JPS5977341A - 反射率測定方法及びそのための装置 - Google Patents

反射率測定方法及びそのための装置

Info

Publication number
JPS5977341A
JPS5977341A JP58126261A JP12626183A JPS5977341A JP S5977341 A JPS5977341 A JP S5977341A JP 58126261 A JP58126261 A JP 58126261A JP 12626183 A JP12626183 A JP 12626183A JP S5977341 A JPS5977341 A JP S5977341A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
transmitter
receiver
axis
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58126261A
Other languages
English (en)
Inventor
ユルゲン・バリ−
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Compur Electronic GmbH
Original Assignee
Compur Electronic GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Compur Electronic GmbH filed Critical Compur Electronic GmbH
Publication of JPS5977341A publication Critical patent/JPS5977341A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N2021/4776Miscellaneous in diffuse reflection devices
    • G01N2021/478Application in testing analytical test strips

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光束を送信する送元器(transmitt
er )と反射した後の光束を受光する受光器(rec
eiver )を用いて、測定域の反射面における反射
率を測定する方法に13(1する。更に詳しくは、送光
器及び受光器を用いる反射面の反射率測定用装置の構造
に関する。
反射率測定法は、読み値を反射率又は反射率の変化につ
いて読み値を求め、かつ定量的な記録を得るために、九
反則面の反射率を測定することを目的として行なわれる
。正確にいえば、この種の測定は、測定すべき反射面の
距離、すなわち、測定域が送光器及び/又は受光器から
離れている距離に非常に大きく依存する19反射光束の
強度及びぞれゆえの1Hll定結束として得られるMf
 不値は、反射面若しくは測定域と送元器及び/又は愛
九面との間の距14fF、 K極めて大きく依存するの
で、通常の又は先行技術の反射率測定用の処理及び装置
の場合には、試験又は測定されるべき面(ラーなわら、
測定域)を受光器及び/又は送光器から非常に再現性よ
くある距離に齢くことが極めて重要な間眺である。ある
公知の反射率測光器(独11・4公開特許3.01’ 
1,233明細書参照)の場合には、測定域と受光器又
は送光器との間を望ましい距肉1Fに保持するために、
また、装置の組立て時にとの距甥の正確な調整が可能に
なるととを確実たらしめるために、非常に複雑な手段を
用いねはならなかった。
このような公知の装置の使用は非常に煩雑であり、かつ
、よく訓練された人のみが装置の操作上の問題に関与す
るが、そうであっても、また読み間違いをする危険があ
る。
本発明の目的又は対象の1つは、真の反射率の読み値が
、m1単にかつ複Hな機構を用いることなくイ17られ
る反射率測定用装置の操作及び構造を設計することでを
)る。
木兄り1の更なる目的は、−力の送光器及び/又は受)
Y;器と他力の測定域との間の距離の許容範囲を狩<イ
