JPS60108731A - 自動分析装置の測定値補正方法 - Google Patents
自動分析装置の測定値補正方法Info
- Publication number
- JPS60108731A JPS60108731A JP21733783A JP21733783A JPS60108731A JP S60108731 A JPS60108731 A JP S60108731A JP 21733783 A JP21733783 A JP 21733783A JP 21733783 A JP21733783 A JP 21733783A JP S60108731 A JPS60108731 A JP S60108731A
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- Japan
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- light
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- measured
- microplate
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技 術 分 野
本発明は、マイクロプレートに形成された複数の反応容
器に収容された被検体を光学的に測定する自動分析装置
において測定値を補正する方法Ｇこ関するものである。
器に収容された被検体を光学的に測定する自動分析装置
において測定値を補正する方法Ｇこ関するものである。
マイクロプレートを用いる自動分析装置ａの一例におい
て、マイクロプレート上Ｇこ例えばマトリックス状に配
置された多数の反応容器の各々に被検体を収容し、この
被検体を一対の発光素子および受光素子よりなる光電装
置によって走査して、光の透過率等によって表わされる
Ａ（６定値をめるものがある。このような分析装置にお
いては、検体測定中の元源用屯源の変動、光源用ランプ
の劣化の影響により、正確な測定１直をめることは篩し
かった。
て、マイクロプレート上Ｇこ例えばマトリックス状に配
置された多数の反応容器の各々に被検体を収容し、この
被検体を一対の発光素子および受光素子よりなる光電装
置によって走査して、光の透過率等によって表わされる
Ａ（６定値をめるものがある。このような分析装置にお
いては、検体測定中の元源用屯源の変動、光源用ランプ
の劣化の影響により、正確な測定１直をめることは篩し
かった。
従来、上述した欠点を除去するため、例えばシャッタ等
を用いて光路を遮断した場合と開放した場合の光量を測
定し、これらの光量に基づいて規準化して被検体を測定
する方法や、標準試料を一定周期で導入して測定値の零
点変動を校正調整装置により繰り返し補正しながら連続
的に分析測定する方法等が提案されている。しかしなが
ら、前者の場合は、機械的要素が多く機械的摩耗等によ
り電気的要素のみによる溝成と比較して寿命が短く、更
には測定回数の増加による時間的ロスが生じる等の欠点
があった。また、後者の場合は、標準試料が必要であり
、かつ標準試料を一定周期で導入するため測定時間がか
かったり、校正調整装置ａおよび校１Ｆ調整装置のレン
ジを調整するレンジ調整装置が別に必要となり、コスト
が高くなり、装置全体が大型化する等の欠点があった。
を用いて光路を遮断した場合と開放した場合の光量を測
定し、これらの光量に基づいて規準化して被検体を測定
する方法や、標準試料を一定周期で導入して測定値の零
点変動を校正調整装置により繰り返し補正しながら連続
的に分析測定する方法等が提案されている。しかしなが
ら、前者の場合は、機械的要素が多く機械的摩耗等によ
り電気的要素のみによる溝成と比較して寿命が短く、更
には測定回数の増加による時間的ロスが生じる等の欠点
があった。また、後者の場合は、標準試料が必要であり
、かつ標準試料を一定周期で導入するため測定時間がか
かったり、校正調整装置ａおよび校１Ｆ調整装置のレン
ジを調整するレンジ調整装置が別に必要となり、コスト
が高くなり、装置全体が大型化する等の欠点があった。
発明の目的
本発明の目的は、検体測定中に光電装置の発光素子の劣
化、発光素子用電源ＩＥＦＥの変動等の影響により生ず
る測定値の変動を簡単な構成により除去でき、かつ測光
レンジを広くとることができる測定値の補正方法を提供
しようとするものである。
化、発光素子用電源ＩＥＦＥの変動等の影響により生ず
る測定値の変動を簡単な構成により除去でき、かつ測光
レンジを広くとることができる測定値の補正方法を提供
しようとするものである。
発明の概要
本発明の測定値の補正方法は、マイクロプレートに形成
された複数の反応容器中に収容された被検体の測定値を
、これら反応容器を順次光電的に走査してめるに当り、
マイクロプレート上の反応容器以外の部分の測定値をめ
、この測定値より補正係数を算出し、その補正係数に基
づき被検体の測定値を補正することを特徴とするもので
ある０ 実 強 例 第１図は１本発明の測定値の補正方法の一実施例を説明
するための分析装置の構成を示す線図である。第１図に
おいて、光源用電源】に接続した発光素子ａから放射さ
れる光を、マイクロプレート４を透過させた後受光素子
８によって受光する。
された複数の反応容器中に収容された被検体の測定値を
、これら反応容器を順次光電的に走査してめるに当り、
マイクロプレート上の反応容器以外の部分の測定値をめ
、この測定値より補正係数を算出し、その補正係数に基
づき被検体の測定値を補正することを特徴とするもので
ある０ 実 強 例 第１図は１本発明の測定値の補正方法の一実施例を説明
するための分析装置の構成を示す線図である。第１図に
