JPS5991130A - 高分子基板の表面処理方法 - Google Patents

高分子基板の表面処理方法

Info

Publication number
JPS5991130A
JPS5991130A JP20150682A JP20150682A JPS5991130A JP S5991130 A JPS5991130 A JP S5991130A JP 20150682 A JP20150682 A JP 20150682A JP 20150682 A JP20150682 A JP 20150682A JP S5991130 A JPS5991130 A JP S5991130A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electrode
frequency
width
glow discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20150682A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Shinohara
紘一 篠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP20150682A priority Critical patent/JPS5991130A/ja
Publication of JPS5991130A publication Critical patent/JPS5991130A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/14Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by plasma treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29KINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES B29B, B29C OR B29D, RELATING TO MOULDING MATERIALS OR TO MATERIALS FOR MOULDS, REINFORCEMENTS, FILLERS OR PREFORMED PARTS, e.g. INSERTS
    • B29K2067/00Use of polyesters or derivatives thereof, as moulding material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、高分子基板上に各種薄膜を形成した応用製品
の製造工程の一部として、前記基板を巻取りながら、表
面処理する方法に関する。
従来例の構成とその問題点 高分子成形物基板を巻取りながら蒸着、スパッタリング
等の手段により前記基板上に薄膜を形成することは、コ
ンデンサの製造、装飾用材料の製造等に古くから用いら
れており、最近では磁気テープの製造や、太陽エネルギ
ー関連の用途の材料2、−2 の製造にも有用であるとして注目され、開発が盛んであ
る。
これらの用途に適した高分子成形物は、材質。
厚み、@、長さと、多くの種類があるが、共通した課題
は、製造単位毎の薄膜と基板との間の付着強度の確保と
、前記付着強度の均一性の確保であり、その為、積極的
に前処理が行われるようになってきた。
前処理として公知の方法は多いが、中でも最も効果の高
い方法に、薄膜形成前に、同一の真空槽内で行うグロー
放電処理がある。
上記グロー放電処理は、電極構成によらず、これまでは
、幅方向全域に均一に処理することを目的として1基板
の幅よりも広い幅の電極を用いて処理していた。
磁気テープの製造や、太陽エネルギー関連材料の製造に
用いられるような、平均表面粗すが。、05μm以下と
なるような平滑度の良好な基板で、従来法によりグロー
放電処理すると、基板同志が基板の両端部近くで接着す
る現象がみられ、前記現−べ−7・ 象は、処理長さが長くなる程、強調され処理面が基板の
両面9片面のいずれにおいても起り大量処理の隘路とな
っていた。
発明の目的 本発明は、従来技術による処理基板の接着現象をなくす
ことで、大量処理を可能ならしめる処理方法の提供を目
的とするものである。
発明の構成 本発明は、回転支持体に沿って移動する高分子成形物基
板の幅よりも狭い幅の高周波電極で高周波グロー放電処
理することを要旨とするものである。
実施例の説明 処理される基板はポリエチレンテレフタレートに代表さ
れるが、ポリイミド、ポリアミド、ポリエチレン2−6
ナフタレート等であってもよく、処理面は、基板の一方
の面か、両方の面のいずれかが、目的に応じて選択され
る。
また、両面を処理する場合、両方共高周波グロー放電処
理するか否かの選択も自由である。
さらに高周波電極の材質、形状についての格別の制約は
なく、電極数についても同様である。
高周波電極についての制限である、処理される基板の幅
との間との関係での、電極の幅については、−律に決定
し難いが、前記基板の幅より10間〜50問、好ましく
は10間〜20跋程度高周波電極の幅を狭く選ぶことで
、本発明の効果を得ることができる。
高周波グロー放電処理が、基板の全幅以上の幅の電極で
実施されると、処理された基板同志が接着してしまう確
率が著しく増加するのは、高分子成形物が誘電体であり
、端部で電界が乱れ、異常な放電が発生することが多く
なることが原因と推察される。
次により具体的に本発明の詳細な説明する。
図は、本発明の実施のために用いられた真空中巻取装置
の一例を示す。
なお図では、真空中巻取装置の構成には不可欠であるが
、本発明に直接関係のない要素については図示を略した
−  ヘ−ノ 図に示すように処理される高分子成形物基板1は、回転
支持体2に沿って、送り出し軸3より巻取り軸4に移動
するよう構成される。
高周波電極6は、例えば回転支持体2と二定の間隔が保
持されるような円弧の一部で構成される。
高周波電極5への高周波電力の供給は、絶縁導入端子6
.整合回路7を介して、高周波電源8の調整により行わ
れる。
高周波グロー放電処理される面と反対側の兜を処理する
ために、図では一対の放電電極9による交流グロー(商
用周波数かそれに近い程度の周波数が普通多く用いられ
る。)が用いられるよう構成されている。
これは単なる棒状又は筒状の電極であってもいいし、磁
界との相互作用を利用したマグネトロン放電を誘起する
ためのマグネトロン放電電極でも良い。
10は真空槽11の内部で、高周波グロー放電条件のう
ち真空度条件が、交流グロー条件の真空度条件と一致し
ない時に差圧を保持するための、6  ベーン かくり室を模式的に示したものである。
真空槽11の内部は、排気装置12により連続して排気
され、必要な流量の放電気体を、可変リーク弁13の調
節により、前気槽内に導入し、一定圧力、を保つよう構
成される。
〔実施例1〕 ポリエチレンテレフタレート基板(幅60.0+111
、厚み11μm9表面粗す0.04μm)をそれぞれ長
さ4.000m、 8.000m 、 12.000m
の3水準準備し、巻取速度50 m / m i nで
巻取りながら酸素を導入し、真空度0.01 Torr
で高周波グロー放電と、マグ声トロン放電で、両面を処
理した。
下の表にその代表的条件を示す。なお回転支持体の直径
は50傷で、高周波放電電極の曲率半径は27.6〒で
中心角θは166〇一定で、材質はアルミニウムである
以    下    余    白 ポリアミド基板(幅30ON+11.厚み8μm1表面
粗す0.025μm)をそれぞれ長さ3.000m。
と4 、500 mの2水準準備し、巻取り速度40m
/min  で巻取りながらアルゴンガスを導入し、真
空度0 *08 Torrで高周波グロー放電、0.1
5Torrでマグネトロン放電で、基板両面を処理した
巻取り時の張力を1.eKg 、 4.5にりの2水準
としそれぞれ処理基板を巻き取った後、1日、室温で放
置した後、前記処理基板を用いてCoCrの垂直磁化膜
の形成を、イオンブレーティング法によ実施例 さて前記表に接着現象の有無を示した様に、本発明によ
れば、全く接着現象はみられなかった。
なお実施例−2において、端部の接着現象により、基板
がさけて、垂直磁化膜の形成を中断せざるを得なかった
ことがあったが、これは高周波型、極幅が330謳、4
oO門の場合のみで、29゜陥、28o笥、27o胴の
3条件では、全て、長9   l<−ン 尺の媒体を得ることができた。
一方前記のような処理基板を用いて磁気テープ。
の製造を試み、付着強度の均一性について調べてみると
、高周波電極の幅は基板の幅から108〜20節狭い程
度に留めるのが好ましいことが理解されるが、期待する
処理効果により、60Mn程度狭い電極を用いても良い
場合もあり、目的に応じて選択すれば良い。
発明の効果 本発明による処理基板上への薄膜、厚膜の形成は乾式に
よるを問わず、また巻き取り速度、張力。
基板の種類、平滑性等につき、特別の配慮なしに量産規
模で、実施できるものであり、その産業上の価値は大で
ある。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の実施例において用いる巻取装置の要部の
構成を示す図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・回転支持体、6・
・・・・・高周波電極、7・・・・・・整合回路、8・
・・・・・高周波電源、9・・・・・・放電電極、11
・・・・・・真空槽、14・・・・・・フリー口1o 
 ベーン ーラ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 回転支持体に沿って移動する高分子基板を高周板グロー
    放電処理する方法であって、前記基板の幅よりも狭い幅
    の高周波電極で高周波グロー放電処理することを特徴と
    する高分子基板の表面処理方法。
JP20150682A 1982-11-16 1982-11-16 高分子基板の表面処理方法 Pending JPS5991130A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20150682A JPS5991130A (ja) 1982-11-16 1982-11-16 高分子基板の表面処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20150682A JPS5991130A (ja) 1982-11-16 1982-11-16 高分子基板の表面処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5991130A true JPS5991130A (ja) 1984-05-25

