JPS60129998A - Decoder circuit of redundancy constitution mos memory - Google Patents

Decoder circuit of redundancy constitution mos memory

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JPS60129998A
JPS60129998A JP59193436A JP19343684A JPS60129998A JP S60129998 A JPS60129998 A JP S60129998A JP 59193436 A JP59193436 A JP 59193436A JP 19343684 A JP19343684 A JP 19343684A JP S60129998 A JPS60129998 A JP S60129998A
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JP
Japan
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programmable element
circuit
mos transistor
redundant
mos
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JP59193436A
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Japanese (ja)
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Toshio Mitsumoto
敏雄 三本
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Sharp Corp
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Sharp Corp
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

PURPOSE:To attain high speed operation by changing the connecting position of a programmable element. CONSTITUTION:A potential holding MOS transistor (TR)9 whose source is connected to a common potential is added to a precharge MOSTR2, a gate of the potential holding MOSTR9 is controlled by an output of a redundancy circuit A, which is provided with a programmable element 14. The redundancy circuit A controls the potential of a node 7 by transmitting information set to the programmable element 14 connected to the potential holding MOSTR9. The adverse effect to be connected with the programmable element in series with a word line drive signal is excluded and it gives much contribution to the high speed operation of the MOS memory.

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明は冗長構成MOSメモリにおけるデコーダ回路に
関するもので、特に動作の高速化を図ったデコーダ回路
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a decoder circuit in a redundant MOS memory, and particularly to a decoder circuit that operates at high speed.

〈従来技術〉 一般に使用されている冗長構成M OSメモリのデコー
ダ回路全第6図に示す。
<Prior Art> The entire decoder circuit of a commonly used redundant configuration MOS memory is shown in FIG.

同図においてlidワード線選択用M 0 S +−ラ
ンジスタであり、アドレス信号φい。〜φANかそり、
それのゲートに接続さね、選択または非選択か決定さt
l、る。上記MOSトランジスタ1の共通接続されたド
レインニハプリチャーン用MOSトランジスタ2が接続
されている。該プリチャージ用MOSトランジスタ2の
ゲートにはプリチャージ信号φ。
In the same figure, it is a lid word line selection M 0 S + - transistor, and an address signal φ. ~φAN razor,
Connect to the gate of it to determine selection or non-selection.
l,ru. A drain precharging MOS transistor 2, which is commonly connected to the MOS transistors 1, is connected thereto. A precharge signal φ is applied to the gate of the precharge MOS transistor 2.

か接続されている。上記ワード線選択用M 0 S ト
ランジスタ1のトレインにはマタトランスファケ−1−
31,(介してワード線部dvJ用へl0SI・ラノン
スタ4のケートが接続されている。該ワード線駆動用M
OSトランジスタ4のドレインI/ltワード線21駆
仙信号φ3が接続されて、ケート信号の制御に従ってワ
ード線6にワード線、駆動信号φ3全導出する。
or connected. The train of the M0S transistor 1 for word line selection has a master transfer cable 1-.
31, (through which the gate of l0SI/Lannonstar 4 is connected to the word line section dvJ.
The drain I/lt word line 21 of the OS transistor 4 is connected to the drive signal φ3, and the word line and drive signal φ3 are all led out to the word line 6 under the control of the gate signal.

ここで」−記ワード線6には、冗長構l戊のMOSメモ
リに適するデコーダ回路とするだめに、レーザ光線、そ
の他外部要因によりプロクラム可能で、且つ通常は導通
状態に設定さ力、たプログラム可能素子5が挿入され、
ワード線6に接続されたメモリセルに不良が存在する場
合には、上記プロクラム可能素子5を切断することによ
って不良メモリセルへのアクセス全禁止する。
Here, the word line 6 is programmed by a laser beam or other external factor, and is normally set to a conductive state, in order to create a decoder circuit suitable for a redundant MOS memory. Enable element 5 is inserted,
If there is a defect in the memory cell connected to the word line 6, the programmable element 5 is disconnected to completely prohibit access to the defective memory cell.

第7図は上記第6図のデコーダ回路の動作タイミンク図
である。
FIG. 7 is an operation timing diagram of the decoder circuit shown in FIG. 6 above.

