JPS5981538A - 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 - Google Patents
原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法Info
- Publication number
- JPS5981538A JPS5981538A JP57191871A JP19187182A JPS5981538A JP S5981538 A JPS5981538 A JP S5981538A JP 57191871 A JP57191871 A JP 57191871A JP 19187182 A JP19187182 A JP 19187182A JP S5981538 A JPS5981538 A JP S5981538A
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- Japan
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- antimony
- atomic absorption
- sulfuric acid
- potassium sulfate
- absorption spectrometry
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
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- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、原子吸光分析法及び螢光X線分析法によるホ
ワイトメタル中に含まれるアンチモン(Sb)の分析方
法に関する。
ワイトメタル中に含まれるアンチモン(Sb)の分析方
法に関する。
ホワイトメタル中に含まれるアンチモンの定量分析方法
としては、過マンガン酸カリウムにより滴定する方法が
JISH1501に規定されている。
としては、過マンガン酸カリウムにより滴定する方法が
JISH1501に規定されている。
この分析方法は、ホワイトメタル試料を硫酸及び硫酸カ
リウムで加熱分解後、強熱して二酸化硫黄を除き、放冷
後煮沸し、さらに冷却し、これを過マンガン酸カリウム
で滴定する方法である。しかし1’f−がらこの方法は
、分析操作が煩雑なうえ時間がかかり、また分析操作に
熟練を要する等、必ずしも容易ではなかった。
リウムで加熱分解後、強熱して二酸化硫黄を除き、放冷
後煮沸し、さらに冷却し、これを過マンガン酸カリウム
で滴定する方法である。しかし1’f−がらこの方法は
、分析操作が煩雑なうえ時間がかかり、また分析操作に
熟練を要する等、必ずしも容易ではなかった。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、
原子吸光分析法及び螢光X線分析法により、ホワイトメ
タル中のアンチモンを、迅速かつ精度良く分析する方法
を得ることを目的とする。
原子吸光分析法及び螢光X線分析法により、ホワイトメ
タル中のアンチモンを、迅速かつ精度良く分析する方法
を得ることを目的とする。
本発明は、上記の目的を達成するため、アンチモンを含
んだたとえばホワイトメタル試料に、一定量の硫酸及び
硫酸カリウムを加え、加熱溶解し、冷却後析出物を除去
し、水で容量一定として、試料溶液中のアンチモンを原
子吸光分析法により定量する分析方法を提供するもので
ある。゛さらに本発明は、前記試料の表面ケアルミナ(
σ[摩紙で研摩し、これをイオン交換水で洗浄し、苧気
で乾燥させて、試料溶液中のアンチモンを螢光X線分析
により分析づ−ろ方法を提供−するものである。
んだたとえばホワイトメタル試料に、一定量の硫酸及び
硫酸カリウムを加え、加熱溶解し、冷却後析出物を除去
し、水で容量一定として、試料溶液中のアンチモンを原
子吸光分析法により定量する分析方法を提供するもので
ある。゛さらに本発明は、前記試料の表面ケアルミナ(
σ[摩紙で研摩し、これをイオン交換水で洗浄し、苧気
で乾燥させて、試料溶液中のアンチモンを螢光X線分析
により分析づ−ろ方法を提供−するものである。
以下試料溶解から測定までの工程を検討し、得られた結
果について説明する。
果について説明する。
I、原子吸光分析法によるアンチモンの分析アンチモン
を含んだ試料の溶解方法として、硝酸と塩酸、及び硫酸
と硫酸カリウムによる分解力/1.:を検討した結果、
ともに白色沈殿が析出した。
を含んだ試料の溶解方法として、硝酸と塩酸、及び硫酸
と硫酸カリウムによる分解力/1.:を検討した結果、
