JPS598913B2 - 記憶装置 - Google Patents

記憶装置

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JPS598913B2
JPS598913B2 JP55042489A JP4248980A JPS598913B2 JP S598913 B2 JPS598913 B2 JP S598913B2 JP 55042489 A JP55042489 A JP 55042489A JP 4248980 A JP4248980 A JP 4248980A JP S598913 B2 JPS598913 B2 JP S598913B2
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和博 豊田
晴夫 島田
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/414Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the bipolar type
    • G11C11/415Address circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、読み出し時と書き込み時とでワード線振幅を
異ならせる記憶装置、特にその駆動回路構成の簡略化に
関する。
メモリセルアレイでは選択したワード線と非選択のワー
ド線ではレベル差を持たせるが、このレベル差は従来は
書き込み時のマージンを確保する観点から決定するので
、読み出し時には過剰な値となるものである。
この様子を第1図乃至第3図を参照して説明すると、第
1図はメモリセルMoo・・・Mno・・・Mom・・
・MnmをnXmマトリクス状に配した一般的なメモリ
セルアレイで、Wo・・・Wnはワード線、Ho・・・
Hnはホールド線、Bo・・・Bm、Bo・・・Bmは
ビット線である。ワード線Wo・・・Wnはワードドラ
イバWDe・・・WDnで選択され、ビット線対(Bo
、Bo)・・・(Bm、BmはビットドライバBDo・
・・BDmで選択される。ビットドライバBDo・・・
BDmぱ定電流源IBSと共に電流スイッチ回路を構成
しておわ、Yアドレス電号VYo・・・VYmにより1
列だけに電流が流される(選択される)。尤も全ての列
に電流を流す方式もある。Xアドレス信号Vxo・・・
Vxnで選択されるワードドライバ゛Do・・・WDn
は、1つのワード線のみを゛H’’(・・イ)レベルと
し、残わを全bk”(ロー)レベルにする。SAはセン
スアンプであわ、ピット線対(Bo、Bo)に対してけ
トランジスタQSI、QS2と共にメモリセル記憶内容
の検出、系を構成し、他のピット線対に対してぱQsl
、Qs2相当トランジスタと共に該検出系を構成する。
WAはライトアンプであわ、書き込み信号WEが゛L”
のときは入力DINに従つて出力VD÷VDを生じ、信
号゛モが゛H”となる読み出し時にはノ VD=VDと
する。今、ビットラインBo、■oが選択され、更にあ
るワードラインWsが選択された(選択されたものを添
字S、非選択のものを添字Nで示す)とすると、第1図
ぱ等価的に第2図のように表わすこj とができる。
即ち、Xアドレス信号Vxsが゛H”となつて選択され
たメモリセルMsoのワード線wsの電位Vwsは、ワ
ードドライバ゛Dsにより高く保たれる。この時、他の
Xアドレス信号VXNが6L1であるため残りのワード
線WNの電位VWNはワードドライノ鬼0Nによつて低
く保たれている。この状態において、メモリセルMsO
に対する読み出し、書き込み動作を第3図を参照して説
明する。メモリスルMsO(MNOも同様)はエミツタ
検出型であり、2つの負荷抵抗RL、シヨツトキ・バリ
ア・ダイオードSBDlおよびマルチエミツタ・トラン
ジスタからなる。このマルチエミツタ・トランジスタの
ホールド線H8,HN側トランジスタ要素をQHl〜Q
H4とL且つピツト線Bl,Bl側のそれをQCl〜Q
C4とする。選択前にメモリセルMsOのトランジスタ
QHlがオン、QH2がオフの状態にあるとすると、選
