JPS5961705A - Inspecting device of mounted chip and parts - Google Patents

Inspecting device of mounted chip and parts

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Publication number
JPS5961705A
JPS5961705A JP57172710A JP17271082A JPS5961705A JP S5961705 A JPS5961705 A JP S5961705A JP 57172710 A JP57172710 A JP 57172710A JP 17271082 A JP17271082 A JP 17271082A JP S5961705 A JPS5961705 A JP S5961705A
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JP
Japan
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chip
signal
parts
waveform
reference signal
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Pending
Application number
JP57172710A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Teruaki Takamune
高宗 「えい」暁
Masatoshi Tomioka
富岡 正敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP57172710A priority Critical patent/JPS5961705A/en
Publication of JPS5961705A publication Critical patent/JPS5961705A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable automatic inspection of propriety of mounted chip and parts by comparing a video signal by a TV camera which photographs a printed circuit board having chip and parts to be inspected with a reference signal prepared and memorized based on the accepted printed circuit board. CONSTITUTION:When a chip and parts are mounted normally, the state of the actual mounting of the chip and parts 1 is photographed with a TV camera and a signal having the output signal overlapping a reference signal previously prepared is displayed on a monitor TV. The video signal on the horizontal scan line Li of the TV camera has the waveform as indicated by (b) while the reference signal at the same position on the horizontal scan line has the waveform as indicated by (c). ANDing between the (b) and (c) gives the waveform as indicated by (d). The waveform (d) is at a low level and no high level output is obtained. The absence of the high level output enables the judgement that the chip and parts 1 are mounted at the normal position. The state of mounting massive chip and parts at a high density can be inspected at a high speed with a high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電イ回路を必要とする電イ機詣のlト産におい
て、その電子回路がチップ部品等と印刷配線基板とで構
成されている場合に利用できるチップ部品の実装検査装
置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Field of Application The present invention is applicable to electronic circuits that require electronic circuits, and where the electronic circuits are composed of chip components and printed wiring boards. The present invention relates to a chip component mounting inspection device that can be used for.

従来例の構成とその問題点 近年、テープレコーダ、ヌデレオンヌテム、ラジオ受信
機等の電子機器は、省ヌベーヌ、携帯性の向上、省資源
化等のために、小型化、軽相イヒか進んでおり、このだ
め電子回路に使用する抵抗器。
Conventional configurations and their problems In recent years, electronic devices such as tape recorders, Nudeleon Nutem, and radio receivers have become smaller and lighter in size in order to save energy, improve portability, and save resources. , a resistor used in electronic circuits.

コンデンサ等にチップ部品が多く採用されるようになっ
てきた。
Chip components are increasingly being used in capacitors and other products.

これらチップ部品の印刷配線基板への実装は入子では困
僚Eであり、量産化する場合は全て機械で行われている
が、その実装状態は100%満足とは言えない。チップ
部品が印刷配線基板に実装される場合、正しい場所にチ
ップ部品が無かったり、実装されていても位置がずれて
いて正常な回路動作が行われない等の実装の不具合が起
きている。
Mounting these chip components onto a printed wiring board is difficult with nesting, and when mass production is carried out, everything is done by machine, but the mounting condition cannot be said to be 100% satisfactory. When chip components are mounted on a printed wiring board, mounting problems occur, such as the chip components not being in the correct location, or even if the chip components are mounted, the position is shifted and the circuit does not operate normally.

このためチップ部品の実装状態の良否の検査をイーtっ
でいる。
For this reason, inspection of the quality of the mounting state of chip components is carried out.

従来、」二記の検査は人が目視で千ノブ部品の火装状6
を1つ1つ確認することにより行っている。
Conventionally, the inspection described in Section 2 was conducted visually by humans to determine the fire mount condition of the parts.
This is done by checking each item one by one.

すなわち、チップ部品が印刷配線基板の上に正常な実装
置頭囲の内側に実装されているかどうかを検査者が直接
目で見て判定し、検査するわけである。
That is, the inspector visually determines whether the chip component is mounted on the printed wiring board within the normal head circumference of the actual device, and performs the inspection.

しかしながら、上記のような検査か法では検査者の口の
疲れが激しいこと、身体の疲労から来る判定誤り等の理
由により、チップ部品の実装異常を見逃してしまうこと
がしばしばあり、また検査速度が遅いとと雪−の問題点
をイ1していた。
However, with the above-mentioned inspection method, abnormalities in the mounting of chip components are often overlooked due to the inspector's mouth being severely fatigued, judgment errors caused by physical fatigue, etc., and the inspection speed is slow. I was worried about the slow speed and the problem of snow.

