JPS5954959A - 溶込み状態検出装置 - Google Patents
溶込み状態検出装置Info
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- JPS5954959A JPS5954959A JP57165071A JP16507182A JPS5954959A JP S5954959 A JPS5954959 A JP S5954959A JP 57165071 A JP57165071 A JP 57165071A JP 16507182 A JP16507182 A JP 16507182A JP S5954959 A JPS5954959 A JP S5954959A
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- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
未発明は母材間に形成される溶接部の溶込み状態を超音
波を利用して検出する検出装置に関する。
波を利用して検出する検出装置に関する。
れる母材表面に超音波探触子を配置し、先行する溶接ト
ー卆から一宇耐離離れた後方の溶接部の溶込み状態を斜
角探傷するようにしたものがある。
ー卆から一宇耐離離れた後方の溶接部の溶込み状態を斜
角探傷するようにしたものがある。
しかしこめ□従来の検出装置は、現に溶接□作業が実施
されている読分すなわち溶融状態にある溶接部から□一
定距離後方の溶接部の溶込文状態を検出するものである
ことか収縮音波探傷によって溶込み不正が生じているこ
とが検出されたときには、讐で一当該一接疏と先行す□
る溶融状態にある溶接部と尻間にゎ、って溶込み不□足
を生じアいるユおになり１、溶接条件の変更等の対応が
遅くなる傾向よあ、。４お、やあ、、６□ケよいいおり
、５うカニを一出讐ることは、溶接構造物の強度を確保
するｔで重要で□ある。 ′ □ さらに上記した従門検出装置は、検出作業に際して水、
油等の接竺媒質を介在させて母材上に配置させる必号カ
あることから、９の媒質？送給装置を設けねばならず、
全体構成が複雑になるとともに、検査：面ず、なわ・ぢ
母材表面を平滑に・□研磨：す・：る必要が士り）１．
検出作業、が面倒になりやす、＜・、、が 、。
されている読分すなわち溶融状態にある溶接部から□一
定距離後方の溶接部の溶込文状態を検出するものである
ことか収縮音波探傷によって溶込み不正が生じているこ
とが検出されたときには、讐で一当該一接疏と先行す□
る溶融状態にある溶接部と尻間にゎ、って溶込み不□足
を生じアいるユおになり１、溶接条件の変更等の対応が
遅くなる傾向よあ、。４お、やあ、、６□ケよいいおり
、５うカニを一出讐ることは、溶接構造物の強度を確保
するｔで重要で□ある。 ′ □ さらに上記した従門検出装置は、検出作業に際して水、
油等の接竺媒質を介在させて母材上に配置させる必号カ
あることから、９の媒質？送給装置を設けねばならず、
全体構成が複雑になるとともに、検査：面ず、なわ・ぢ
母材表面を平滑に・□研磨：す・：る必要が士り）１．
検出作業、が面倒になりやす、＜・、、が 、。
′ｉ′（−■・′ ：
つ探触子の母材表面の面粗さＫよる影響を受け、検出値
・がネ＊定に′なりやす□い。１なお上述した従来の検
出、装置１において、溶接条件の変更等の対応を早める
ために、超音波探触子を溶接トーチとほぼ前じ位置た配
置享ることが考えられるが、このようＶＣ構成した場合
には、上述□した接触媒質が溶接部の高温部に接触する
ので、当該高温部の脆ｊヒを招くおそれ針′イるとと、
、もに、溶接トーチ、から、放、射ｔ、ｔｃｂ熱：を、