択時のトランジスタQClのベース電位VBSとコレク
タ電位VCSとの間には、VBS>Vcsの関係がある
こ\で差電圧VBS−VCSをVBCSとする。つまり
、ベース電位BSはワード線電位VW8からQC2の負
荷抵抗RLとQClのベース電流との積で表わされる電
圧降下(これは極めて僅少である)を差引いたものであ
るのに対し、コレクタ電位VcSは、QClのコレクタ
電流は充分大きいのでダイオードSBDがオンとなつて
、VcOからSBDの順方向電圧降下(これをVBEと
する)を差引いたものとなり、VBSより図示の如く低
く保たれている。この状態で、ライトアンブWAにより
Vcs<VD=VD<VB8にすると、トランジスタQ
ClとQSl,QC2とQS2は力レットスイッチを構
成しているためトランジスタQ。lがオン、Q8lがオ
フとなつてピツト線B1の電流1BはトランジスタQC
l側から供給される。同時にVcs<VDであるからト
ランジスタQS2がオン、QC2はオフとなつてビツト
線B1の電流1BはトランジスタQS2側から供給され
る。このため、センスアンプSAから見た電流はID=
0、I])IBとなり、両者の差からメモリセルMsO
の情報が読み出される。これに対し、書き込み動作とし
てメモリセルMsOの状態を反転させることを考えると
、これには第1にQOlをオンからオフにするためVi
)をコレクタ電位Vcsより下げる(約200mV以上
)必要がある。
この目的でVDを低下させ始め、VD=VOSとすると
ビツト線B1の電流1BはトランジスタQC2とQ82
とを半分ずつ流れることになり、更にVDを低下させて
VD<Vcsとすると遂に電流1Bは全てトランジスタ
QC2から流れ出し、トランジスタQC2はオン、Q8
2はオフとなる。この結果VBSは低下し、(第3図に
はこれは示していない)フリツプフロツプの状態は反転
し、VBSくDとなると該YDが読み出し時の電圧のま
\でもトランジスタQ8lがオン、トランジスタQCl
が,オフとなる。このメモリでは一般に書き込み時のス
ピードアツプを図るため第3図に示すようにV。のレベ
ルを上げるようにしているのでこのオフ一・の切換えは
更に迅速に行なわれる。この書き込み、読み出し動作で
非選択のワード線Nの電位VWNは、書き込み時にはV
WN<VD(くVcs)でなければならない。即ち、書
き込み時に非選択のメモリセルMNOのトランジスタQ
−H4がオン状態にあるとするとそのベース電位VBN
はほとVWNに等しいが、書き込みに際してVDを下げ
たときVWN>VDが成立するとトランジスタQC4が
オンになつてビツト線11の電流1Bは該トランジスタ
QC4から供給されてしまい、トランジスタQC2を充
分オンにすることができない、或いはオンにする迄の時
間が著しく長くなる。このような不都合を回避するため
、Vcs>VD>VWN々VBNが必要である。一方、
読め出し時には、勿論非選択のワード線電位WNはN゛
Wsより一定値低くなければならないが、それ程低くす
る必要はなく、VD=VDよりや\低い程度で充分であ
る。即ち、読み出し時にVWNミVBN=VD=VDと
するとビツトラインB1の電流1BはトランジスタQS
2とQC4から供給されるため、センスアンプSAでの
電流差丁D−1Dが半減してしまい、セルMsOの記憶
内容の読み出しが困難になるが、この不都合は非選択の
ワード線電位VWNを、VD=VDより低い値とすれば
回避できる。しかしながら、従来は非選択セルのワード
線電位は読み出し、書き込みを問わず常時一定とするの
で、必要以上に低過ぎる電圧となつていた。これは非選
択から選択への切換えつまり読み出しへの過度状態では
選択されたワード線電位の上昇が大幅であることを意味
し、この電位上昇に際しては当然ワード線漂遊容量を充
電する必要があるから該ワード線電位の上昇には時間が
か\ることになジ、延いては読み出しスピードを低下さ
せる欠点があつた。か\る欠点を除去するには、非選択
ワード線レベルを読み出し時と書き込み時で異ならせる
とよいが、相対的な問題であるから選択ワード線レベル
を切換えても同様目的を達することができる。
後者の一ダ1を第4図に示す。同図に示す回路はデ .
