JPS59946B2 - 質量分析計 - Google Patents

質量分析計

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JPS59946B2
JPS59946B2 JP51160888A JP16088876A JPS59946B2 JP S59946 B2 JPS59946 B2 JP S59946B2 JP 51160888 A JP51160888 A JP 51160888A JP 16088876 A JP16088876 A JP 16088876A JP S59946 B2 JPS59946 B2 JP S59946B2
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ion
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University of Virginia UVA
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Publication of JPS59946B2 publication Critical patent/JPS59946B2/ja
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
    • H01J49/4215Quadrupole mass filters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0095Particular arrangements for generating, introducing or analyzing both positive and negative analyte ions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的には四重極質量分析の分野に関し、より
詳細には正イオンと負イオンとの両者を生成し且つモニ
ターするための方法及び四重極質量分析計に関する。
四重極質量分析計において、異なる質量のイオンは四重
極マスフイルタにより分離される。
正イオンと負イオンとはこのようなフイルタを同時に通
過するが、従来の装置では検出及びデータ処理のために
フイルタから抽出できるのは一方の極性のイオンのみで
ある。通常市販の装置は正イオンの生成に適した構造を
有し、又これに適した条件下で動作せしめられることと
、電子増倍管が通常負電位で動作され、正イオンのみを
引きよせ、負イオンを反発まるために、主として正イオ
ンのみが検出される。正イオンと負イオンとを逐状検出
できる装置も作られている。
このような装置の1つに、ペンシルバニア州、ピツツバ
ーグのエクストラニユークリア ラボラトリーズ イン
コーポレイテツドにより販売されているものがある。こ
の装置は単一の電子増倍管及びイオン源の電圧の極性を
逆転させるトグルスイツチを有する四重極質量分析計で
ある。この装置では、異なる極性のイオンを記録するの
に約10秒の時間遅れを要する。このような装置におい
て正イオン検出と負イオン検出との切換に要するこの遅
延時間は長すぎるために、正及び負イオンの同期的ある
いはほぼ同時的な記録は不可能であり、正確な質量測定
が非常に困難であり、ある種のイオンについてはこのよ
うな装置では全く不可能である。同様に例えばガスクロ
マトグラフなどを介してこのような装置中にサンプル分
子を一回だけ注入して正及び負のイオンのスベクトルを
記録することは不可能である。正イオンと負イオンとの
逐次検出は、正負イオンの同時的又は実質的に同時的な
検出とは全く異なる。正負イオンを逐次検出し得るとい
うことは、正イオンと負イオンとを処理するために二つ
の別々の質量分析計を使用することと同等であり、同時
的又はほぼ同時的検出において可能となる相乗効果は得
られない。四重極質量分析計で正負イオン種の両方を実
質的に同時的に記録することは、正確な質量測定を行な
う上で非常に好ましい。
質量測定のためには例えば内部基準物質から出るイオン
とこの基準のものとほぼ同一の単位質量の未知のサンプ
ルから出るイオンとを区別するために何らかの手段をみ
つける必要がある。本発明は前記した点に鑑みなされた
ものであり、その目的とするところは、正確な質量分析
を行なうことを可能とした質量分析計を提供することに
ある。
