JPS5961754A - フレ−ム原子吸光分析装置におけるバ−ナへの試料供給方法 - Google Patents
フレ−ム原子吸光分析装置におけるバ−ナへの試料供給方法Info
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- JPS5961754A JPS5961754A JP17084382A JP17084382A JPS5961754A JP S5961754 A JPS5961754 A JP S5961754A JP 17084382 A JP17084382 A JP 17084382A JP 17084382 A JP17084382 A JP 17084382A JP S5961754 A JPS5961754 A JP S5961754A
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- sample
- specimen
- burner
- solution
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/714—Sample nebulisers for flame burners or plasma burners
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、フレームを用いた原子吸光分析装置における
バーナへの試料の供給方法の改良に係シ、特に、少量の
試料を自動的にバーナに導入するマイクロサンプリング
方法に関する。
バーナへの試料の供給方法の改良に係シ、特に、少量の
試料を自動的にバーナに導入するマイクロサンプリング
方法に関する。
少１ｔの試別（１０〜２００μｔ）を小さな容器に受け
、これをネプライザにより吸引・噴霧し、フレーム中に
導入するマイクロサンプリング方法については広く知ら
れており、これを自動化することも知られている。この
マイクロサンプリング法の利点として次の点があげられ
る。
、これをネプライザにより吸引・噴霧し、フレーム中に
導入するマイクロサンプリング方法については広く知ら
れており、これを自動化することも知られている。この
マイクロサンプリング法の利点として次の点があげられ
る。
１）通常のフレーム原子吸光分析では、試料が１０ Ｉ
ｌｌ ｉ以上必要であるが、マイクロサンプリング方に
よると１０〜２００μｔ８度の試料での測定を行うこと
ができるため多量の試料の入手が困鑓である生体試料の
測定も可能である。
ｌｌ ｉ以上必要であるが、マイクロサンプリング方に
よると１０〜２００μｔ８度の試料での測定を行うこと
ができるため多量の試料の入手が困鑓である生体試料の
測定も可能である。
２）高濃度の鉄を含む鉄鋼試料、高濃度の食１話を含む
試料および高ａ度の糖を含む試料を測定する場合、通常
の方法では、噴霧量が多く、そのため加熱されたバーナ
スロットに共存物が析出し、フレームが切れたりして炎
が不安定になるとか、測定回数が少なくなるとかの問題
点があったが、マイクロサンプリング法では、１回の測
定量が少ないため、測定回数を多くとることができる。
試料および高ａ度の糖を含む試料を測定する場合、通常
の方法では、噴霧量が多く、そのため加熱されたバーナ
スロットに共存物が析出し、フレームが切れたりして炎
が不安定になるとか、測定回数が少なくなるとかの問題
点があったが、マイクロサンプリング法では、１回の測
定量が少ないため、測定回数を多くとることができる。
３）サンプリング量によシ感度をコントロールすること
ができるので、場合によってυよ希釈等前処理を省略で
きる。
ができるので、場合によってυよ希釈等前処理を省略で
きる。
４）通常の方法では、１回の測定時間は、３０秒から１
分間であったが、マイクロサンプリング法では、１回の
測定を１０秒以内まで短縮できる。
分間であったが、マイクロサンプリング法では、１回の
測定を１０秒以内まで短縮できる。
このような特徴点を生かし７マイクロサンプリング法を
自動化した例がいくつかある。その−例としての従来の
装置では、試料をバーナに供給し、測定を行った後、洗
浄液を流し次の試料をサンプリングする動作を行なって
おシ、サンプリングの１周期は約１５秒であった。この
場合、ある試料の測定後に洗浄１夜を流すのみであシ、
