JPS5981538A - 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 - Google Patents

原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法

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JPS5981538A
JPS5981538A JP57191871A JP19187182A JPS5981538A JP S5981538 A JPS5981538 A JP S5981538A JP 57191871 A JP57191871 A JP 57191871A JP 19187182 A JP19187182 A JP 19187182A JP S5981538 A JPS5981538 A JP S5981538A
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JP
Japan
Prior art keywords
antimony
atomic absorption
sulfuric acid
potassium sulfate
absorption spectrometry
Prior art date
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Pending
Application number
JP57191871A
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English (en)
Inventor
Hideo Hara
原 秀夫
Toshio Hashimoto
敏雄 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP57191871A priority Critical patent/JPS5981538A/ja
Publication of JPS5981538A publication Critical patent/JPS5981538A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、原子吸光分析法及び螢光X線分析法によるホ
ワイトメタル中に含まれるアンチモン(Sb)の分析方
法に関する。
ホワイトメタル中に含まれるアンチモンの定量分析方法
としては、過マンガン酸カリウムにより滴定する方法が
JISH1501に規定されている。
この分析方法は、ホワイトメタル試料を硫酸及び硫酸カ
リウムで加熱分解後、強熱して二酸化硫黄を除き、放冷
後煮沸し、さらに冷却し、これを過マンガン酸カリウム
で滴定する方法である。しかし1’f−がらこの方法は
、分析操作が煩雑なうえ時間がかかり、また分析操作に
熟練を要する等、必ずしも容易ではなかった。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、
原子吸光分析法及び螢光X線分析法により、ホワイトメ
タル中のアンチモンを、迅速かつ精度良く分析する方法
を得ることを目的とする。
本発明は、上記の目的を達成するため、アンチモンを含
んだたとえばホワイトメタル試料に、一定量の硫酸及び
硫酸カリウムを加え、加熱溶解し、冷却後析出物を除去
し、水で容量一定として、試料溶液中のアンチモンを原
子吸光分析法により定量する分析方法を提供するもので
ある。゛さらに本発明は、前記試料の表面ケアルミナ(
σ[摩紙で研摩し、これをイオン交換水で洗浄し、苧気
で乾燥させて、試料溶液中のアンチモンを螢光X線分析
により分析づ−ろ方法を提供−するものである。
以下試料溶解から測定までの工程を検討し、得られた結
果について説明する。
I、原子吸光分析法によるアンチモンの分析アンチモン
を含んだ試料の溶解方法として、硝酸と塩酸、及び硫酸
と硫酸カリウムによる分解力/1.:を検討した結果、
ともに白色沈殿が析出した。
この析出物を螢光X線で調べたところ、前者はアンチモ
ンと鉛が析出し、後者は鉛だけが析出した。
従って試料は濃硫酸と硫酸カリウムで分解し、析出物を
濾別して測定する以下のような方法を採用した。−t′
なわち、第1図に示すようにアンチモンを含んだ試料0
.1.9 K硫酸10m1及び硫酸カリウム2gを加え
、加熱分解し、これを冷却後水40rnεを加え、アン
チモンを含んだ0.を分離して100trllで一定と
し、これを原子吸光光度計で測定した( 217.6 
lLm)。なお検せ線用アンチモン標準溶液には、イ流
酸と硫酸カリウムを試料溶液と同濃度になるように添加
したものを用いた。すなわち、6゜7、11.15fi
P、よりなる検量線に硫酸lTm1.(1イL酸力リウ
ム2gを加えて100m1一定にしたものを用いた。ア
ンチモンの検を線は第2図に示した通りである。試料を
0.1g溶解し100m1Kすると、アンチモンは約5
0〜130 pprnとなった。従って20〜140p
pmの範囲で検量線のM練性を調べた結果、回帰線はr
 = 1.1cm0.86.相関係数R=0.9998
゜濃度換算の標準偏差Sc=[]、14(T)りm )
となり、非常に精度の良いことが判明した。
次に、分解試薬である硫酸及び硫酸カリウムの影響を、
第6図に示す。図中(α)は、硫酸の添加−綾とアンチ
モンの回収率の関係をあられす線図で、硫酸の添加量が
多(なるとアンチモンの回収率ハ低下することを示17
ている。従って硫酸の添加量は一定量とした。(b)は
硫酸カリウムとアンチモンの回収率の関係をあられす線
図で、硫酸カリウムの添加量が多(なるとアンチモンc
))回収率は増加することを示している。従って硫酸カ
リウムの添加量もまた一定量とした。
共存元素でAY)ろ銅、スズの影響は第4図に示す11
1りである。図中(a)は銅の含有1廿とアンチモンの
回収率の関係をあられす線図で、銅の共存によりアンチ
モンの回収率は低下することを示しているが、銅の添加
量による有意差は認められなかった。
スズについても同様にその影響を調べたところ、アンチ