φPはプリチャージ用MO8)ランジスタ2のケートに
入力されたプリチャージ信号であり、プリチャージ期間
はMO3+−ランジスタ2により、ワード線選択用MO
5)ランジスタ1のドレインであるノード7およびMO
Sトランジスタ3を介してワード線、駆動用MOSトラ
ンジスタ4のケートであるノード8にプリチャージを行
なう。活性期間に入るとアドレス信号φAO〜φANが
入力されてデコードが行なわ力、非選択されたデコーダ
回路のノードおよびノード8は接地電位に下降し、才だ
選択されたデコーダ回路の7−ド7およびノード8は高
電位に保持さ力、る。次にトランスファ信号φ。か下降
してトランスファゲート3かオフに1リノード7とノー
ド8か遮断さ力るとともに1、駆動信号φ3がワード線
駆動用M 0 S I−ランシスタ4に入力されて選択
さ力、たデコーダ回路のワード線6上にブロク、ラム可
能素子5−を介して駆!lll1信号φ3か出力される
φP is a precharge signal input to the gate of precharge MO8) transistor 2, and during the precharge period, MO3+-
5) Node 7 which is the drain of transistor 1 and MO
A word line and a node 8, which is the gate of the driving MOS transistor 4, are precharged via the S transistor 3. When entering the active period, address signals φAO to φAN are input and decoding is performed, and the nodes of the unselected decoder circuit and node 8 fall to the ground potential, and the nodes 7 and 8 of the selected decoder circuit fall to the ground potential. Node 8 is held at a high potential. Next is the transfer signal φ. 1, the transfer gate 3 is turned off, the node 7 and the node 8 are cut off, and the drive signal φ3 is input to the word line driving M0S I-run register 4 to select the decoder circuit. block on the word line 6 of the block, driven through the RAM enable element 5-! The lll1 signal φ3 is output.

」二記従来のデコーダ回路において、ワード線6の浮遊
容量Cは一般に大きい値であるためポリ81等によって
構成さハ5るプロクラム可能素子5の抵抗により大きな
信号遅延か発生ずる。このプロクラム可能素子5の抵抗
を小さくすることに一般に困難であり、第6図の従来方
式てQゴこの現象かメモリ素子のアクセス時間ケ遅くす
る大きな要因になっている。
2. In the conventional decoder circuit, since the stray capacitance C of the word line 6 is generally large, a large signal delay occurs due to the resistance of the programmable element 5 formed by the polygon 81 or the like. It is generally difficult to reduce the resistance of the programmable element 5, and in the conventional method shown in FIG. 6, this phenomenon is a major factor in slowing down the access time of the memory element.

〈発明の目的〉 本発明は従来回路の欠点全除去し、プロクラム可能素子
の接続位’u’l k変えることにより動作の高速化を
図った冗長構成M 0 Sメモリのデコーダ回路を提供
する。
<Object of the Invention> The present invention provides a decoder circuit for a redundant configuration M 0 S memory which eliminates all the drawbacks of the conventional circuit and achieves high-speed operation by changing the connection position of programmable elements.

〈実施例〉 第1図は本発す」によるデコーダ回路の第1実施例であ
り、同デコーダ回路の動作タイミング図を第2図に示す
<Embodiment> FIG. 1 shows a first embodiment of a decoder circuit according to the present invention, and FIG. 2 shows an operation timing diagram of the decoder circuit.

該テコータ回路−゛アドレス選択に関しては前記従来回
路と同じ回路構成からなり、アドレス信号φア。〜φA
Nがアドレス信号デコード用M’O3)ランンスタ1に
接続さ力、て選択または非選択が決足さtl、る。該テ
コード用MO5)ランジスタIの共通接続さ力、たトレ
インであるノード7にはプリチャージ用M OS l−
ランジスタ2、トランスファゲート3か接続され、該ト
ランスフアケ−1・3ヲ介してワード線、駆動用11.
1 OS )ランジスタ4か接続サネ、テ、ワード線駆
動信号φ3をワード線6に導く。該ワード線6には従来
回路のようにプロクラム可能素子は接続さ力、す、本発
明のデコーダ回路ではブリチャーン用MO5)ランジス
タ2に、ソースか接地電位に接続された電位保持用MO
Sトランジスタ9全付加し、該電位保持用M OS−ト
ランジスタ90ケ−1・全冗長回路Aの出力によって制
御し、該冗長回路Aにプロクラム可能素子14か設けら
れる。
The Tekoter circuit has the same circuit configuration as the conventional circuit with regard to address selection, and uses an address signal φa. ~φA
N is connected to M'O3) for address signal decoding, and selection or non-selection is determined. The common connection of the transistor I (MO5) for the charge code, and the node 7 which is the train, is connected to the precharge MOS l-.
A transistor 2 and a transfer gate 3 are connected to each other, and word lines and driving 11.
1 OS) Transistor 4 is connected to lead word line drive signal φ3 to word line 6. A programmable element is connected to the word line 6 as in the conventional circuit, but in the decoder circuit of the present invention, a potential holding MO whose source is connected to the ground potential is connected to the transistor 2.
All S transistors 9 are added, and the potential holding MOS transistors 90 are controlled by the output of the full redundant circuit A, and the redundant circuit A is provided with a programmable element 14.