試料測定直前の対策は何等はどこされていない。換言す
れば、測定のｕｉＪ始前や、測定を中断した場合の不安
定さに対する対策がほどこされていないことを意味する
。この従来のマイクロサンプリング法による悪影響の状
態を実験によシ確認し／ヒので、そのデータを第１図に
示す。
自動化した例がいくつかある。その−例としての従来の
装置では、試料をバーナに供給し、測定を行った後、洗
浄液を流し次の試料をサンプリングする動作を行なって
おシ、サンプリングの１周期は約１５秒であった。この
場合、ある試料の測定後に洗浄１夜を流すのみであシ、
試料測定直前の対策は何等はどこされていない。換言す
れば、測定のｕｉＪ始前や、測定を中断した場合の不安
定さに対する対策がほどこされていないことを意味する
。この従来のマイクロサンプリング法による悪影響の状
態を実験によシ確認し／ヒので、そのデータを第１図に
示す。
第１図（ａ）は、まず、蒸留水を３回（左側）測定し、
続いて定濃度の試料（亜鉛）を３回測定した時の吸光度
を示すグラフである。ここで蒸留水の測定開始点におい
て大きなピークが現れ、２回目。
続いて定濃度の試料（亜鉛）を３回測定した時の吸光度
を示すグラフである。ここで蒸留水の測定開始点におい
て大きなピークが現れ、２回目。
３回目の測定においてもわずかながらピークが現われて
いる。又、第１図（ｂ）は、同一試料を４回測定した後
、しばらく測定を中断し２更に４回測定した時得られた
吸光度を示すグラフである。この場合にも測定の開始時
及び中断した後の第１回目の測定においてピークが現れ
ていることが認められる。これらのデータから従来のマ
イクロサンプリング法においては、測定の開始時及び測
定を中断した場合不安定であることが明らかである。
いる。又、第１図（ｂ）は、同一試料を４回測定した後
、しばらく測定を中断し２更に４回測定した時得られた
吸光度を示すグラフである。この場合にも測定の開始時
及び中断した後の第１回目の測定においてピークが現れ
ていることが認められる。これらのデータから従来のマ
イクロサンプリング法においては、測定の開始時及び測
定を中断した場合不安定であることが明らかである。
この不安定さの原因としては、亜鉛やアルミニウムのよ
うな大気から汚染されやすい元素の」場合、測定開始前
、試料の導管が大気によシ汚染されていることが原因し
ていると考えられる。又、一般の試料においても、測定
開始時においては、試料導管が乾燥していたシ、バーナ
チャンバの内部のぬれ状態の変化又はバーナスロットの
温度変化等が不安定さの原因になっていることがわかっ
た。
うな大気から汚染されやすい元素の」場合、測定開始前
、試料の導管が大気によシ汚染されていることが原因し
ていると考えられる。又、一般の試料においても、測定
開始時においては、試料導管が乾燥していたシ、バーナ
チャンバの内部のぬれ状態の変化又はバーナスロットの
温度変化等が不安定さの原因になっていることがわかっ
た。
本発明は、上記従来の欠点およびその原因解明に基づい
てなされたものであシ、このような従来の欠点を）・」
を消し、マイクロサンプリング法の前記利点を発揮させ
ることにより、少量の試料で、硝度よく、且つ迅速々１
ｉｌｌＪ定を行ない得るフレーム原子吸光分析装置Ｉｔ
におけるバーナへの試料供給方法を提供することを目的
とする。
てなされたものであシ、このような従来の欠点を）・」
を消し、マイクロサンプリング法の前記利点を発揮させ
ることにより、少量の試料で、硝度よく、且つ迅速々１
ｉｌｌＪ定を行ない得るフレーム原子吸光分析装置Ｉｔ
におけるバーナへの試料供給方法を提供することを目的
とする。
本発明は、マイクロサンプリング法における不安定要因
が、試料のＶ＞人前、バーナ系統の大気による汚染や、
導層の状態の変化にあることを実験によシ確認し、その
現象の除去のために、試料注入前に蒸留水又はダミー溶
液を注入するようにしたものである。
が、試料のＶ＞人前、バーナ系統の大気による汚染や、
導層の状態の変化にあることを実験によシ確認し、その
現象の除去のために、試料注入前に蒸留水又はダミー溶
液を注入するようにしたものである。
第２図に本発明の一実施方法を実施するためのフレーム
原子吸光分析装置の一例を示す。
原子吸光分析装置の一例を示す。
この装置θは、試料及び溶液の吸入、排出を行うサンプ
