JPS5995445A - 内壁付着物の測定装置 - Google Patents

内壁付着物の測定装置

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JPS5995445A
JPS5995445A JP57204464A JP20446482A JPS5995445A JP S5995445 A JPS5995445 A JP S5995445A JP 57204464 A JP57204464 A JP 57204464A JP 20446482 A JP20446482 A JP 20446482A JP S5995445 A JPS5995445 A JP S5995445A
Authority
JP
Japan
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radiation
recording
deposit
voltage
converts
Prior art date
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Pending
Application number
JP57204464A
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English (en)
Inventor
Kenichi Shimizu
健一 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Idemitsu Petrochemical Co Ltd filed Critical Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority to JP57204464A priority Critical patent/JPS5995445A/ja
Publication of JPS5995445A publication Critical patent/JPS5995445A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は内壁付着物の測定装置に関する。さらに詳しく
i各種流体配管や塔槽類の内壁に付着するスケール等の
付着物の状態を放射+viIt−利用して測定する装置
、シに関する。
一般に配管や塔槽類(以下配管という)の内壁に付着す
るスケール等は、流体の流速、流量に変動を来たしたり
、伝熱の支障ともなり、また配管の腐食の原因ともなる
ので、これを除去する必要がある。この除去を確実に行
うためには、スケール等の付着物の状態を正確に検知測
定しなければならない。従来付着物の検知測定方法の一
例としては放射線照射法が知られており、この放射線照
射法は放射性同位元素t−線録として、被検体に放射線
を照射し、照射した放射線の透過量をフィルムに画像と
して写し出し、そのフィルム画像に基づいて付着物の存
在を検知測定するものであった。
即ち従来の放射線照射法は第1図に示す如く、線源Aか
らr線を発射し、配管Bとスケールの如き付着物Cとを
透過した放射線をフィルム11に直接撮影するものであ
り、フィルム11上の映像は第2図に示す如く白黒院度
差で現われるものであった。このため白黒濃度差による
画像からスケールの状況を測定しなければならないので
、堆積スケ−ルのケースでは、スケールの厚さ及び形状
を正確に測定することは、相当の熟練者でなければ行う
ことができず、通常の場合はその測定か困難であった。
仮に熟鯨者による測定であっても、配管B内面に付着物
Cが一様に付着しているようなケースでは、フィルム上
に白黒濃度差が現われず測定は内盛なものとなる。さら
にフィルム上の白黒濃度差だけからでは、配管内の異物
が水かスケールであるかは判定することは困難であり、
スクール性状の測定は不可能に近いものであった。
このように上記従来方法では、付着物の存在は検知でき
ても、その性状、形状、厚さ等は正確に測定しえないと
いう不都合があった。
また上記従来方法では、保温保冷材を施した配管の場合
は照射時間が長くなることおよびフィルムii!ii像
が不鮮明となるため、これを依シ外して放射線を照射し
なければならず、測定作業が煩雑になる等の不都合もあ
った。
即ち、上記方法ではフィルム上の画像の白黒濃度差で付
着物の測定をする為、フィルムは必要時間だけ放射線に
よシ露光しなければならない。このため配管の周囲に保
温保冷材を旅したまま被検体の撮影をすると、保温保冷
材の部分だけ線源とフィルム間の距離が焚くなシ、照射
時間はその距離の増大和対して2乗的忙増加することと
なる。
従って、小口径管の場合は例外として、通常は保温保冷
材を取り外してから撮影することとなる。
さらに保温保冷材を取シ外す第2の理由は、線源とフィ