上記冗長回路Ai+−1、電位保持用M OS )う′
ンジスタ9にプログラム可能素子14に設定さノまた情
報を伝達してノート7における電位を制御するため、次
のように構成さね、る0 即ち電位保持用MOSトランジスタ9のケ−1・にソー
スか接続さ力、た駆動用M0Sトランジスタ1Oか接続
さ′i1.る。該、駆動用MOSトランジスタ10のド
レインには第2の駆動信号φ2か接続され、ケート()
−ド16)ir、Jlランスファケート11i介して第
2のプリチャージ用MOS l−ラノジスタ12とプロ
クラム可能素子14との接続点()−ド15)に丁妾続
される。」ニli己第2のフ”リチャージ用M OS 
+−ランジスタ12のケートハ上記MOSトランジスタ
2と同様にブリチャーシイ3号φ、に接続され、プリチ
ャージ期間に7−ド15及びノード16i高電位にプリ
チャージする。上記プロクラム可能素子14の他端は第
1の駆動信号φ1がゲートに力えられたM 0 S )
ランジスタ13を介して接地されている。プロクラム可
能素子14は前記従来回路の素子と同様に通常は導通状
態に設定され、ワード綽6上に不良メモリセルか存在す
る場合のみ切断されて固定的にメモリセル情報か記録さ
れる。
The above redundant circuit Ai+-1, potential holding MOS )U'
In order to control the potential at the node 7 by transmitting information to the programmable element 14 in the register 9, the configuration is as follows. The driving M0S transistor 1O is connected to the driving M0S transistor 10'i1. Ru. A second drive signal φ2 is connected to the drain of the drive MOS transistor 10, and the gate () is connected to the second drive signal φ2.
It is connected to the connection point ()-15) between the second precharge MOS transistor 12 and the programmable element 14 via the ir and Jl transfer gates 11i. "Nili's second free charge M OS"
The gate of the +- transistor 12 is connected to the transistor No. 3 φ in the same way as the MOS transistor 2, and precharges the node 15 and the node 16i to a high potential during the precharge period. The other end of the programmable element 14 is M 0 S to which the first drive signal φ1 is applied to the gate.
It is grounded via a transistor 13. Like the elements of the conventional circuit, the programmable element 14 is normally set to a conductive state, and is disconnected only when a defective memory cell is present on the word cell 6, so that memory cell information is permanently recorded.