超音波探触子が受けるので、この超、音波−触子に損傷
を生じることになり、検出不能を招くこと詔す、、る。
・がネ＊定に′なりやす□い。１なお上述した従来の検
出、装置１において、溶接条件の変更等の対応を早める
ために、超音波探触子を溶接トーチとほぼ前じ位置た配
置享ることが考えられるが、このようＶＣ構成した場合
には、上述□した接触媒質が溶接部の高温部に接触する
ので、当該高温部の脆ｊヒを招くおそれ針′イるとと、
、もに、溶接トーチ、から、放、射ｔ、ｔｃｂ熱：を、
超音波探触子が受けるので、この超、音波−触子に損傷
を生じることになり、検出不能を招くこと詔す、、る。
、 。
本発明はこのような従来技術における実情に鑑みてなさ
れたもので、その目的□は、溶込み不足を即時に検出す
るこ左ができミ接触媒質を要ｊ°る□ことすく、かつ母
材表面□め□研−を必要とすることなく溶込み不足を検
出することのできる溶込み状態検出装置を提供すること
ｋある５′□ この目的を達成するために本発明は、溶接部に、 型超
音、、波探、触子からなるとともに、これらの非接触型
超音波探触子を溶接線方向に沿って移動させ“千：移動
手段をｉ〜：非接触型超會波操：’子のうちの第１の探
触子を溶融状態にある溶接部の直下に配置し、非接触型
超音波探触子のうちの第２の探触子を溶接部から離れた
母材の直下に配置する構成にしである。
れたもので、その目的□は、溶込み不足を即時に検出す
るこ左ができミ接触媒質を要ｊ°る□ことすく、かつ母
材表面□め□研−を必要とすることなく溶込み不足を検
出することのできる溶込み状態検出装置を提供すること
ｋある５′□ この目的を達成するために本発明は、溶接部に、 型超
音、、波探、触子からなるとともに、これらの非接触型
超音波探触子を溶接線方向に沿って移動させ“千：移動
手段をｉ〜：非接触型超會波操：’子のうちの第１の探
触子を溶融状態にある溶接部の直下に配置し、非接触型
超音波探触子のうちの第２の探触子を溶接部から離れた
母材の直下に配置する構成にしである。
以下、不発廟の溶込み状態検１」）装置を、図に基づい
て説明する。、 ＄ ｌ’ｊ、＄は朶□発明の第１の９
例を示す構成概略図である。同図において１．．１．、
．２は母、ｑ、：３は：、男に溶接力（実施されている
部分すなわち母材１、、．２’間に形成される溶融状態
にある溶接部である。これらの母材１．２はＴ継手寺構
成している。４αは溶接線３の訛下に配置させた非接触
型超音波−：触手すな：わち第１の探触子、４ｂは溶接
部３から離れた貰材櫨の直下に□配ｔｌｔ”’ ａせた
非接触型超音波探触子すなわち第２の探触子、５は超音
波探傷−置である□。５れらの探触子４α、４ｂ及び探
傷装置５は、例えば電磁的超音波探傷手段によって構成
しである。
て説明する。、 ＄ ｌ’ｊ、＄は朶□発明の第１の９
例を示す構成概略図である。同図において１．．１．、
．２は母、ｑ、：３は：、男に溶接力（実施されている
部分すなわち母材１、、．２’間に形成される溶融状態
にある溶接部である。これらの母材１．２はＴ継手寺構
成している。４αは溶接線３の訛下に配置させた非接触
型超音波−：触手すな：わち第１の探触子、４ｂは溶接
部３から離れた貰材櫨の直下に□配ｔｌｔ”’ ａせた
非接触型超音波探触子すなわち第２の探触子、５は超音
波探傷−置である□。５れらの探触子４α、４ｂ及び探
傷装置５は、例えば電磁的超音波探傷手段によって構成
しである。
この電磁的岬音波探！手段に、あっては、探触子４α、
４ｂが母材２に磁界なりえる直流電磁石と渦電流を発生
、受信する送受信コイルよりなり、探傷装Ｈ５が、庶流
電呵・パ′サーソ竺幅器等、を有している。そして、母
材２に磁界が与えられた状態で探触子４α、４ｂの送受