リングノズル１０、サンプルディスク部２０、試料以外
の溶液用容器列３０、シリンジ部４０、サンプリングノ
ズル、駆動部５０、バーナ部６０及び装置全体を定めら
れたシーケンスによシ動作させるための制御部７０よシ
構成されている。
リングノズル１０、サンプルディスク部２０、試料以外
の溶液用容器列３０、シリンジ部４０、サンプリングノ
ズル、駆動部５０、バーナ部６０及び装置全体を定めら
れたシーケンスによシ動作させるための制御部７０よシ
構成されている。
サンプリングノズルｌＯは、駆動部５０によシ上下、左
右に移動されるごとく連結板５２により駆動機ｔｉＨ４
と連結されている。同時にサンプリングプローブ１０は
試料用シリンジ４２と溶液用シリンジ４４に連結されで
いる。サンプルディスク部２０には、複数のサンプル容
器２２を配置するターンテーブル２４が設けられている
。溶液用容器列３０には、洗浄液容器３２、ダミー溶液
容器ａｉ、ｊ、Ｂｒ準浴溶液容器３６配置されている。
右に移動されるごとく連結板５２により駆動機ｔｉＨ４
と連結されている。同時にサンプリングプローブ１０は
試料用シリンジ４２と溶液用シリンジ４４に連結されで
いる。サンプルディスク部２０には、複数のサンプル容
器２２を配置するターンテーブル２４が設けられている
。溶液用容器列３０には、洗浄液容器３２、ダミー溶液
容器ａｉ、ｊ、Ｂｒ準浴溶液容器３６配置されている。
バーナ部６０１１″ｉ、試料受容器６１、ネプライザ６
２、バーナチャンバ６３によシ構成されておシ、光度計
の光軸６５は炎６４を通過するよう配置されでいる。
２、バーナチャンバ６３によシ構成されておシ、光度計
の光軸６５は炎６４を通過するよう配置されでいる。
上記構成において、サンプリングノズル１０は、ターン
テーブル２４と溶液容器列３０の間を移動すると共に上
下動してサンプル容器２２及び洗浄液容器３２からサン
プル及び洗浄液を一定■吸入する。更に、サンプリング
ノズル１０は ）Ｚ−す６０の試料受容器６１上に移動
し、前記吸入し±試料及び洗浄液を排出する。これらの
動作タイミングは、制御部７０により制御される。
テーブル２４と溶液容器列３０の間を移動すると共に上
下動してサンプル容器２２及び洗浄液容器３２からサン
プル及び洗浄液を一定■吸入する。更に、サンプリング
ノズル１０は ）Ｚ−す６０の試料受容器６１上に移動
し、前記吸入し±試料及び洗浄液を排出する。これらの
動作タイミングは、制御部７０により制御される。
次に本発明に係る試別供給方法の基本シーケンスについ
て説明する。第３図は、本発明に係る基本シーケンスに
よる試料及び試料以外の溶液のサンプリング状態を示す
図である。尚、このシーケンスｔよ、第２図に示す装置
４及び上述の動作によシ行われ次のステップを有する。
て説明する。第３図は、本発明に係る基本シーケンスに
よる試料及び試料以外の溶液のサンプリング状態を示す
図である。尚、このシーケンスｔよ、第２図に示す装置
４及び上述の動作によシ行われ次のステップを有する。
１）洗浄液容器３２から洗浄液を吸入する。
２）ノズル１０は、持ち上げられて、空気を吸入する（
ｌＯμを相当量）。このステップは後続の試料と洗浄液
との混合を防止するために必要である。
ｌＯμを相当量）。このステップは後続の試料と洗浄液
との混合を防止するために必要である。
３）試料容器２２から一定量の試料を吸入する（試料の
、ｆｄは、場合によって異なるが、１０〜２００μｔの
範囲が多く用いられる。）。
、ｆｄは、場合によって異なるが、１０〜２００μｔの
範囲が多く用いられる。）。
４）ノズルｉｏｉ、ｔ、持ち上げられて、再び空気を工
０μｔイ目当月、吸入する。上述の第２ステツプと同じ
理由による。
０μｔイ目当月、吸入する。上述の第２ステツプと同じ
理由による。
５）洗浄液容器３２から洗浄液を吸入する。
以上の１）〜５）までのステップを行なった時のノズル
１０内の状態は、第３図に示されている通シ、試料１０
０１−ｊ：、上下に空気１０２を介して洗浄液１０４で
挾まれている。
１０内の状態は、第３図に示されている通シ、試料１０
０１−ｊ：、上下に空気１０２を介して洗浄液１０４で
挾まれている。
６）ノズル１０は、バーナ６０の試料受容器６１上に移
動し、最後に吸入した洗浄液１０４（上述の第５ステツ
プによる。トをを排出する。このステップによりバーナ