″コータ出力S。−Snのうち1つだけがL(口ー)レ
ベルになつてトランジスタ(Tl,T5)をオフ、電圧
XをH(・・イ)レベルにしてワード線WLO〜WLl
の1っをHレベルにする即ち選択し、SO−Snの残り
全部はH1従つて当該トランジスタ(Tl,T5)をオ
ン、電圧Vx従つて当該ワード線をLレベルにするもの
である。ワード線WLO−Ml,nのレベルは選択時に
は非選択時よジ高くなるが、そのレベルは第5図に示す
ように書き込み時が読み出し時よ)更に高くされる。即
ち、書き込み制御信号WEは読み出し時にH、書き込み
時にLになジ、ワード線例えばWL,Oを選択する力レ
ットスイッチT1〜T3では読み出し時にトランジスタ
T2がオンになる。トランジスタT4,T5からなる力
レットスイッチではトランジスタT4がオンとなり、電
流源Xの電流は該トランジスタT4を流れて負荷抵抗R
xは通らないので電位XはVOcに上昇しようとするが
、トランジスタT2がオンになることで負荷抵抗Rxに
電流1xwが流れ、このためX点の電位は第5図のよう
にVcO一RxIxwに下る。これは非選択時のレベル
VOc−Rx(Ix+Ixw)よりは高いが、書き込み
時のレベルVcOよりは低い。書き込み時にはSO=L
lWE=LとなるのでトランジスタT3,T4がオン、
Tl,T2,T5はオフとなるので電流1x,Ixwは
いずれも抵抗Rxを流れない。従つてVX点の電位は最
も高い電源電圧Ccとなる。向、非選択時にはSO=H
(他の非選択ワードについても同様)となつてトランジ
スタTl,T5がオンになり、電流1x,Ixwはいず
れも抵抗Rxを流れる。このためVx点の電位は第5図
の最も低いレベルになる。上述した動作によつて書き込
み時のワード線振幅を読み出し時より大とすることがで
きるが、第4図の回路は各ワードドライバに電流源1x
,Ixwを設ける必要がある上、トランジスタにマルチ
エミツタ型を用いかつその素子数が多く、構成が複雑で
消費電力が大きい欠点がある。
本発明は簡単な回路構成によつて書き込み時のフワード
線振幅を読み出し時より大とし、また消費電力も少なく
て済むようにするものである。
本発明は複数のメモリセルをマトリクス配置したメモリ
セルアレイと、該メモリセルに接続される複数のワード
線と、該ワード線にそれぞれ対応して設けられ、入力さ
れる選択信号により選択されたワード線の電位を非選択
のワード線の電位より高くする駆動部及び該駆動部にそ
れぞれ対応して設けられ、選択された駆動部に非選択の
駆動部よ?高い電位の選択信号を供給するデコード部と
を有するワードドライバを有してなる記憶装置において
、選択された駆動部の該選択信号を読出し時には書込み
時よね低くする選択ワード線レベル切換回路を、該駆動
部の入力端にそれぞれ整流回路を介して共通に設け、選
択されたワード線の電位を読出し時には書込み時より低
くするようにしてなることを特徴とするが、以下図示の
実施例を参照しながらこれを詳細に説明する。本発明の
駆動回路は第4図のような論理型のみならずダイオード
マトリクス型のデコーダにも適用でき、それぞれの例を
第8図と第11図に示す。
第6図、第7図は論理型のデコーダの概要を示す。これ
らのデコーダDECl,DEC2は簡単化のためいずれ
も4入力型にしてある。デコーダDEClは力レットス
イッチ構成のアドレスインバータAIO−AI3でアド
レス入力A。−A3からA。〜A3とその反転A。−A
3を作成する。AO−A3,AO−A3の計8ビツトの
うち任意の4ビツトを組とする組合せはA。,Al,A
2,A3からA。,Al,A2,A3まで16通りあり
、その1つの組合せを入力とする16個のワードドライ
バWDO〜WDl5が設けられる。ワードドライバWD
OはAO−A3を各入力とするトランジスタTOl〜T
O4で構成されるノアゲート}よびその負荷抵抗RXl
該ノアゲートと共に力レットスイッチを構成するトラン
ジスタT。5卦よび定電流源1X5出力段のエミツタホ
ロワトランジスタTwOからなる。
すなわち、該力レットスイッチがデコード部に、トラン
ジスタTwOが駆動部に該当する。他のワードドライバ
も同様構成である。動作は周知の通シで、AO−A3が
全てLとなればトランジスタTOl〜TO4がオフとな
る。この結果Vx=VCCとなつてワードf#LOは選
択レベルになる。これに対しAO−A3のいずれか1つ
でもHであると負荷抵抗Rxに電流1xが流れ、Vx=
VOO−RxIxとなつてワード線WLOは非選択レベ
ルとなる。第7図の論理型デコーダDEC2はアドレス
インバータAIO−AI3の非反転および反転出力を合
成して2ビツト8通りの組合せXOAl,XOAl・・
・A2′A3を作成する。KOAlは八。,A1が共に
