JPS60114723A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
- Publication number
- JPS60114723A JPS60114723A JP22285983A JP22285983A JPS60114723A JP S60114723 A JPS60114723 A JP S60114723A JP 22285983 A JP22285983 A JP 22285983A JP 22285983 A JP22285983 A JP 22285983A JP S60114723 A JPS60114723 A JP S60114723A
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- Japan
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- signal
- filter
- output
- circuit
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、測定信号に含まれるノイズ成分を除去する機
能を持った測定装置の改良に関する。
能を持った測定装置の改良に関する。
一般に、測定装置には種々のものがあるが、その1つと
して例えば計量装置のようなものでは、測定セルである
秤量器によシ被測定物の重量に応じたアナログ信号を測
定信号として得ているが、このアナログ沖j定信号には
例えば床振動、外乱ノイズ、さらには装置を構成する電
気回路よ多発生するノイズ、秤量器の過渡的な減衰撮動
などの種々のノイズ成分が含まれている。
して例えば計量装置のようなものでは、測定セルである
秤量器によシ被測定物の重量に応じたアナログ信号を測
定信号として得ているが、このアナログ沖j定信号には
例えば床振動、外乱ノイズ、さらには装置を構成する電
気回路よ多発生するノイズ、秤量器の過渡的な減衰撮動
などの種々のノイズ成分が含まれている。
そこで、従来、かかる測定装置においてアナログ測定信
号に含まれるノイズ成分を除去するために、測定セルの
出力側にローフ4ス・フィルタを設けたもの、或いはア
ナログ測定信号を所定時間積分する積分回路を設けたも
のがある。
号に含まれるノイズ成分を除去するために、測定セルの
出力側にローフ4ス・フィルタを設けたもの、或いはア
ナログ測定信号を所定時間積分する積分回路を設けたも
のがある。
しかし、前者のローパス・フィルタを設けたものは、ノ
イズの除去比を大きくするためにa−ノQス・フィルタ
のカットオフ周波数ヲ低く設定しているが、そのために
遅延時間が大きくなり、ローノ臂スフィルタからアナロ
グ測定信号が得られるまでに長い時間を要し、結果とし
て測定に長い時間を必要とする欠点がある。
イズの除去比を大きくするためにa−ノQス・フィルタ
のカットオフ周波数ヲ低く設定しているが、そのために
遅延時間が大きくなり、ローノ臂スフィルタからアナロ
グ測定信号が得られるまでに長い時間を要し、結果とし
て測定に長い時間を必要とする欠点がある。
一方、後者の積分回路を設けたものは、アナログ測定信
号を積分してノイズ成分を十分平均化するためには積分
時間を長く設定する必要があり、前者のものと同様に測
定に長い時間を必要とする欠点がある。
号を積分してノイズ成分を十分平均化するためには積分
時間を長く設定する必要があり、前者のものと同様に測
定に長い時間を必要とする欠点がある。
そのほか、従来装置の中には、積分回路のほか、積分回
路の積分時定数を切替える手段を設け、積分回路の入力
端と出力端との電古差が大きいときには積分時定数合手
さく設定し、逆に電圧差が小さくなったときには積分時
定数を大きく設定するものがあるが、このノイズ除去手
段は積分時定数を切替えるときに切替ノイズが発生し、
これが測定値に影響を与えるといった不都合があった。
路の積分時定数を切替える手段を設け、積分回路の入力
端と出力端との電古差が大きいときには積分時定数合手
さく設定し、逆に電圧差が小さくなったときには積分時
定数を大きく設定するものがあるが、このノイズ除去手
段は積分時定数を切替えるときに切替ノイズが発生し、
これが測定値に影響を与えるといった不都合があった。
本発明は以上のような不都合を除去するためになされた
