JPS599944A - 樹脂封止型半導体装置のマ−キング方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置のマ−キング方法

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JPS599944A
JPS599944A JP57118475A JP11847582A JPS599944A JP S599944 A JPS599944 A JP S599944A JP 57118475 A JP57118475 A JP 57118475A JP 11847582 A JP11847582 A JP 11847582A JP S599944 A JPS599944 A JP S599944A
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JP
Japan
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resin
characters
ink
semiconductor device
printing
Prior art date
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Pending
Application number
JP57118475A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Shimizu
弘明 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L23/544Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は樹脂封止型半導体装置に対する文字及び図形
等のマーキング方法に関するものである。
〔発明の技術的背景〕
半導体素子′fr:ItI候性合成樹脂の中に密封した
樹脂制止型半導体装置は性能テスト完了後、その樹脂パ
ッケージの表面に製造番号、型式、製造者商標性ヲ付し
て力・ら出荷段階に供される。製造番号等のマーキング
方法と(7て、インク等による印刷法、刻印法、等があ
るが、従来はインク等による印刷法すなわち捺印法が主
として用いられてきた。
これは、字体や図形、型式や製造番号の改変などを必要
とする場合やミスプリント等の修正を要する場合に刻印
法よりも対処しやすい上、刻印法よりも鮮明な表示がで
きるからである。
しかしながら、樹脂封止型半導体装置に於ては以下の如
き問題点があるため、印刷法の長所(すなわち、印刷文
字等に対する改変及び修正が比較的容易であること、及
び印刷文字等の鮮明度などっが生かされず、逆にその短
所(付着力の弱さ〕が増幅される結果となっている、従
って、最近では印刷法に代えて、焼付法などの他方法も
採用されつつあるが、このような代替方法も以下の如き
欠点があって必ずしも満足すべき表示方法とは直えない
〔背景技術の問題点〕
一般に樹脂封止型半導体装置の表面には樹脂パッケージ
成形工程に於て予め成形金型に塗布しである離型剤が付
着するが、印刷法によって文字等を樹脂パッケージ表面
に印刷した時に該文字等のit着力及び耐久力を著しく
減殺させる原因セなっている。そこで従来は、樹脂パッ
ケージ成形後に樹脂バッケ〜ジ表面を有機溶剤で洗浄し
たり、あで るいは回転プラン樹脂パッケージの表面全機械的△ に研摩した後に文字及び図形などの印刷を行っているが
、このような前処理を行っても離型剤を完全に除去する
ことができず、たとえば捺印強度を調べるために捺印文
字を有機溶剤でこすったり、あるいはセロテープを捺印
文字上に帖りつけた後に急速に引き剥がしたりする、等
のテストを行ってみると満足な結果を得られないことが
多かった。
それ故、最近では印刷法に代り、レーザ光線で文字や図
形を樹脂パッケージ表面に焼き付けるレーザ焼付法が採
用されるようになってきたが、しも −ザ焼付法は一種の刻印法虱あるため、文字や図形と背
景とのコントラストが悪く、鮮明度が低いという欠点が
あり、また、刻印深さは真の刻印法によるよりも大変浅
いため、たとえば手指等でマ様に一旦、文字等を樹脂パ
ッケージ表面に々−キングした後は、それ全改変するこ
とができないという欠点もあった。
〔発明の目的〕
この発明は1、刻印法やレーザ焼付法の根本的欠点に注
目するとともに印刷法の長所を再認識することによって
なされたものであり、この発明の目的は、樹脂封止型半
導体装置の外面に文字や図形等を鮮明でかつ容易に剥離
しないように印刷できるとともに容易に消去し、改変で
きるマーキング方法を提供することである。
〔発明の概要〕
この発明は、樹脂封止型半導体装置の樹脂表面にレーザ
光を照射することにより該樹脂表面の付着離型剤を焼失
せしめた後、該樹脂表面に印刷インク等によって文字や
図面等を印刷することを特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下に図面を参照して本発明方法の一実施例について説
明する。
添付図面は本発明の方法を実施するための設備cつ一例
を示したものである。図に於て1はレーザ\ 光照射装置、2は印刷用転写ローラ、6はインク硬化装
置であり、樹脂封止型半導体装置4は搬送路5上を前記
各装置1〜乙による作用を受けつつ図の左(fill 
7)・ら右側へ向かって搬送される。
レーザ光照射装置1は制御装置IA’に有するとともに