本発明によれば基準物質から出るイオンと未知のサンプ
ルから出るイオンとの区別は、例えば内部基準物質によ
り負イオンのみが生成され、サンプルにより正イオンの
みが生成されるような条件下で質量分析計を動作せしめ
る場合に容易に行なわれ得る。
パルス的イオン源、単一の四重極マスフイルタ、一対の
電子増倍器及びデユアルチヤネル式乃至ステレオ式の記
録装置を用いて正負イオンが実質的に同時的に記録され
、非常に簡単に低PFlの精度で質量測定ができる。本
発明の好ましい具体例では、改良された四重極質量分析
計が示され、質量分析計において正イオンと負イオンと
の両者を同時的に記録する新規な方法が示され、四重極
質量分析計で正イオンと負イオンとを同時的に記録する
ことを可能ならしめる新規な装置が示され、従来の四重
極質量分析計を、正イオンと負イオンとを同時的に記録
する為の装置に変換するための新規な装置が示され、改
造型の四重極質量分析計を用いて正確な質量測定を行な
い得るようにした新規な方法が示され、四重極質量分析
計で分析するための正イオンと負イオンとを生成し得る
新規な装置が示され、四重極質量分析計により生成され
た正イオンと負イオンとを同時的に検出するための新規
な装置が示される。
更に本発明の好ましい一具体例では、四重極質量分析計
の種々の制御電極に印加される電位を切り替える高速ス
イツチング回路及び一対の電子増倍装置を有する独自の
検出装置が示されており、さらに正イオンと負イオンと
を生成するのに非常に適した一群のイオン化条件下での
四重極質量分析計の操作が明らかにされている。
本発明の趣旨及び付随的利点は添付図面を参照して以下
に述べる詳細な説明によりさらによく理解されるであろ
う。
添付図面において、同一の参照符号は同一又は対応する
部分を示している。
第1図には、正イオンと負イオンとの両方を同時的に記
録するように改造された四重極質量分析計のプロツク図
が示されている。図示されたシステムには市販の四重極
質量分析計で使用されている従来の四重極マスフイルタ
10が含まれている。この種の従来のフイルタ及び質量
分析計は、ポール他を出願人とする1960年6月7日
付米国特許第2,939,952号明細書と、カリコを
出願人とする1971年12月21日付米国特許第3,
629,573号明細書とに示されている。これらの明
細書に記載されたタイプの装置はフイニガン コーポレ
ーシヨンより市販されている。四重極マスフイルタ10
は従来通り棒状又はシリンダ状の四つの電極12を含む
電極12は、フイニガンコーポレーシヨン製造の従来の
ラジオ周波数/DC制御器などのような標準的な四重極
フイルタ電圧源に接続されている。当業者に周知の通り
、四つの電極12は二対に分かれており、一対の電極1
2,12には正のDC電圧と共にラジオ周波数の電圧が
かけられており、他の一対の電極12,12には負のD
C電圧と共に前記ラジオ周波数電圧に対して180度位
相がずれた同様のRF電圧がかけられている。これらの
電圧により電場が生じ、この電場は選択された質量対電
荷比のイオンに有界の振動を生ぜしめ、且つ異なる質量
対電荷比のイオンに無界の振動を生ぜしめる。このよう
にして四重極フイルタ10は所定の質量対電荷比のイオ
ンのみを通過させる。しかし、このフイルタ10の動作
はイオンの電荷の極性とは無関係である。四重極フイル
タ10は負に帯電したイオンに対して正に帯電したイオ
ンに対すると同様に動作する。四重極フイルタ10の電
極12は、従来のイオン発生器20で生じたイオンを受
けると入口開口を有する真空室16内に従来通り収容さ
れている。
四重極フイルタ10には、フィルタ10を通過したイオ
ンを検出器26に導入するための二つの出口開口22,
24が設けられている。イオン発生器20は従来のもの
と同様な構造を有し、電子衝撃イオン化モード又は化学
イオン化モードのいずれでも動作し得る。
イオン発生器20として他のタイプのイオン発生器を用
いてもよい(例えばマンソンほかを出願人とする197
1年1月12日付米国特許第3555272号明細書参
照)。イオン発生器20はフイラメント電極28と、反
射電極30と、レンズ電極としてのイオンレンズ32と
、ソース電極としてのソース室34とを有する。四重極
質量分析計ではこれらの電極は例えば約5ボルト乃至6
0ボルト程度の比較的低い電圧で動作する。正イオン/
負イオン制御器36は反射電極30,レンズ32及びソ
ース34に接続されており、これら三つの電極の電位を
迅速に変える。