発明の目的 本発明は上記従来の問題点を解消するもので、チップ部
品が印刷配線基板に実装さhだ状態が1F常かどうか、
す々わちチップ部品のイ4.Ijjli、正しい実装範
囲からのずれ竹に関して高速度、高情度かつ自動的に検
査を行うチップ部品の実装検査装置を提供することを目
的とする。
Purpose of the Invention The present invention solves the above-mentioned conventional problems.
A4. Chip parts. An object of the present invention is to provide a chip component mounting inspection device that automatically performs high-speed, sensitive, and automatic inspection for deviations from the correct mounting range.

発明のl’f+1成 本発明は、斜めより照らす照明器をlR11えたテレビ
ジョンカメラと、モニターテレビジョンと、基環′仔T
写を言己・臆するメモリー回路と、借り比小父器とを備
えたチップ部品の実装検査装置であり、予めチップ部品
が正常に実装された印刷配線基板で作成して記憶してお
いた基174信号と実際に検査しようとする被検査用の
チップ部品が実装された印刷配線基板をテレビジョンカ
メラで撮像した映像信号とを比較することにより、自動
的に検査するようにしたものである。
l'f+1 construction of the invention The present invention comprises a television camera equipped with an illuminator that illuminates from an angle, a monitor television, and a base ring.
This is a chip component mounting inspection device equipped with a memory circuit for copying and copying, and a borrowing device. This system automatically performs inspection by comparing the base 174 signal with the video signal captured by a television camera of the printed wiring board on which the chip component to be inspected is mounted. .

実施例の説明 以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

寸ず第1図は本発明の−・実施例における(14成図を
示すものである。チップ部品1が実装され/ζ印刷配線
基板2が位置規制ガイ1−12を(Iiiiえた111
台11の」二に位置決めされている。
FIG. 1 shows a (14 diagram) in an embodiment of the present invention.A chip component 1 is mounted/ζ printed wiring board 2 has a position regulating guide 1-12 (111
It is positioned at the second position of the stand 11.

この装置の環境照明を暗いめにして、斜めより千ノブ部
品1を照らす局部的照明ランプ13によりチップ部品1
に影を形成する。これを上からテレビジョンカメラ8で
撮像する。このカメラ8は取LI台9に取付られており
、この取(=1台9は基台14上で任意の位置決めが可
能な位置決め台、すなわちx−Yテーブル10に固定さ
れている。22はモニタープレビジョンであり、3Qは
テレビジョンカメラコンl−ロール部やコンピューター
などの電r回路部を組込んでいる筐体である。
The environmental illumination of this device is dimmed, and the chip component 1 is illuminated by a local illumination lamp 13 that illuminates the thousand knob component 1 from an angle.
form a shadow. This is imaged from above with a television camera 8. This camera 8 is attached to a mounting LI stand 9, and this mounting LI stand 9 is fixed to a positioning stand that can be positioned arbitrarily on a base 14, that is, an x-y table 10. This is a monitor pre-vision, and 3Q is a housing that incorporates a television camera control unit and an electric circuit unit for a computer.

第2図り、1.:、記装置肖のブロック図を示すもので
ある。
Second diagram, 1. : shows a block diagram of the recording device.