ルム間の距離が長くなると、散乱線等の影響を受け、画
像の鮮明度が低下し、かつ保温保冷材が映像中に含まれ
て、付着物と配管との境界線の判定が固相となることで
あった。
本発明は、被検体を透過する放射線を電気的信号により
記録部に伝え、これを波形図形等で表示することにより
、上述の全ての不都合を解消した内壁付着物の測定装置
を提供することを目的とする。
つぎに本発明の実施例を図面について説明すると、第3
図は本発明のブロック図で、符号Aは放射線を発する線
源であって具体的にはセシウム−137(Os 137
 )またはコバルト−66(Co60)などからなり、
Bは各種流体の配管であり、配?7Bの外壁には保温保
冷材1及び板金からなる林a材2が巻設されている。
符号Cは配管Bの内壁に付着する被検体となる付着物、
Dは被検体を透過した線源Aからの放射線を光に変換し
、次いで当該光を電流に変換する検出変換部であって好
ましくはシンチレータ−(Nal)から構成され、Eは
検出変換部から送られる電流(パルス電流)を電圧に変
換する変換部、Fは電圧の数値を記録紙又は記録指針に
波形図形又はデジタル表示で記録する記録部でるる。
ここで変換部は測定誤差を回避するために所定電流のみ
を選別し、その選別された電流のみを電圧に変換する選
別変換部とすることが望ましく、所定の電流の範囲とは
機器の感度調整をなし、バラツキの少ないエネルギー範
囲を6i11定することよシ決定される。
また前記4源Aと検出変換部りは常時被検体を中心にし
て対向状にセットされており、両者は自由にセット位置
を移動できるよう設置されていることが望ましい。
第4図は、前回をさらに詳しく示したダイヤグラムであ
って、符号3は放射線を光に変換する検出器、4は光を
電流(パルス電流)に変換する光電変換器、5は前置増
幅器、6は高圧電源、7は増ci器であり、8aは指定
波高値間に属する電流のみを取り出すシングルチャンネ
ルの選別器、8bは指定波高値以上の電流のみを取シ出
すディスクリミネータの選別器であり、選別器8a 、
 8bはいずれかを選択的に使用する。また符号9は電
流を電圧に変値する14流電圧変換器、10aは記録紙
からなる記録計、10bは記録指針からなる記録計であ
る。
第5図は第3図の被検体を測定した場合の記録紙に現わ
れた記録例でちり、Sは測定域、イは外気部分波形、口
は被ζ材部分波形、ハは保温保冷材部分波形、二は配管
部分波形、ホはスケール部分波形、へは流体部分波形を
それぞれ示している。
またitは被枡材の肉厚、t2は配管の肉厚を示す。
この記録例に2いては、付着物の性状は放射線透過密度
比により測定でき、付着物の形状は記録波形により61
Q定でき、付着物の厚さくf&)は記録波形長さにより
測定できる。
ここで放射緑透過密度とは、択わAよシ放出された放射
巌が、検出変換部りに到達する単位時間内の量を意味し
、通常放射線は被検体を通過する際、吸収又は反射(散
乱)されて、その透過量は減少するものである。
一般的に透過密朋は被検体の密度(比:1i()に反比
例するので、小前に配管内に付イ”1物が舒い状シ1の
透過密度をチェックしておき、ついで付着が予想される
スケール等の付着物の各性状についても充分チェックし
ておくことにより、実際の測定においては各透過密度を
比較して付着物の性状を正確に測定することができる。
また付着物の形状を測定するには、線源Aと検出変換部
りとをセットして記録部Fに波形t−記録し、ついで線
源と検出変換部を(社)゛移動させて放射線透過力・向
が前位置と直交状になるよう再セットし、この状態にお
いて再度記録部Fで波形を記録し、線のと検出変換部と
の移動の前後の形状を対比することにより付イl物の形
状を測定する。第6図は配管内に堆積した付?を物の状
況の断面図であシ、第7図はそのときの波形、第8図は
配管内周に均等に付着している付着物の状況の断面図で
あり、第9図はそのときの波形を示している。第10図
は配管内周に不均等に付着している付着物の状況の断面
図であり、第11図はそのときの波形を示している。
ついで付着物の厚さを、第10図及び第11図の例から
割シ出す場合((ついて説明する。
なお図中t3は薄肉付着物部分の波形、t4は空洞部分
の波形、t5は厚肉付着物部分の波形で、b#)、tは
配管の内径寸法に該当する読み取シ寸法で、ψinは配
管の内径である(因みに読み取り寸法tは、記録上の配
管内径ψinに該当するもので、実際には配管内径ψi
nとは異なるものである)。またt3.t5は各部にお
ける付着物の厚さ、t4は空洞部の寸法である。
t3(薄肉付着物の厚さ)=tl/lxψ1nts(厚
肉付着物の厚さ)=t3/l×ψin上記の通り、本発
明では透過放射性を、電気的信号により記録部に伝え、
これを波形図形又はデジタル表示で表示するので、付着
物の性状、形状及び厚さが誰れによってでも簡単に測定
