JPS6011143A - 吸光度測定装置 - Google Patents
吸光度測定装置Info
- Publication number
- JPS6011143A JPS6011143A JP11816783A JP11816783A JPS6011143A JP S6011143 A JPS6011143 A JP S6011143A JP 11816783 A JP11816783 A JP 11816783A JP 11816783 A JP11816783 A JP 11816783A JP S6011143 A JPS6011143 A JP S6011143A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- absorbance
- container
- light
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/031—Multipass arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、小型化に適し7′ζ吸光度測定装置にilす
る。
る。
従来、患者前から採取した試料(被測定物)の化学呈色
反応を吸プ“0度分祈するに除し、あらかじめ光路長の
分かつている試料容器に試料を入れその試料容器に測定
光を入射、J〃過させ、その透過測定光を、分光光度計
等て、吸光度分析することにより、、試料の吸光度を測
定していた。近年、特に自動□生化学分析装置において
は、貸料の微量化が望壕れる様になり、そのため吸光度
測定全行なう試料容器は小型化する11.Il向にある
。ところが試料容器が小型化するに伴なって、測定光を
吸収する試料の厚みがなくなる。すなわち試料の光路長
が短かくなる。また試料の測定可能な濃度範囲(直線性
のめる範囲)を広げるために試薬と試料との比率を大き
くしなければならなかった。
反応を吸プ“0度分祈するに除し、あらかじめ光路長の
分かつている試料容器に試料を入れその試料容器に測定
光を入射、J〃過させ、その透過測定光を、分光光度計
等て、吸光度分析することにより、、試料の吸光度を測
定していた。近年、特に自動□生化学分析装置において
は、貸料の微量化が望壕れる様になり、そのため吸光度
測定全行なう試料容器は小型化する11.Il向にある
。ところが試料容器が小型化するに伴なって、測定光を
吸収する試料の厚みがなくなる。すなわち試料の光路長
が短かくなる。また試料の測定可能な濃度範囲(直線性
のめる範囲)を広げるために試薬と試料との比率を大き
くしなければならなかった。
このように、試料の光路長が短い為、および試料の濃度
が薄い為に測定光が試料ケ透過する量が枯す。即ち逆に
測定光の試料への吸光度量が小さくなる。
が薄い為に測定光が試料ケ透過する量が枯す。即ち逆に
測定光の試料への吸光度量が小さくなる。
一般に、吸光度測定装置においては、信号量をS、雑廿
量を1寸として、S/Nを信号雑音比またはS/N特性
という。(このS/N比が小さい程、18号を取9出し
てIH報を得ることが困難となる。)このS/N特性と
、吸光度量との関係は第1図にノドすごとくになる。即
ち、吸光度量が、小さい範囲(図中へ領域)ではS /
N特性は極めて悪く、吸光度量がある程度以上の大き
さの範囲(図中B領域)ではS/N付性は良くなる。
量を1寸として、S/Nを信号雑音比またはS/N特性
という。(このS/N比が小さい程、18号を取9出し
てIH報を得ることが困難となる。)このS/N特性と
、吸光度量との関係は第1図にノドすごとくになる。即
ち、吸光度量が、小さい範囲(図中へ領域)ではS /
N特性は極めて悪く、吸光度量がある程度以上の大き
さの範囲(図中B領域)ではS/N付性は良くなる。
この為試料の光路長が短く、試料の歳度が薄い状態では
、吸光度量が小さい範囲とな9、S/N特性の悪い範囲
で、吸光度測定装置を使用していることになる。従って
試料が徹量化しつつある近年では従来の吸光度測定製置
を用いて試料の吸光度を測定するにはS/N特性が悪く
試料の1llll定がイ゛h度良く行なわれないという
欠点があった。
、吸光度量が小さい範囲とな9、S/N特性の悪い範囲
で、吸光度測定装置を使用していることになる。従って
試料が徹量化しつつある近年では従来の吸光度測定製置
を用いて試料の吸光度を測定するにはS/N特性が悪く
試料の1llll定がイ゛h度良く行なわれないという
欠点があった。
本発明は前記事’li¥にハ′tみてなされたもので、
試料容器が小型化しても、試料の光路長が短、11dす
