JPS60109912A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPS60109912A
JPS60109912A JP58218266A JP21826683A JPS60109912A JP S60109912 A JPS60109912 A JP S60109912A JP 58218266 A JP58218266 A JP 58218266A JP 21826683 A JP21826683 A JP 21826683A JP S60109912 A JPS60109912 A JP S60109912A
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JP
Japan
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transistor
emitter
gnd
current
resistance
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JP58218266A
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Masahiro Watanabe
渡辺 政弘
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Matsushita Electronics Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体集積回路装置(以下ICと記す)に係り
、特にICに内蔵される電流増幅回路が安定に作動する
ように構成されたものに関する。
従来例の構成とその問題点 電流増幅回路は、たとえば差動増幅器等の負荷電流源な
どに用いられている。
第1図は、一般的によく用いられている差動増幅器とそ
の負荷電流を生成する電流増幅回路を示す。、トランジ
スタQ1および同Q2で形成されるξ 差動パ増幅器の負荷電施工0は電流源トランジスタQ3
 によって与えられる。又、トランジスタQ3ノコレク
タ電流工oは、トランジスタQ4− 抵抗R1〜R5お
よび電源電圧VCCによって定められるここでトランジ
スタQ3と同Q4の大きさを同じとすると、トランジス
タQ5のコレクタ電流工。
とトランジスタQ4の動作電流工1との電流比は抵抗R
1とR2との比によって足められる。父、抵抗R1、R
21i1!−)ランジスタQ3と94とのベース・エミ
ッタ間順方向電圧差によりて生じる回路動作点の変動を
補償する。いわゆる、負帰還としての作用を有する。し
かし、第1図示の回路構成は低電源電圧で作動すること
が要求される回路装置に用いることは不向きである。例
数ならば−Uj抗R+ 、 R2の挿入によって一トラ
ンジスタQ1〜Q3が活性領域で作動できるダイナミッ
クレンジが狭くなるからである。
第2図は、このような欠点を排除した回路構成を示す。
第1図との相違は、抵抗R+ r R2を用いずに、ト
ランジスタQ5. Q4のそれぞれのエミッタを共に接
地(GND)したことである。このような回路構成にす
るならば一比較的低い電源電圧の使用に好適である。し
かし他方では、トランジスタQ6と同Q4との各ベース
・エミッタ間電圧に差が生じると−トランジスタQ5の
コレクタ電流工oとトランジスタQ4の動作電流工1と
の電流比が精度よく得られなくなる。しかし1回路装置
によっては、然程電流比を要せずにその回路動作が正常
に作動する電流値だけ確保できればそれで充分である場
合が少なくない。
第3図はこのような回路機能をも9だIGの一例を示す
。ここで第2図と同じ機能を有するものは同一番号を付
与した。このICの中にはトランジスタQ1〜Qa 、
抵抗R3〜R10およびコンデンサCによって構成され
る発振回路装置とは別に同一電源端子1に結合された。
たとえば回路装置2とその負荷電流をtih出す電流源
l・ランジスタQ9 等とが複数個構成されることが多
い。したがって−電流源を生成する基準となるトランジ
スタQ4 の近くにトランジスタQ6を設けることが。
パターンレイアウトの都合上杵されない場合が生じ、こ
れら両省のトランジスタは比較的離れて配置されること
が十分に生じうる。
第4図は一第3図の回路部3に含まれるトランジスタQ
3. Q4. Q9および抵抗R3をIC化したときの
パターンレイアウトの一1plJ図を示す。なお−作図
上トランジスタQ4の近くにトランジスタQ3. Q9
を配置したものを例示したが、既に説明したように、実
際のパターンでVi−これらトランジスタは互いに離れ
て配置されうろことを理解されたい。図中C、B 、E
の文字で示した個所はトランジスタのそれぞれコレクタ
、ベース、エミッタを表示する。そしてこれらのトラン
ジスタ相r7問および抵抗R5との結線は−たとえばア
ルミニウム(A/)−線INによって行乞われる。しか
しこのA7J配緋INにはその膜厚に応じた配線抵抗値
が存在し、たとえばその膜厚が1伝)の場合には約27
 (mrllo )の層抵抗を有し、配線抵抗値はその
長さに比例することに留意しなければならない。
第5図は、第4図示のパターンレイアウト図でA71配
線抵抗を含めた等価回路図を示す。第5図より明らかな
ように、トランジスタQ3.Q9のエミッタとGND間
にはそれぞれAA配線INによる配線抵抗R30,R9
0が介在される。しかしトランジスタQ4のエミッタか
らGNDまでの配線抵抗値はきわめて微少でありほぼ零
とみなした。このような回路′構成下においては、配線
抵抗Mso 。
R90が介在されたために、トランジスタQ5.Q9の
それぞれのコレクタ電流No、I2が流れなくなって延
いては電流IO,I2を電流源とする回路装置が作動で
きなくなるという不都合が生じた。そしてこのような問
題点は、配線抵抗R30,R90が大きくなる根に顕著
に表われる。又、常温では正常に作動していても、温度
変化で正常外勤作が得られないということも生じた。
発明の目的 本発明は上記の不都合を排除した半導体集積回路装置を
提供するものである。