上記構成よりなるテヨーダ回路はプリチャージ期間に続
いて活性期間に入ると、MOSトランジスタ130ケー
トに第1の駆動信号φlが入力されて、プロクラム可能
素子14が導通状態であれはノートI5およびノードI
6全接地電位に放電し、その結果駆動用MOSトランジ
スタ10は遮断状態になり、次に第2の駆動信号φ2か
入力さ力、ても電位保持用M OS トランジスタ9は
遮断状態を維持し、このテコーダはアドレス信号φAO
〜φANの組合せに従った動作ケ行なう。一方プログラ
ム可能素子14か切断されている場合には、第1の、駆
動信号Il+ が入力されてもノード15およびノード
16は高レベルのままであシ、従って第2の駆動信号φ
2が入力さi9.ると駆動用M OS ’l−ランジス
タ10’(i)介して電位保持用MOSトランジスタ9
のゲートか高電位になり、−ノード7およびノード8は
アドレス信号φho”l□hhの状態にかかわらず接地
電位になり、ワード線6は必ず非選択になる。即ちプロ
クラム可能素子14の導通・切断状態に対応する電位か
予めノード7に伝達され、ワード線6側には遅延の原因
になる要素かはとんとないだめ、駆動信号φ3はへ10
8トランジスタ4全介して速やかVこワー”MA ’7
 (/こ導出さ力る。
When the Teyoda circuit having the above configuration enters the active period following the precharge period, the first drive signal φl is input to the MOS transistor 130 gate, and if the programmable element 14 is in a conductive state, the node I5 and the node I
6 is discharged to the entire ground potential, and as a result, the drive MOS transistor 10 becomes cut off, and even if the second drive signal φ2 is input, the potential holding MOS transistor 9 maintains the cut off state. This decoder is the address signal φAO
- Perform operations according to the combination of φAN. On the other hand, when the programmable element 14 is disconnected, the nodes 15 and 16 remain at high level even if the first drive signal Il+ is input, and therefore the second drive signal φ
2 is input i9. Then, the potential holding MOS transistor 9 is connected via the driving MOS 'l-transistor 10' (i).
, the gate of - node 7 and node 8 become ground potential regardless of the state of address signal φho''l□hh, and word line 6 is always unselected. In other words, the conduction of programmable element 14 The potential corresponding to the disconnected state is transmitted to the node 7 in advance, and since there are no elements on the word line 6 side that may cause a delay, the drive signal φ3 is set to 10.
8 transistors 4 through all immediately V power "MA '7
(/This is derived.

第3図は不発りJによる第2実施例であり1、駆動用M
 OS +−ランシスタ10のソースと接地電位間に放
電用M 0 S )ラレンスタ18葡付加し、ケートに
プリチャージ信号φ1.ヲ入力してノード17の放電回
路全形成し、より動作の安ボ化を・図ったテコータ回路
である。
Fig. 3 shows a second embodiment using a non-explosion J, 1, and a driving M.
OS + - A discharge M0S) Larestar 18 is added between the source of the Runsistor 10 and the ground potential, and a precharge signal φ1. This is a Tekota circuit that inputs the power to form the entire discharge circuit of the node 17, and is designed to operate more cheaply.

第4図は不発すJvCよる第3実施例であり、回路構成
は前R12第2実施例と同じ+161戊を採り、プリチ
ャージ用MOSトランジスタ2,12の夫々のケートに
入力するプリチャージ信号φ]11.φ1,2が第5図
に示す如く下降時期に差のある信号として与えらハ、て
動作する。即ちプリチャージ用M OS トランジスタ
2,12の夫々全制御する信号として必ずしも同じ信号
φPを用いる必要はなく、プリチャージ期間に重なりの
あるパルス信号であれは、他の信号を利用することかで
きる。
FIG. 4 shows a third embodiment using a non-firing JvC, the circuit configuration is the same as the previous R12 second embodiment, and the precharge signal φ is input to each gate of the precharge MOS transistors 2 and 12. ]11. The operation is performed when φ1 and φ2 are applied as signals having different falling timings as shown in FIG. That is, it is not necessarily necessary to use the same signal φP as a signal for controlling all of the precharge MOS transistors 2 and 12, and other signals may be used as long as the pulse signals overlap in the precharge period.

また上記第1乃至第3の各実施例において、プロクラム
可能素子14とi53 MOS トランジスタ13の接
続はプログラム可能素子14を接地電位側に接続して構
成することもできる。
Furthermore, in each of the first to third embodiments described above, the connection between the programmable element 14 and the i53 MOS transistor 13 can also be configured by connecting the programmable element 14 to the ground potential side.