もので、ノイズ成分を含むアナログ測定信号の変化の大
小に応じてフィルタのカットオフ周波数を連続的に可変
できるようにすることによって、ノイズの除去比が大き
くかつ速い応答速度で測定を行なうことができる測定装
置を提供することにある。
もので、ノイズ成分を含むアナログ測定信号の変化の大
小に応じてフィルタのカットオフ周波数を連続的に可変
できるようにすることによって、ノイズの除去比が大き
くかつ速い応答速度で測定を行なうことができる測定装
置を提供することにある。
以下、本発明に係る測定装置のwclの実施例として例
えば重量計量装置に適用した場合について用1図ないし
第3図を参照して説明する。
えば重量計量装置に適用した場合について用1図ないし
第3図を参照して説明する。
第1図は重量計量装置の全体構成を示す図、第2図は第
1図の装置の一部を具体化した図、第3図は装置の動作
を説明する波形図である。第1図において1は秤量器な
どの測定セルであって、この測定セル1の載置テーブル
2上に被測定物3が載置される。この測定セル1は、載
置テーブル2を支持する支持アーム4の下降変位量に応
じた電気的なアナログ測定信号を出力するもので、例え
ば差動トランスなどが使用されている。測定セル1によ
って重量測定されて得たアナログ測定信号は信号レベル
として比較的小さいので、該信号を増幅器5で増幅した
後、フィルタ6に送られる。このフィルタ6は、アナロ
グ測定信号に含まれる機械的振動中外乱ノイズなどのノ
イズ成分を周波数帯域に応じ選択的にカットして除去す
るものであるが、特に従来のものと異なシ、例えば外部
から制御信号を与えてカットオフ周波数を可変制御でき
る電圧制御形のフィルタを使用するものとする。さらに
、電圧制御形フィルタ6の出力側にはノイズ成分を除去
して得られたアナログ測定信号をディジタル化するA/
D変換回路7が接続され、ここでディジタル化された測
定信号は後続の表示部8へ送られて重量値として表示さ
れる。
1図の装置の一部を具体化した図、第3図は装置の動作
を説明する波形図である。第1図において1は秤量器な
どの測定セルであって、この測定セル1の載置テーブル
2上に被測定物3が載置される。この測定セル1は、載
置テーブル2を支持する支持アーム4の下降変位量に応
じた電気的なアナログ測定信号を出力するもので、例え
ば差動トランスなどが使用されている。測定セル1によ
って重量測定されて得たアナログ測定信号は信号レベル
として比較的小さいので、該信号を増幅器5で増幅した
後、フィルタ6に送られる。このフィルタ6は、アナロ
グ測定信号に含まれる機械的振動中外乱ノイズなどのノ
イズ成分を周波数帯域に応じ選択的にカットして除去す
るものであるが、特に従来のものと異なシ、例えば外部
から制御信号を与えてカットオフ周波数を可変制御でき
る電圧制御形のフィルタを使用するものとする。さらに
、電圧制御形フィルタ6の出力側にはノイズ成分を除去
して得られたアナログ測定信号をディジタル化するA/
D変換回路7が接続され、ここでディジタル化された測
定信号は後続の表示部8へ送られて重量値として表示さ
れる。
しかして、本装置においては、増幅器5とA/D変換回
路7との間に、電圧制御形フィルタ6のほかに、該フィ
ルタ6に並列的に比較回路9を接続して介挿し、この比
較回路9によってフィルタ60入力端と出力端にそれぞ
れ現われる両信号の差電圧を検出し、この差電圧に比e
llする制御信号をフィルタ6に与えてカットオフ周波
数を可変制御する構成としたものである。
路7との間に、電圧制御形フィルタ6のほかに、該フィ
ルタ6に並列的に比較回路9を接続して介挿し、この比
較回路9によってフィルタ60入力端と出力端にそれぞ
れ現われる両信号の差電圧を検出し、この差電圧に比e
llする制御信号をフィルタ6に与えてカットオフ周波
数を可変制御する構成としたものである。
この比較回路9としては、例えば第2図に示すように抵
抗Rの可変によってrイン調整できる差動増幅器91を
使用する。
抗Rの可変によってrイン調整できる差動増幅器91を
使用する。
次に、以上のように構成された装置の作用について説明
する。被測定物30重量を測定することによシ、測定セ
ル1からIX3図に)に示すように急峻な立上シ特性を
有しその後減衰振動によつて収れんするアナログ測定信
号が出力された場合、従来のカットオフ周波数を固定と
した固定形ローパス・フィルタを用いたものは第3図(