信フィルを高固波でパルス的に電磁、すると、、・母材
２の表面、に濁！流が流れ・７ｂミ、＞グの空手の法則
に基ｄ＜、〃、、（ｏ −レンツ力）が母材２に、鋤き
、機械的、変１位が超、音（支）が発生する・この超音
波は母御２の表、面＋り垂直に伝搬し、欠陥あるいは母
材２の底面で反射し、再び表面に戻る。超音波が表面へ
戻ってくると、直流電磁石で与えられる磁界中で母材２
が機械的変位を生じることになり、７レミングの左手の
法則に基づく起電力が牛じ渦電郷が発、生する。渦電流
が発生するとＪその渦電流に□応じた磁界□が発生する
ことになり、この磁界を探触子４ ｃＬ’ 、”４ ｂ
の送受信１イルで電圧信号として受信゛□する。−なお
、’ ｍ”’ １の探触子４ａの中心位置は母′杆１の
図示左方の表面から距陥りの位置に、すなわち溶接部３
の望ましい溶込み位ｗ６に一致するように設定し・であ
る。また第２の探触子４ｂは、例えば第１の探触子４α
に対して溶接線方向と直交する方向に平、行に配置しで
ある。また、上記した距離りは望ましい溶込み舞に相当
している。
４ｂが母材２に磁界なりえる直流電磁石と渦電流を発生
、受信する送受信コイルよりなり、探傷装Ｈ５が、庶流
電呵・パ′サーソ竺幅器等、を有している。そして、母
材２に磁界が与えられた状態で探触子４α、４ｂの送受
信フィルを高固波でパルス的に電磁、すると、、・母材
２の表面、に濁！流が流れ・７ｂミ、＞グの空手の法則
に基ｄ＜、〃、、（ｏ −レンツ力）が母材２に、鋤き
、機械的、変１位が超、音（支）が発生する・この超音
波は母御２の表、面＋り垂直に伝搬し、欠陥あるいは母
材２の底面で反射し、再び表面に戻る。超音波が表面へ
戻ってくると、直流電磁石で与えられる磁界中で母材２
が機械的変位を生じることになり、７レミングの左手の
法則に基づく起電力が牛じ渦電郷が発、生する。渦電流
が発生するとＪその渦電流に□応じた磁界□が発生する
ことになり、この磁界を探触子４ ｃＬ’ 、”４ ｂ
の送受信１イルで電圧信号として受信゛□する。−なお
、’ ｍ”’ １の探触子４ａの中心位置は母′杆１の
図示左方の表面から距陥りの位置に、すなわち溶接部３
の望ましい溶込み位ｗ６に一致するように設定し・であ
る。また第２の探触子４ｂは、例えば第１の探触子４α
に対して溶接線方向と直交する方向に平、行に配置しで
ある。また、上記した距離りは望ましい溶込み舞に相当
している。
７は探触子４ａ 、４ｂが固設され、る走行台、８はこ
の走行台７が固設され、溶接線方向すなわち第１図の紙
面と直交する方向に移動可能な走行装置、９は走ゲ装置
８が載置される支持台であ、る。
の走行台７が固設され、溶接線方向すなわち第１図の紙
面と直交する方向に移動可能な走行装置、９は走ゲ装置
８が載置される支持台であ、る。
また、１０は走行台７上に立設したガイドで、その側方
に伸びる腕１１の先端部１２の端面は母材１に当接可能
に形成しである。１３はばねで、−婦を走行台７の下端
に突設したブラケット１４に係着され、他端を走行装！
８に係着してあり、走行台７を図示右、方に、すなわち
ガイド１０の先端部１２の端面が母材１に当接するよう
に付勢し、ている。１５は溶接トーチで、例えばガイド
】０の腕１１に挾持させである。また、１６は探傷、装
置５に接続され、記憶機能、演算機能、及び比較機能を
有する中央処理装置（ＣＰＵ） 、１７は中央処理装置
１６に接続され、例えばこの中央処理袋ｆｆｆ１６から
出力される信号に応じて点灯する白色ランプと赤色ラン
プを具備する表示装置である。
に伸びる腕１１の先端部１２の端面は母材１に当接可能
に形成しである。１３はばねで、−婦を走行台７の下端
に突設したブラケット１４に係着され、他端を走行装！
８に係着してあり、走行台７を図示右、方に、すなわち