より詳細には、正イオン/負イオン制御器36(以下で
は単に「イオン制御器」と呼ぶ)は10kHzの範囲内
の繰り返し周波数の矩形波を反射電極30、ソース34
及びレンズ32に与える。矩形波の二つのレベルは各々
独立に変更され得る。イオン制御器36の典型的出力電
圧は第3図のグラフに示されている。
第3図の上側の矩形波曲線38は、イオン制御器36か
ら反射電極30及びソース34に印加される電圧を表わ
す。図示の通り、この電圧は±5ボルトの間で変化する
。レンズ電圧は下側の矩形波曲線40で表わされ士10
ボルトの間で変化する。図示された電圧パターンに従つ
て正イオンと負イオンとが交互にマスフイルタ10に送
出され、フイルタ10でイオンが質量分析され、その後
検出される。より詳細には、ソース34と反射電極30
との電圧が正でレンズ電極32の電圧が負の時、正イオ
ンが送出され、反対の電圧極性条件下では負イオンが送
出される。イオン制御器36の回路の詳細は第2図に示
されている通りであり、従来のアースを有すると共に+
5ボルト、±135ボルト、±60ボルトの出力を有す
る電源42が図示されたイオン制御器36の回路に所要
駆動電力を供給すべく設けられている。
イオン制御器36は絶縁増幅器44を有している。この
絶縁増幅器44は適当なデユアル入力増幅器なら何でも
よい。増幅器44の一方の入力は直接出力に接続されて
おり、増幅器44の他方の入力は前記のフイニガン装置
のような従来の四重極質量分析計の「イオンプログラム
」出力に接続されている。
このイオンプログラムは分析されるべきイオンの質量に
応じて変えられるような掃引DC電圧であり、増加する
質量走査に応じてソース34の電位を増加させる。絶縁
増幅器44の出力は正乃至陽イオンプログラム回路46
と負乃至陰イオンプログラム回路48とに与えられてい
る。
正イオンプログラム回路46はゲイン制御増幅器52の
入力に接続された結合抵抗50を有する。可変抵抗54
はゲイン制御増幅器52にフイードバツグ配置で接続さ
れており、増幅器52のゲイン調整を可能にしている。
抵抗50,54の値は、増幅器52の出力電圧がOから
入力電圧の1/2までの間で変化するように選択されて
いてもよい。増幅器52の出力はライン55を介して集
積化されたスイツチ回路56の入力12に接続されてい
るが詳細は以下に記載の通りである。負イオンプログラ
ム回路48は正イオンプログラム回路46と同様にゲイ
ン匍脚増幅器58と、結合抵抗60と、増幅器58に並
列に接続された可変抵抗62とを有している。
負イオンプログラム回路48では、結合抵抗66及びフ
イードバツグ抵抗68を有する反転増幅器64がゲイン
制御増幅器58の出力に接続されている。反転増幅器6
4の出力はライン70を介してスイツチ回路56の第二
人力14に接続されている。スイツチ回路56としては
従来のCMOSデユアルSPDTアナログスイツチが好
ましく、例えばアナログデバイシズインコーポレイテツ
ドのモデルAD75l2スイツチ回路が用いられる。
スイツチ回路56は二つの出力端子10,13を有する
。端子9,11に与えられた入力信号は交互に出力端子
10に与えられ、端子12,14に与えられた入力信号
は交互に出力端子13に与えられる。回路56の残りの
端子のうち、端子1は−15ボルトの電源に接続され、
端子2は接地され、端子3,4は後述のタイミング回路
78に接続され、端子7は15ボルトの電源に接続され
ている。尚、端子5,6,8は接続されていない。端子
9はライン71を介して電圧分割器72に接続されてお
り、端子11は同様にライン74を介して第二の電圧分
割器76に接続されている。電圧分割器72,76はオ
フセツト電位を与えており、負のソース電位と正のソー
ス電位とを各々別個に調整することを可能にしている。
前記の通り、スイツチ回路56の端子3,4は共に第2
図中下方に表わされているタイミング回路78の点Aに
接続されている。
タイミング回路78は市販のシグネチツクスインコーポ
レイテツド社のモデル555タイマなどのような従来の
集積回路タイマ80を有している。タイミング回路78
は符号82で示したタイマ80のバイアス及びトリミン
グ回路部と出力周波数調整用の可変抵抗84とを有する
。タイマ80の出力端子3は結合抵抗86を介して点A
及び三位置形のモード選択スイツチ88の可動接点90
に接続されている。このスイツチ88の可動接点90は
接地接点92、非接続乃至開放接点94、及び電源42
の5ボルト出力に接続された接点96のいずれかに選択
