JPS60134620A - D型フリツプフロツプ - Google Patents

D型フリツプフロツプ

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Publication number
JPS60134620A
JPS60134620A JP58242142A JP24214283A JPS60134620A JP S60134620 A JPS60134620 A JP S60134620A JP 58242142 A JP58242142 A JP 58242142A JP 24214283 A JP24214283 A JP 24214283A JP S60134620 A JPS60134620 A JP S60134620A
Authority
JP
Japan
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output
input data
flop
data
state
Prior art date
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Pending
Application number
JP58242142A
Other languages
English (en)
Inventor
Ritsuro Orihashi
律郎 折橋
Yoshihiko Hayashi
良彦 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58242142A priority Critical patent/JPS60134620A/ja
Publication of JPS60134620A publication Critical patent/JPS60134620A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、ディジタル回路を構成するためのD型フリツ
プフロツプに係り、特に入力データがそのまま出力とし
て出力可とすることによってLSI内部の故障診断が容
易に行なわれるべくなしたD型フリツゾフロツプに関す
るものである。
〔発明の背景〕
これまでセミカスタムLSI等のロジックICを開発す
る場合には、後述のように故障診断上の理由より記憶素
子としてD型フリツゾフロツプを用いずにラッチ素子を
用いているのが実状である。
しかしながら、ラッチ素子を用いる場合にはその入出力
特性がD型フリツプフロツゾと異なることから、a4イ
ブライン処理における中間処理結果を一時的に保持せし
めるような場合には二相クロック方式としなければなら
ず、これがために新たなる不具合を生じるものとなって
いる。
、 第1図はD型フリツゾフロツデを内sFC含む工3
 〆[ うにして構成された3ステージパイグライン処理用LS
Iの内部回路構成を概略的に示すが、これによりD型フ
リップフロップを使用した場合での不具合を詳細に説明
すれば以下のようである。
即ち、パイシライン処理を行なうためには各種演算を行
なう組合せ回路1〜3間には中間処理結果を一時的に記
憶すべくD型フリップフロツノ4゜5が図示の如くにし
て配されるようになっている。
D型フリツゾフロツ7c′4.5はそれぞれ組合せ回路
1,2からの中間処理結果11.13をクロック信号C
LKによるタイミングでクロック信号CLKの1周期分
一時記憶することによってそれら中間処理結果11.1
3をそれぞれ組合せ回路2.3に入力データ12.14
として出力するようになっているものである。クロック
信号CLKの周期で順次組合せ回路1に入力される原入
力データ10は組合せ回路1〜3を順次経ることによっ
て最終処理結果15が組合せ回路3より順6次得られる
ものである。
第2図は組合せ回路およびD型フリップフロップでの遅
延を説明の簡単化上竿として、また、D型フリツゾフロ
ツゾへのデータのセットタイミングはクロック信号がい
わゆる″′0″′状態より゛1″状態に遷移する際とし
た場合での処理動作タイミングを示したものである。
これによると組合せ回路1からのある中間処理結果11
がクロックツぐルスAによってD型フリップフロップ4
にセットされるとすれば、組合せ回路2にはその中間処
理結果11がそのセット時点より入力データ12として
クロック信号CLKの1周期分出力され、組合せ回路2
からはその中間処理結果11にもとづく中間処理結果1
3が速やかにして得られることになる。この中間処理結
果13はクロックツ4ルスAより1周期分遅れたクロッ
クツ4ルスBKよってD型フリッグフロツゾ5にクロッ
ク信号CLKの1周期分更にセットされること明らかで
ある。D型フリツプフロツゾにセットされた中間処理結
果13は入力データ14として出力されることによって
組合せ回路3からは最終処理結果15が速やかにして得
られることになるものである。
このように中間処理結果の一時記憶にD型フリップフロ
ップを用いる場合には1種類だけのクロック信号のみで
必要十分であり、クロック信号の種類が少なくて済まさ
れることや前段からの中間処理結果が速やかに後段に出
力されることからすれば好ましいと云える。しかしなが
ら、LSIの故障診断上それがために不具合が生じると
いうものである。というのは、故障診断を行なうに際し
てはスキャンパス(5can path )などの方法
によって先ずD型フリップフロップ4,5に所望の論理
値が設定され、この後テス)ノfターンが原入力データ
10としてクロック信号CLKに同期して印加入力され
るようになっている。テストパターンの印加入力の度に
最終処理結果15や組合せ回路1〜3内より引き出場れ
た観測用端子上の信号あるいはデータを観測することに
よって故障が生じているか否かが診断されるわけである
。ただ、このようにして故障診断を行なう場合は、テス
トパターンの印加の度にD型フリツゾフロツプ4.5に
論理値を設定しなければならずデストノ4ターンの増大
をもたらすことになるものである。
6頁 一方、D型フリッゾフロッゾの代りにラッチ素子を用い
る場合には第3図に示す如くD型フリッノフロツf4.