ともに白色沈殿が析出した。
この析出物を螢光X線で調べたところ、前者はアンチモ
ンと鉛が析出し、後者は鉛だけが析出した。
ンと鉛が析出し、後者は鉛だけが析出した。
従って試料は濃硫酸と硫酸カリウムで分解し、析出物を
濾別して測定する以下のような方法を採用した。−t′
なわち、第1図に示すようにアンチモンを含んだ試料0
.1.9 K硫酸10m1及び硫酸カリウム2gを加え
、加熱分解し、これを冷却後水40rnεを加え、アン
チモンを含んだ0.を分離して100trllで一定と
し、これを原子吸光光度計で測定した( 217.6
lLm)。なお検せ線用アンチモン標準溶液には、イ流
酸と硫酸カリウムを試料溶液と同濃度になるように添加
したものを用いた。すなわち、6゜7、11.15fi
P、よりなる検量線に硫酸lTm1.(1イL酸力リウ
ム2gを加えて100m1一定にしたものを用いた。ア
ンチモンの検を線は第2図に示した通りである。試料を
0.1g溶解し100m1Kすると、アンチモンは約5
0〜130 pprnとなった。従って20〜140p
pmの範囲で検量線のM練性を調べた結果、回帰線はr
= 1.1cm0.86.相関係数R=0.9998
゜濃度換算の標準偏差Sc=[]、14(T)りm )
となり、非常に精度の良いことが判明した。
濾別して測定する以下のような方法を採用した。−t′
なわち、第1図に示すようにアンチモンを含んだ試料0
.1.9 K硫酸10m1及び硫酸カリウム2gを加え
、加熱分解し、これを冷却後水40rnεを加え、アン
チモンを含んだ0.を分離して100trllで一定と
し、これを原子吸光光度計で測定した( 217.6
lLm)。なお検せ線用アンチモン標準溶液には、イ流
酸と硫酸カリウムを試料溶液と同濃度になるように添加
したものを用いた。すなわち、6゜7、11.15fi
P、よりなる検量線に硫酸lTm1.(1イL酸力リウ
ム2gを加えて100m1一定にしたものを用いた。ア
ンチモンの検を線は第2図に示した通りである。試料を
0.1g溶解し100m1Kすると、アンチモンは約5
0〜130 pprnとなった。従って20〜140p
pmの範囲で検量線のM練性を調べた結果、回帰線はr
= 1.1cm0.86.相関係数R=0.9998
゜濃度換算の標準偏差Sc=[]、14(T)りm )
となり、非常に精度の良いことが判明した。
次に、分解試薬である硫酸及び硫酸カリウムの影響を、
第6図に示す。図中(α)は、硫酸の添加−綾とアンチ
モンの回収率の関係をあられす線図で、硫酸の添加量が
多(なるとアンチモンの回収率ハ低下することを示17
ている。従って硫酸の添加量は一定量とした。(b)は
硫酸カリウムとアンチモンの回収率の関係をあられす線
図で、硫酸カリウムの添加量が多(なるとアンチモンc
))回収率は増加することを示している。従って硫酸カ
リウムの添加量もまた一定量とした。
第6図に示す。図中(α)は、硫酸の添加−綾とアンチ
モンの回収率の関係をあられす線図で、硫酸の添加量が
多(なるとアンチモンの回収率ハ低下することを示17
ている。従って硫酸の添加量は一定量とした。(b)は
硫酸カリウムとアンチモンの回収率の関係をあられす線
図で、硫酸カリウムの添加量が多(なるとアンチモンc
))回収率は増加することを示している。従って硫酸カ
リウムの添加量もまた一定量とした。
共存元素でAY)ろ銅、スズの影響は第4図に示す11
1りである。図中(a)は銅の含有1廿とアンチモンの
回収率の関係をあられす線図で、銅の共存によりアンチ
モンの回収率は低下することを示しているが、銅の添加
量による有意差は認められなかった。
1りである。図中(a)は銅の含有1廿とアンチモンの
回収率の関係をあられす線図で、銅の共存によりアンチ
モンの回収率は低下することを示しているが、銅の添加
量による有意差は認められなかった。
スズについても同様にその影響を調べたところ、アンチ
モンの回収率が非常にばらついたが、スズの影響は実質
的にはないとみても差し支えない。
モンの回収率が非常にばらついたが、スズの影響は実質
的にはないとみても差し支えない。
その他の共存元素である鉄、アルミニウム、IF鉛。
ビスマス及び、ひ素は、不純物相v(o、o 1 9z
、以下)であり、鉛は試料分解時に硫酸鉛としてjr鼠
別するので、分析した試料中には存在せず、省略した。
、以下)であり、鉛は試料分解時に硫酸鉛としてjr鼠
別するので、分析した試料中には存在せず、省略した。
次に疑似試料によるアンチモンの回収率の比較を示−1
゜アンチモンハリ、スズ46.4.、、、鉛12,4町
、銅1.85 m?、硫i:10mg及び硫酸カリウム
2g/ ’loomlの疑似試料を1Ofl、jツ<す
