング５を具えている。
空間２は円形でその直径は１．２ｍｍ、その高さは４０
μｍである。体積は４．３ Ｘ １０−”ｍ３ である
。ガスイオン供給電流およびガスイオン排出電流は１０
μ八になる。
μｍである。体積は４．３ Ｘ １０−”ｍ３ である
。ガスイオン供給電流およびガスイオン排出電流は１０
μ八になる。
さらに、Ｌ＝Ｏ，ｖ２＝８０． Ｖ３＝４’＋ ｖ＜＝
４０モしてＶ 、＝ ７６１ｎｖとする。測定装置１０
の温度は７００℃である。測定すべき好ましい圧力範囲
は、２Ｑ ｍｂ ａｒ （２ＸＩ ０’ Ｐａ ）から
２０８ ｍｂ ａｒ （２，０８ｘ １０ ’Ｐ ａ）
である。この後者の圧力は、大気中の酸素の標準圧力を
示している。この状態で公知の時間測定法により時間隔
を測定すると、ｔ−１゜３＋ ４０ Ｐとなり、ここで
ｔは測定時間（秒）、１．３はむだ時間（秒）でＰは酸
素圧力（ｂａｒ）である。このむだ時間は２つの較正点
を用いることにより除去することができる。しかしなが
ら、この時間は、やがては例えば０．８秒程度の値に変
化する。これは１２ｆｆｌｂａｒの変化に対応し、２０
から２（１’０ｍ ｂａ ｒの測定範囲で正確な測定を
するためには大きすぎる値である。
４０モしてＶ 、＝ ７６１ｎｖとする。測定装置１０
の温度は７００℃である。測定すべき好ましい圧力範囲
は、２Ｑ ｍｂ ａｒ （２ＸＩ ０’ Ｐａ ）から
２０８ ｍｂ ａｒ （２，０８ｘ １０ ’Ｐ ａ）
である。この後者の圧力は、大気中の酸素の標準圧力を
示している。この状態で公知の時間測定法により時間隔
を測定すると、ｔ−１゜３＋ ４０ Ｐとなり、ここで
ｔは測定時間（秒）、１．３はむだ時間（秒）でＰは酸
素圧力（ｂａｒ）である。このむだ時間は２つの較正点
を用いることにより除去することができる。しかしなが
ら、この時間は、やがては例えば０．８秒程度の値に変
化する。これは１２ｆｆｌｂａｒの変化に対応し、２０
から２（１’０ｍ ｂａ ｒの測定範囲で正確な測定を
するためには大きすぎる値である。
もし、同一の測定装置に対して、Ｖ、を４０ ｍＶのか
わりに３４ ｍＶとして本発明による測定を行えば、最
初ｔ＝ ０．０６’ ＋２６Ｐであり、やがてはｔ−０
ＬＯ５＋ ２６ ’ｐとなる。
わりに３４ ｍＶとして本発明による測定を行えば、最
初ｔ＝ ０．０６’ ＋２６Ｐであり、やがてはｔ−０
ＬＯ５＋ ２６ ’ｐとなる。
この変化は＋２ｍｂ’ａｒからゼロを通って一２ｍｂ
ａｒの変化に対応し、この程度の変化であれば上述した
測定範囲において正確な測定をすることができる。
ａｒの変化に対応し、この程度の変化であれば上述した
測定範囲において正確な測定をすることができる。
第１図は既知の装置のブロック回路図、第２図はセンサ
電圧の時間に対する波形図、第３Ａ図および第３Ｂ図は
本発明のガス分析装置のより詳細な回路図である。
電圧の時間に対する波形図、第３Ａ図および第３Ｂ図は
本発明のガス分析装置のより詳細な回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 少なくとも壁部の一部がイオン導電性を示し、少
なくともその外壁の一部が分析すべきガスを含む第１空
間と接触する分離壁を有する気密測定空間と、ガスイオ
ン排出期間中はガスイオン排出電流を分離壁に周期的に
供給して分離壁中のイオン電流によってガス成分を測定
空間から除去し、ガスイオン充填期間時にはガスイオン
排出電流と逆極性のガスイオン充填電流を周期的に分離
壁に供給してガス成分を測定空間へ供給する制御ユニッ
トと、分離壁のそれぞれの側に設けた電極層に接続され
、その外側電極層が第１空間と接触している検知回路と
を具え、この検知回路が、電極層間の電圧が第１の参照
値に達したときガスイオン充填電流を遮断するガスイオ
ン充填中断信号を供給する第１電圧検知器と、電極電圧
が第２の参照値に達したときガスイオン排出電流を遮断
するガスイオン排出中断信号を供給する第２電圧検知器
とを具え、分離壁内の電荷がガス成分の濃度の目やすと
なるよう構成されたガス分析装置において、 前記検知回路がさらに、電極電圧が各々、第１および第
２の参照値の間に存在し第４参照値の２倍が第３参照値
と第５参照値の和に等しい関係の第３．第４．第５参照
値に達したときに出力信号を供給する第３．第４．第５
の電圧検知器を具える一方、ガス成分の濃度の測定とし
ては、第３および第４電圧検知器が各々の出力信号を供
給する瞬時によって規定される第１の時間隔中に移動し
た電荷と、第４右よび第５電圧検知器が各々の出力信号
を供給する瞬時によって規定される第２の時間隔中に移
動した電荷との差電荷量を測定することを特徴とする、
第１空間中のガス成分の濃度を測定するためのガス分析
装置。 ２、 前記電荷差の測定をガスイオン排出時間隔の間お
よびガスイオン充填時間隔の間に行うことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載のガス分析装置。 ３、 ガスイオン排出および供給電流が同一の二定値と
等しく、濃度の測定をガスイオン供給中に得られる第１
時間隔とガスイオン供給中に得られる第１時間隔の和か
ら、同様にして得られた第２時間隔同志の和を減するこ
とによって得られた時間隔によって行うことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載のガろ分析装置。 先 第１の電圧検知器が同時に第３の電圧検知器であり
、第２の電圧検知器が同時に第５の電圧検知器になる一
方、ガスイオン充填中断信号がガスイオン排出電流をオ
ンとすると共にガスイオン排出中断信号がガスイオン充
填電流をオンとし、さらに濃度の測定を第４の電圧検知
器の出力信号によって示される瞬時によって規定される
時間隔の間の差をめることによって行うことを特徴とす
る特許請求の範囲第３項記載のガス分析装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8304182A NL8304182A (nl) | 1983-12-06 | 1983-12-06 | Gasanalyse-apparaat. |
| NL8304182 | 1983-12-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60135855A true JPS60135855A (ja) | 1985-07-19 |
| JPH0418264B2 JPH0418264B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=19842834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59254251A Granted JPS60135855A (ja) | 1983-12-06 | 1984-12-03 | ガス分析装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4545889A (ja) |
| EP (1) | EP0145073B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60135855A (ja) |
| DE (1) | DE3474351D1 (ja) |
| DK (1) | DK573084A (ja) |
| NL (1) | NL8304182A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0627588U (ja) * | 1992-08-06 | 1994-04-12 | 東洋製罐株式会社 | 吊下用収納容器 |