5はそれぞれラッチ素子6,7.8.9に置換され、ラ
ッチ素子6,8にはクロック信号CLK 1が、また、
ラッチ素子7,9にはクロック信号CLK 2が与えら
れるものとなっている。
ラッチ素子による場合は、2個カスケード接続されたラ
ッチ素子のうち前段のものに確実に一時記憶された中間
処理結果は速やかに後段のものに一時記憶されるものと
なっている。クロック信号CLK 1 、 CLK 2
間には僅かの位相差が存在するようになっているわけで
ある。
第4図は第2図の場合と同様に組合せ回路およびラッチ
素子での遅延を零として、また、データのラッチ素子へ
のラッチはクロック信号が@0″状態より′l”状態に
遷移する際とされ、クロック信号が@l”状態にある間
その遷移時点での入力データが記憶されるが、″′0″
状態にある間は入力データは出力データとしてそのまま
出力されるものとカつている。
7頁 即ち、組合せ回路lよりの中間処理結果11はクロック
信号CLK 1が゛0″状態に遷移した時点からラッチ
素子6より中間処理結果16としてそのま葦出力される
が、クロック信号CLK 1がその後“1″状態に遷移
した時点からパ0″′状態に遷移するまでの間は完全な
ラッチ出力として出力されるようになっている。結果的
にクロックパルスaが@ O71状態に遷移してから次
のクロック・母ルスeが°′0″状態に遷移するまでの
クロック信号CLK 1の1周期分ラッチ素子6より中
間処理結果11が出力されるものである。ラッチ素子6
からの中間処理結果16は次にクロック信号CLK 2
におけるクロックツ9ルスbによってラッチ素子7より
中間処理結果11の場合と同様にして組合せ回路2への
入力データ12として出力されるが、この際にクロック
信号CLK l 、 CLK 2間の位相差に相当する
時間’rp遅延を生じるところとなるものである。
組合せ回路2からの入力データ12に対する中間処理結
果13はまた中間処理結果11の場合と同様にしてラッ
チ素子8,9にクロックパルスc、dlcよって順次一
時記憶せしめられたうえ入力データ14として組合せ回
路3に与えられるようになっているわけである。なお、
ラッチ素子によって・母イブライン処理を行なう場合に
は通常二相のクロック信号が要されるが、前段からのデ
ータのラッチ素子および組合せ回路による遅延時間がク
ロック信号のノ9ルス幅よりも大きい場合には二相要さ
れず1種類だけで十分である。
このようにラッチ素子によってもパイプライン処理は可
能とされるが、故障診断は先の場合と大分趣が異なるも
のとなっている。ラッチ素子の場合はD型フリツゾフロ
ツゾと異なってクロック信号を特定の状態においている
間は入力データはそのまま出力データとして出力され得
るからである。
即ち、故障診断が行なわれる間ラッチ素子6.ち8.9
はクロック信号CLK 1 、 CLK 2を強制的に
0”状態におくことによって入力データをそのまま出力
データとして出力し得る状態におかれるようになってい
る。したがって、組合せ回路1〜3は血精され恰も1つ
の組合せ回路と見做し得る9頁 状態にあり、診断用テストパターンを原入力データ10
として組合せ回路lに入力せしめるようにして最終処理
結果15を観測すれば、組合せ回路全体の故障診断が可
能となるものである。
このようにラッチ素子を用いる場合には故障診断を容易
に行ない得るが、その反面二相のクロック信号が通常登
場れることになる。ところで、セミカスタムLSIなど
のロジックICは高集積度化、大規模化に伴いそのタイ
ミング制御は一層複雑化しているのを考慮すれば、二相
クロック方式は適当でないばかりか、クロック信号の位
相差に相当する無駄な遅延時間が必然的に発生され処理
性能上好ましくないというものである。したがって、一
時記憶のための素子としては通常にあってはD型フリッ
グフロツゾの機能を果たすが、故障診断時にあっては入
力データがそのまま出力データとして出力されるといっ
た機能を果たすものが好ましいと云える。このような機
能をもった素子はLSIなどを構成するものとして重要
なことは勿論であるが、単独のICとして構成される場
合でも10頁 有用なものであることは明らかである。
〔発明の目的〕
よって本発明の目的は、これまでのD型フリップフロッ
プの機能と、外部からの出力モード制御信号が特定の状
態におかれた場合には入力データがそのまま出力データ
として出力される機能をもった新たなるD型フリップフ
ロツノを供するにある。
〔発明の概要〕
この目的のため本発明は、出力モード制御信号が通常の
モードにある場合はこれまでのD型フリツゾフロッグの
出力を選択的に出力するが、特定のモードにある場合に
は入力データと適当に作成された反転入力データとをそ
のまま選択的に出力するようになしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第5図から第7図により説明する。
先ず本発明によるD型フリッゾフロッデの一実施態様で
の概要構成とその具体的回路構成を説明11頁 する。第5図はその概要構成を示すが、これによる場合
通常のD型フリツプフロツゾとしてノ動作は出力モード
制御信号具によってRSフリッゾフロツf23のリセッ
ト出力40.セット出力41が出力選択部めで選択され