モンの回収率が非常にばらついたが、スズの影響は実質
的にはないとみても差し支えない。
その他の共存元素である鉄、アルミニウム、IF鉛。
ビスマス及び、ひ素は、不純物相v(o、o 1 9z
、以下)であり、鉛は試料分解時に硫酸鉛としてjr鼠
別するので、分析した試料中には存在せず、省略した。
次に疑似試料によるアンチモンの回収率の比較を示−1
゜アンチモンハリ、スズ46.4.、、、鉛12,4町
、銅1.85 m?、硫i:10mg及び硫酸カリウム
2g/ ’loomlの疑似試料を1Ofl、jツ<す
、そのうち5個を本発明にかかる原子吸光分析法、残り
の5個を比較例としてJISH1501法で測定し、第
5図に示−「ように両者の精度の比較をおこなった。図
中(cL)の原子吸光分析法では、アンチモンの回収率
が100.1%、変動係数が2.5%とfcす、(b)
のJISH1501法では回収率が94.7%、変動係
数か46%となり、原子吸光分析法のほうが精IWよく
測定できろことかわかった。なお第5図(b)の回収率
44,4%は検定の結県の異常値であった。
実試料による比較は以下の通りであった。
ホワイトメタル1種〜7種(5独は除く)の六試料を、
各々6回繰り返し2て測定した結果を第1表に示す。
比較例の、+ 1 S法は原子吸光分析法に比べ低い値
を示している。このことは、前記疑似試料の測定結果か
らも明らかなように、JIS法では回収率が低いためで
ある。従って操作が単純な原子吸光分析法の方が、熟練
を要しないでも精度よく測定できることがわかる。
次に、螢光X線分析法によるアンチモンの分析方法を示
す。
Il@光X巌分析法によるアンチモンの分析試料の調整
方法は、第6図に示イ・1fJりである。
すなわちアンチモンを含んだ試料の表面を、アルミナ研
摩紙で研摩し、イオン交換水でこれをl、浄し、空気で
乾燥して調製し、アンチモン1、β】 (106,7)
によりX線強度を測定した。
螢光X線法による分析線によj、ば、第7図に示すよう
にアンチモンK(i線はスズ1〈。と重49.寸2.た
め、アンチモンK。のX線強度はスズの含有≠により左
右される可能性かある。また第8図に示づよ5に、アン
チモンLβ1はスズ14β3.6及びスズI、β2のピ
ークどは重複しないため、スズの影響はないものと思わ
れる。
螢光X線分析法によるアンチモンの検量線は、第9図に
示す通りである。′fなわち図は、アンチモンにαにお
ける検量線■及びアンチモンLβ1 におけろ検量線@
の直線性と精度を調べた結果を示したものである。アン
チモンにαの回・j@線■ばI=1.0XH]5C+2
ろX105、R=0.957.5c=064(%)で、
あり、アンチモンLβ1の回り吊線0ばt =6.5 
X 103C−13,8X 1 []J、 R=0.9
99.5c=0.12(%)であり、アンチモンLβ1
で分析−「ると、アンチモンの影響が除去され、情rq
よく測定することができる。
以上の酸1明から明らかなように、本発明によれば次の
」:うた顕著な効果を挙げろことができろ。
(1)、ホワイトメタル中のアンチモンを迅速かつ、植
m−よく分析できろ。
(2)、原子吸光分析法では、検量線に硫酸と硫酸カリ
ウムを一定析添加fろことにより、共存元素の影響もな
く簡単に測定できる。
(3)、原子吸光分析法はル・しゅろ種数のホワイトメ
タルに適用できろ。
(4)、螢光X +N分析法は1〜6神(スズマトリツ
クスンマでのホワイトメタル (5)、小ン品菅浬が可能であり受は入れ検査に適用で
きろ。
【図面の簡単な説明】
、′A1図は分析試料の調製方法を示イエね図、第2図
はアンチモンの倹繕線図、第ろ図(a)、(b)は分析
試薬の影響を示す線図、第A IlgI(a>、(b)
は共存元素の影響を示す線図、第5図(cL)、(b)
 ii疑似試別による回収率を示す線図、第6図は分析
試料の調製方法を示す丁稚図、第7図及び鳩8図は螢光
X線分析法によるスペクトル図、第9図はアンチモンの
検液線図である。 代理人 弁理士  木 村 三 朗 第 41Z1 伏1mg1/Ioo−スフI+ mal/+oomj2
第5図 (a) 第61゛ス

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (])、アンチモンを含んだ試料に、一定量の硫酸およ
    び硫酸カリウムを加え、加熱溶解し、冷却後析出物を除
    去したのち、水で容量一定とし、これを原子吸光分析法
    により分析するアンチモンの原子吸光分析方法。 (2)、アンチモンを含んだ試料の表面をアルミナ研摩
    紙で研摩し、イオン交換水でこれを洗浄し、空気乾燥に
    より調整して、これを螢光X線分析法により分析fろア
    ンチモンの螢光X線分析方法。
JP57191871A 1982-11-02 1982-11-02 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 Pending JPS5981538A (ja)

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JP57191871A JPS5981538A (ja) 1982-11-02 1982-11-02 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法

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ID=16281859

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JP57191871A Pending JPS5981538A (ja) 1982-11-02 1982-11-02 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH046450A (ja) * 1990-04-24 1992-01-10 Sumitomo Light Metal Ind Ltd Al合金材上の溶着金属定量方法

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