JPS598140U - 硬さ試験機 - Google Patents

硬さ試験機

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JPS598140U
JPS598140U JP1983058113U JP5811383U JPS598140U JP S598140 U JPS598140 U JP S598140U JP 1983058113 U JP1983058113 U JP 1983058113U JP 5811383 U JP5811383 U JP 5811383U JP S598140 U JPS598140 U JP S598140U
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JP
Japan
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indenter
hardness
testing machine
load
axis
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JP1983058113U
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JPS625633Y2 (ja
Inventor
ロ−ランド・ボ−ジヤ−セン
ジエイムス・ジ−・ム−レン
Original Assignee
キング・テスタ−・コ−ポレ−シヨン
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS598140U publication Critical patent/JPS598140U/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
    • G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0098—Tests specified by its name, e.g. Charpy, Brinnel, Mullen
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
    • G01N2203/0641—Indicating or recording means; Sensing means using optical, X-ray, ultraviolet, infrared or similar detectors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係る硬さ試験機の一実施例の側面図、
第２図は第１図に示す硬さ試験機の一部分の拡大断面図
、第３図は第２図に示す硬さ試験機の該部分の分解図、
第４図は本考案の硬さ試験機の多数の要素間の関連およ
び連動関係を示すブ辞ンク線図である。　　　。 １０・・・硬さ試験機、１１・・・ベース、ｉ４．Ｉｓ
・・・サポート部材、１３・・・ハウジング、１８・・
・スピンドル、２１・・・光学的数値表示器、２２・・
・圧子荷重アセンブリ、２４・・・電子光学式機械的コ
ード化アセンブリ、４０・・・スプリング部材、７２・
・・圧子、８７・・・スピンドルアセンブリ、８Ｂ・・
・雄型荷重スピンドル、９８・・・雌型スピンドル、１
０２・・・手動輪、１４２・・・投光部、１４４・・・
マスク部材、１４８・・・受光検出部、１８０・・・計
薮回路、１８２・・・光学的数値表示装置。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １　試験機フレームに試験すべき試料を保持する。 手段を設けると共に該フレーム内に形成した圧子軸線に
    沿って圧子を可動に設けて該圧子に規定荷重を加えて試
    料上にくぼみを作りそのくぼみの深さにより試料硬度を
    決定するようにした試験機であって、 該試験機には圧子の軸線に沿って圧子上に前以って定め
    た規定荷重を加えるための荷重付与手段が設けられ、ま
    た圧子軸線に沿って前記荷重付与手段を変位させて規定
    の荷重を圧子に加えるための回転操作手段が前記荷重付
    与手段に機械的に結合されて該回転操作手段による回転
    角運動が所定の比率関係で荷重付与手段上に軸線方向の
    変位量を生ずるようにし、 また、圧子がその軸線に沿って動くとき、前記回転操作
    手段の回転角度量を検出するための電子光学手段が設け
    られ特に該手段は次の（ａＸｂ）（ｅ）の構成を具備す
    るものとして形成され、即ち（ａ）　　圧子が圧子軸線
    に沿って動くときに該軸線に平行な放射線を投射せしめ
    る放射線投光手段が具えられ、 （ｂ）　　前記圧子軸線に平行に投射された放射線を受
    けかつこのとき検出された放射線に相当する電気パルス
    を発信する放射線検出手段が具えられ、 ゛（Ｃ）そして、多数の溝を有する円板を前記回転゛操
    作手段上に取付けて圧子が移動するとき該円板が圧子軸
    線の周りに回転するように設けられ、かつ該円板の溝部
    は圧子軸線と平行に形成された放射線通路上の中間にお
    かれ前記発光部と受光部とに対して光学的に整合して配
    置され、該溝付き円板の回転作用は前記荷重付与手段が
    軸線に沿って動くとき放射線検出手段上に放射線パルス
    が生ずるように形成されていること、更にまた、上記圧
    子が当初試料に係合した位置と規定荷重付与により試料
    上にくぼみが生ずるくぼみ位置との間に圧子が移動する
    とき、発生された電気パルスを受けかつ該電気パルスを
    試料硬度に相当する電気的出力信号に変換するための変
    換手段が設けられ、次いで上記電気的出力信号を受けか
    つ試料硬度を目視可能に表示するための表示手段が設け
    られている硬さ試験機。 ２　実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験機におい
    て、 前記放射線投光手段は２個の放射線投光部から成り、ま
    た前記受光検出手段は上記投光部と光学的に整合配置さ
    れた２個一対の受光検出部により構成されかつ受光検出
    した光線を表示する電気的出力信号を発信するように形
    成され、また前記電気光学手段は投光部と受光検出部と
    の間に固定的に設置されたマスク部材を具備し、該マス
    ク部材内には投光部と受光検出部とに対し光学的に整合
    して配置された半径方向の細長い溝をもつように形成さ
    れ−１ また、前記多数の溝を有する回転可能な円板−は上記マ
    スク部材の溝群および受光検出部と光学的に整合して配
    置され、前記マスク溝群は円板上の溝間間隔とは異なる
    溝間隔をもって形成されて、投光部からマスク溝を通し
    て光線が投射されるとき受光検出部上に光干渉パターン
    が形成され、この光干渉パターンは略１個の円板溝巾に
    等しい角度量間隔を以って円板回転に追随して変化可能