ソ持する必要がなく、第1の目的を可能たらしめること
である。
これらの目的及び本発明の記述を更に読み進めるにつれ
て明確になるであろう他の更なる目的を達成するために
、本発明の測定力法は、第1の送ガ;器の光束が、少な
くとも1台の他の送光器の光束と、測定域内の一ヒで少
なくとも部分的に重ね合わされることを特徴とする。
本発明が依拠する具体的な思想を記述するために、ここ
では図1 (Piり1) 、 2 (Fiy、2)及び
3(Fiり3)を用いる。
これらの図は、1台の受光器と2台の送光器S1及びS
2とで構成された装置の3枚の図面であシ、ここで、送
光器S1及びS2は受光器との関係では対称泣面にかつ
そこから等間隔を置いて配置される。しl 4 <Fi
y4)では、受光器と図3(FiP3)の送光器との幾
何学的な配置が水平軸に沿って再度しるされておシ、こ
こでは、番号81は受光光束軸として用められまた番号
82及び83は2台の送光器S1及びS2の送元光束軸
として用いられている。受光又は照明の強度は、垂直軸
に沿ってしるされている。曲線84はその照明又はその
強度分布の関数であシ、それは、2台の送光5S1及び
S2の照明関数を重ね合せる又は加算するととによって
形づくられている。受光器Eの受光関数又は受光強度分
布は85にしるされている。
これらの関数又は曲線84及び85は、ある場合は照明
関数であシ、他の場合には、図1(Fiり1)から明ら
かなように、反射面几の距#tにおける受光関数である
。これら2つの関数84及び85を一緒にすることによ
って、総体的又は全体的な関数86が得られるが、この
関数において目、照明及び受光の関数84及び85の値
が水平軸」二の全ての点で掛は合わされている。関数8
4.85及び86は、反射率を測定すべき面Hへの送光
器S1若しくはS2及び/又は受光器Eからの最適距1
’ill’apt  について得られる。
反射率を測定すべき又は測定域の而Rが、最適距離【。
ptでシ:1ない送光面及び/又は受光面からの距離t
の1〜′Lli”+’にある場合には、全体関数は同様
にその形が変化ラーるだろう。
送光量及び/又は受光面から測定域Rへの距離、tがf
lti適距Pjl#”optより小さい場合には、距離
が小はいので照明13i−I数84の中央部にょシ大き
くしるさ11.る凹みが41ユする。更に、’ < ’
aptのときは、照明lノ1数84の形の変化によって
、照明強度の全体がより小さくなる。
他の場合V・一ついて言えば、すなわぢ、’ > ’o
ptのJih台r1.i す−J、照明関数、84の凹
みはより小きくなる。BJ、1に、tがt。pt、l:
、!l)大きい場合には、照明関数84の形の変化によ
って照明強度の全体はよシ大きくなる。
j’i!^11〜tが送yL器の而及び/又は受光器の
11から測>if城Itへの最適距離t0μよシ小込い
場合には、受光器によつ°C測定される強度は逆にいえ
ばよシ太さくなる。すなわち、照明の全体強度に関して
いえば、受光器で測定される強度は、送光器の而及び/
又は受)0器の面から測定域1(・への距離の変化とは
反対の変化を受ける。
総合し−C考えれば、t′/J″−’ optより小芒
い(4,)合には、中央に凹みヶもつ全体関数87が生
れ、−カ、tがt、ptよシ大きい、協会にt」、上方
にふくらみを・もつ全体関数88が生するといってJ2
いであろう。
しかしながら、上tjLの場合に対し全体関数86゜8
7及び88の面積分値を比較すると、送光器の面及び/
又は受光器の面から測定減寸での距離が異ンよっている
にもかかわらず、これら、I)’を分値は机ね等しいこ
とが理芹fできるであろう。すなわち、送光器の面及び
/又は受光器の曲から測定減寸での距離が異なった値で
あっても、♀体としては同一の強度が受光器で測定され
る。又は、いいがえれば、測定域Rと送元器の面及び/
又t」、受光器の面との間の距離がどんなに異なってい
ても、少なくともめる幅をもった操作における読み値に
は全熱影響を与えないか父は殆んど影響を与えず、だか
らこの読み値が送光器の而及び2/又は受光器の面から
測定減寸での距離に本質的には依存しないといってもよ
い。
今や明らかなように、この凹みの深さの補正は本発明て