系６０の試料受容器６１、バーナチャンバ６３等の導管
を洗浄する。
動し、最後に吸入した洗浄液１０４（上述の第５ステツ
プによる。トをを排出する。このステップによりバーナ
系６０の試料受容器６１、バーナチャンバ６３等の導管
を洗浄する。
７）試料１００を排出する。この試料１００は、ネプラ
イザ６２によシ吸引され、原子化されて、光度計（図示
せず）によシ吸光度が測定される。
イザ６２によシ吸引され、原子化されて、光度計（図示
せず）によシ吸光度が測定される。
８）最初に吸入した洗浄液１０４を排出する。
この洗浄液１０４によシバーナ系６０内の残留試料を洗
浄し、キャリーオーバを防止する。
浄し、キャリーオーバを防止する。
以上のステップが終ったら、ノズル１０は、再び洗浄液
容器３２上に移動し、第１ステツプからの動作が行われ
る。上記洗浄液の量は、試料の種り：ｄ−や量によって
決定されるべきであシ、必要な量は、制御部７０により
コントロールされる。水溶液に近い試別の場合、試料量
の１．５〜２倍、血清や血液のＪａ！Ｊ合、３〜５倍程
度の洗浄液量が好ましい。
容器３２上に移動し、第１ステツプからの動作が行われ
る。上記洗浄液の量は、試料の種り：ｄ−や量によって
決定されるべきであシ、必要な量は、制御部７０により
コントロールされる。水溶液に近い試別の場合、試料量
の１．５〜２倍、血清や血液のＪａ！Ｊ合、３〜５倍程
度の洗浄液量が好ましい。
第６及び第７ステツプで述べた通シ、本実施例によるシ
ーケンスでは、試料１００をバーナ系６０に導入する直
前に洗浄液１０４を流す方法をとっている。これによシ
、バーナ系６００大気による汚染を防止できると共に測
定の開始時及び測定を中断した場合もバーナ系は、試料
の直前に流される洗浄液によって常に同じ状ｆ７ｑ （
／（保たれるので不安定さけ解消される。よって、第１
図に示すような問題点を解決することが出来る。また、
試料の前後に洗浄液が流されるので、有機溶媒の測定も
可能となる。
ーケンスでは、試料１００をバーナ系６０に導入する直
前に洗浄液１０４を流す方法をとっている。これによシ
、バーナ系６００大気による汚染を防止できると共に測
定の開始時及び測定を中断した場合もバーナ系は、試料
の直前に流される洗浄液によって常に同じ状ｆ７ｑ （
／（保たれるので不安定さけ解消される。よって、第１
図に示すような問題点を解決することが出来る。また、
試料の前後に洗浄液が流されるので、有機溶媒の測定も
可能となる。
次に上記本発明に係る基本シーケンスの変形例を以下に
示す。
示す。
変形例１：
このシーケンスにおいては、上述の基本シーケンスにお
ける第５ステツプで洗浄液を吸入する代シに、ダミー溶
液容器３４からダミー溶液を吸入する方法をとる仁とを
特徴とする。従って上記第６ステツプにおいて洗浄液が
バーナ系に導入される代シに、本変形例における方法で
は、ダミー溶液がバーナ系に導入される。これ以外のス
テップは、基本シーケンスにおける各ステップと同じで
あり、同じ動作が行われる。洗浄液の代りにダミー溶液
を使用する利点としては、上記基本シーケンスにおける
利点の外に次のことが期待できる。
ける第５ステツプで洗浄液を吸入する代シに、ダミー溶
液容器３４からダミー溶液を吸入する方法をとる仁とを
特徴とする。従って上記第６ステツプにおいて洗浄液が
バーナ系に導入される代シに、本変形例における方法で
は、ダミー溶液がバーナ系に導入される。これ以外のス
テップは、基本シーケンスにおける各ステップと同じで
あり、同じ動作が行われる。洗浄液の代りにダミー溶液
を使用する利点としては、上記基本シーケンスにおける
利点の外に次のことが期待できる。
即ち、測定する試料によって、洗浄液との組成が極端に
異なる場合、バーナ系の内部状態が急変するために生来
される不安定現象を解消できる。このように、本変形例
によれば、ダミー溶液を溶液列３０に併設するだけで、
広い範囲の試料を安定に測定できるという効果がある。
異なる場合、バーナ系の内部状態が急変するために生来
される不安定現象を解消できる。このように、本変形例
によれば、ダミー溶液を溶液列３０に併設するだけで、
広い範囲の試料を安定に測定できるという効果がある。
本変形例によるサンプリングで＆Ｊ： 、第４］シ１に
示されている通シ、試料１００の吸入後、空気１０２を