発明の構成 本発明は上記の目的を達成するために、少なくとも1つ
の半導体接合を有しダイオード動作を行う半導体素子と
、前記半導体素子にそのベース・エミッタ接合が並列に
しかも順方向に接続されかつそのコVクタ側より出力電
流が取り出される少々くとも1個のトランジスタとを含
み、さらに前記半導体素子のカソード若しくはアノード
側は第1の配線を介して共通接続線に、さらに前記トラ
ンジスタのエミッタは第2の配線を介して前記共通接続
線に結合された半導体集積回路装置であって、加えて前
記第1の配線によりもたらされる抵抗値は前記第2の配
線が有するそれよシも大きくなるように選ばれることに
よって、前記トランジスフのコレクタ側の出力電流は安
定に取り出されるものとなる。
実施例の説明 第6図は本発明にかかる実施例ICのパターンレイアウ
ト図を示す。第4図に示した従来I(iのレイアウトと
の相違は−トランジスタQ3のエミッタ側にGNDを隣
接して設けてこれらの間の配線抵抗を無視できる程度に
配置しかつ、トランジスタQ4と(、ND間に配線抵抗
R40が介在されるように意図的に配置したものである
。しかし、トランジスタQ3のエミッタから(1,ND
間の配線抵抗が無視できない場合でも、前記配線抵抗R
4Qに比して小さければ本発明の目的は十分に達成でき
る。又−トランジスタQ9が安定して作動するためには
、そのエミッタとGND間に介在される配線抵抗R90
はできうる限り小さいことが好ましい。
第7図は第6図示のパターンレイアウトによってもたら
される等価回路図を示す。第7図に示すように、トラン
ジスタQ3とGND間の配線抵抗4バ無視できるためほ
ぼ零とみなしたが、トランジスタQ4 、 Q9のエミ
ッタとGNDとの間にはそれぞれ配線抵抗R40,R9
0が介在されるものとなる。
このような回路構成であるならば、トランジスタQ3 
のベース・エミッタ間には、トランジスタQ4のそれよ
りも、トランジスタQ4に流れる電流X1と配線抵抗R
40との積、即ち11xR40の電圧外がトランジスタ
Q4に比して余分に印加されるので、1イランジスタQ
3H順方向に深くバイアスされる。この結果トランジス
タQ3のコレクタ電流Io It’1安テして得られる
ものとなる。
又、トランジスタQ9はトランジスタQ3程でもないが
、そのエミッタとGND間の配線抵抗R9oが配線抵抗
R40よりも小さくなるようにすれば、トランジスタQ
9のコレクタ電流工2も安定して得られる。
なお一本発明にかかる一実施例の説明はNPNトランジ
スタを例示したが−PNP)ランジスタで構成される電
流増幅回路にも適用できる。
発明の詳細 な説明したように本発明のICは一電流比を然程正確に
要求されない電流増幅回路をIC−化するに際し−その
回路要素となるトランジス、ダイオードおよび抵抗の配
置着しくにこれらの間の配線を工夫するだけで出力電流
を安定して取シ出すことができるのでその利用価値は大
きい。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2−は従来よく用いられていた差動増幅
器とその電流源を作シ出すだめの電流増幅回路との組合
せ回路装置の要部回路図、第3図は第2図の回路装置を
用いたICの一実施例回路図、第4図は第3図中の回路
部3をIC化したときのパターンレイアウト図、第5図
は第4−の等価回路図−第6図は本発明にかかるICの
一実施例レイアウド図、第7図は第6図の等価回路図。 をそれぞれ示す。 1・・・・・・電源端子、2・・・・・・回路装置、3
・・・・・回路部+ Q+ 、 Q2 ・・・・・・差
動増幅器用トランジスターQ5 、 Q4 、 Q9 
・・・・・電流源トランジスターR30゜)t4o 、
Lo ・・・・・・配線抵抗−IN・・・・・・A4配
線。 GND・−・・・・接地。 第1図 第2図 第4図 −ゝCrND

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 少なくとも1つの半導体接合を有しダイオード動作を行
    う半導体素子と、前記半導体素子にそのベース・エミッ
    タ接合が並列にしかも順方向に接続されかつそのコレク
    タ側より出力電流が取り出される少なくとも1個のトラ
    ンジスタとを含み。 さらに前記半導体素子のカソード若しくはアノード側は
    第1の配線を介して共通接続線に、前記トランジスタの
    エミッタは第2の配線を介して前記共通接続線にそれぞ
    ル結合された半導体集積回路装置において、前記第1の
    配線の抵抗値に前記第2の配線の抵抗値よシも大きくな
    るように設定したことを特徴とする半導体集積回路装置
JP58218266A 1983-11-18 1983-11-18 半導体集積回路装置 Expired - Lifetime JPH0697724B2 (ja)

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JP58218266A JPH0697724B2 (ja) 1983-11-18 1983-11-18 半導体集積回路装置

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JPS60109912A true JPS60109912A (ja) 1985-06-15
JPH0697724B2 JPH0697724B2 (ja) 1994-11-30

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ID=16717174

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4825459A (ja) * 1971-08-02 1973-04-03

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS4825459A (ja) * 1971-08-02 1973-04-03

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