icl、1台の受光器と組合せた2台の送光器を用い2
.ことによって可能になる。
515’に i:>と組合せた2台の送)Y、器をlf
i」えるこのシステムは全ての場合において対称形でな
ll″)れに1゛ならないということではない。送yC
器及び受光器がII徹zl称に配置された場合、そのと
きは、非対称の照明及び受光の関数又は特性、亜ひに、
それゆえ同様に非対称の全体関数が得られるでろろう。
本発明の好ましい改良に関しては、送光器S1及びS2
がそれぞれ対称に、すなわち、受光器から同一の間隔で
配置される。そしてそのとき図4(J“’1z4)のよ
うに対称形の関数曲線が得られる。
出発点として、反射面での反射率1lll定用でかつ1
台の送光器及び1台の受光器を用いる公知の装〃qを用
い、本発明の目的は、少なくとももう1台の送光器を受
光光束の軸に関し概して軸対称に配置トイすることによ
って更には達成されるであろう。
本発明の好ましい構造に関しては、送光光束の2本の軸
は受光光束の軸に対し角度αで存在するが、この角度α
はO#よシ大きくしかし90度よシ小さいか又は等しい
(又−は大きく7よい)。より詳しくいえば、2つの角
変αは対称角であるような等しい大きさの角度である。
、しかし、1銖光元束の軸を異なった角度にすることも
7il能であ、5゜本発明装置の更に好貰しいり3施例
構造のp’1+、分としては送光器が受)“C光束の軸
のル1」シQ)躬、i状に配置1(・′される。この関
係の場合に妹、送芳、器のむ、送光器を互いに好ましく
は等間隔に配置することについての選択が自由である。
受光光束の軸の周シに輪状に配置される送光器の数が多
くなればなる6YJど、読み値における試料の面の粒状
模様(gra団)又は構造(5tructure ) 
(例えに織物月相の(〕)合のような)の影響はそれだ
り少なくなる、このことから、よシ好ましく有用である
本発明の仇]急の19は、別々の送光器に代えて、送光
器が受光)0束の軸に関し概して軸対称に配置されて輪
の汀でになっている1台の送光器が用いられることであ
る。
送光器の軸対称の系に代えて、送光器が、受光光束が配
置される平面に関し概ね対称に配置される場合には、更
に有用な効果が得られる。
本発明の更に好ましい構造に関しては、送光光束の軸が
、受光光束の軸に対し概ね等しい角度αで存在する仁と
である。ここでαは0度より大きく90度より小さめか
又は等しIA。
本発明の一層好1しく有用な構造としては、送元光束の
軸が概ね互いに平行であυ、がっ、受光光束の軸に対し
角度αで存在することである。ここで角度αは0度よシ
大きく90度より小さbが又は等しい。
試験試料の形状が長くまた幅が狭い場合には、本発明の
一部としてそれぞれが2台の送光器を備える少なくとも
2台の受光器を単一の平面内に互いに対称に配置せしめ
ることが更には可能である。
ある与えられた場合の状態及び要求に応じて、1台の所
与の受光器と一緒に用すられるために配置されたこれら
送光器の輻射線のみがこの受光器で受光されるであろう
し、又は、この受光器の隣シに6D受光器と一緒に用い
られるために配置された送元器の光が受光されてもよい
更にまた、本発明の目的は、送光器と受光器とがお互い
の位置関係を変えているような装置の構造によって達成
されてもよい。1台の受光器との関係では対称に配置さ
れた2台の送光器を備える上述の装置の場合、その各場
合においてこの変換の結果として2台の受光器が1台の
送光器との関係では対称に配置されるであろう。本発明
の全体的な状態及び教示はこの場合でも同様に依然とし
て維持されるであろう。
本発明に関する装置の操作及び構造は、音響学的測定及
び更には光のような電磁輻射線を用いる測定に適用され
てもよい。
詳細は、光を使った反射率測定と関連づけいくつかの図
面を例示して本発明のkn (っがの+tl造について
与えられるだろう。
この明細誉で前述したように、図1〜図3 (Fry1
〜Fけ3)の本発明の構造は、1台の受光器と2台の送
光器だけを備えていて、これらは受光光束の軸を有J−
る平面に関して対称に配置されている。図1(FiFl
)の系の側面図は図3(FiP3)に見られ、これは反
射面上で送光強度が重なシ合っていることを明らかにし