集光レンズ1B絞り10等を備えている。
\ この実施例では、レーザとして出力5ジユールの炭酸ガ
スレーザを使用し、その発光時間を01〜20μ秒の範
囲で変化[7うるように制御装置1Aで制御することが
できる。
印刷用転写ローラ2によって樹脂封止型半導体装置4の
表面に印刷するインクは紫外線硬化型のもの全使用した
のでと、f′Lに対応してインク硬化装置6内には紫外
線ランプ6八を設置してあり、また紫外線ランプ6Aの
照射時間を制御するためにインク硬化装置6に紫外線ラ
ンプ3Ak制御するための制御装置6Bを設けである。
前記の如き設備に於て、樹脂封止型半導体装置4にまず
炭酸ガスレーザを2μ秒照射した後、転写ローラ2によ
って文字、図形等を印刷し、更にインク硬化装置6内に
於て紫外線ランプ6Aから紫外線全15秒間照射するこ
とによりインクを硬化させた。
以上の如き操作によって樹脂封止型半導体装置40表面
にマーキングを行った後、マーキング面の清浄度及び文
字、図形等の付着性について調査したところ、レーザ光
照射によって該半導体装置の表面の付着離型剤は完全に
焼失しており、また文字及び図形等の付着力は非常にす
ぐれていることがわかった。
〔発明の効果〕
以下に(a)読み取り鮮明度、(b)振動機による摺動
強度、(C)指こすり後の鮮明度、(d)耐溶剤性等の
試験結果ケ示す。
第  1  表 A:レーザ照射をしない従来のインク印刷法によるもの
B:レーザ焼付法によるもの。
C:本発明の方法によるもの。
◎:「供試体全数が合格であり、極めて良好な状態であ
る」 ○:「供試体のほぼ全数が合格であり、良好な状態であ
る」 △:「不良品が無視できぬ割合で出現し、全体的にやや
好しくない状態である」 ×:「不良品が多く好ましくない状態である」 また、耐溶剤性テストに於て使用した溶剤は、(1)が
ぶつ化物溶剤(ダイフロン)であり、(2)、dE j
 ’Jジクロルチレン(トリクレン)である。耐溶剤性
テストは供試体を溶剤中[10分間浸漬した後、プラン
で供試体のマーキング面ヲ10回こすることにより実施
した。
また摺動強度試験は振動機(ンントロン〕内で1時間、
振動1〜て互に摺擦させて行った。
以上の結果から、本発明の方法によれば、鮮明で力・つ
、付着力及び耐久性にすぐれたマーキングが可能となっ
た。
従って、本発明によれば、鮮明でかつ、付着力が強く、
また修正及び改変の可能な文字及び図形を実現できるマ
ーキング方法が提供される。
なお、本発明の方法によって一旦、捺印した文字及び図
形等を消去するKはマーキング時と同じくレーザ光を照
射して該文字及び図形を消失させればよい。このような
文字等の消去の際[はレーザ光の照射時間を変えるのみ
で行うことができる。
′また、消去した面には再びマーキングすることができ
るので、本発明によれば、従来のマーキング法の欠点及
び問題点がすべて除去できる。
なお、前記実施例が本発明方法を限定してしまうもので
ないことは明らかである。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明方法を実施するための設備の一例を示
す概略図である。 1・・・レーザ光照射装置、2・・・印刷用転写ローラ
、6・・インク硬化装置、4・・・半導体装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 樹脂封止型半導体装置の樹脂表面にレーザ光を照射
    することにより該樹脂表面の付着離型剤を焼失させた後
    、該樹脂表面にインクを用いて文字図形を印刷すること
    を特徴とする、樹脂封止型半導体装置のマーキング方法
JP57118475A 1982-07-09 1982-07-09 樹脂封止型半導体装置のマ−キング方法 Pending JPS599944A (ja)

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JP57118475A JPS599944A (ja) 1982-07-09 1982-07-09 樹脂封止型半導体装置のマ−キング方法

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JPS599944A true JPS599944A (ja) 1984-01-19

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JP57118475A Pending JPS599944A (ja) 1982-07-09 1982-07-09 樹脂封止型半導体装置のマ−キング方法

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6178143A (ja) * 1984-09-25 1986-04-21 Sanyo Electric Co Ltd モ−ルド型半導体装置の印刷方法
JPS63237446A (ja) * 1987-03-25 1988-10-03 Toshiba Corp 半導体パツケ−ジの製造方法
JPH04344244A (ja) * 1991-05-21 1992-11-30 Hyogo Nippon Denki Kk 捺印装置
JP2014062628A (ja) * 2012-09-24 2014-04-10 Disco Abrasive Syst Ltd チューブ

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