ガイド１０の先端部１２の端面が母材１に当接するよう
に付勢し、ている。１５は溶接トーチで、例えばガイド
】０の腕１１に挾持させである。また、１６は探傷、装
置５に接続され、記憶機能、演算機能、及び比較機能を
有する中央処理装置（ＣＰＵ） 、１７は中央処理装置
１６に接続され、例えばこの中央処理袋ｆｆｆ１６から
出力される信号に応じて点灯する白色ランプと赤色ラン
プを具備する表示装置である。
ところで第２図は、探触子４ｃＬ、４ｂに受信される超
音波の反射エコー量を縦軸に、探触子４α。
音波の反射エコー量を縦軸に、探触子４α。
４ｂの溶接線に直交する方向の位置を横軸にとった波形
図であるが、溶接部３が溶込み位Ｍ６に至らない場合に
は、第１の探触子４αによって投射された超音波は母材
２の上面において反射することから波形へを形成し、溶
接部３が＠１図に示すように溶込み位Ｍ６にあるときに
は、この第１の探触子４αによって得られる反射エコー
量は減少するので波形Ｂを形成する。なお、第２の探触
子４ｂによって投射される超音波は常に母材２の上面に
おいて反射することから一定した波形Ｃを形成する。上
述のＩｓ １の実施例は、このような第１の探触子４．
ａによって得られる反射エコー惜と第２の探触子４ｂ
によって得られる反射エコー量との関係に着目して、溶
接部３に溶込み不足を生じたかどうかを検出するもので
ある。
図であるが、溶接部３が溶込み位Ｍ６に至らない場合に
は、第１の探触子４αによって投射された超音波は母材
２の上面において反射することから波形へを形成し、溶
接部３が＠１図に示すように溶込み位Ｍ６にあるときに
は、この第１の探触子４αによって得られる反射エコー
量は減少するので波形Ｂを形成する。なお、第２の探触
子４ｂによって投射される超音波は常に母材２の上面に
おいて反射することから一定した波形Ｃを形成する。上
述のＩｓ １の実施例は、このような第１の探触子４．
ａによって得られる反射エコー惜と第２の探触子４ｂ
によって得られる反射エコー量との関係に着目して、溶
接部３に溶込み不足を生じたかどうかを検出するもので
ある。
そして、あらかじめ中央処理袋［１６には、例えば第２
の探触子４ｂの波形Ｃが得られる反射エコーＮＷｃに対
する、望ましい溶接部３が形成されるときの第１の探触
子４αの波形Ｂが得られる反射エコーｆｆ１Ｖ’＋’Ｂ
の割合ＷＢ／Ｗｅを設定減少率Ｓとして記憶させておく
。なお、中央処理袋ｆｉｆ１６から表示装置１７に、溶
接部３が溶込み不足を生じている旨を示す信号が出力さ
れたときに、赤色ランプが点灯し、溶込み不足を生じて
いない旨を示す信号が出力されたときには白色ランプが
点灯するようになっている。
の探触子４ｂの波形Ｃが得られる反射エコーＮＷｃに対
する、望ましい溶接部３が形成されるときの第１の探触
子４αの波形Ｂが得られる反射エコーｆｆ１Ｖ’＋’Ｂ
の割合ＷＢ／Ｗｅを設定減少率Ｓとして記憶させておく
。なお、中央処理袋ｆｉｆ１６から表示装置１７に、溶
接部３が溶込み不足を生じている旨を示す信号が出力さ
れたときに、赤色ランプが点灯し、溶込み不足を生じて
いない旨を示す信号が出力されたときには白色ランプが
点灯するようになっている。
このように構成しである第１の実施例にあっては、走行
装Ｍ８を溶接線方向に移動させることによって、走行台
７に立設したガイド１０を介して溶接トーチ１５が溶接
線方向に移動するとともに走行台７に固設した探触子４
ｃＬ＋ ４ ｂが耐接線方向に移動する。このとき特
に、第１の探触子４αはガイド１０の腕１１の先端部１
２の端面が母材１の表面に当接するように付勢されるこ
とから、その中心が母材１の表面から距［Ｌの位置に、
かつ溶融状態にある溶接部３の直下に保持された状態で