的に接続され得る。この三接点形のスイツチ88を用い
ることにより、本発明装置は正及び負イオン発生用とし
て(接点94を使用)、正イオン発生用として(接点9
6)、あるいは負イオン発生用として(接点92)機能
し得る。接点94を選択した場合、スイツチ回路56と
下記の第二のスイツチ回路98とを駆動するための高周
波出力(つまり、1〜100k1Izの出力)がタイマ
80により生成される。第二の集積スイツチ回路98は
スイツチ回路56と同一であることが好ましい。
集積スイツチ回路98の端子は次の通り接続されている
端子1は−15ボルトの電源に、端子2はアースに、端
子3,4は点Aに、端子7は+15ボルトの電源に、端
子9,10,11は相互に接続されてアースに接続され
ている。端子5,6,8は接続されていない。端子12
は正イオン検出に必要なレンズ電圧を与えるために電圧
分割器100に接続されており、端子14は負イオン検
出に必要なレンズ電圧を与えるために電圧分割器102
に接続されている。スイツチ回路98の出力端子13は
ライン104と、結合抵抗106と、漏波用のコンデン
サ108とを介して、出力増幅器110の一方の入力に
接続されている。このために適当な増幅器110として
は市販のバーブラウンモデル3581Jがある。この増
幅器110は電源用入力端子112と増幅器110のバ
ランスをとるためのトリミングポテンシヨメータとを含
む。増幅器110のもう一方の入力はゲイン制御のため
に増幅器110に対してフイードバツグ配置に接続され
た可変抵抗116に接続されている。増幅器110の出
力はライン118を介して第1図のレンズ32に接続さ
れている。増幅器110と実質的に同一の出力増幅器1
18の一入力は、結合抵抗120,122と漏波用のコ
ンデンサ124とを介してスイツチ回路56の出力端子
13に接続されている。
スイツチ回路56の出力端子10は結合抵抗126,1
28と漏波用のコンデンサ130とを介して増幅器11
8の前記一入力に接続されている。可変抵抗134はゲ
イン制御のために増幅器118の出力と増幅器118の
非接地の前記一入力との間にフ 1イードバツクループ
を形成するように接続されている。増幅器110の場合
と同様、適切な電源用入力ライン136及びトリミング
ポテンシヨメータ138が増幅器118に設けられてい
る。増幅器118の出力はライン140,142を介し
て第1図の反射電極30及びソース34に供給されてい
る。作動時、まずソース34、反射電極30、及びレン
ズ電極32の各々に適正な出力電圧レベルを与えるよう
に、種々の電圧分割器72,76,100,102が設
定される。正イオン発生用の冫電圧レベルと負イオン発
生用の電圧レベルとは別別に調整され得る。他のトリミ
ング及びゲイン制御抵抗もすべて適正な出力ゲインを与
えるべく適正な大きさに設定される。電源ラインはすべ
て適正に接続され、絶縁増幅器44は四重極質量分析二
計のイオンプログラム出力に接続される。そして、モー
ドスイツチ88が装置の作動のモードの選択のために所
望の位置に設定される。接点90が接点96に当接せし
められた場合分析計は正乃至陽イオンモードで動作し、
接点90が接点92に当接せしめられた場合分析計は精
確に負乃至陰イオンモードで動作する。いずれの場合も
、タイマ80は作動しないままである。しかし接片90
が接点94に当接せしめられた場合タイマ80が作動し
、スイツチ回路56,98の制御端子3,4にトリガ入
力が与えられ、回路56,98のスイツチング間隔が制
御される。タイマ80の周波数は、第3図に示されたタ
イプの二つの矩形波出力、つまりソース34と反射電極
30とに適正な電圧を与えると共にレンズ32に適正な
電圧を与え得〜るように前述の範囲内の適正な値に設定
される。スイツチ回路56,98は入力端子12,14
に入力された信号を交互に出力端子13に与え、スイツ
チ回路56は更に端子9,11に入力された入力電圧を
出力端子10に交互に印加する。これらの出力信号は質
量分析計の反射電極30、ソース34、及びレンズ32
を駆動するために、出力増幅器110,118で適当に
増幅される。ソース電極34、反射電極30、及びレン
ズ電極32の電位の急速な変化により、正イオンと負イ
オンとの交番パルス乃至交番束の列が生じる。パルス列
の周波数は勿論タイマ80の周波数と同じである。周波
数が例えば5kHzであれば、正イオンと負イオンとが
検出器26にほぼ同時に到達することは明らかである。