この第2図において、16はテレビジョンカメラ8のコ
ントロール回路であり、映像信り増11]器162L、
2値化回路16b、信すリ替ヌイノチ’ ”” + 偏
向回路’ 6 d rアドレヌバヌバノファー回路15
8からなっている。27は2値化レベル電1イ:発生器
で、コンピュータ17の指令によりインタフ−7,−ス
16を介して制御1され、そのレベルも指定される。2
0はX−Yテーブル10を移動さぜるバルメモ−タIC
1の駆動回路で、数値制御回路21で制御さi上る。そ
してこの数値制御回路21は二1ンビューク17の指令
によりインクフェース19を介して制御数価の値の1眉
示を受ける。23−1lj’l jLiアl’レスバス
バッフy  l+’lfr洛15eの出力をメモリーす
るメモリー回路で、読み出しにおいては基21/s信υ
発牛器として機能する。24はメモリー回路23の書き
込み、読み出し制御をコンピュータ17の指令に皓つい
てインクフェース16を介して行うメモリーコントロー
ル回路でアル。25はスイッチインクフェース回路で1
,1itu弗信号書込みスイッチ26の操作の結果をメ
モリーコントロール回路24に入力するためのものであ
る。28は映像信号と基準信−写を同時にモニターテレ
ビジョン22に映し出すだめの重畳器であり、29は映
像信号と基準信号を比較し、不一致点があれば出力をす
る比較器である。18は基準信号及び本装置の全般の制
御を行うコンピュータブロクラムの外部メモリーであり
、−例としてカ七ノl一式テープレコーダーが使用され
る。
In FIG. 2, 16 is a control circuit for the television camera 8;
Binarization circuit 16b, conversion circuit 16b + deflection circuit 6
It consists of 8. Reference numeral 27 denotes a binary level generator, which is controlled by instructions from the computer 17 via the interface 16, and its level is also specified. 2
0 is a valme motor IC that moves the X-Y table 10
The drive circuit 1 is controlled by the numerical control circuit 21. The numerical control circuit 21 receives an indication of the value of the control value via the ink face 19 in response to a command from the printer 17. 23-1lj'l jLi'res bus buffer y l+'lfrA memory circuit that stores the output of Raku 15e.
Functions as a cow generator. Reference numeral 24 denotes a memory control circuit that controls writing and reading of the memory circuit 23 via the ink face 16 in response to commands from the computer 17. 25 is switch ink face circuit 1
, 1 itu is for inputting the result of the operation of the signal write switch 26 to the memory control circuit 24. Reference numeral 28 is a superimposition device for displaying the video signal and the reference signal on the monitor television 22 at the same time, and 29 is a comparator that compares the video signal and the reference signal and outputs an output if there is any discrepancy. Reference numeral 18 is an external memory of a computer block for providing reference signals and general control of the apparatus; for example, a K7-1 tape recorder is used.

以」二のように描成された本実施例のチップ部品の実装
検査装置について、以1−その動作を説明する。
The operation of the chip component mounting inspection apparatus according to the present embodiment, which is illustrated as shown in 2 below, will be described below.

まず、動作は2つに分けられる。1つは検査に必要な基
準信号の作成過程であ秒、もう1つは“JJ際に前記基
準信号を使って検査する動作である。
First, the operation can be divided into two parts. One is the process of creating a reference signal necessary for inspection, and the other is the operation of inspecting using the reference signal during JJ.

最初に、基準信号の作成に:、第3図に示すよう(こデ
ツプ部品1が11°常にかつできるだけ予め定めらノし
た実装位置の中、1)価に近い位F′1′に実装されて
いる印刷配線に(IJV、2 (以1・基板2と呼ぶ)
を(小用して行う。このチップ部品1が正常位置に実装
された基板2を」ル台11士に位置規制ガイド′12で
位11イ1規制して取(=1ける。そして第4図に示す
ように1!(′!明ジンブ′13により斜め1から光を
当てると第6図のように各チップ部品1に影3ができる
First, to create a reference signal: As shown in FIG. (IJV, 2 (hereinafter referred to as 1/board 2)
The board 2 on which the chip component 1 is mounted in the normal position is placed on the base 11 by regulating the position 11 with the position regulating guide '12 (= 1). As shown in the figure, when light is irradiated from an oblique angle 1 using the 1!

第6図にチップ部品1が正常な実装;頭囲4の中心イ\
゛f買に実装されている状態を拡大して示す。そして第
6図に示す基板2をテレビジョンカメラ8で撮像し、こ
の撮像出力をモニターテレビジョン22で見るとやはり
第6図と同じになる。第7図の二車斜線部6はチップ部
品1がif(常なりご装;面囲4内で境界線までずれて
実装され、しかもその時のあらゆる場合の実装されがた
を憩定したときに常に影として存在する部分である。こ
の部分を拡大して示したのが第8図の6である。1記の
モニタープレビジョン22に映し出された1131而を
児ながら、第2の映像信号(白い信号)を」−配給8図
の6の部分に重畳させて基Ng倍信号作成していく。こ
の第2の映像信号が第9図の白い部分子であり、これが
基準信号となる。
Figure 6 shows normal mounting of chip component 1; center point of head circumference 4
゛This is an enlarged view of how it is implemented in F-Buy. When the substrate 2 shown in FIG. 6 is imaged by the television camera 8 and the imaged output is viewed on the monitor television 22, it will be the same as that shown in FIG. The diagonal shaded area 6 in FIG. 7 indicates if the chip component 1 is mounted shifted to the boundary line within the surface area 4, and the mounting position in all cases at that time is corrected. This is the part that always exists as a shadow. This part is enlarged and shown in 6 of Fig. A base Ng signal is created by superimposing the white signal) on the part 6 in Fig. 8. This second video signal is the white part molecule in Fig. 9, and this becomes the reference signal.