Family

ID=16442175

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20150682A Pending JPS5991130A (ja) 1982-11-16 1982-11-16 高分子基板の表面処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5991130A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0248274A2 (en) * 1986-05-21 1987-12-09 Hitachi, Ltd. Plasma surface treatment method and apparatus
EP0298420A2 (en) * 1987-07-06 1989-01-11 Kanebo, Ltd. Apparatus for plasma treatment

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0248274A2 (en) * 1986-05-21 1987-12-09 Hitachi, Ltd. Plasma surface treatment method and apparatus
US5300189A (en) * 1986-05-21 1994-04-05 Hitachi, Ltd. Plasma surface treatment method and apparatus
EP0298420A2 (en) * 1987-07-06 1989-01-11 Kanebo, Ltd. Apparatus for plasma treatment
US4968918A (en) * 1987-07-06 1990-11-06 Kanebo, Ltd. Apparatus for plasma treatment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6312524B1 (en) Plasma CVD apparatus
US6066826A (en) Apparatus for plasma treatment of moving webs
JP2019049059A (ja) プラズマを使った前処理装置を有した蒸着装置
JP2002532828A (ja) プラズマ発生のための中空の陰極のアレー
US6001432A (en) Apparatus for forming films on a substrate
KR100336621B1 (ko) 고분자 기판 위의 인듐산화물 또는 인듐주석산화물 박막증착 방법
JPH03183782A (ja) 薄膜製造装置
JPS5991130A (ja) 高分子基板の表面処理方法
US4512284A (en) Glow discharge apparatus for use in coating a disc-shaped substrate
CN110832108B (zh) 膜处理方法及膜制造方法
JPH0334616B2 (ja)
WO2005008718A1 (en) Continuous surface-treating apparatus for film shape of polymer and continuous surface-treating method thereof
WO2021123183A1 (en) Silicon oxide coated polymer films and low pressure pecvd methods for producing the same
JPS62222518A (ja) 透明導電膜の製造方法
JPH06158331A (ja) 被膜形成装置
US6176980B1 (en) Sputtering method and apparatus
JPS56121629A (en) Film forming method
JPH0758027A (ja) プラズマcvd装置
JPH04168281A (ja) 大気圧グロープラズマ装置
EP0263880A1 (en) Continuous ion plating device for rapidly moving film
JPH0244327B2 (ja) Shinkushorisochi
JP2002115073A (ja) プラズマ処理装置
JPH09124808A (ja) フィルムの表面処理方法及び表面処理装置
JPS6046370A (ja) 対向タ−ゲット式スパッタ装置
JPH03232963A (ja) セラミックス膜被覆方法