第1図の右側に示されているイオン検出器26について
次に説明する。
電子増倍器は高いバイアス電位で動作せしめられる故、
単一の電子増倍器では正イオン及び負イオンの両方を検
出することは実際上できない。このバイアス電位は正電
圧でも負電圧でもよいが、どちらを選択しても四重極マ
スフイルタ10を通過したイオンのエネルギが非常に小
さいために、同じ極性のイオンをほとんどよせつけない
。従つて、正イオンと負イオンとを同時的に検出するた
めに一対の増倍検出器を開発する必要があつた。このデ
ユアル電子増倍器装置は第1図にプロツク図の形で示さ
れており、個別には従来より質量分析計に使用されてい
る一対の標準電子増倍管144,146を有している。
例えば、ガリレオ連続ダイノード増倍管を使用してもよ
い。電子増倍管144,146の出力は夫夫負イオン用
前置増幅器148及び正イオン用前置増幅器150に与
えられる。これらの前置増幅器148,150の出力は
オシロスコープ152,チヤートレコーダ154、計算
機156などのような適当な従来のデータ処理装置に与
えられるが、別のタイプの分析用装置を使用してもよい
。前記の電子増倍系の正イオンチヤネルは本質的に前述
のフイニガン質量分析計の標準装置と同タイプの従来の
チヤネルである。電子増倍管146の入力には従来通り
−2KVのバイアスがかけており、正イオンのみが処理
されるべく引きつけられる。四重極フイルタ10を通過
した負イオンは増倍管146の大きい負のバイアスによ
り反発され、負イオンは検出乃至処理されない。一方負
イオンチヤネルは負イオンを引きつけ且つ処理するよう
に構成されている。このために、負イオン用電子増倍管
144には、約+40のバイアス電圧を与える電圧源1
54に増倍管144の出力が接続されるようにバイアス
がかけられている。電子増倍器144の人力は大きい絶
縁抵抗156を介してアース電位に接続されており、増
倍管144の入力は負イオンを引きつけるように高い正
電位に保たれている。増倍管144に高い正バイアスを
与えるためには、負イオン用前置増幅器148はアース
夷位よりも約4KV上で動作し得なければならない。
この要請は、エクストラニユークリアモデル032−4
正負イオン用前置増幅器などのような従来より市販の増
幅器により満たされる。第4図及び第5図はデユアル電
子増倍器の機械的構造を示している。
増倍管144,146は取り付け用構造体であるパネル
158に固定されている。パネル158は従来の高誘電
性セラミツク材料のような高度の絶縁性材料により形成
されるのが好ましい。取り付け用構造体158は基台1
60に固定されている。基台160は金属製であること
が好ましく、デユアル増倍器構造体を気密に質量分析計
の残りの部分に固定するために用いられる。正イオン検
出チヤネルと負イオン検出チヤネルとの間の混信を抑制
乃至防止すべく、X線シールド162が電子増倍管14
4,146の入口端部の前に取付けられている。
シールド162は金属製支持棒164により基台160
に固定されている。金属製支持棒164はシールド16
2をアース電位に保つ働きをする。シールド162は二
つの電子増倍管144,146の前面を完全に覆うのに
充分な直径を有するデイスク部166を有している。デ
イスク166には一対のスロツト168,170が形成
されており、スロツト168,170は夫々増倍管14
4,146の入口の中央域に隣接し対向するように位置
している。更にマスフイルタ10側に突出した分割フイ
ン172がデイスク166の外表面に固定されている。
この分割フイン172はスロツト168,170から等
距離のところで且つデイスク166の直径方向に沿つて
伸延している。分割フイン172は好ましくは導電性材
料からなる。分割フイン172は、質量分析計が完全に
組立てられた際、四重極フイルタ10の電極12に非常
に近接するような高さを有している。以上のような構造
により分割フイン172はシールド162の残りの構造
体と共に正イオンチヤネルと負イオンチヤネルとの間の
混信を極めて減少させる。前記の通り本発明の特徴の一
つに、本発明装置を適正な条件下で動作させて正イオン
及び負イオンを生成することがある。
適当な条件としては例えば1トリチユリで試薬ガスとし
てイソプタンを用い、内部基準物質として過フツ化ケロ
センを用いることである。この混合物とサンプルとに電
子衝撃を与えるとC4H9+イオンと、熱電子又は近熱
電子の群とが生じる。C4H,+イオンはブレーンデス