以−にの動作について第2図で説明すると、テレビジョ
ンカメラ8でjJ−常にチップ部品1が実装された基板
2を撮像し、その結果としての映像信号を映像信号増[
IJ器15aで増[IJシ、その出力を2値化回路16
bで2値化し、そしてこの2値化出力を信号切換ヌイノ
チ150および重畳器28を経由してモニターテレビジ
ョン22に写シ出ス。
The following operation will be explained with reference to FIG. 2. The television camera 8 always images the board 2 on which the chip component 1 is mounted, and the resulting video signal is multiplied by the video signal [
The IJ unit 15a increases [IJ unit, its output is converted into a binary circuit 16
b, and the binary output is output to the monitor television 22 via the signal switching device 150 and the superimposing device 28.

一方、作業者が第5図に示ず影3のところに第9図に示
す白い部分7が形成されるように基準侶づ書込みヌイノ
チ26を操作し、メイノチインタフェース回路26を介
してメモリーコントl−1−/L/回路24を動作させ
、メモリー回路(RAM )23に書込む。このメモリ
ー回路23に書込まれた映像信号は時々刻々と出力され
ており、重畳器28を経由してモニターテレビジョン2
2に写し出さhる。したがって、モニターテレビジョン
22にはテレビジョンカメラ8からの信号と作業者がそ
の信写に沿って11−成した信ダの2つが同時に写し出
される。なおメモリー回路23のRAMの番地は、カメ
ラコントロール回路15の中の偏向回路16dの発振に
同期さぜられたアIパレヌハスハノファー回路158に
より作成される。
On the other hand, the operator operates the standard writing pad 26 so that a white portion 7 shown in FIG. 9 is formed at the shadow 3 not shown in FIG. The l-1-/L/ circuit 24 is operated and data is written to the memory circuit (RAM) 23. The video signal written in this memory circuit 23 is outputted every moment, and is sent to the monitor television 2 via a superimposing device 28.
Photo 2. Therefore, the monitor television 22 simultaneously displays two signals: the signal from the television camera 8 and the signal 11 made by the worker along with the signal. Note that the address of the RAM of the memory circuit 23 is created by an AI-paranuhas Hannover circuit 158 synchronized with the oscillation of the deflection circuit 16d in the camera control circuit 15.

次に−1−1記のようにして作成した検査用の、!故f
tツ信シ3を用いて、被検査物としてのチップ部品が実
装された。17(板の横行について説明する。
Next, for the inspection created as described in -1-1,! late f
A chip component as an object to be inspected was mounted using the T-transfer 3. 17 (Explain the horizontal movement of the board.

寸ず、第10図によりチップ部品が1F:常に実装され
ている基板について説明する。第10図(a)はチップ
部品1が正常に実装されている状態をテレビジョンカメ
ラ8で撮像し、その出力借りと先に作成し/と基準信号
を重畳しノこは号をモニターテレビジョン22に写し出
したものである。この場合におけるテレビジョンカメラ
8の水平走査線L1における映像信号は(b)に示す波
形であり、上記水平ル存線と同じ位置における基準信号
は(c)に示す波形である。(bl)と(C)の両信号
のアンドをとると(d)の波形となる。すなわち、この
(d)の波形はローレベ′  ルであり、ハイレベルの
出力は得らJLない。
For a moment, a substrate on which chip components are always mounted on 1F will be explained with reference to FIG. FIG. 10(a) shows a state in which the chip component 1 is normally mounted, which is imaged by a television camera 8, and the output of the image is superimposed with the previously created reference signal. This is a photograph taken on page 22. In this case, the video signal on the horizontal scanning line L1 of the television camera 8 has the waveform shown in (b), and the reference signal at the same position as the horizontal scanning line has the waveform shown in (c). When both signals (bl) and (C) are ANDed, the waveform shown in (d) is obtained. That is, the waveform (d) is at a low level, and no high level output is obtained.