ている。tは、送光z:(の面及び受−)(−、器の面
から反射率を測定すべき面R・°までの間の距離である
。これに関連して、受光器の面によ送)”0器の而と必
ずしも同−又は同列に並べられている必要かないという
ことに留意すべきである。小火、受光器の面が反射率測
定の試料口Rが受)を器によシ近接し父は送光器の平面
からよシ遠くに離れているような、而rtからおる距離
を置いているような本発明の構造も可能であろう。
し+4(Fiり4)(d、本発明の動作の概論を明確に
するために示されておシ、そしてそれは既に記述されて
いる。
図5 (Fiり5)は、2台の送光器と1台の受光器を
l1iRえる本発明の簡単な構造の図で、受光器の周シ
には2台の送ツC5がそれと概して軸対称となるように
配置されている。
Lv〈l 6 (li’iり6)では受光器Eが示され
、それはその周シに机(してIll対称(1ヒ造で4台
のき光器をイ1iiiえている。当然にも、それは、受
光器の周りに軸対称に配置された4台の送光器よりもよ
シ多くの送光熱を同様にしてそこに配置することが可能
てちるだろう。
本発明の特に有用な実施例をし17 <Fly 7 )
で理解すべきである。ここでは、1台の受光器の周シに
60対称に配置された1台の環状送元器かわる。
この環状送光器は有用な効果をもたらす。すなわち、お
互いの関係では別々の送光器を1列に並べる必要が全く
ないので、非常に単純でそしてそうであるにもかかわら
ず、織物の場合のような表面粒状模様又は表面構造で4
、つても、胱の値にはどんな影響も及ぼきない有能な測
定装置又はシステムが得られるということである。
医療用の試験片のような長く幅の狭いか(、オ′1の反
射率を測定する場合に#−1,特に、図B (li’i
り8)姓二示されるシステムは優れた効果をうみ出して
いる3゜このシステムでは、多数の受光器が1つの平面
内に配置され、各受光器はそれと一緒に用いる2台の;
y: 、γ(−4を備えている。更には、個々の送光器
は単一の送光器の数が減少するようにそれぞれを受光器
の両t+lbに送光管の形で配置してもよく、そのとき
にに1、開学で低価格の測定装置となる。ある種の用途
に対しては、1列に配置された受光器群をハう−・の受
光管として設計してもよい。
図19〜図] t (F’iP9〜Fiy 11)では
、図1〜図3 (Fiり1〜Fiy 3 )で略図的に
示されているシステl、に基づき光フアイバ案内路を適
用した本発明の実施例が示されている。本発明のこの実
施例は、送光光束が反射率を測定すべき面に45度に等
しい角度シで当り、つめで、反射面からの反射光束が直
角に光案内路Em で受光される(これは、45度−0
度測定系と指称される)場合における反射率の測定のた
めに特に設計されている。この送光及受光の光案内路S
e及びEmはある種のサンドインチ構造にあるので、こ
のシステムが占有する空間は非常に小さい。
図12 (Fiり]2)は、受光した光の強度BPの変
化を送光面及び受光面から測定域までの距離tの関数と
して明らかにするグラフである。そこでの受光信号11
i:pmaxに対する読み値が最大である、送光器の面
及び受光器の面から測定域までの距離は水平軸に沿って
’optとしてしるされている。最適距#toptをい
ずれの場合も15%まで異なるように測定域の位置を変
化しても、受光強助の変化は最大受光強度EPmaX0
2%でしがない。このことから即座に明らかでろること
は、測定値又は読み値が相対的には広い作動範囲に亘っ
て非常に小さな変化しか受けないということである。別
の言葉でいえば、本発明に関する測定装置は充分な補償
操作が可能でsb、広め作動範囲に亘シ、反射率の読み
は受光面及び送光面から測定域への正確な距離には依存
しないであろう。こういうことなので、更には受光器及
び送光器の面と測定域の面との間の距離設定を正確に保
持することは不要である。すなわち、このような距離設
定を非常に正確に再現することは不要である。更に、試
料は必ずしも同じ厚さのものでなくてもよく、読みfl
?iにおける好ましくないいかなる影響も派生すること
なく曲っていたシねじれていたシしていてもよい。
この特徴からして、医療用の試験片に関し反射率のu’
lnみイ1「1を得る場合に、1台の同じ装置を読み値