移動する。また、第２の探触子４ｂは母材２の直下に保
持された失態で移動する。そして、このように走行装＠
８を移動させ、溶接Ｆ−チ１５によって溶接部３を形成
させながら、第１の探触子４ａによる反射エコーｋｋＷ
＋と第２の探触子４ｂによる反射エコー量Ｗ２とが探傷
装置５によって検出され、それぞれ電気信号として中央
処理装置１６に出力される。
装Ｍ８を溶接線方向に移動させることによって、走行台
７に立設したガイド１０を介して溶接トーチ１５が溶接
線方向に移動するとともに走行台７に固設した探触子４
ｃＬ＋ ４ ｂが耐接線方向に移動する。このとき特
に、第１の探触子４αはガイド１０の腕１１の先端部１
２の端面が母材１の表面に当接するように付勢されるこ
とから、その中心が母材１の表面から距［Ｌの位置に、
かつ溶融状態にある溶接部３の直下に保持された状態で
移動する。また、第２の探触子４ｂは母材２の直下に保
持された失態で移動する。そして、このように走行装＠
８を移動させ、溶接Ｆ−チ１５によって溶接部３を形成
させながら、第１の探触子４ａによる反射エコーｋｋＷ
＋と第２の探触子４ｂによる反射エコー量Ｗ２とが探傷
装置５によって検出され、それぞれ電気信号として中央
処理装置１６に出力される。
中央処理装置１６では、Ｗｌ ／ Ｗｌ −Ｓ ｕを演
算するとともに、その演算値８ｕとあらかじめ記憶され
ている減少率Ｓとを比較する。そして、演算値８０≦減
少率Ｓの関係が満足されれば溶接部３は望ましい溶込み
量が得られていることになり、この中央処理装置１６か
ら溶込み不足を生じていない旨を示す信号が表示装Ｗ１
７に出力され、これによって表示装置１７の白色ランプ
が点灯するまた上述の比較において、演算値８ｕ≦減少
率Ｓの関係が満足されなければ溶接部３は溶込み不足を
生じていることになり、この中央処理袋Ｍ１６から溶込
み不足を生じている旨を示す信号が表示装置１７に出力
され、これによって表示装置１７の赤色ランプが点灯す
る。つまり、現ｌ（溶接がおこなわれている溶接部３に
溶込み不足を生じているかどうかを表示装置１７０ラン
プによって即時に識別できる。
算するとともに、その演算値８ｕとあらかじめ記憶され
ている減少率Ｓとを比較する。そして、演算値８０≦減
少率Ｓの関係が満足されれば溶接部３は望ましい溶込み
量が得られていることになり、この中央処理装置１６か
ら溶込み不足を生じていない旨を示す信号が表示装Ｗ１
７に出力され、これによって表示装置１７の白色ランプ
が点灯するまた上述の比較において、演算値８ｕ≦減少
率Ｓの関係が満足されなければ溶接部３は溶込み不足を
生じていることになり、この中央処理袋Ｍ１６から溶込
み不足を生じている旨を示す信号が表示装置１７に出力
され、これによって表示装置１７の赤色ランプが点灯す
る。つまり、現ｌ（溶接がおこなわれている溶接部３に
溶込み不足を生じているかどうかを表示装置１７０ラン
プによって即時に識別できる。
なお、この第１の実施例にあっては、走行台７上に第１
の探触子４αと第２の探触子４ｂとを並設した構成にし
であるので、走行台７に振動が与えられた場合、あるい
は母材２が溶接線方向において板厚変化を生じた場合の
測定誤差、すなわち探触子４ｃＬ、４ｂと母材２との距
離の変化に伴う入射パルスのエネルギ量の変化に基づく
誤差は、第１の探触子４ａと母材２との距離と、第２の
探触子４ｂと母材２との距離とが常に一定していること
から、第１の探触子４αによる反射エコー世Ｗ１ と第
２の探触子４．ｂＶＣよる反射エコーｌｉｔ Ｗｌとの
演算Ｗｔ ／ Ｗ＋に際して消去され、それ故、測定誤
差を最小に抑制でき、正確な検出をおこなうことができ
る。また、探触子４． ａ 、 ４ ｂは母材２の表面