介してダミー溶液１０６が吸入さｉｚている。従つて、
このシーク“ンスを繰シ返した場合、試料１００は、ダ
ミー溶液１０６に挾まれた形でバーナ系６０に導入され
ることになる。
示されている通シ、試料１００の吸入後、空気１０２を
介してダミー溶液１０６が吸入さｉｚている。従つて、
このシーク“ンスを繰シ返した場合、試料１００は、ダ
ミー溶液１０６に挾まれた形でバーナ系６０に導入され
ることになる。
変形例２：
変形例２のシーケンスにょる一リンプリングの状態を第
５図に示す。これｔま基本シーケンスにおける試料吸入
ステップ（第３ステツプ）を複数回にわけて吸入するこ
とを特徴とする。この変形例によって、同一試料を２回
以上繰り返し測定することが出来、平均値’ｌｊｔ ’
Ｊ’Ｊ：を行うことにょシ測定８’Ｎ度を更に向上でき
るという効果が期鞘できる４、又、本変形例によれば、
第３図、第４図に示すシーケンスの繰シ返し測定に比べ
、はるかに短い時間で繰り返し測定かできるという効果
もある。第５図においては、変形例２を変形例１（第４
図）の変形として図示したが、基本シーケンス（第３図
）の変形であってもよいことはもちろんである。
５図に示す。これｔま基本シーケンスにおける試料吸入
ステップ（第３ステツプ）を複数回にわけて吸入するこ
とを特徴とする。この変形例によって、同一試料を２回
以上繰り返し測定することが出来、平均値’ｌｊｔ ’
Ｊ’Ｊ：を行うことにょシ測定８’Ｎ度を更に向上でき
るという効果が期鞘できる４、又、本変形例によれば、
第３図、第４図に示すシーケンスの繰シ返し測定に比べ
、はるかに短い時間で繰り返し測定かできるという効果
もある。第５図においては、変形例２を変形例１（第４
図）の変形として図示したが、基本シーケンス（第３図
）の変形であってもよいことはもちろんである。
変形例３：
変形例３によるシーケンスにおけるサンプリングの状態
を第６図に示す。本変形例では、第２図における溶液容
器列３０に更に１」Ｉ′４準溶液溶液容器３Ｇ置し、標
準溶液工ｏ８をもサンプリングするようにしたものであ
る。この方法にょシ標準溶液および試料を非常に短い時
間で測定することができるので、長時間を要する場合に
比べ、燃焼条件の変化や、光度計における光源変Ｍによ
る感度の変化を無視できるという効果がある。
を第６図に示す。本変形例では、第２図における溶液容
器列３０に更に１」Ｉ′４準溶液溶液容器３Ｇ置し、標
準溶液工ｏ８をもサンプリングするようにしたものであ
る。この方法にょシ標準溶液および試料を非常に短い時
間で測定することができるので、長時間を要する場合に
比べ、燃焼条件の変化や、光度計における光源変Ｍによ
る感度の変化を無視できるという効果がある。
以上、種々の変形例をそれぞれ独立に説明したが、測定
する試料によっては、基本シーケンス及びこれ等の変形
例を適当に組合せることによって当該試料の性質に最適
なシーケンスを組むことができる。そのために第２図に
示した装置の基本構成を変える必要はなく制御部７０に
おける制御プログラムケ賀更するだけでよい。
する試料によっては、基本シーケンス及びこれ等の変形
例を適当に組合せることによって当該試料の性質に最適
なシーケンスを組むことができる。そのために第２図に
示した装置の基本構成を変える必要はなく制御部７０に
おける制御プログラムケ賀更するだけでよい。
以上本発明によれば、試料の１）０後に洗浄液又は他の
溶液を配することによって、マイクロｆ７プリング法に
おける測定イ１）□度を向上でき、又多段に試料又は溶
液をサンプリングすることによって測定時間を短縮でき
、ひいては測定精度の向上という効果がある。
溶液を配することによって、マイクロｆ７プリング法に
おける測定イ１）□度を向上でき、又多段に試料又は溶
液をサンプリングすることによって測定時間を短縮でき
、ひいては測定精度の向上という効果がある。
第１図は従菱放子吸光分析装置における一イクロサンプ
リング法による測定値を示す図、第２図ｔよ本発明の一
実施方法を実施するためのフレーム原子吸光分析装置の
配ｆｉ＆図、第３図は本発明の一実施方法の動作を説明
するだめのサンプリング状態を示す図、第４図〜第６図
は第３図に示すサンプリングの変形例金示す図である。 １０・・・ザンプリングノズル、２ｏ・・・サンプルデ
ィスク部、２２・・・試料容器、３ｏ・・・溶液容器列