ることのない吸光度測定製置を提供することを目的とす
る。
試料容器が小型化しても、試料の光路長が短、11dす
ることのない吸光度測定製置を提供することを目的とす
る。
r?iJ記目的全目的する為に本発明は、吸光度測定装
置の試料容器の一面を反則面とし、試料の光路長を増加
させ吸光度測定装置のS −N特性を改良することを特
徴とする。
置の試料容器の一面を反則面とし、試料の光路長を増加
させ吸光度測定装置のS −N特性を改良することを特
徴とする。
以下本発明の一実施例を図…1を参照して説明する。第
2図において光源1.集光レンズ2゜ハーフミラ−6、
おJ:び−面を光入射面4.他面f:bE?等からイ+
17成さi′L/こ光反射+7ij 5とした試料y器
6(以下容器という)が、この順に一直線状に配置され
ている。容器6には、被側定用の試料7が収納されてい
る。ハーフミラ−6は光源1と、容器6の入射面4とを
結ぶ直線1.!IIち、測定光の光路に対しほぼ45°
頑がトして配置され”Cおり、光路とほば直角方向に分
光光度計8か配置[されている。
2図において光源1.集光レンズ2゜ハーフミラ−6、
おJ:び−面を光入射面4.他面f:bE?等からイ+
17成さi′L/こ光反射+7ij 5とした試料y器
6(以下容器という)が、この順に一直線状に配置され
ている。容器6には、被側定用の試料7が収納されてい
る。ハーフミラ−6は光源1と、容器6の入射面4とを
結ぶ直線1.!IIち、測定光の光路に対しほぼ45°
頑がトして配置され”Cおり、光路とほば直角方向に分
光光度計8か配置[されている。
以上の如く構成へれた吸光度測定製置の作用について次
に述べる。光源1から発せられた測定光9Ii集う“L
レンズ2で集光されハーフミラ−ろを透過して容器60
人人別IJjから試イ4Z中に入射し、透過して税青が
容器6に添設さjムた反射面5に到達する。反射面5で
反射された測定光は、1与び、試料Z中を透過して入射
面4に至る。入射面4から容器6を出たツタ過611定
光1Uは、ハーフミラ−6で反射され、分光光度計8内
に2与びかり、る。分光光度計8でもって試料7の化学
呈色反応等を吸光度分析する。上述の如く構成された吸
光度1111+定装置においては、容器乙の入射面4と
反射面5との間の距離をlとすると、透過測定光10の
試料7内の光路長は約2・lとして測定することができ
る。
に述べる。光源1から発せられた測定光9Ii集う“L
レンズ2で集光されハーフミラ−ろを透過して容器60
人人別IJjから試イ4Z中に入射し、透過して税青が
容器6に添設さjムた反射面5に到達する。反射面5で
反射された測定光は、1与び、試料Z中を透過して入射
面4に至る。入射面4から容器6を出たツタ過611定
光1Uは、ハーフミラ−6で反射され、分光光度計8内
に2与びかり、る。分光光度計8でもって試料7の化学
呈色反応等を吸光度分析する。上述の如く構成された吸
光度1111+定装置においては、容器乙の入射面4と
反射面5との間の距離をlとすると、透過測定光10の
試料7内の光路長は約2・lとして測定することができ
る。
上述の吸光度測定装置の実施例においては、容器6の反
射面は1ケ所でったが、反射面全2欠所以上設けること
もでさる。νIJち、第6図において、光源1、集光レ
ンズ2、容器6および分光光度計8がこの順にほは一直
線状に配置されている。容器6は、入射面4と2つの反
射面5.5’?i有している。光源1から発せられた測
定光9は、集光レンズ2で集光され、容器6の入射面4
から試料7中に入射し、透過して反則面5に至る。反射
1m5で反射された測定光は再び試オー+17中を透過
(−で、入射面4と同一πilKおる反則面5′に至り
、反射されて容器6から出る。容器6から出た透過i+
11定光10は分光光度計8内Vc4びかれる。上述の
y1]<lf’f成された吸光度測定装♂【においては
、容器6の人別1io 4と反射11i15との距l1
i1をlとすると、透過Jlll定光10の試料7内の
光路長は約6・lとしてdl11定することができる。
射面は1ケ所でったが、反射面全2欠所以上設けること
もでさる。νIJち、第6図において、光源1、集光レ
ンズ2、容器6および分光光度計8がこの順にほは一直
線状に配置されている。容器6は、入射面4と2つの反
射面5.5’?i有している。光源1から発せられた測
定光9は、集光レンズ2で集光され、容器6の入射面4
から試料7中に入射し、透過して反則面5に至る。反射
1m5で反射された測定光は再び試オー+17中を透過
(−で、入射面4と同一πilKおる反則面5′に至り
、反射されて容器6から出る。容器6から出た透過i+