て接触させる必要がないことから、何ら接触媒質を介在
させる必要がなく１．、また母材２の・矢面の研摩作業
を必要とすることなく・溶込み不足を検出することがで
きる。なお、上記した第１の実施例では表示装置１７を
設けであるがＮこの表示装置１７０代りに、あるいはこ
の表示装置１７とともに警報音を発する訃報装置を設け
てもよい。
の探触子４αと第２の探触子４ｂとを並設した構成にし
であるので、走行台７に振動が与えられた場合、あるい
は母材２が溶接線方向において板厚変化を生じた場合の
測定誤差、すなわち探触子４ｃＬ、４ｂと母材２との距
離の変化に伴う入射パルスのエネルギ量の変化に基づく
誤差は、第１の探触子４ａと母材２との距離と、第２の
探触子４ｂと母材２との距離とが常に一定していること
から、第１の探触子４αによる反射エコー世Ｗ１ と第
２の探触子４．ｂＶＣよる反射エコーｌｉｔ Ｗｌとの
演算Ｗｔ ／ Ｗ＋に際して消去され、それ故、測定誤
差を最小に抑制でき、正確な検出をおこなうことができ
る。また、探触子４． ａ 、 ４ ｂは母材２の表面
て接触させる必要がないことから、何ら接触媒質を介在
させる必要がなく１．、また母材２の・矢面の研摩作業
を必要とすることなく・溶込み不足を検出することがで
きる。なお、上記した第１の実施例では表示装置１７を
設けであるがＮこの表示装置１７０代りに、あるいはこ
の表示装置１７とともに警報音を発する訃報装置を設け
てもよい。
また、第３図は本発明の第２の実緯例を示す構成概略図
である。この第３図において、１８は支持台９に固設さ
れ、走行装置８の溶接線方向における位置を検出し、電
気信号を出力する位置検出器で、中央処理装置１６に接
続し・である。１９は中央処理装置１６に接続した記録
器で、中央処理装置１６から入力した位置信号に基づい
て例えば所定の用紙に当該走行装置８の溶接線方向にお
ける位置、すなわち溶接部３の位置を記録する。その他
の構成は第１の実施例と同等である。
である。この第３図において、１８は支持台９に固設さ
れ、走行装置８の溶接線方向における位置を検出し、電
気信号を出力する位置検出器で、中央処理装置１６に接
続し・である。１９は中央処理装置１６に接続した記録
器で、中央処理装置１６から入力した位置信号に基づい
て例えば所定の用紙に当該走行装置８の溶接線方向にお
ける位置、すなわち溶接部３の位置を記録する。その他
の構成は第１の実施例と同等である。
このように構成しである第２の実施例にあっては、走行
装置８を移動させ、溶接トーチ１５によにより母材２か
らの反射エコー量Ｗ、 、 Ｗ２・を検出し、中央処理
装置１６でＷ２７’ Ｗ １−８ ｕを演算し、第１の
実施例におけるのと同様に演算値Ｓｕと減少率Ｓとの比
較をおこなえば、溶接部３が望ましい溶込み位置６に至
らない状態すなわち溶込み不足にあるときは、中央処理
装置１６から記録器１９に位置検出器１８によって検出
された位置信号が出力され、即時に溶込み不足の位置が
所定の用紙に記録される。その他は前述の第１の実施例
と同等の作用効果を奏する、この第２の実廉例にあって
は記録器１９を設けであるが、この記録器１９の代りに
、あるいはこの記録器１９とともに、ブラウン管等から
なる表示装置を設け、即時に溶込み不足の位置を表示す
るように構成してもよい。
装置８を移動させ、溶接トーチ１５によにより母材２か
らの反射エコー量Ｗ、 、 Ｗ２・を検出し、中央処理
装置１６でＷ２７’ Ｗ １−８ ｕを演算し、第１の
実施例におけるのと同様に演算値Ｓｕと減少率Ｓとの比
較をおこなえば、溶接部３が望ましい溶込み位置６に至
らない状態すなわち溶込み不足にあるときは、中央処理
装置１６から記録器１９に位置検出器１８によって検出
された位置信号が出力され、即時に溶込み不足の位置が