酸として機能し、ほとんどの有機サンプルに陽子を付加
して分子量M+1のイオンを形成する。ここでMはサン
プルの分子量である。試薬イオンC4H9+は過フツ化
ケロセンとは反応しないので正イオンビームは実質的に
サンプルイオンとC4H,+とからなる。これに対して
逆に、内部基準物質は熱電子を捕捉する。
イソブタン及びほとんどの有機分子は熱電子を捕捉しな
い。従つて内部基準物質である過フツ化ケロセンから誘
導されたイオンのみが負イオン出力に表われる。正イオ
ンスペクトルと負イオンスペクトルとは本発明の原理に
従い同時に記録されるので、内部基準物質から誘導され
たイオンの既知の質量に基づいて外挿してサンプルから
誘導されたM+1イオンの正確な質量を求める。そして
未知のサンプルの元素組成は、頒布されている表、即ち
組成と正確な質量との表により容易に決定される。化学
イオン化質量分析の当業者にとつては勿論明らかなこと
であるが、種々の他の試薬ガス組成物が、種々の異なる
正及び負サンプルイオンの所望出力を得るために使用可
能であり、本発明の思想に従い有用な構造上の情報も得
られる。
以下に本発明の操作をさらに詳細に述べる。
前述したタイプのフイニガンの装置のような従来の四重
極質量分析計にまず以上で詳述したタイプの正/負イオ
ン制御器36を付加する。例えば第3図に示したように
質量分析計の反射電極30、ソース34、及びレンズ電
極32の電位を変化させるべく、これらの電極に正/負
イオン制御器36を接続する。質量分析計の従来のイオ
ン検出系を本発明によるデユアル増倍装置と取り換える
。そして質量分析計を前述の好ましい条件下で動作させ
る。本発明の思想に従つて正/負イオン制御器36を適
正制御状態に適正に設定する。装置を正常に動作させ、
正及び負イオンを検出する。デユアル入カチャネルレコ
ーダとステレオ(立体)オシロスコープとを使用するこ
とにより、正及び負イオンデータの同時的比較を容易に
行ない得る。本発明を種々に変形し得る。X線シールド
162と分割フイン172とを有するデユアル電子増倍
管ハウジングに二次電子放出を阻止するためのグラフア
イト又は適当なこれと同効の組成物を吹きつけてもよい
こうした処置は雑音及び混信をさらに減少せしめるのに
役立つ。以上のとおり本発明質量分析計では、四重極マ
スフイルタに対して負電位に設定された正イオン検出用
の電子増倍管及びマスフイルタに対して正電位に設定さ
れた負イオン検出用の電子増倍管が設けられているため
に、正イオン及び負イオンを実質的に同時に記録し得る
のは勿論のこと、この二つの電子増倍管の入口がマスフ
イルタの出口に対向しているために、マスフイルタを通
り抜けたイオンを偏向させることなくして電子増倍管で
直接受け取り得、電子増倍管を利用していることと相俟
つてイオン検出感度を極めて高くし得る。
従つてマスフイルタを通り抜ける質量対電荷比の巾を小
さくして質量分析を正確に行なうことが可能となる。ま
た、本発明質量分析計では、正イオン使出用の電子増倍
管がマスフイルタに対して負電位に設定されており、負
イオン検出用の電子増倍管がマスフイルタに対して正電
位に設定されているために、基本的に各電子増倍管で対
応する極性のイオンを選択的に検出し得るのは勿論であ
るが、本発明質量分析計では更に二つの電子増倍管の混
信を抑制するための手段が設けられているために例えば
実質的に同程度の質量対電荷比を有する正及び負イオン
を実質的に同時に確実に識別して記録し得、正負イオン
のうちの一方が基準乃至参照用物質のイオンとなるよう
に選ぶことにより、イオン検出感度が高いことと相俟つ
て質量分析を正確に行ない得る。
しかも本発明質量分析計では、正又は負イオンが、混信
抑制手段の導電性部材の開口を介して、夫々マスフイル
タに対して負又は正電位に設定された正又は負イオン検
出用電子増倍管の入口に弓きよせられ検出されるように
構成されているために、検出されるべき極性のイオンは
開口付近の電場により開口の中央を通り抜けるような力
を受けて所定の増倍管に達し得、逆のイオンは開日付近
の電場により導電性部材に引きつけられるような力を受
け、導電性部材に捕捉され得、混信が抑制され得る。
本発明の実施の態様のいくつかを以下に列記する。
(1)正及び負イオンの通過に適した条件下で四重極質
量分析計を作動させる段階と、該分析計の反射電極とソ
ース電極とレンズ電極とに印加される電位を選択された
正負レベル間でスイツチングする段階と、正及び負イオ
ンを別々に検出する段階とよりなる特許請求の範囲第1