、そのうち5個を本発明にかかる原子吸光分析法、残り
の5個を比較例としてJISH1501法で測定し、第
5図に示−「ように両者の精度の比較をおこなった。図
中(cL)の原子吸光分析法では、アンチモンの回収率
が100.1%、変動係数が2.5%とfcす、(b)
のJISH1501法では回収率が94.7%、変動係
数か46%となり、原子吸光分析法のほうが精IWよく
測定できろことかわかった。なお第5図(b)の回収率
44,4%は検定の結県の異常値であった。
゜アンチモンハリ、スズ46.4.、、、鉛12,4町
、銅1.85 m?、硫i:10mg及び硫酸カリウム
2g/ ’loomlの疑似試料を1Ofl、jツ<す
、そのうち5個を本発明にかかる原子吸光分析法、残り
の5個を比較例としてJISH1501法で測定し、第
5図に示−「ように両者の精度の比較をおこなった。図
中(cL)の原子吸光分析法では、アンチモンの回収率
が100.1%、変動係数が2.5%とfcす、(b)
のJISH1501法では回収率が94.7%、変動係
数か46%となり、原子吸光分析法のほうが精IWよく
測定できろことかわかった。なお第5図(b)の回収率
44,4%は検定の結県の異常値であった。
実試料による比較は以下の通りであった。
ホワイトメタル1種〜7種(5独は除く)の六試料を、
各々6回繰り返し2て測定した結果を第1表に示す。
各々6回繰り返し2て測定した結果を第1表に示す。
比較例の、+ 1 S法は原子吸光分析法に比べ低い値
を示している。このことは、前記疑似試料の測定結果か
らも明らかなように、JIS法では回収率が低いためで
ある。従って操作が単純な原子吸光分析法の方が、熟練
を要しないでも精度よく測定できることがわかる。
を示している。このことは、前記疑似試料の測定結果か
らも明らかなように、JIS法では回収率が低いためで
ある。従って操作が単純な原子吸光分析法の方が、熟練
を要しないでも精度よく測定できることがわかる。
次に、螢光X線分析法によるアンチモンの分析方法を示
す。
す。
Il@光X巌分析法によるアンチモンの分析試料の調整
方法は、第6図に示イ・1fJりである。
方法は、第6図に示イ・1fJりである。
すなわちアンチモンを含んだ試料の表面を、アルミナ研
摩紙で研摩し、イオン交換水でこれをl、浄し、空気で
乾燥して調製し、アンチモン1、β】 (106,7)
によりX線強度を測定した。
摩紙で研摩し、イオン交換水でこれをl、浄し、空気で
乾燥して調製し、アンチモン1、β】 (106,7)
によりX線強度を測定した。
螢光X線法による分析線によj、ば、第7図に示すよう
にアンチモンK(i線はスズ1〈。と重49.寸2.た
め、アンチモンK。のX線強度はスズの含有≠により左
右される可能性かある。また第8図に示づよ5に、アン
チモンLβ1はスズ14β3.6及びスズI、β2のピ
ークどは重複しないため、スズの影響はないものと思わ
れる。
にアンチモンK(i線はスズ1〈。と重49.寸2.た
め、アンチモンK。のX線強度はスズの含有≠により左
右される可能性かある。また第8図に示づよ5に、アン
チモンLβ1はスズ14β3.6及びスズI、β2のピ
ークどは重複しないため、スズの影響はないものと思わ
れる。
螢光X線分析法によるアンチモンの検量線は、第9図に
示す通りである。′fなわち図は、アンチモンにαにお
ける検量線■及びアンチモンLβ1 におけろ検量線@
の直線性と精度を調べた結果を示したものである。アン
チモンにαの回・j@線■ばI=1.0XH]5C+2
ろX105、R=0.957.5c=064(%)で、
あり、アンチモンLβ1の回り吊線0ばt =6.5
X 103C−13,8X 1 []J、 R=0.9
99.5c=0.12(%)であり、アンチモンLβ1
で分析−「ると、アンチモンの影響が除去され、情rq
よく測定することができる。
示す通りである。′fなわち図は、アンチモンにαにお
ける検量線■及びアンチモンLβ1 におけろ検量線@
の直線性と精度を調べた結果を示したものである。アン
チモンにαの回・j@線■ばI=1.0XH]5C+2
ろX105、R=0.957.5c=064(%)で、
あり、アンチモンLβ1の回り吊線0ばt =6.5
X 103C−13,8X 1 []J、 R=0.9
99.5c=0.12(%)であり、アンチモンLβ1
で分析−「ると、アンチモンの影響が除去され、情rq
よく測定することができる。
以上の酸1明から明らかなように、本発明によれば次の
」:うた顕著な効果を挙げろことができろ。
」:うた顕著な効果を挙げろことができろ。
(1)、ホワイトメタル中のアンチモンを迅速かつ、植