おいて、光源用電源】に接続した発光素子ａから放射さ
れる光を、マイクロプレート４を透過させた後受光素子
８によって受光する。
マイクロプレート４を固定して発光素子２および受光素
子３を同軸上に保ったまま矢印方向に移動するか、ある
いは発光素子２および受光素子３を固定シテマイクロプ
レート４・を矢印と反対方向に移動することによって、
マイクロプレート山中にマトリックス状に設けられた反
応容器５内の被検体の走査を行なう。受光素子３の出力
は増幅器７で増幅され、Ａ／Ｄ変換器８を介して０ＰＵ
Ｑ内のＲＡＭに一時的に記憶される。上述した走査にお
ける測光は、マイクロプレート４と発光素子２および受
光素子８よりなる光■装置の相対的な移動中、光重装置
の光軸が反応容器５内の被検体を通るごとに行なわれる
が、本発明においては、反応容器５間の部分６において
もその部分６を光軸が通るごとに測光を行ない測定値を
めている。ここで、反応容器５での測定値をＢ１反応答
器間の部分６での測定値をＡ１規定出力すなわち透過率
１００％調整を行なう時の基準値をＣ１補市係数をに１
補正後の反応容器５での測定値をＤとすると、次式が導
かれる。
子３を同軸上に保ったまま矢印方向に移動するか、ある
いは発光素子２および受光素子３を固定シテマイクロプ
レート４・を矢印と反対方向に移動することによって、
マイクロプレート山中にマトリックス状に設けられた反
応容器５内の被検体の走査を行なう。受光素子３の出力
は増幅器７で増幅され、Ａ／Ｄ変換器８を介して０ＰＵ
Ｑ内のＲＡＭに一時的に記憶される。上述した走査にお
ける測光は、マイクロプレート４と発光素子２および受
光素子８よりなる光■装置の相対的な移動中、光重装置
の光軸が反応容器５内の被検体を通るごとに行なわれる
が、本発明においては、反応容器５間の部分６において
もその部分６を光軸が通るごとに測光を行ない測定値を
めている。ここで、反応容器５での測定値をＢ１反応答
器間の部分６での測定値をＡ１規定出力すなわち透過率
１００％調整を行なう時の基準値をＣ１補市係数をに１
補正後の反応容器５での測定値をＤとすると、次式が導
かれる。
Ｄ−に−Ｂ
上式において、反応容器間の部分６での測定値Ａが発光
素子２の変動等の影響で基準値Ｏの８０％に低下した場
合を考えると、補正後の測定値りは測定値Ｂ′ｆ、４０
とすると以下のようにめることができる。
素子２の変動等の影響で基準値Ｏの８０％に低下した場
合を考えると、補正後の測定値りは測定値Ｂ′ｆ、４０
とすると以下のようにめることができる。
Ｄ −１，２５Ｘ ４０− ５０
上述した実施例において、ＪＪ Ｉ（Ｃｉ値Ｃは第１図
に示すように一列の走査ごとにその最初にめてＣＰＵ９
内のＲＡＭに記憶して使用することもできるし、装置の
電源を入れて実際の測定を始める１１１１にめて０ＰＵ
９内のＲＡＭに記憶して、その後のすべての測定に使用
することもできる。また、上述した計゛□算はＣＰＵ
Ｒ内に予じめ記憶されたプログラムによって実行される
。
に示すように一列の走査ごとにその最初にめてＣＰＵ９
内のＲＡＭに記憶して使用することもできるし、装置の
電源を入れて実際の測定を始める１１１１にめて０ＰＵ
９内のＲＡＭに記憶して、その後のすべての測定に使用
することもできる。また、上述した計゛□算はＣＰＵ
Ｒ内に予じめ記憶されたプログラムによって実行される
。
第２図は本発明の他の実施例を説明するための分析装置
の構成を示す線図である。第２図において、第１図の構
成と同じ部分には同一番号を附し、その説明を省略する
。マイクロプレートへの一列が４個の反応容器によりＲ
７成されていると仮定すると、本実施例においては第２
図にその測光部分を示すように、−列の走査で基準４＆
Ｏｓ測定値Ｂ０〜Ｂ およびＡ０〜Ａ４をめてＣ１Ｐ
ＵＱ内のＲＡＭ ４二記ｔｑする。記憶された値を基に
して、まず反応容で、上述した実（ｉＩｕ例と同様に補
正係数におよび袖＋Ｅ後の測定値Ｄ１を以下の式よりめ
る。
の構成を示す線図である。第２図において、第１図の構
成と同じ部分には同一番号を附し、その説明を省略する
。マイクロプレートへの一列が４個の反応容器によりＲ
７成されていると仮定すると、本実施例においては第２
図にその測光部分を示すように、−列の走査で基準４＆
Ｏｓ測定値Ｂ０〜Ｂ およびＡ０〜Ａ４をめてＣ１Ｐ
ＵＱ内のＲＡＭ ４二記ｔｑする。記憶された値を基に
して、まず反応容で、上述した実（ｉＩｕ例と同様に補
正係数におよび袖＋Ｅ後の測定値Ｄ１を以下の式よりめ
る。
−−
Ｄｌ −ｋ−Ｂｉ
本実施例の方法では、特に発光素子の劣化特性がリニア
な場合に有好である。
な場合に有好である。
上述したようにδｔｗはすべてプログラムに従って０Ｐ
ＵＱ内で行なわれるため、受光素子３の出力が入射光ｊ
ｉｌ＆こ対しＩＪ ニアである範囲が変化してもプログ
ラムにより容易にその範囲を変更することができるし、
光学測定レンジをより広くとることもできる。さらに、
入射光量に対して異なったリニアリティーを示す受光素
子どうしの交換にも、プログラムするデータの変更によ
り容易に対処することができる。
ＵＱ内で行なわれるため、受光素子３の出力が入射光ｊ
ｉｌ＆こ対しＩＪ ニアである範囲が変化してもプログ
ラムにより容易にその範囲を変更することができるし、
光学測定レンジをより広くとることもできる。さらに、
入射光量に対して異なったリニアリティーを示す受光素
子どうしの交換にも、プログラムするデータの変更によ
り容易に対処することができる。
また、本発明は上述した実施例＆：限定されるものでは
なく、幾多の変杉、変更が可能である。例えば、本実施
例では反応容器の間の部分の透過光量を１つまたは４つ
全部を平均して利用し反応容器中の被検体を補正したが
１各反応容器の両側の２つの部分の透過光量に基づいて