B)に示すような出力波形が得られる。従って、これら
の波形から明らかなように、同図(5)の波形は急峻な
立上)特性を持った波形であるにも拘らず、同図(B)
の波形は緩慢な立上り特性をもった波形となり、同図体
)に示すアナログ測定信号に含まれていたノイズ成分は
完全に除去されているが、真正の重量値に相応するレベ
ルStに達するまでに長い時間を要していることが判る
。
する。被測定物30重量を測定することによシ、測定セ
ル1からIX3図に)に示すように急峻な立上シ特性を
有しその後減衰振動によつて収れんするアナログ測定信
号が出力された場合、従来のカットオフ周波数を固定と
した固定形ローパス・フィルタを用いたものは第3図(
B)に示すような出力波形が得られる。従って、これら
の波形から明らかなように、同図(5)の波形は急峻な
立上)特性を持った波形であるにも拘らず、同図(B)
の波形は緩慢な立上り特性をもった波形となり、同図体
)に示すアナログ測定信号に含まれていたノイズ成分は
完全に除去されているが、真正の重量値に相応するレベ
ルStに達するまでに長い時間を要していることが判る
。
一方、本発明装置にあっては、第3図(4)のような信
号が電圧制御形フィルタ6に入力されたとすると、この
入力端の信号電圧と出力端に現われる信号電圧との差が
大きくなシ、これを比較回路9で検出することによって
第3図(C)のような制御信号Scoが出力され、電圧
制御形フィルタ6忙供給される。この結果、電圧制御形
フィルタ6は制御信号Seaの電圧値が大きいので、こ
の電圧値の制御信号5cot−受けてカットオフ周波数
を大きく制御する。この制御により、電圧制御形フィル
タ6の出力は第3図(5)のアナログ測定信号に対し小
さな遅れ時間をもって追従するため第3図(鴎のような
波形となる。そして、第3図(Dのように比較的早く立
上がると、フィルタ6の入出力端の電圧差が小さくなシ
、それに伴なって制御信号Scoの電圧値も小さくなっ
てフィルタ6のカットオフ周波数が徐々に低く制御され
、真正の重量値に相応するレベルStに達して安定な状
態となる。第3図(C)のBVはバイアス電圧を示し、
これはフィルタ6の入出力端の電圧差が零となっても予
め所定電圧をもった制御信号Scoを比較回路9から出
力し、下限のカットオフ周波数を規定しようとするもの
である。
号が電圧制御形フィルタ6に入力されたとすると、この
入力端の信号電圧と出力端に現われる信号電圧との差が
大きくなシ、これを比較回路9で検出することによって
第3図(C)のような制御信号Scoが出力され、電圧
制御形フィルタ6忙供給される。この結果、電圧制御形
フィルタ6は制御信号Seaの電圧値が大きいので、こ
の電圧値の制御信号5cot−受けてカットオフ周波数
を大きく制御する。この制御により、電圧制御形フィル
タ6の出力は第3図(5)のアナログ測定信号に対し小
さな遅れ時間をもって追従するため第3図(鴎のような
波形となる。そして、第3図(Dのように比較的早く立
上がると、フィルタ6の入出力端の電圧差が小さくなシ
、それに伴なって制御信号Scoの電圧値も小さくなっ
てフィルタ6のカットオフ周波数が徐々に低く制御され
、真正の重量値に相応するレベルStに達して安定な状
態となる。第3図(C)のBVはバイアス電圧を示し、
これはフィルタ6の入出力端の電圧差が零となっても予
め所定電圧をもった制御信号Scoを比較回路9から出
力し、下限のカットオフ周波数を規定しようとするもの
である。
なお、比較回路9の一具体例を第2図に示したが、その
他用4図のような構成にしてもよい。
他用4図のような構成にしてもよい。
即ち、この比較回路9は、ダイン調整可能な手段r持っ
た差動増幅器91(ノーバイアス)と、振動などによっ
て差動増幅器9ノから負方向の1d号が出力されたとき
正方向の電圧として出力する絶対値回路92と、下限の
カットオフ周波数を規定するためのバイアス調整部93
と、上限のカットオフ周波数を規定するだめのクリップ
回路94と、このクリップ回路94がら出力される制御
信号を圧縮または拡張して立上シ特性を可変するログア
ンf9sとをもって構成してもよく、或いは上記各要素
91〜95の1個または複数個を組合せて構成してもよ
い。
た差動増幅器91(ノーバイアス)と、振動などによっ
て差動増幅器9ノから負方向の1d号が出力されたとき
正方向の電圧として出力する絶対値回路92と、下限の