にどんな影贋ンも与えることなしに厚さの異なる試験片
に適用してもよいという限シにおいて、とくに一層価値
のある新規なシステムがつくれる。
更に、本発明の反射率測定装置は、例えは製紙業及び織
物業の場合のように、試験すべき材料と装[6の測定ヘ
ッド(head )  の間の距離を不変に維持するこ
とに特別の注意を全く払う必要がないという限りにおい
て、読み値が読み取られながら、反射率測定用の測定ヘ
ッドのところを動き続けまた71°行し続けるイ17拐
又はテープ材の反射率を測定するためには特lこ価値が
大きい。
本発明の今笠での記述は少数の特殊な実施例に限定され
′Cいるが、しかし、当業者にとっては、本発明の方法
と装置の多数の改良及び教示の展開は可能であり、また
、その異なった用途は本発明で提起された重要な教示及
び思想に伺随して可能であることが明白でおるだろう。
【図面の簡単な説明】
シ11(FIyl)−1台の受光器と2賛の送光器(1
)上刃から見た概略図;図2 ()’iミグ)と[ス]
3(Fiり3)は図1(FiPl)のシステムの(il
llj’l1図;図4(1′lり4)は本発明の作動を
明瞭にするための関数を示すグラフ;図5 (1+’i
り5)は1台の受光器の周りに軸対称に配置された2台
の送光器を備えるシステムの平面図;図6(1パ1y6
)は1台の受光器の周りに’t’ll+対称に配置され
た4台の送MS器を備えるシステムの平面図;図7(F
Iyl)は1台の環状送光器が1台の受光器の周シに配
置された場合のシステムの棚略図−図8(1“’1P8
)ね、長く幅の狭い測定域又は試料の反射率を測定する
ために1列に配慮されていて図1 (1’″iy1 >
に示された多数のシステムから構成される装置の檀1略
図;図9(FiP9)〜図11(Fiり11)は図1(
FiPl)〜図3(l!゛1y3)の(j♂1“造ト同
系列で、多くの異なった図では光フアイバ路を用いた本
発明の1借造の図;図12 (Fiり12)は図9 <
piy 9 >〜図11 (Fiり11)で示す不発明
の実施例に関し、送光面及び受光面から測定域への距1
i、ifの関数としての受光信号の強度曲線である。 S・・φ光器、E・・受光器、几・・・測定域。 FIG、 3 1−+ 手続補正書(方式) 昭和58年11月2−日 ′Ii許庁長官 若杉和夫 殿 ]、事件の表示 昭和58年 特 許願第 126261 号2、発明の
名称 反射率測定方法及びそのための装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 7、補正のヌ、]象  明細書の図面の簡単な説明の欄
8、補正の内容          、 ’、、11−
ブリ、    −リ Jl−ノ 。 「4、図面の簡単な説明 図1は1台の受光器と2台の送光器の上方から見た概略
図;図2と図3は図1のシステムの側面図:図4は本発
明の作動を明瞭にするだめの関数を示すグラフ;図5は
1台の受光器の周りに軸対称に配置された2台の送光器
を備えるシステムの平面図;図6は1台の受光器の周り
に軸対称に配置された4台の送光器を備えるシステムの
平面図;図7は1台の環状送光器が1台の受光器の周り
に配置された場合のシステトの概略図;図8は長く幅の
狭い測定域又は試料の反射率を測定するために1列に配
置されていて図1に示された多数のシステムから構成さ
れる装置の概略図;図9〜図11は図1〜図3の構造と
同系列で、多くの異なった図では光フアイバ路を用いた
本発明の1構造の図:図12は図9〜図11で示す本発
明の実施例に関し、送光面及び受光面から測定域への距
離の関数としての受光信号の強度曲線である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 送光器からの送光光束を用いまた試料からの反射光
    束を受光する受光器を用いる試料表面の反射率を測定す
    る方法において、 測定域の中で、送光器からの光束が、少なくとももう1
    台の送光器の光束をその上に少なくとも部分的に重ね合
    わせていることを特徴とする方法。 2 測定域内で互いに重ね合わされた光束が、受光光束
    の1111に関して、実質的に対称になっている4’!