m−よく分析できろ。
m−よく分析できろ。
(2)、原子吸光分析法では、検量線に硫酸と硫酸カリ
ウムを一定析添加fろことにより、共存元素の影響もな
く簡単に測定できる。
ウムを一定析添加fろことにより、共存元素の影響もな
く簡単に測定できる。
(3)、原子吸光分析法はル・しゅろ種数のホワイトメ
タルに適用できろ。
タルに適用できろ。
(4)、螢光X +N分析法は1〜6神(スズマトリツ
クスンマでのホワイトメタル (5)、小ン品菅浬が可能であり受は入れ検査に適用で
きろ。
クスンマでのホワイトメタル (5)、小ン品菅浬が可能であり受は入れ検査に適用で
きろ。
、′A1図は分析試料の調製方法を示イエね図、第2図
はアンチモンの倹繕線図、第ろ図(a)、(b)は分析
試薬の影響を示す線図、第A IlgI(a>、(b)
は共存元素の影響を示す線図、第5図(cL)、(b)
ii疑似試別による回収率を示す線図、第6図は分析
試料の調製方法を示す丁稚図、第7図及び鳩8図は螢光
X線分析法によるスペクトル図、第9図はアンチモンの
検液線図である。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第 41Z1 伏1mg1/Ioo−スフI+ mal/+oomj2
第5図 (a) 第61゛ス
はアンチモンの倹繕線図、第ろ図(a)、(b)は分析
試薬の影響を示す線図、第A IlgI(a>、(b)
は共存元素の影響を示す線図、第5図(cL)、(b)
ii疑似試別による回収率を示す線図、第6図は分析
試料の調製方法を示す丁稚図、第7図及び鳩8図は螢光
X線分析法によるスペクトル図、第9図はアンチモンの
検液線図である。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第 41Z1 伏1mg1/Ioo−スフI+ mal/+oomj2
第5図 (a) 第61゛ス
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (])、アンチモンを含んだ試料に、一定量の硫酸およ
び硫酸カリウムを加え、加熱溶解し、冷却後析出物を除
去したのち、水で容量一定とし、これを原子吸光分析法
により分析するアンチモンの原子吸光分析方法。 (2)、アンチモンを含んだ試料の表面をアルミナ研摩
紙で研摩し、イオン交換水でこれを洗浄し、空気乾燥に
より調整して、これを螢光X線分析法により分析fろア
ンチモンの螢光X線分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57191871A JPS5981538A (ja) | 1982-11-02 | 1982-11-02 | 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57191871A JPS5981538A (ja) | 1982-11-02 | 1982-11-02 | 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5981538A true JPS5981538A (ja) | 1984-05-11 |
Family
ID=16281859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57191871A Pending JPS5981538A (ja) | 1982-11-02 | 1982-11-02 | 原子吸光分析法及び螢光x線分析法によるアンチモンの分析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5981538A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH046450A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Sumitomo Light Metal Ind Ltd | Al合金材上の溶着金属定量方法 |
-
1982
- 1982-11-02 JP JP57191871A patent/JPS5981538A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH046450A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Sumitomo Light Metal Ind Ltd | Al合金材上の溶着金属定量方法 |
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