カットオフ周波数を規定するためのバイアス調整部93
と、上限のカットオフ周波数を規定するだめのクリップ
回路94と、このクリップ回路94がら出力される制御
信号を圧縮または拡張して立上シ特性を可変するログア
ンf9sとをもって構成してもよく、或いは上記各要素
91〜95の1個または複数個を組合せて構成してもよ
い。
次に、編5図は同じく重量計量装置に適用した場合の第
2の実施例を示す図である。この実施例は、比較回路9
に代えて増幅部5の出力端に微分回路10f:接続し、
アナログ測定信号の微分値に比例する信号で電圧制御形
フィルタ6を制御するものである。具体的な動作を述べ
ると、測定セル1から出力される重量に比例するアナロ
グ測定信号を増幅器5で増幅した後、その増幅出力を微
分回路JOで微分し、その微分信号の変化塞が大きいと
きには大きな信号電圧の制御信号Sco t−出力し、
フィルタ6のカットオフ周波数を高く設定する。重量に
比例するアナログ測定信号が安定状態となってきたとき
には微分信号の変化率が小さくなシ、小さい信号電圧の
制御信号Sco k出力してフィルタ6のカットオフ周
波数が低くし、ノイズの除去比を大きくするものである
。
2の実施例を示す図である。この実施例は、比較回路9
に代えて増幅部5の出力端に微分回路10f:接続し、
アナログ測定信号の微分値に比例する信号で電圧制御形
フィルタ6を制御するものである。具体的な動作を述べ
ると、測定セル1から出力される重量に比例するアナロ
グ測定信号を増幅器5で増幅した後、その増幅出力を微
分回路JOで微分し、その微分信号の変化塞が大きいと
きには大きな信号電圧の制御信号Sco t−出力し、
フィルタ6のカットオフ周波数を高く設定する。重量に
比例するアナログ測定信号が安定状態となってきたとき
には微分信号の変化率が小さくなシ、小さい信号電圧の
制御信号Sco k出力してフィルタ6のカットオフ周
波数が低くし、ノイズの除去比を大きくするものである
。
なお、微分回路10としては、例えば第6図のように構
成してもよい。即ち、この微分回路10としては、時定
数1r、0T変する微分回路部101、rイン調整手段
を持った増幅器102、絶対値回路103、バイアス調
整部104、り°リッゾ回路105およびログアンプ1
06のうち101.102を除き、他の回路103〜1
06は1個または複数個を組合せて構成するようにして
もよい、このようにすれば、増幅器1θ2の出力が負方
向電圧となったときに絶対値回路103によって阻止さ
れ、またバイアス調整部104とクリラグ回路105に
よって制御信号Scoの下限と上限とが規定され、カッ
トオフ周波数をある範囲で制限して制御することができ
る。
成してもよい。即ち、この微分回路10としては、時定
数1r、0T変する微分回路部101、rイン調整手段
を持った増幅器102、絶対値回路103、バイアス調
整部104、り°リッゾ回路105およびログアンプ1
06のうち101.102を除き、他の回路103〜1
06は1個または複数個を組合せて構成するようにして
もよい、このようにすれば、増幅器1θ2の出力が負方
向電圧となったときに絶対値回路103によって阻止さ
れ、またバイアス調整部104とクリラグ回路105に
よって制御信号Scoの下限と上限とが規定され、カッ
トオフ周波数をある範囲で制限して制御することができ
る。
なお、本発明は上記実施例に限定されることなく種々変
形実施可能である。例えば電圧制御形フィルタ60代り
にスイッチトキャパシタンスフィルタを用い、また比較
回路9または微分回路10の一部に電圧−周波数変換回
路を用い、この回路で変換されたパルス周波数信号を制
御信号Scoとしてフィルタに供給し、ノ臂ルスの周波
数に比例してカットオフ周波数を制御するようにしても
よい。また測定セル1は差動トランスを用いた場合につ
いて例示説明したが、要は物理量をアナログ電気信号に
変換するものであればよく、例えば圧電素子、光電素子
でもよい。
形実施可能である。例えば電圧制御形フィルタ60代り
にスイッチトキャパシタンスフィルタを用い、また比較
回路9または微分回路10の一部に電圧−周波数変換回
路を用い、この回路で変換されたパルス周波数信号を制
御信号Scoとしてフィルタに供給し、ノ臂ルスの周波
数に比例してカットオフ周波数を制御するようにしても
よい。また測定セル1は差動トランスを用いた場合につ