    J′ft請求の範囲第1項記載の方法。 3 試料面の反射率を測定するだめの装置であって、該
    試料に向かって送光光束を直進させるための送光器及び
    試料面の上で反射した後に該試料から進んでくる輻射線
    のための受光器、並びに該受光光束の軸に関し概ね軸対
    称に配置された更なる送光器から成ることを特徴とする
    装置。 4 該送光光束の軸が、該受光光束の軸に対し、0度よ
    シ大きく90度よシは大きくない角度αをなしている特
    許請求の範囲第3項記載の装置。 5、 該送光器が、該受光光束の該軸の周りを囲む輪の
    上に配置されている特許請求の範囲第3項記載の装置。 6 該受光光束の該軸の周υに配置された環状送光器を
    含む特許請求の範囲第3項記載の装jpV。 7、 試料の表面の反射率を測定するだめの装置であっ
    て、該試料上に輻射線を直進させるための送光器、該試
    料で反射した後の輻射線の光束を受光する受光器、及び
    、該受光光束の軸を含む平面内に概ね対称に配置された
    少なくとももう1台の送光器とから成ることを特徴とす
    る装置。 8、 該送光光束の軸が、該受光光束の軸に対し、それ
    ぞれ0度より大きく90度よシ大きくない角度αをなし
    、ている特許請求の範囲第7項記載の装置。 9、 送光光束の軸が、概ねお互いに平行であり、かつ
    、受光光束の軸に対し、0度よシ大きく90度よシ大き
    くない角度αをなしている特許請求の範囲第7項記載の
    装置。 ]0 少4・くとも2台の受光器が1列に配置されてい
    る特許N!’J求の範囲第7項記載の装置。 1】 送光器が受X器の位置になるように配置変換さ7
    LL、かつ、受光器が送光器の位置になるように配置変
    換されている特R′[請求の範囲第3項記載の装置?’
    f、t、
JP58126261A 1982-07-14 1983-07-13 反射率測定方法及びそのための装置 Pending JPS5977341A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19823226372 DE3226372A1 (de) 1982-07-14 1982-07-14 Verfahren und vorrichtung zum messen von remissionen
DE32263724 1982-07-14

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5977341A true JPS5977341A (ja) 1984-05-02

Family

ID=6168428

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58126261A Pending JPS5977341A (ja) 1982-07-14 1983-07-13 反射率測定方法及びそのための装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4568191A (ja)
EP (1) EP0099024B1 (ja)
JP (1) JPS5977341A (ja)
AT (1) ATE36193T1 (ja)
DE (2) DE3226372A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6113136A (ja) * 1984-06-19 1986-01-21 バイエルコーポレーション 光学的に不均一な試料から拡散反射される光の測定装置及び測定方法

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4755058A (en) * 1984-06-19 1988-07-05 Miles Laboratories, Inc. Device and method for measuring light diffusely reflected from a nonuniform specimen
DE3526553A1 (de) * 1985-07-25 1987-01-29 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
DE3543416A1 (de) * 1985-12-09 1987-06-11 Hoechst Ag Verfahren zum photometrischen auswerten von farbfeldern auf teststreifen
DE3750963T2 (de) * 1986-02-26 1995-05-18 Fuji Photo Film Co Ltd Reflektometer.
GB2193803A (en) * 1986-07-04 1988-02-17 De La Rue Syst Monitoring diffuse reflectivity
DE3701721A1 (de) * 1987-01-22 1988-08-04 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
FI80959C (fi) * 1988-04-21 1990-08-10 Outokumpu Oy Foerfarande och anordning foer inspektion av spegelreflexionsytor.