たうえりセット出力42.セツト出力43として出力さ
れることによって行なわれるようになっている。トリが
発生部21はRSフリップフロップ乙の状態を制御する
ためのもので、入力データ(資)およびクロック信号3
1にもとづきトリガ信号37.38を所定に発生するも
のとなっている。なお、セット・りセット制御部ρはノ
リセット信号32、リセット信号33にもとづいて発生
されたセット・リセット制御信号39によってRSフリ
ップフロップnをプリセット、りセットするためのもの
である。
一方、出力モード制御信号あが入力データとその反転デ
ータをそのままリセット出力42.セット出力43とし
て出力すべきことを指示している場合には、トリガ発生
部21からの入力データ35とその反転データ36が出
力選択部ハエり出力されるようになっているものである
。トリガ発生部21においては出力モード制御信号具と
入カデータ閏にもとづいて入力データ35とその反転デ
ータ謁が作成されるようになっているわけである。
概要としての構成とその動作は以上のようであるが、第
6図により更に具体的、詳細に説明すれば以下のようで
ある。
先ず入力データとその反転データがその′!Eま出力さ
れる場合より説明すれば、この場合には出力モード制御
信号34がいわゆる“1”状態におかれるものとなって
いる。したがって、フアゲート212の出力によってノ
アグー)211ハ(/パークとして機能することになり
その出力は入力データ加を反転したもの、即ち、反転デ
ータ36として得られるものである。また、出力モード
制御信号あはオアゲート221.ノアf−卜214を介
しノアf −) 215をインバータとして機能させる
ことから、ノアf−) 211の出力である反転データ
36はノアゲート215によって反転されたうえ入力デ
ータあとして出力されることになるものである。
13頁 一方、出力選択部冴においてはノア/オアf−1241
を介する出力モード制御信号によってアンドゲート24
4 、245が選択されることから、入力データ35、
反転データ謁はアンドグー卜245 、244、を介し
オアグー) 247 、246よりセット出力43゜す
セット出力42として出力され得るものである。
次にD型フリッゾフロッゾとして動作する場合について
説明すれば、この場合には出力モード制御信号あは′″
0”状態におかれるようになっている。したがって、出
力選択部翼においてはアンドf −) 242 、24
3が選択されることによってR8フリツプフロツf23
のりセット出力40 、セット出力41がリセット出力
42.セット出力43として出力されるものとなってい
る。ここでクロック信号31が′l”状態である場合に
はノアf −卜214の出力としてのトリガ信号37は
強制的に°゛0”状態に。
また、オアゲート213の出力としてのトリが信号あけ
強制的に”l”状態におかれることになる。
トリが信号37.38はπS7リップフロップるに入力
されるが、これによってはRSフリッゾフロッ−14−
頁 デnの状態は変化しないものとなっている。πSフリッ
ゾフロッf23は図示の如くに接続されたオア/ノアダ
ート231 、233 、アンドダート232おヨヒノ
アグート234よりなり、このうえオア/ノアf −)
 231とアンドゲート232はフリツプフロツプを構
成するが、その入出力関係は以下の表に示す通りである
表 但し、LOW 、 HIGHはそれぞれ0”状態、15
 頁 tt 1 *を状態に対応するものとなっている。
因みにシリセット信号32が入力された場合には、シリ
セット信号32はセット・リセット制御部22における
ノア/オアダート222よりプリセット信号391とし
て出力されアンドf −) 232の出力(リセット出
力40)を強制的に°゛0”状態に、また、オア/ノア
ゲート231を介しオアダート234の出力(セット出
力41)を“l″状態おくようになっている。この場合
トリガ信号37はオア/ノアグー卜221を介するプリ
セット信号32がフアゲート214に入力されることに
よって強制的に″′0″状態におかれる。また、リセッ
ト信世33が入力嘔れた場合にはオア/ノアグー) 2
31 、233にリセット信号おがそのまま入力される
ことから、πSフリップフロップの出力40(リセット
出力40)は強制的に1”状態に、オアゲート234の
出力(セット出力41)はその入力が例れも0”状態と
されることから@0”状態におかれることが判る。
さて、クロック信号31が′0”状態より′1”状態へ
と移行したとすれば、クロスカップル構成特開BgGO
−134620(5) のRSフリツプフロツゾを構成しているノアグー卜21
5 、214からはその移行時点での入力データ、反転
データがそれぞれ出力されるところとなる。
また、同様にノアケ”−卜212による補助の下にRS
フリップフロップを構成しているオアデート2131ノ
アダート211からはともに反転データが得られること
になる。結局ノアゲート211の出力あはクロック信号
31が@0”状態の間入力データIの状態によって変化
する虞れはあるも、クロック信号31が60″状態へ移
行した時点での入力データ加を反転したものがトリが信
号37 、38としてクロック信号31が″′0″状態