いて例示説明したが、要は物理量をアナログ電気信号に
変換するものであればよく、例えば圧電素子、光電素子
でもよい。
勿論、被測定対象の物理tは重量以外のものでもよく、
ノイズ成分の含まれるアナログ信号であれば何でも適用
できるものである。その他、その要旨全変更しない範囲
で種々変形実施可能である。
ノイズ成分の含まれるアナログ信号であれば何でも適用
できるものである。その他、その要旨全変更しない範囲
で種々変形実施可能である。
以上詳述したように本発明によれば、被測定対象例えば
重量、圧力、流量などのアナログ測定信号に含まれてい
るノイズ成分をフィルタで除去するに際し、電圧制御形
フィルタまたはスイッチトキャノぐシタンスフィルタを
用い、またフィルタの入出力間に比較回路またはフィル
タの入力端に微分回路を接続し、フィルタへの入力信号
の変化が激しいときには大きな電圧または高い・やルス
周波数を制御信号としてフィルタに与えてカットオフ周
波数を高くし、逆に信号変化が少なくなって安定化した
ときに制御信号の小さい電圧またはノ4ルス周波数を下
げてカットオフ周波数が低くなるように制御したので、
ノイズを発生させることなくカットオフ周波数を連続的
に可変制御できる。また、ノイズ成分によって入力信号
の変化が激しいときにはカットオフ周波数を高く設定す
るので、フィルタの出力は変化に速やかに追従して安定
状態になシ、比較的短かい時間で測定することができる
。このことは例えば−8飛の商品の重量を測定するとき
に、測定作業時間を大幅に短縮し、測定能基を高めるこ
とができる。また、安定な状態になったときにはカット
オフ周波数が低くなるように制御するので、ノイズ成分
の除去比を大きくして高精度に測定し得る測定装置を提
供することができる。
重量、圧力、流量などのアナログ測定信号に含まれてい
るノイズ成分をフィルタで除去するに際し、電圧制御形
フィルタまたはスイッチトキャノぐシタンスフィルタを
用い、またフィルタの入出力間に比較回路またはフィル
タの入力端に微分回路を接続し、フィルタへの入力信号
の変化が激しいときには大きな電圧または高い・やルス
周波数を制御信号としてフィルタに与えてカットオフ周
波数を高くし、逆に信号変化が少なくなって安定化した
ときに制御信号の小さい電圧またはノ4ルス周波数を下
げてカットオフ周波数が低くなるように制御したので、
ノイズを発生させることなくカットオフ周波数を連続的
に可変制御できる。また、ノイズ成分によって入力信号
の変化が激しいときにはカットオフ周波数を高く設定す
るので、フィルタの出力は変化に速やかに追従して安定
状態になシ、比較的短かい時間で測定することができる
。このことは例えば−8飛の商品の重量を測定するとき
に、測定作業時間を大幅に短縮し、測定能基を高めるこ
とができる。また、安定な状態になったときにはカット
オフ周波数が低くなるように制御するので、ノイズ成分
の除去比を大きくして高精度に測定し得る測定装置を提
供することができる。
第1図は本発明に係る測定装置の第1の実施例を示すブ
ロック構成図、PK 2図は第1図の比較回路の一具体
例を示す構成図、第3図は槙lの実施例装置の動作を説
明する波形図、第4図は比較回路の曲の例を示す:構成
図、第5図は本発明装置の第2の実施例を示すブロック
構成1閉、第6図は第5図の微分回路の他の例を示す構
成図である。 1・・・測定セル、6・・・電圧制御形フィルタ、7・
・・A−D変換回路、9・・・比較回路、1o・・・微
分回路。
ロック構成図、PK 2図は第1図の比較回路の一具体
例を示す構成図、第3図は槙lの実施例装置の動作を説
明する波形図、第4図は比較回路の曲の例を示す:構成
図、第5図は本発明装置の第2の実施例を示すブロック
構成1閉、第6図は第5図の微分回路の他の例を示す構
成図である。 1・・・測定セル、6・・・電圧制御形フィルタ、7・
・・A−D変換回路、9・・・比較回路、1o・・・微
分回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)被測定物の物理量を測定し、測定値をアナログ測
定信号として取シ出す測定装置であって二前記アナログ
測定信号に含まれるノイズ成分を除去するための外部制
御形フィルタと;該外部制御形フィルタに入力される前
記アナログ測定信号の変化に対応して変化する電圧また