11定光10は分光光度計8内Vc4びかれる。上述の
y1]<lf’f成された吸光度測定装♂【においては
、容器6の人別1io 4と反射11i15との距l1
i1をlとすると、透過Jlll定光10の試料7内の
光路長は約6・lとしてdl11定することができる。
更に本実施例においては、と目1の実施例において必巽
としたノ・−フミラーは必−安としない。
としたノ・−フミラーは必−安としない。
以上述べた如く、本発明によれば、従来の反則面のない
容器に比較して試料中の光路長を2倍以上にすることが
出来、容器が小型化1〜でも光路長は減少せず、S/N
特性を従来通り以上に維持して試料の吸光度を(lif
l定することができる。
容器に比較して試料中の光路長を2倍以上にすることが
出来、容器が小型化1〜でも光路長は減少せず、S/N
特性を従来通り以上に維持して試料の吸光度を(lif
l定することができる。
第1図は吸光度量とS/N特性の関係を示すグラフ、第
2図は本発明の一実施例を示す概略図、第6図は、本発
明の他のりと施例を示す札′を略図である。 1・・・ブ―Iバ 2・・・集光レンズ、ろ・・−)・
−フミラー、4・・・入射面、5・・・反射面、6・・
吸ブr一度σ1り尾用察器、7・・試料、 8・・分光
光度唱。
2図は本発明の一実施例を示す概略図、第6図は、本発
明の他のりと施例を示す札′を略図である。 1・・・ブ―Iバ 2・・・集光レンズ、ろ・・−)・
−フミラー、4・・・入射面、5・・・反射面、6・・
吸ブr一度σ1り尾用察器、7・・試料、 8・・分光
光度唱。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定光を発する光源と、−側に測定光の入射面と他側に
測定光の反則面とを有しかつ被測定物である試料を収納
する試料容器と、この試料容器に測定光を集光せしめる
集ブCレンズと、試料を透過しまた1ll11定光を分
析する分光光度計とから構成され。 る試料の吸光度を測定1−る+p2光度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11816783A JPS6011143A (ja) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | 吸光度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11816783A JPS6011143A (ja) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | 吸光度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6011143A true JPS6011143A (ja) | 1985-01-21 |
Family
ID=14729768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11816783A Pending JPS6011143A (ja) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | 吸光度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6011143A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1598658A3 (en) * | 2004-05-21 | 2007-03-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample analyzer |
-
1983
- 1983-07-01 JP JP11816783A patent/JPS6011143A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1598658A3 (en) * | 2004-05-21 | 2007-03-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample analyzer |
US7342662B2 (en) | 2004-05-21 | 2008-03-11 | Hitachi High-Technologies Corporation | Sample analyzer |
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