できるものである。また本発明はフィルムに放射t※を
直接撮影するものではないから、短時間で検知0i11
定が行え、かつ検出エネルギー範囲をホトビーク域に設
定しているため、保温保冷材を施したままでも検知測定
が可能となる。
よって本発明は、付着物の性状、形状、厚さを正確に測
定することができ、この測定作条は装置の運転中でも実
行することが可能で、測定結果は瞬時に得られ、かつ付
着物の経時変化を測定することも可能となる等のすぐま
た効果を具有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の測定作業を示した正面図、第2図は
前図の測定結果を示すフィルム画像、第3図は本発明の
ブロック図、第4図は前図をよシ詳しく説明したダイヤ
グラム、第5図は第3図の被検体を測定した場合の記録
紙に現われた記録fi1、第6L−L′lは配管内に堆
積した付着物の状況の断面図、第7図は前図の記録波形
、第8区は配管内周に均等に付着している付イ′を物の
状況の断面図、159図は前図の記録波形、第10図は
配管内J、′ijに不均等に付着している付イ1物の状
況の断面図、第11図は前図の記録波形でおる。 A・・・線汀、B・・・配管、C・・・付’4f物、D
・・・検出変Q ?、:1!、L ”’ 選別度(93
部、F ・・・記録部。 特許出願人  出光石油化学株式会社 手続補正費 昭和58年11月24日 特許庁長官若杉和夫殿 1、事件の表示 昭和57年特 許 細編204464号2、発明の名称 内壁付着物の測定装置 3、 vIli正をする者 事件とのi+J係   特粁出kAt1人住 所 東京
都千代田区丸め内三丁目1番1号名称  出光石油化学
株式会社 4、代理人 注191  東京a港区赤坂1丁目3番5号自   発 6、補正の対象 図  面 7、補正の内容 図面第7図、第9図及び第11図を別紙の通り補正する
。 第7図 第9図 第11図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検体に放射線を発する線源と、被検体を透過した
    線源からの放射線を光に変換し、次いで当該光を電流に
    変換する検出変換部と、当該電流を電圧に変換する変換
    部と、当該変換部からの電圧を記録する記録部とからな
    る内壁付着物の測定装置。 2、変換部が選別変換部である特許請求の範囲第1項記
    載の測定装置。 3、線源と検出変換部を被検体に対し移動可能に設置し
    てなる特許請求の範囲第1項記載の測定装置。
JP57204464A 1982-11-24 1982-11-24 内壁付着物の測定装置 Pending JPS5995445A (ja)

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JP57204464A JPS5995445A (ja) 1982-11-24 1982-11-24 内壁付着物の測定装置

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JP57204464A JPS5995445A (ja) 1982-11-24 1982-11-24 内壁付着物の測定装置

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Publication Number Publication Date
JPS5995445A true JPS5995445A (ja) 1984-06-01

Family

ID=16490964

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JP57204464A Pending JPS5995445A (ja) 1982-11-24 1982-11-24 内壁付着物の測定装置

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JP (1) JPS5995445A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04222094A (ja) * 1990-12-25 1992-08-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd ホームセキュリティ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04222094A (ja) * 1990-12-25 1992-08-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd ホームセキュリティ装置

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