〈効果〉 以上に述べたように、不発り]によるテコータ回路(は
ワード線、駆動信号上に直列にプロクラム可能素子か入
ることによる悪影響を排除することができ、M 0 S
メモリの高速化に大きく害鳥するものである。
<Effects> As mentioned above, the Tecoator circuit (misfire) can eliminate the negative effects caused by the presence of a programmable element in series on the word line and drive signal, and M 0 S
This is a major hindrance to speeding up memory.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による一実施例?示す回路図、第2図は
第1図の回路のタイミンク図、第3図は ゛本発明によ
る第2の実施例の回路図、第4図は本発明による第3実
施例の回路図、第5図は第4図の回路のタイミンク図、
第6図は従来の冗長構成M OSデコーダ回路図、第7
図は第6図の回路のタイミング図である。 1 :ワード線選択用MOSトランジスタ、2゜3.4
,9,10.II、12,13.18 :MO3+・ラ
ンシスタ、14:プロクラム可能素子、6 ワーに線、
C:ワード線の浮遊容量、φ3 :ワート線5駆動信号
、φ7、ニドランスファゲート駆ff1lJ (ゴ号、
φP、φP1.φP2’プリチャーシイ言−号、φ1.
φ2:冗長回路制御用信号、Voo 電詠 代理人 弁理士 福 士 愛 彦 (他2名)第 3 
図 φAO−4JAN
Is Fig. 1 an embodiment of the present invention? 2 is a timing diagram of the circuit of FIG. 1, FIG. 3 is a circuit diagram of a second embodiment according to the present invention, and FIG. 4 is a circuit diagram of a third embodiment according to the present invention. Figure 5 is a timing diagram of the circuit in Figure 4.
Figure 6 is a circuit diagram of a conventional redundant configuration MOS decoder;
The figure is a timing diagram of the circuit of FIG. 6. 1: MOS transistor for word line selection, 2°3.4
,9,10. II, 12, 13.18: MO3+・Lancisister, 14: Programmable element, 6 wires,
C: Stray capacitance of word line, φ3: Word line 5 drive signal, φ7, Nidor transfer gate drive ff1lJ (Go number,
φP, φP1. φP2' Precious word number, φ1.
φ2: Redundant circuit control signal, Voo Telephone agent Patent attorney Yoshihiko Fukushi (and 2 others) 3rd
Figure φAO-4JAN

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ワード線選択用MOSトランジスタの共通接続され
た出力線におけるプリチャージ状態によって、ワード線
、駆0J用MO5)ランシスタの導通・非導通を制御し
てワード線への出力信号の導出を制御するダイナミノク
テコーダ回路において、 ワード線選択用MOSトランジスタの共通接続さね、た
出力線に電位保持用MOSトランジスタを接続し、 該電位保持用M0Sトランジスタのケートニ、固定的に
情報を記録したプロクラム可能素子か股()られた冗長
回路出力を接続し、 該冗長回路は上記プロクラム可能素子が導通状態で電位
保持用MO3+−ランジスタ奢非導通に保持し、プロク
ラム可能素子が非導通状態で電位保持用MOSトランジ
スタ?導通させる出力信号を形成してなることを特徴と
する冗長構成MOSメモリのデコーダ回路。 2 前記冗長回路は、電源間に直列に挿入されたプリチ
ャ、−ジ用MOSトランジスタ及びプログラム可能素子
と、該プリチャージ用MOSトランジスタの出力がゲー
トに与えられた駆動用MOSトランジスタとを備え、該
駆動用MOSトランジスタの出力に基いて前記放電用M
OSトランジスタの動作全制御すること全特徴とす ゛
る特許請求の範囲第1項記載の冗長構成Mt)Sメモリ
のデコーダ回路。 3 前記冗長回路の駆動用MOS)ランジスタは接地電
位との間に放電用MOSトランジスタが接続さね、てな
ることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の冗長構
成MOSメモリのデコーダ回路。
[Scope of Claims] 1. The precharge state of the commonly connected output lines of the word line selection MOS transistors controls the conduction/non-conduction of the word line and drive 0J MO5) run transistor to output a signal to the word line. In the dynamic node coder circuit that controls the derivation of Connect the redundant circuit output connected to the programmable element which recorded the programmable element, and the redundant circuit holds the potential holding MO3+- transistor non-conductive while the programmable element is conductive, and the programmable element is held non-conductive. MOS transistor for holding potential in state? A decoder circuit for a redundant MOS memory, characterized in that the decoder circuit forms an output signal that causes conduction. 2. The redundant circuit includes a MOS transistor for precharging, a MOS transistor for precharging, and a programmable element inserted in series between the power supplies, and a MOS transistor for driving, the gate of which is given the output of the MOS transistor for precharging. The discharge M is based on the output of the driving MOS transistor.
A decoder circuit for a redundant Mt)S memory according to claim 1, characterized in that the entire operation of the OS transistors is controlled. 3. The decoder circuit for a redundant MOS memory according to claim 2, wherein the driving MOS transistor of the redundant circuit has a discharge MOS transistor connected between it and a ground potential.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100321654B1 (en) * 1998-07-06 2002-01-24 가네꼬 히사시 Fuse circuit and redundant decoder

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57130298A (en) * 1981-02-06 1982-08-12 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit memory and relieving method for its fault

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