にある間得られるものである。したがって、クロック信
号31が′0”状態へ移行した時点での入力データ加の
状態がセット出力43として、その反転された状態がリ
セット出力42として得られるわけである。
なお、以上の例では出力モード制御信号によってトリが
発生部より入力データとその反転データが作成されるよ
うになっているが、別途新たに作成することも可能とな
っている。第7図に示す如17頁 く入カデータ加よりインバータ51によってその反転デ
ータを作成するものである。出力モード制御信号あが1
”状態にある間は入力データとその反転データがアンド
グー)55.56を介しオアグー)57.58よりセッ
ト出力、リセット出力として得られ、また、uo”状態
にある間インバータ52を介しアンドゲート53.54
を選択しD型フリッグフロッグ団のセット出力、リセッ
ト出力をアンドグー)53.54を介しオアグ−)57
.58より得るようにするものである。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、通常時にあってはp型フ
リッグフロツプとして動作するも、特定時にあっては入
力データとその反転データがそのまま出力として出力さ
れるようになしたものである。したがって、本発明によ
る場合は本来のD型フリッグフロップの機能以外に、ラ
ッチ素子の機能を一部有していることから、特にLSI
内にて記憶素子として用いられる場合には無駄な遅延時
間・を発生せしめることなくそのタイミング制御が容−
18頁 易であり、しかもまた故障診断も容易に行ない得ること
になる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は、D型フリッグフロツゾを内部に含む
3ステージパイプライン処理用LSIの内部構成とその
処理動作タイミングを示す図、第3図、第4図は、同じ
くラッチ素子を内部に含む3ステージ・母イブライン処
理用LSIの内部構成とその処理動作タイミングを示す
図、第5図、第6図は、本発明によるD型フリツゾフロ
ツデの一実施態様での概要構成とその具体的回路構成を
示す図、第7図は、他の実施態様での具体的回路構成を
示す図である。 21・・・トリガ発生部、お・・・πSフリップフロッ
プ、ス・・・出力選択部。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第6図 第7図 =92−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、外部からのクロック信号および入力データにもとづ
    きトリが発生部で発生されるトリガ信号によってフリッ
    プフロップの状態が制御され、該状態は少なくとも次の
    クロック信号の入力時点まで保持されるD型フリップフ
    ロップにして、入力データを反転する反転手段を設け、
    外部からの制御信号によって入力データと該データの反
    転データ、フリップフロップの出力の何れか一方を核信
    号によって制御されている出力選択部を介し選択的に出
    力として出力せしめる構成を特徴とするD型フリツゾフ
    ロツデ。 2、 入力データを反転する反転手段は、外部からの制
    御信号によって制御されているトリが発生部として構成
    される特許請求の範囲第1項記載のD型フリップフロッ
    グ。 3、 入力データを反転する反転手段は、トリが発生部
    とは別個に新たに設けられる特許請求の範囲 囲第1項記載のD型フリッグフロッグロ
JP58242142A 1983-12-23 1983-12-23 D型フリツプフロツプ Pending JPS60134620A (ja)

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JP58242142A JPS60134620A (ja) 1983-12-23 1983-12-23 D型フリツプフロツプ

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JPS60134620A true JPS60134620A (ja) 1985-07-17

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5323065A (en) * 1991-08-08 1994-06-21 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit device having edge trigger flip-flop circuit for decreasing delay time
US5373200A (en) * 1991-01-25 1994-12-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5373200A (en) * 1991-01-25 1994-12-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit
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