    であり、従ってこの円板が１個の円彼溝巾に略等しい角
    度変位だけ回転したときデジタルバイナリ情報信号とし
    て電気的信号を前記受光検出部から送信されるように上
    記可変の光干渉パターンが適用されている硬さ試験機。 ３　実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験機におい
    て、 上記放射線投光部は静止状態に固定されている硬さ試験
    機。 ４　実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験機におい
    て、 上記受光検出部は静止状態に固定されている硬さ試験機
    。 ５　実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験機におい
    て、 上記回転可能な多数の溝を有する回転円板の回転中心軸
    は圧子の移動軸線に一致している硬さ試験機。 ６　実用新案登録請求の範囲第１項記載試験機において
    、 固定して設けた溝付きマスクは上記投光部と受光検出部
    に光学的に整合して配置されかつ投光部と回転円板との
    中間位置にあって、−該円板とマスクにおける各溝間隔
    は前記受光検出部上に光干渉パターンを発生しうるよう
    に互に異なる主うに形成され、該光干渉パターンは前記
    回転円板の回転運動に従って変化し、このとき該受光検
    出部は円板回転に追従して生ずる電気的出力信号をバイ
    ナリ情報信号として発信するよ・うに形成されている硬
    さ試験機。 ７　実用新案登録請求の範囲第６項記載の試験機におい
    て、 前記の電気パルスを電気的出力信号に変換せしめる変換
    手段は前記回転円板の回転方向の変化を検知しかつこの
    回転方向の変化検出後に受けた電気パルス数に比例する
    電気的出力信号を発生する出力信号発生手段を具備して
    いる硬さ□試験機。 ８　実用新案登録請求の範囲第１項記載の試験機におい
    て、 前記放射投光光線は可視光線帯のものである硬さ試験機
    。 ９　実用新案登録請求の範囲第５項記載の試験機におい
    て、 上記マスク部材の溝群の相互間隔Ｃｊ回転円板の溝群相
    互間隔よりも大なるように形成されている硬さ試験機。 ′　　　　　　　− １０実用新案登録請求の範囲第２項記載の試験・　機に
    おいて、 前記電子手段から成る変換手段はバイナリ信号を計数す
    るように形成され、この各計数値は前記コード化円板の
    １個の溝の変位角度量を表わし且つその計数の全体値は
    試料の硬度数を表゛わす圧子（ぼみの最大深さを表示す
    るようにされている硬さ試験機。 １１　　実用新案登録請求の範囲第１０項記載試験機に
    おいて、 前記光学的数値表、足手段は多数の英数字発光、ダイオ
    ードにより形成されている硬さ試験機。 １２　　実用新案登録請求の範囲第１０項記載の試験機
    において、 試料の硬度数を決定するために硬さスケールを選択する
    ための選択手段が設けられ、かつ試　　料に予めの規定
    荷重をかけるとき上記計数回路の数値を予め定めた数に
    セットするためのセッタ一手段が設けられ、この予めセ
    ットされる数は選択された硬さスケールに対応して決定
    されかつ上記の予め定めた数が計数回路の計数値を調節
    して、該計数回路の計数値によって決定された試料の硬
    さ数が選択された硬さスケールに従った硬さ数として表
    示されるようにした硬さ試験機。 １３　　実用新案登録請求の範囲第６項記載試験機にお
    いて、 前記荷重付与手段はつぎの各構成事項から成り、即ち、 （ａ）　　雄型荷重スピンドルと雌型スピンドルとがね
    じ嵌合して試験機フレーム上に担持され、該雄型荷重ス
    ピンドルは回転操作手段の始動の際雌型スピンドル内部
    で回転可能に保持されこの雄型荷重スピンドルの回転に
    よって該スピンドル上に荷重作用を伴う直線状運動変位
    が生ずるように形成され、 （ｂ）　　前記フレーム内の圧子軸線に沿う水平向き、
    に圧子突出ロッドが配置され、該突出ロッドはフレーム
    内に摺動可能に保持されかつロッド先端部に機械的な圧
    子取付具が装備され、（Ｃ）　　前記圧子突出ロッドと
    雄型荷重スピンドル間には１個の荷重付与スプリングア
    センブリが圧子軸線の周りに湾曲形状に設置され、前記
    雄型荷重スピンドルの荷重付与作用は上記荷重付与スプ
    リングアセンブリを介し荷重を生ずる変位運動を圧子に
    伝達し、上記荷重付与スプリングアセンブリは圧子に加
    えられた荷重を計測するように適用されている硬さ試験
    機。
JP1983058113U 1979-10-17 1983-04-20 硬さ試験機 Granted JPS598140U (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US85631 1979-10-17
US06/085,631 US4312220A (en) 1979-10-17 1979-10-17 Portable hardness tester

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS598140U true JPS598140U (ja) 1984-01-19
JPS625633Y2 JPS625633Y2 (ja) 1987-02-09

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ID=22192902

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14557580A Pending JPS56111445A (en) 1979-10-17 1980-10-17 Portable hardness testing device
JP1983058113U Granted JPS598140U (ja) 1979-10-17 1983-04-20 硬さ試験機

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JP14557580A Pending JPS56111445A (en) 1979-10-17 1980-10-17 Portable hardness testing device

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US (1) US4312220A (ja)
EP (1) EP0028101B1 (ja)
JP (2) JPS56111445A (ja)
CA (1) CA1116433A (ja)
DE (1) DE3071059D1 (ja)

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