LのときLとなり、いずれか一方でもHであればHとな
るものである。NOKl〜A2K3についても同様であ
り、これらの任意の2組をワードドライバWDO−WD
l5の入力とする。ワードドライバWDO(他も同様)
は入力K。Al,X2A3で制御されるトランジスタT
Ol,TO2、負荷抵抗RX、力レットスイッチを構成
するトランジスタTO5,TO6および電流源1X、出
力段のトランジスタTwOからなる。動作は第6図と同
様であり、AOAl,A2A3が共にLでトランジスタ
T。l,TO2がオフするとトランジスタT。6もオフ
となつてVX=VCcとなり、ワードW!WLOは選択
レベルとなる。
これに対しAOAl,A2A3の少なくとも一方がHで
あればトランジスタT。6がオンになつてx=00−R
xIxとなり、ワードWWL,Oは非選択レベルとなる
第8図はか\る論理型デコーダ(第6図を対象とするが
第7図についても同様)に適用した本発明の一実施例で
ある。
本例はデコーダ入力を一般 ト化してn本のワード線W
L,O−WLnを選択するようにしたもので、各ワード
ドライバWDO−WDnは所定のアドレス信号群AGO
−AGnが与えられる。第6図の購成であTuD旧0は
AO′Al?A2弓A3lAGnはAO,Al,A2,
A3である。従つてワ一・]ドドライバWDO(他も同
様)でノアゲートを構成するトランジスタはT。l〜T
Onlであり、これと力レットスイッチを構成するトラ
ンジスタはTORである。これらでワードドライバのデ
コード部をなしている。各ワードドラィノ葡。{)nに
負荷抵 5抗Rx、定電流源1x、駆動部としての出力
トランジスタTwOを設ける点は第6図と変らないが、
本実施例では読み出し時と書き込み時のワード線振幅を
異ならせるために、ダイオードDO−Dnlトランジス
タTl,T2および定電流源1XWからなる選択ワード
線レベル切換回路を設ける。第1および第2のトランジ
スタTl,T2はエミツタ結合され、その共通エミツタ
側が電流源1xwに接続される。第2のトランジスタT
2のペースには基準電圧VRが印加され、またそのコレ
クタは適当な電位(例えばV。O)に接続される。これ
に対し、第1のトランジスタT1のベースには書き込み
制御信号WEが印加され、そのコレクタはダイオードD
O−Dnのカソードに共通に接続される。ダイオードD
。−Dnの各アノードは、ワードドライバWDO−WD
nの駆動部である出力トランジスタTWO−TWnの入
力端の各X点(第8図では選択時のVxをVxs、非選
択時のVxをVXNとして示してある)に接続される。
上記のように構成されたワードドライバの動作を第9図
の電圧波形図を参照して説明する。
今、ワードWWLOを選択するとすればアドレス信号群
AGOは全てLとなるのに対し、他のアドレス信号群(
AGnで代表する)は少なくともそのいずれか1ビツト
がHである。このためワードドライバWDnではトラン
ジスタTnl〜Tnnlの少なくとも1っがオンになり
、負荷抵抗Rxに電流1xが流れるのでVxN:VOO
−RxIxとなる。この結果非選択ワード線WLnは最
も低い非選択レベルに保たれる。これに対しワードドラ
イバWDOではトランジスタT。l〜TOmがすべてオ
フになるのでVxsはIxでない要因で決定される。つ
まう、読み出し時(8)には書き込み制御信号WEがH
となるのでトランジスタT1がオンとなつて電流1XW
が0c−Rx−Xs′−DO−T1の経路で流れ、Vx
s=Vcc−RxIxw(中間値)となる。ダイオード
DO−Dnは力レットスイッチを構成するので、Ixw
はVx点の最も高いところから流れる。従つて、Ix>
IxwとしておけばXs>VXNとなるのでDwはワー
ドドライバWDOの負荷抵抗Rxにのみ流れる。これに
対し書き込み時wにはWE:Lとなるのでトランジスタ
T1はオフとなわ電流1xwはトランジスタT2側を流
れる、つまりいずれの負荷抵抗RXにも流れない。この
ためワードドライバWDOの抵抗RxにはIx.Ixw
共に流れないのでVxs=Vcc(最大値)となる。か
くして得られたワード線振幅の変化は第5図と同様の特
性を示すが、本発明ではダイオードDO〜DOでカレン
ト,スイツチを構成して、電流源1xwおよびトランジ
スタTl,T2を全てのワードドライバに共通に使用し
ているので第4図に比し著しく回路構成が簡単であり、
高集積化が可能になる。マルチエミツタ型トランジスタ
などは使用していないのでパターンも簡略化され、使用
電流源が少ないので消費電力も少しになる。第10図は
ダイオードマトリクス型の一般的な4入力デコーダDE
C3を示すもので、第11図はそれに適用した本発明の
他の実施例である。
デコーダDEC3は一方のトランジスタにアドレス信号