| JP2008116340A (ja) * | 2006-11-06 | 2008-05-22 | Hitachi High-Technologies Corp | ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 |
| JP2015534081A (ja) * | 2012-11-12 | 2015-11-26 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | ポンプセルを含む固体電解質センサ素子を動作させるための方法 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3676834D1 (de) * | 1985-02-28 | 1991-02-21 | Hitachi Ltd | System zur bestimmung des luft-kraftstoff-verhaeltnisses. |
| US5007988A (en) * | 1987-09-08 | 1991-04-16 | Westinghouse Electric Corp. | Method for determining the concentration of a plurality of combustible gases in a stream |
| DE4408021A1 (de) * | 1994-03-10 | 1995-09-14 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur Erfassung des Sauerstoffgehalts in Gasen |
| KR100421523B1 (ko) * | 1995-08-21 | 2004-07-12 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 전압검지회로,파워온오프리세트회로및반도체장치 |
| JP3684686B2 (ja) * | 1995-12-18 | 2005-08-17 | 株式会社デンソー | 酸素濃度判定装置 |
| EP1685281A2 (en) * | 2003-10-31 | 2006-08-02 | E.I. Dupont de Nemours and Company, Inc. | Membrane -mediated electropolishing |
| US7566385B2 (en) * | 2004-02-23 | 2009-07-28 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus adapted for membrane-mediated electropolishing |
| US20060231422A1 (en) * | 2005-04-14 | 2006-10-19 | Honeywell International Inc. | Switched gas sensor |
| US7820028B2 (en) * | 2005-09-02 | 2010-10-26 | Honeywell International Inc. | Oxides of nitrogen gas sensors and methods |
| US7967964B2 (en) * | 2007-02-27 | 2011-06-28 | Honeywell International Inc. | Single cell sensor for measuring the partial pressure of oxygen |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5052149U (ja) * | 1973-09-22 | 1975-05-20 | ||
| JPS521648U (ja) * | 1975-06-23 | 1977-01-07 | ||
| JPS53161950U (ja) * | 1977-05-23 | 1978-12-19 | ||
| JPS5535966U (ja) * | 1978-09-01 | 1980-03-07 | ||
| JPS5832496U (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-03 | 株式会社トプコン | 回転軸微動装置 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3514377A (en) * | 1967-11-27 | 1970-05-26 | Gen Electric | Measurement of oxygen-containing gas compositions and apparatus therefor |
| US3691023A (en) * | 1970-12-15 | 1972-09-12 | Westinghouse Electric Corp | Method for polarographic measurement of oxygen partial pressure |
| JPS521648B2 (ja) * | 1973-05-04 | 1977-01-17 | ||
| NL7309537A (nl) * | 1973-07-09 | 1975-01-13 | Philips Nv | Gasanalyse-apparaat. |
| US3938075A (en) * | 1974-09-30 | 1976-02-10 | The Bendix Corporation | Exhaust gas sensor failure detection system |
| US4028057A (en) * | 1976-04-29 | 1977-06-07 | Ambac Industries, Inc. | Gas analyzer |
| NL7906833A (nl) * | 1979-09-13 | 1981-03-17 | Philips Nv | Gasanalyseapparaat. |
| US4272331A (en) * | 1980-03-03 | 1981-06-09 | Ford Motor Company | Oscillatory mode oxygen sensor and method |
| US4272330A (en) * | 1980-03-03 | 1981-06-09 | Ford Motor Company | Transient mode oxygen sensor and method |
| US4272329A (en) * | 1980-03-03 | 1981-06-09 | Ford Motor Company | Steady state mode oxygen sensor and method |
| JPS5847248A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-18 | Nissan Motor Co Ltd | 空燃比検出方法 |
-
1983
- 1983-12-06 NL NL8304182A patent/NL8304182A/nl not_active Application Discontinuation
-
1984
- 1984-11-28 DE DE8484201727T patent/DE3474351D1/de not_active Expired