このハイレベルの出力がないことでチップ部品1が正常
位置に実装されていると判断する。
The absence of this high level output determines that the chip component 1 is mounted in the normal position.

なお、チップ部品1の実装位置が正常々実装範囲であれ
ば影3内に・必ず白い部分7が全て位置するため、ハイ
レベルの出力は発生せず、したがってとれにおいても良
品判定が行われる。
Note that if the mounting position of the chip component 1 is within the normal mounting range, the entire white portion 7 is always located within the shadow 3, so a high level output is not generated, and therefore, a non-defective product is determined even if the chip component 1 is removed.

次に実装が異常、すなわち千ノブ部品1がずれすぎて実
装されている場合の判定について第11図を用いて説明
する。チップ部品1が第11図(a)に示すようにずれ
すぎていると、これに伴って影3もずれすぎとなり、こ
れに対して基準信りは固定されているので、水平走査線
L1における映像信号は同図(′b)の波形となり、こ
れに列して基準信号は同図(C)の波形である。なおこ
の波形(0)は第10図の波形(C)と全く同じである
。ぞして第11図の波形(b)と(C)の両信号のアン
ドをとると同図(d)の波形となり、ハイレベルのパル
スが得られる。すなわち、このハイレベルのパルスの出
力で実装状態が異常であると判断される。
Next, the determination when the mounting is abnormal, that is, when the thousand-knob component 1 is mounted with too much deviation will be explained with reference to FIG. If the chip component 1 is shifted too much as shown in FIG. The video signal has the waveform shown in ('b) in the same figure, and the reference signal has the waveform shown in (C) in the same figure. Note that this waveform (0) is exactly the same as the waveform (C) in FIG. Therefore, by ANDing the signals of waveforms (b) and (C) in FIG. 11, the waveform shown in FIG. 11(d) is obtained, and a high-level pulse is obtained. That is, the output of this high-level pulse determines that the mounting state is abnormal.

このように本実施例の検査装置は、基準信シフとチップ
部品の実装済の印刷配線基板をテレビジョンカメラで撮
像した映像借り・の論理積をとることで比較し、その比
較の結果パルヌ出力が出なければ異常なし、パルス出力
が出れば異常ありとの判′jドをするものである。
In this way, the inspection device of this embodiment compares the reference signal shift and the printed wiring board on which chip components are mounted by taking the logical product of the image captured by the television camera, and as a result of the comparison, the PALNU output is obtained. If no pulse output appears, it is determined that there is no abnormality, and if a pulse output is generated, it is determined that there is an abnormality.

なお、に記犠準信号を予め第2図に示すメモリ・−回路
23に記憶させておき、印刷配線基板を撮像するに際し
て上記メモリー回路23から記憶内容を読み出して撮像
信号と比較することができる。
The sacrificial reference signal described above can be stored in advance in the memory circuit 23 shown in FIG. 2, and when imaging the printed wiring board, the stored contents can be read out from the memory circuit 23 and compared with the imaging signal. .

以1の動作を第2図で示すブロック図で説明すると、テ
レビジョンカメラ8で被検査物であるチップ部品1が実
装された基板2を撮像し、その結果としての映像借りを
映像信号噌III ?ri 16 aで増11jシ、こ
れを2(lT+、化回路15bで2値化し、比11(り
器29に人力する。一方メモリー回路23より読み出さ
れた信号、すなわち基準信号も比1〔ぐ器29に人力さ
れる。そして比較器29の出力、すなわち第10図およ
び第11図の(d)に示す波形の信号は良否の判定結果
であり、これをインタフェース16を経111シてコン
ピュータ17が読み1■す、検査結果が異常ありの場合
はその異常発生箇所をモニターテレビジョン22の画面
上に表示もしくは印刷配線基板2の上に直接マーキング
する。
The following operation will be explained using the block diagram shown in FIG. ? The signal is increased by 11j in ri 16 a, and this is converted into 2 (lT+) by the conversion circuit 15b, and then inputted to the ratio 11 (reducer 29).Meanwhile, the signal read out from the memory circuit 23, that is, the reference signal, is also converted into a ratio 1 [ The output of the comparator 29, that is, the waveform signal shown in FIG. 10 and FIG. 17, if the inspection result shows an abnormality, the abnormality location is displayed on the screen of the monitor television 22 or marked directly on the printed wiring board 2.