、３２・・・洗浄液容器、３４・・・ダミー溶液容器、
３６・°・標準溶液容器、４ｏ・・・シリンジ部、５ｏ
・・・サンプリングノズル駆動部、６ｏ・・・バーナ部
、７ｏ・・・制御部、１００・・・試料、１ｏ２・・・
空気、１ｏ４・・・洗浄液、１０６・・・ダミー溶液、
１ｏ８・・・標準溶液。 そ １ 囚 □時間 ｅ４聞 第 ３ｎ 鵠 ４図 ダ ５［］ 讃 ろ因
リング法による測定値を示す図、第２図ｔよ本発明の一
実施方法を実施するためのフレーム原子吸光分析装置の
配ｆｉ＆図、第３図は本発明の一実施方法の動作を説明
するだめのサンプリング状態を示す図、第４図〜第６図
は第３図に示すサンプリングの変形例金示す図である。 １０・・・ザンプリングノズル、２ｏ・・・サンプルデ
ィスク部、２２・・・試料容器、３ｏ・・・溶液容器列
、３２・・・洗浄液容器、３４・・・ダミー溶液容器、
３６・°・標準溶液容器、４ｏ・・・シリンジ部、５ｏ
・・・サンプリングノズル駆動部、６ｏ・・・バーナ部
、７ｏ・・・制御部、１００・・・試料、１ｏ２・・・
空気、１ｏ４・・・洗浄液、１０６・・・ダミー溶液、
１ｏ８・・・標準溶液。 そ １ 囚 □時間 ｅ４聞 第 ３ｎ 鵠 ４図 ダ ５［］ 讃 ろ因
Claims (1)
- １、 試料容器からフレーム原子吸光光度計に自動的に
試料を供給する試料供給装置において、試料を試別以外
の溶液で挾んでバーナに供給するようにしたことを特徴
とするフレーム原子吸光分析装置におけるバーナへの試
料供給方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17084382A JPS5961754A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | フレ−ム原子吸光分析装置におけるバ−ナへの試料供給方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17084382A JPS5961754A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | フレ−ム原子吸光分析装置におけるバ−ナへの試料供給方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961754A true JPS5961754A (ja) | 1984-04-09 |
Family
ID=15912351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17084382A Pending JPS5961754A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | フレ−ム原子吸光分析装置におけるバ−ナへの試料供給方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961754A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH049747A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-14 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JPH05164688A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析方法 |
-
1982
- 1982-10-01 JP JP17084382A patent/JPS5961754A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH049747A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-14 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JPH05164688A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析方法 |
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