- 1984-11-28 EP EP84201727A patent/EP0145073B1/en not_active Expired
- 1984-12-03 JP JP59254251A patent/JPS60135855A/ja active Granted
- 1984-12-03 DK DK573084A patent/DK573084A/da not_active Application Discontinuation
- 1984-12-05 US US06/678,328 patent/US4545889A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5052149U (ja) * | 1973-09-22 | 1975-05-20 | ||
| JPS521648U (ja) * | 1975-06-23 | 1977-01-07 | ||
| JPS53161950U (ja) * | 1977-05-23 | 1978-12-19 | ||
| JPS5535966U (ja) * | 1978-09-01 | 1980-03-07 | ||
| JPS5832496U (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-03 | 株式会社トプコン | 回転軸微動装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0627588U (ja) * | 1992-08-06 | 1994-04-12 | 東洋製罐株式会社 | 吊下用収納容器 |
| JP2008116340A (ja) * | 2006-11-06 | 2008-05-22 | Hitachi High-Technologies Corp | ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 |
| JP2015534081A (ja) * | 2012-11-12 | 2015-11-26 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | ポンプセルを含む固体電解質センサ素子を動作させるための方法 |
| US10036721B2 (en) | 2012-11-12 | 2018-07-31 | Robert Bosch Gmbh | Method for operating a solid electrolyte sensor element containing a pump cell |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3474351D1 (en) | 1988-11-03 |
| EP0145073B1 (en) | 1988-09-28 |
| DK573084A (da) | 1985-06-07 |
| EP0145073A3 (en) | 1985-07-24 |
| DK573084D0 (da) | 1984-12-03 |
| NL8304182A (nl) | 1985-07-01 |
| US4545889A (en) | 1985-10-08 |
| EP0145073A2 (en) | 1985-06-19 |
| JPH0418264B2 (ja) | 1992-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4444644A (en) | PH Electrode | |
| JPS60135855A (ja) | ガス分析装置 | |
| US9933387B1 (en) | Miniaturized sub-nanoampere sensitivity low-noise potentiostat system | |
| US5543717A (en) | Integrable conductivity measuring device | |
| USRE30007E (en) | Hematocrit measurements by electrical conductivity | |
| US4778998A (en) | Humidity compensation for a photoionization type detector | |
| US4468608A (en) | Electrochemical sensor instrumentation | |
| US3430130A (en) | Conductivity measuring circuit utilizing conductivity cell as input resistance of an operational amplifier | |
| US3706381A (en) | Chromatographic apparatus | |
| Fidler et al. | A potentiostat based on a voltage-controlled current source for use with amperometric gas sensors | |
| GB1481273A (en) | Electrophoretic analysis of ions or like electrically charged particles | |
| JPS59170758A (ja) | ガス混合物の酸素濃度測定方法及び装置 | |
| US3950237A (en) | Coulometric titrating devices | |
| US4538066A (en) | Modulated voltage metastable ionization detector | |
| US4111776A (en) | Analytical apparatus and processes | |
| EP0269794A2 (en) | Method for operating an electrochemical cell having redox potential applied thereto | |
| US4496433A (en) | Apparatus and method for determining the amount of a sample gas component | |
| US3211050A (en) | Recording spectral-flame photometer apparatus and method | |
| US5134359A (en) | Apparatus for measuring electrolytes including optical measurements | |
| US6251245B1 (en) | Detecting and analyzing apparatus for positive ions and negative ions in a liquid | |
| US4066528A (en) | Analytical apparatus | |
| JP2003156551A (ja) | 容量計の校正方法、校正用標準容量ボックス、静電容量の測定方法、容量測定用ボックス及び容量計 | |
| JPH07280691A (ja) | 液漏れ検出器 | |
| GB2117120A (en) | Anodic stripping voltameter | |
| US4741815A (en) | Apparatus for indication of the final stage of a titration analysis |