なお、以上の実施例では1つのチップ部品の実装検査に
ついて説明したが、実際には複数のチップ部品について
同様にしてイ1われる。
In the above embodiment, the mounting inspection of one chip component has been described, but in reality, a plurality of chip components are inspected in the same manner.

発明の効果 以上のように本発明は印刷配線基板にJIF、常に実装
されたチップ部品の影に基づいて作成した基準信号と被
検査用のチップ部品が実装された印刷配線基板の撮像信
号とを比較器で比較し、その比較結果によってチップ部
品の実装状態を判定するようにしたものであり、これに
より、ば高密度で実装された大量のチップ部品の実装状
態が高速で、しかも高精度で検査することができるもの
であり、したがって、検査作業の自動化、高速化に多大
に寄与するもので、その効果は大である。
Effects of the Invention As described above, the present invention performs JIF on a printed wiring board, and constantly uses a reference signal created based on the shadow of the mounted chip component and an imaging signal of the printed wiring board on which the chip component to be inspected is mounted. A comparator is used for comparison, and the mounting state of the chip components is determined based on the comparison result. This allows the mounting state of a large number of chip components mounted at high density to be checked quickly and with high precision. It can be inspected and therefore greatly contributes to the automation and speeding up of inspection work, and its effects are great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す概略構成図、第2図は
同ブロック構成図、第3図はチップ部品が実装された印
刷配線基板の平面図、第4図は同法板に光を当てた状態
の側面図、第5図は同下面図、第6図、第7図、第8図
、第9図は同検査のだめのl)コ明図、第10図、第1
1図は同検査判定の説1υ1図である。 1・・・・・・チップ部品、2・・・・・・印刷配線基
板、3・・・・・・チップ部品の影、7・・印・基準信
号となる部分、8・・・・・・テレビジョンカメラ、1
3・川・照明ランプ、22・・・・・・モニターテレビ
ジョン、23・川・メモリー回路、26・・・・・・基
準信号書込みスイッチ、29・・・・・・比較器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名第3
図 第6図 第7図 第8図 〆 第9図 第10図 )L             −t
Fig. 1 is a schematic configuration diagram showing one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block configuration diagram of the same, Fig. 3 is a plan view of a printed wiring board on which chip components are mounted, and Fig. 4 is a schematic diagram of the printed wiring board on which chip components are mounted. Figure 5 is a bottom view of the same when exposed to light, Figures 6, 7, 8, and 9 are clear views of the same inspection chamber, Figure 10, and Figure 1.
Figure 1 is the theory 1υ1 diagram of the test judgment. 1...Chip parts, 2...Printed wiring board, 3...Shadow of chip parts, 7...Mark/reference signal part, 8...・Television camera, 1
3. River: Lighting lamp, 22: Monitor television, 23: River: Memory circuit, 26: Reference signal writing switch, 29: Comparator. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao Haga 1 person No. 3
Figure 6 Figure 7 Figure 8 (Figure 9 Figure 10) L -t

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] チップ部品をTF常に実装した印刷配線基板に斜メヨリ
光を当てた状態を撮像するテレビジョンカメラと、前記
テレビジョンカメラの撮像信号を映し出すモニターテレ
ビジョンと、」二記チップ部品の影に基づいて基党とな
る信号を上記モニターテレビジョンの画像をも表に形成
する両党信号作成装置と、l記基ン14信号を記憶する
メモリー回路と、6し検得体であるチップ部品が実装さ
れた印刷配線基板をテレビジョンカメラで撮像した撮像
吋−りと対応する井準信υ・を読み出して比較する比較
器を11iiiえ、前記比軸器の比119結果によって
チップ部品の実装状態を判定するように構成したチップ
部品の実装検査装置。
A television camera that captures an image of a printed wiring board on which chip components are constantly mounted with oblique light, and a monitor television that displays the image signal of the television camera. A two-party signal creation device that forms the basic signal on the surface of the monitor television image, a memory circuit that stores the basic 14 signal, and a chip component that is a detection body were mounted. A comparator (11iii) is installed to read out and compare the image data obtained by imaging the printed wiring board with a television camera and the corresponding IJI*, and the mounting state of the chip components is determined based on the ratio (119) result of the axis ratio device. A chip component mounting inspection device configured as follows.
JP57172710A 1982-09-30 1982-09-30 Inspecting device of mounted chip and parts Pending JPS5961705A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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