FI884142A (fi) * 1988-09-08 1990-03-09 Vaisala Oy System foer maetning av ljusdispersion.
DE3914037A1 (de) * 1989-04-28 1990-10-31 Boehringer Mannheim Gmbh Testtraegeranalysegeraet
US5150174A (en) * 1991-03-25 1992-09-22 Eaton Corporation Photoelectric color sensor
US5759030A (en) 1996-01-02 1998-06-02 Lj Laboratories, L.L.C. Method for determing optical characteristics of teeth
US6254385B1 (en) 1997-01-02 2001-07-03 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US5880826A (en) 1997-07-01 1999-03-09 L J Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US6239868B1 (en) 1996-01-02 2001-05-29 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US5926262A (en) * 1997-07-01 1999-07-20 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US5966205A (en) 1997-07-01 1999-10-12 Lj Laboratories, Llc Method and apparatus for detecting and preventing counterfeiting
US6373573B1 (en) * 2000-03-13 2002-04-16 Lj Laboratories L.L.C. Apparatus for measuring optical characteristics of a substrate and pigments applied thereto
US6307629B1 (en) 1997-08-12 2001-10-23 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6118521A (en) * 1996-01-02 2000-09-12 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US5745229A (en) * 1996-01-02 1998-04-28 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus for determining optical characteristics of an object
US6301004B1 (en) 2000-05-31 2001-10-09 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6233047B1 (en) 1997-01-02 2001-05-15 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6501542B2 (en) 1998-06-30 2002-12-31 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6271913B1 (en) 1997-07-01 2001-08-07 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6870616B2 (en) * 1998-06-30 2005-03-22 Jjl Technologies Llc Spectrometer apparatus for determining an optical characteristic of an object or material having one or more sensors for determining a physical position or non-color property
US6449041B1 (en) 1997-07-01 2002-09-10 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6246479B1 (en) 1998-06-08 2001-06-12 Lj Laboratories, L.L.C. Integrated spectrometer assembly and methods
US6246471B1 (en) 1998-06-08 2001-06-12 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6573984B2 (en) 1998-06-30 2003-06-03 Lj Laboratories Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth
US6249348B1 (en) 1998-11-23 2001-06-19 Lj Laboratories, L.L.C. Integrated spectrometer assembly and methods
US6538726B2 (en) 1998-07-10 2003-03-25 Lj Laboratories, Llc Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6384918B1 (en) * 1999-11-24 2002-05-07 Xerox Corporation Spectrophotometer for color printer color control with displacement insensitive optics
US6519037B2 (en) 1999-12-23 2003-02-11 Lj Laboratories, Llc Spectrometer having optical unit including a randomized fiber optic implement
US6362888B1 (en) 1999-12-23 2002-03-26 Lj Laboratories, L.L.C. Spectrometer assembly
US6414750B2 (en) 2000-01-10 2002-07-02 Lj Laboratories, L.L.C. Spectrometric apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
US6903813B2 (en) * 2002-02-21 2005-06-07 Jjl Technologies Llc Miniaturized system and method for measuring optical characteristics
US7262853B2 (en) * 2003-09-23 2007-08-28 X-Rite, Inc. Color measurement instrument
US7616317B2 (en) * 2004-11-24 2009-11-10 Idexx Laboratories, Incorporated Reflectometer and associated light source for use in a chemical analyzer
FR2925686B1 (fr) * 2007-12-19 2012-02-24 Le Verre Fluore Dispositif optique de mesures par reflectance
WO2014183268A1 (zh) * 2013-05-14 2014-11-20 杭州慧缘泰医疗器械有限公司 免疫胶体金试板及生化参数光电检测仪定量检测crp的方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4842224U (ja) * 1971-09-22 1973-05-30
JPS4882960A (ja) * 1972-01-21 1973-11-06
JPS5149079B1 (ja) * 1966-02-10 1976-12-24
JPS5346074A (en) * 1976-10-08 1978-04-25 Dainichiseika Color Chem Photometer utilizing plane light source

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK106165C (da) * 1964-08-28 1966-12-27 Slagteriernes Forskningsinst Fremgangsmåde til bestemmelse af forholdet mellem kød og fedt i en portion af kødemner af småkødsstørrelse.