AO,Al・・・を、他方のトランジスタに基準電圧V
Rを入力される力レットスイッチCSO−CS3により
信号AO−A3およびその反転A。−A3を作り、これ
ら8個の信号AO−A3のうちの任意4つを選択する組
合せの全てを含むようにダイオードマトリクスDM(1
つだけを示してある)の4個のダイオードを信号A。−
A3印加母線に接続する。これらダイオードマトリクス
DMがワードドライバのデコード部に該当する。これら
のダイオードマトリクスDMのうち全てのダイオードが
オフとなつたものが選択されたダイオードマトリクスで
あり、それを含むワードドライバWDO〜015の出力
がHレベルとなり該当するワード線WL,O−WLl5
を選択レベルにする。ダイオードの1つでもオンになる
と抵抗Rxによる電圧降下が生じ、VxはLになる。こ
の結果対応するワード線は非選択レベルになる。か\る
ダイオードマトリクスをマルチエミツタトランジスタに
置き換えてもよい。第11図はその例でTMO−TMn
がダイオードマトリクスDMに相当するマルチエミツタ
トランジスタである。同図は第10図を更に一般化した
ものであるが、VX点に付加接続される選択ワード線レ
ベル切換回路の構成は第8図と全く同様である。従つて
その動作特性も第9図と同様になるので詳細な説明は省
略する。上記の実施例では、トランジスタTl,T2}
よび定電流源1XWよりなる力レットスイッチにより選
択ワード線レベル切換回路を構成したが、他の回路でも
同じ目的が達成される。
第12図は論理的デコーダに適用した本発明の他の実施
例であり、ダイオードD。
−Dn及びD′トランジスタT3,T4,T5及び抵抗
Rl,R2,R3からなる選択ワード線レベル切換回路
が設けてある。各素子の接続は図示する通りで、トラン
ジスタT3のコレクタと抵抗R2は適当な電位(例えば
VcC)に、又ダイオードD′、トランジスタT4のエ
ミツタ及び抵抗Rは低い電位にそれぞれ接続される。そ
してトランジスタT3のベースには書き込み制御信号W
Eが印加される。この様に構成することによV1読み出
し時(8)には書き込み制御信号WEがHとなるので、
トランジスタT3がオンさらにトランジスタT5がオン
となり、電流がVcc−Rx−Vxs−DO−T5一R
3の経路で流れてVxsを中間値にする。これに対し書
き込み時wにはWEがLとなるのでトランジスタT3,
T5がオフとなりいずれのダイオードDO・・・Dnに
も流れず、Vxs=Vcc(最大値)となる。もちろん
本実施例はダイオードマトリクス型のデコーダにも適用
できる。第13図はさらに別の実施例で、論理型デコー
ダに適用している。
本実施例は、ダイオードD。〜DO、トランジスタT6
及び定電流源1xwからなる選択ワード線レベル切換回
路が設けてあり、接続は図示の通りで、トランジスタT
6のベースには前述の実施例の書き込み制御信号WEの
逆のレベルつまりWEを印加する。そして、読み出し時
(代)にはWEがLとなりトランジスタT6がオフして
、電流1XW/)SVX点の最も高いところから流れる
。又書き込み時wにはWEが十分高いHとなり、電流1
XWはオンしているトランジスタT6を流れる。もちろ
ん本実施例もダイオードマトリクス型のデコーダにも適
用できる。以上述べたように本発明によれば、ワード線
振幅を書き込み時と読み出し時とで異ならせる回路、特
に非選択ワード線電位を一定としたま\で書き込み時の
選択ワード線電位を読み出し時より高めて高速読み出し
及び確実な書き込みを行なうメモリセルアレイの駆動回
路を簡単な回路構成で実現できる。
このため素子数の低下に伴ない高集積化、或いはパター
ンの簡略化が可能であると共に、電流源の減少により低
消費電力化が可能となる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はスタテイツク型RAMの一例を示す概略構成図
、第2図は第1図のセルアレイの一部を詳細に示す回路
図、第3図は第2図における各部電位関係の説明図、第
4図は読み出し時と書き込み時でワード線振幅を異なら
せる従来の駆動回路の一汐1を示す回路図、第5図はそ
の動作波形図、第6図および第7図は論理型デコーダの
異なる例を示す構成図、第8図は論理型デコーダに適用
した本発明の一実施例を示す回路図、第9図はその動作
波形図、第10図はダイオードマトリデコーダの一例を
示す構成図、第11図はート叫りクズ型デコーダに適用
した本発明実施例を示す回路図、第12図}よび第1本
発明の他の実施例を示す回路図である。 図中、WDO−WDnはワードドライバ、W1,nはワ
ード線、Rxは負荷抵抗、IxWツTlT2,DO−D
nは選択ワード線レベル切換回路)構成する抵抗、第1