項乃至第5項のいずれかに記載の四重極質量分析計を用
いて正及び負イオンを実質的に同時的に生成しモニター
する方法。
(2)前記検出ステツプにおいて検出された正及び負イ
オンを表わす電気信号を生起せしめる段階と該電気信号
を処理する段陥とを更に有してなる前記第1項に記載の
方法。
(3)四重極質量分析計の動作段階が、試薬ガスとして
約1トリチエリの圧力でイソブタンなどの試薬ガスを使
用し、内部基準物質として過フツ化ケロセンを使用する
段階を有する前記第1項又は第2項に記載の方法。
(4)スイツチングする段階が、反射電極とソースとレ
ンズ電極とに印加される電位を1k『ないし100kH
zの周波数範囲内で変化させる段階を有する前記第1項
乃至第3項のいずれかに記載の方法。
(5)周波数が約10kIIzである前記第4項に記載
の方法。
以上に述べた思想の範囲内に於いて無数の変更を加える
ことが可能であるのは明らかである。
従つて特許請求の範囲内で、ここに述べた実施例以外の
実施例もあり得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による好ましい一具体例の四重極質量分
析計の説明図、第2図は第1図の正及び負イオン制御器
の回路図、第3図は第2図の正及び負イオン制御器の出
力電圧のグラフ、第4図は第1図のデユアル電子増倍器
構造体の斜視図、第5図は第4図のデユアル電子増倍器
構造体の側面図である。 10・・・・・・四重極マスフイルタ、20・・・・・
・イオン発生器、22,24・・・・・・出口開口、2
6・・・・・・検出器、144,146・・・・・・電
子増倍管、162・・・・・・シールド、166・・・
・・・デイスク、168,170・・・・・・スロツト
、172・・・・・・分割フイン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 正イオン及び負イオンを交互に送出すべく、構成さ
    れたイオン発生器と、イオン発生器から送出されたイオ
    ンのうち所与の質量対電荷比を有するイオンの通過を許
    容する四重極マスフィルタと、四重極マスフィルタの出
    口に対向した入口を有しており、マスフィルタの出口か
    ら送出されたイオンのうち正イオンを選択的に検出すべ
    くマスフィルタに対して負電位に設定された正イオン検
    出用の電子増倍管と、四重極マスフィルタの出口に対向
    した入口を有しており、マスフィルタの出口から送出さ
    れたイオンのうち負イオンを選択的に検出すべくマスフ
    ィルタに対して正電位に設定された負イオン検出用の電
    子増倍管と、二つの電子増倍管の入口とマスフィルタの
    出口との間に設けられており、二つの電子増倍管の間の
    混信を抑えるための手段とからなり、混信抑制手段は、
    二つの電子増倍管の入口に対向する位置にマスフィルタ
    から電子増倍管へのイオンの走行を許容する一対の開口
    を有しており、開口のまわりにおいて二つの電子増倍管
    の入口を実質的に覆つている導電性部材と、一対の開口
    の中間において、導電性部材の一方の表面からマスフィ
    ルタ側に突出した分割フィンと、からなる質量分析計。 2 前記イオン発生器はソース電極と、反射電極と、レ
    ンズ電極とからなり、この三つの電極に周期的に正負の
    矩形波状電圧が加えられるべく構成されている特許請求
    の範囲第1項に記載の質量分析計。 3 前記イオン発生器は、該イオン発生器の前記電極に
    印加される電圧の正のレベルと負のレベルとが独立に調
    整されるように構成された特許請求の範囲第2項に記載
    の質量分析計。 4 前記イオン発生器は、ソース電極と反射電圧とに同
    じ電圧がかけられるように構成された特許請求の範囲第
    1項乃至第3項のいずれかに記載の質量分析計。 5 前記イオン発生器は、正イオン及び負イオンを0.
    1Hzを越こる繰り返し周波数で送出すべく構成された
    特許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれかに記載の質
    量分析計。
JP51160888A 1976-01-20 1976-12-30 質量分析計 Expired JPS59946B2 (ja)

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