US3473878A (en) * 1966-11-14 1969-10-21 Welch Scient Co The Reflection head for measuring diffuse reflection density
US3718399A (en) * 1971-06-29 1973-02-27 G Kalman Distance compensated reflectance sensor
GB1401957A (en) * 1971-08-12 1975-08-06 Paint Research Ass Colourimeters
US3877818A (en) * 1974-01-28 1975-04-15 Us Agriculture Photo-optical method for determining fat content in meat
US4029420A (en) * 1974-12-27 1977-06-14 Romilly John Simms Light reflectance instrument
US4189335A (en) * 1978-09-28 1980-02-19 The Dow Chemical Company Method for determining distribution of a coating composition on a carpet structure
NL8000349A (nl) * 1980-01-18 1981-08-17 Rijksuniversiteit Broerstraat Optische reflectiemeter.
CA1168064A (en) * 1980-03-22 1984-05-29 Klaus Nenninger Device for positioning a test strip for optical- medical measurements
US4464054A (en) * 1982-05-27 1984-08-07 Pacific Scientific Company Colorimeter instrument with fiber optic ring illuminator

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5149079B1 (ja) * 1966-02-10 1976-12-24
JPS4842224U (ja) * 1971-09-22 1973-05-30
JPS4882960A (ja) * 1972-01-21 1973-11-06
JPS5346074A (en) * 1976-10-08 1978-04-25 Dainichiseika Color Chem Photometer utilizing plane light source

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6113136A (ja) * 1984-06-19 1986-01-21 バイエルコーポレーション 光学的に不均一な試料から拡散反射される光の測定装置及び測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0099024B1 (de) 1988-08-03
DE3226372A1 (de) 1984-01-19
EP0099024A2 (de) 1984-01-25
DE3377591D1 (en) 1988-09-08
ATE36193T1 (de) 1988-08-15
US4568191A (en) 1986-02-04
EP0099024A3 (en) 1984-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5977341A (ja) 反射率測定方法及びそのための装置
JPS5977342A (ja) 反射率測定用ヘツド
US7388675B2 (en) Interferometers for the measurement of large diameter thin wafers
JP2012118071A (ja) 光学系の光学面の間隔を測定する方法及び装置
JPS6327707A (ja) 双曲面鏡検査装置
CN105115701B (zh) 精确测量高功率激光环境中光学镜片透过率的装置和方法
CN104359655A (zh) 离轴抛物面镜焦距的检测装置与检测方法
CN108287058B (zh) 校正高功率激光器m2测量系统热形变的装置及方法
JP2008089356A (ja) 非球面測定用素子、該非球面測定用素子を用いた光波干渉測定装置と方法、非球面の形状補正方法、およびシステム誤差補正方法
CN108139205A (zh) 光学元件特性测定装置
CN107702643B (zh) 法线方向确定系统及方法
US4074937A (en) Optical measuring device
JPH1089935A (ja) 非球面干渉計測装置
CN105674913B (zh) 一种长程光学表面面形检测系统
Gould Non-destructive egg shell thickness measurements using ultrasonic energy
CN109443532A (zh) 一种激光光场互相干系数测试装置
CN215909979U (zh) 一种光谱共焦探头精确对准装置
US3512891A (en) Spherical interferometer
JPH01143906A (ja) 不透明体表裏面の平行度測定装置
CN204202853U (zh) 离轴抛物面镜焦距的检测装置
CN106052548B (zh) 一种便携式高精度大工作距自准直装置与方法
JPS5926022A (ja) 赤外分光計
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
CN106052597B (zh) 一种便携式高频响大工作距自准直装置与方法
SU1308830A1 (ru) Устройство дл контрол толщины тонких пленок