は周波数の制御信号を出力する信号変化検出手段とを備
え、前記制御信号の電圧または周波数を用いて前記外部
制御形フィルタのカットオフ周波数を可変制御すること
により、前記外部制御形フィルタの出力応答速度を可変
することを特徴とする測定装置。 (2)信号変化検出手段は、外部側fIFII形フイル
りの入力端電圧と出力端′電圧の差の電圧に比例した電
圧を制御信号として出力する比較回路であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の測定装置。 該微分回路の出力電圧の変化に比例した電圧に変換し、
該変換した電圧を制御信号として出力する増幅器とを有
するものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の測定装置。 (4) 信号変化検出手段は、外部制御形フィルタの入
力端電圧と出力端電圧の差の電圧を検出する増幅器と、
該増幅器の出力電圧に比例した周波数のノ4ルス信号に
変換し、該パルス信号を制御信号として出力する電圧−
周波数変換回路とで構成されたものであることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の測定装置。 該微分回路の出力電圧に比例1した周波数のノヤルス信
号に変換し、該パルス信号を制御信号として出力する電
圧−周波数変換回路とで構成されたものであることを特
徴とする特許請求の範囲@1項記載の測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22285983A JPS60114723A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22285983A JPS60114723A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60114723A true JPS60114723A (ja) | 1985-06-21 |
JPH0224451B2 JPH0224451B2 (ja) | 1990-05-29 |
Family
ID=16789009
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22285983A Granted JPS60114723A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60114723A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62238423A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-19 | Ishida Scales Mfg Co Ltd | 重量計測装置 |
JPH0555032U (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-23 | 株式会社エー・アンド・デイ | 最適フィルタの自動設定装置 |
JP2010133767A (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-17 | Epson Toyocom Corp | 物理量検出装置 |
JP2015161524A (ja) * | 2014-02-26 | 2015-09-07 | 大和製衡株式会社 | 計量器 |
WO2023032184A1 (ja) * | 2021-09-06 | 2023-03-09 | AlphaTheta株式会社 | 音声信号処理装置、音声信号処理方法およびプログラム |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55154440U (ja) * | 1979-04-23 | 1980-11-07 | ||
JPS57134640U (ja) * | 1981-02-16 | 1982-08-21 |
-
1983
- 1983-11-26 JP JP22285983A patent/JPS60114723A/ja active Granted
Patent Citations (2)
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