,第2のトランジスタおよζダイオード、さらにT3,
T4,T5及びT6はランジスタ、Rl,R2,R3は
抵抗、D/はダオードである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数のメモリセルをマトリクス配置したメモリセル
    アレイと、該メモリセルに接続される複数のワード線と
    、該ワード線にそれぞれ対応して設けられ、入力される
    選択信号により選択されたワード線の電位を非選択のワ
    ード線の電位より高くする駆動部と、該駆動部にそれぞ
    れ対応して設けられ、選択された駆動部に非選択の駆動
    部より高い電位の選択信号を供給するデコード部とを有
    するワードドライバを有してなる記憶装置において、選
    択された駆動部の該選択信号を読出し時には書込み時よ
    り低くする選択ワード線レベル切換回路を、該駆動部の
    入力端にそれぞれ整流回路を介して共通に設け、選択さ
    れたワード線の電位を読出し時には書込み時より低くす
    るようにしてなることを特徴とする記憶装置。
JP55042489A 1980-04-01 1980-04-01 記憶装置 Expired JPS598913B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55042489A JPS598913B2 (ja) 1980-04-01 1980-04-01 記憶装置
EP81301402A EP0037285B1 (en) 1980-04-01 1981-03-31 A memory device, more particularly word line drive circuitry for a memory device
DE8181301402T DE3176784D1 (en) 1980-04-01 1981-03-31 A memory device, more particularly word line drive circuitry for a memory device
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61104394A (ja) * 1984-10-22 1986-05-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US4730275A (en) * 1985-11-22 1988-03-08 Motorola, Inc. Circuit for reducing the row select voltage swing in a memory array
JPH07105160B2 (ja) * 1989-05-20 1995-11-13 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JPH0442495A (ja) * 1990-06-07 1992-02-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US6452858B1 (en) * 1999-11-05 2002-09-17 Hitachi, Ltd. Semiconductor device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3541531A (en) * 1967-02-07 1970-11-17 Bell Telephone Labor Inc Semiconductive memory array wherein operating power is supplied via information paths
US3703711A (en) * 1971-01-04 1972-11-21 Honeywell Inf Systems Memory cell with voltage limiting at transistor control terminals
JPS5736670B2 (ja) * 1974-04-24 1982-08-05
US3986178A (en) * 1975-07-28 1976-10-12 Texas Instruments Integrated injection logic random access memory
JPS5833634B2 (ja) * 1979-02-28 1983-07-21 富士通株式会社 メモリセルアレイの駆動方式

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