当該反応容器に対する測定値を補正することもできる。
なく、幾多の変杉、変更が可能である。例えば、本実施
例では反応容器の間の部分の透過光量を１つまたは４つ
全部を平均して利用し反応容器中の被検体を補正したが
１各反応容器の両側の２つの部分の透過光量に基づいて
当該反応容器に対する測定値を補正することもできる。
また、上述した例では光源と受光素子とを同期して移動
させタカ、マイクロプレートの全面を均一に照明する光
源を用いる場合には受光素子だけを移動させればよい。
させタカ、マイクロプレートの全面を均一に照明する光
源を用いる場合には受光素子だけを移動させればよい。
発明の効果
本発明によれば、マイクロプレートを用いる自動分析装
置において、被検体の測定中に発光素子の劣化もしくは
発光素子用＊ ｄ（Ａ ｌｉ圧の変動により生ずる測定
値の変動を有効に補正でき、さらに測光レンジを広くと
ることが可能となる。また、校正調整装置および校正調
整装置ａ用レンジ調整装置を必要としないため、簡単な
構成で容易に補正を行なうことが可能となり、特にオペ
レータは補ｒ１：。
置において、被検体の測定中に発光素子の劣化もしくは
発光素子用＊ ｄ（Ａ ｌｉ圧の変動により生ずる測定
値の変動を有効に補正でき、さらに測光レンジを広くと
ることが可能となる。また、校正調整装置および校正調
整装置ａ用レンジ調整装置を必要としないため、簡単な
構成で容易に補正を行なうことが可能となり、特にオペ
レータは補ｒ１：。
のための特別な作業をする必要はなくなる。
第１図は本発明の１則定値補正方法の一実施例を説明す
るための分析装置ｎの構成を示す線同、第２図は本発明
の測定値補正方法の他の例を説明するための分析装置ａ
の構成を示す線図である。
るための分析装置ｎの構成を示す線同、第２図は本発明
の測定値補正方法の他の例を説明するための分析装置ａ
の構成を示す線図である。
Claims (1)
- １ マイクロプレートに形成された複数の反応容器中に
収容さｎた被検体の測定値を・これら反応容器を順次光
Ｈ１的に走査してめるに当り、マイクロプレート上の反
応容器以外の部分の測定値をめ、この測定値より補正係
数を算出し、その補正係数に基づき被検体の測定値を補
正することを特徴とする自動分析装置の測定値補正方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21733783A JPS60108731A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | 自動分析装置の測定値補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21733783A JPS60108731A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | 自動分析装置の測定値補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60108731A true JPS60108731A (ja) | 1985-06-14 |
Family
ID=16702592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21733783A Pending JPS60108731A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | 自動分析装置の測定値補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60108731A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5345395A (en) * | 1991-10-31 | 1994-09-06 | Baxter Diagnostics Inc. | Specimen processing and analyzing systems and methods using photometry |
| EP0950892A2 (en) * | 1998-04-17 | 1999-10-20 | Labsystems Oy | Device for measuring optical density |
-
1983
- 1983-11-18 JP JP21733783A patent/JPS60108731A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5345395A (en) * | 1991-10-31 | 1994-09-06 | Baxter Diagnostics Inc. | Specimen processing and analyzing systems and methods using photometry |
| EP0950892A2 (en) * | 1998-04-17 | 1999-10-20 | Labsystems Oy | Device for measuring optical density |
| JPH11337479A (ja) * | 1998-04-17 | 1999-12-10 | Labsystems Oy | 光学濃度の測定装置 |
| EP0950892A3 (en) * | 1998-04-17 | 2000-03-15 | Labsystems Oy | Device for measuring optical density |
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