所定の用紙に記録される。その他は前述の第１の実施例
と同等の作用効果を奏する、この第２の実廉例にあって
は記録器１９を設けであるが、この記録器１９の代りに
、あるいはこの記録器１９とともに、ブラウン管等から
なる表示装置を設け、即時に溶込み不足の位置を表示す
るように構成してもよい。
なお上記実施例では、非接触型超音波探触子４α、４ｂ
と超音波探傷装置５とを電磁的超音波探傷手段によって
構成しであるが、これらの探触子４ｃＬ、４ｂと探傷装
ｆ！＃５はレーザ光を利用した超音波探傷手段によって
構成することもできる。
と超音波探傷装置５とを電磁的超音波探傷手段によって
構成しであるが、これらの探触子４ｃＬ、４ｂと探傷装
ｆ！＃５はレーザ光を利用した超音波探傷手段によって
構成することもできる。
また、上記した溶接トーチ１５を自動溶接装置によって
構成する場合には、超音波探傷装置５がら出力される電
気信号に応じて当該自動溶接装置をフィードバック制御
させるようにすることも可能である。
構成する場合には、超音波探傷装置５がら出力される電
気信号に応じて当該自動溶接装置をフィードバック制御
させるようにすることも可能である。
また上記実施例では、母材１，２によってＴ継手を構成
するようにしであるが、本発明はこのＴ継手におけ不溶
込み状態の検出だけには限定されず、突合せ継手、かど
継手、当金継手等種々の継手形態においても適用するこ
とができる。、特に母材１，２によって突合せ継手が形
成される場合には、例えば一方の母材に溶・接線方向に
伸長するガイド板を仮止めし、このガイド板にガイド１
０の腕１１の先端部１２つ端面を当接させることにより
上述した溶込み状態の検出をおこなうことができる。
するようにしであるが、本発明はこのＴ継手におけ不溶
込み状態の検出だけには限定されず、突合せ継手、かど
継手、当金継手等種々の継手形態においても適用するこ
とができる。、特に母材１，２によって突合せ継手が形
成される場合には、例えば一方の母材に溶・接線方向に
伸長するガイド板を仮止めし、このガイド板にガイド１
０の腕１１の先端部１２つ端面を当接させることにより
上述した溶込み状態の検出をおこなうことができる。
本発明の溶込み状態検出装置は以上の、ように構成しで
あることから、溶込み不足を即時に検出することができ
、それ故、従来に比べ、て溶接、条件の変更等に対する
対応を早めることができ、溶接作業能率が向上する効果
がある。また、溶融媒質を要することなく溶込み不足を
検出できろととがら、従来のような媒質の送給装置が不
要となりミ全体の構成が簡単になるとともに、接触媒質
が高温部に作用することがないことから当該高温部に脆
化を生じることがなく、十分な溶接強度を確保できる。
あることから、溶込み不足を即時に検出することができ
、それ故、従来に比べ、て溶接、条件の変更等に対する
対応を早めることができ、溶接作業能率が向上する効果
がある。また、溶融媒質を要することなく溶込み不足を
検出できろととがら、従来のような媒質の送給装置が不
要となりミ全体の構成が簡単になるとともに、接触媒質
が高温部に作用することがないことから当該高温部に脆
化を生じることがなく、十分な溶接強度を確保できる。
さらに、母材表面の研摩を必要とすることなく□溶込み
不足を検出できることから、検出作業が簡単になり、：
また母材表面の面粗さ等による影響を受けることなく検
出できることから、安中した検出性能が得られる。・
不足を検出できることから、検出作業が簡単になり、：
また母材表面の面粗さ等による影響を受けることなく検
出できることから、安中した検出性能が得られる。・
第１図は本発明の溶込み状態検出装置の第１の実―例を
示す構成概略図、第２図は第１図に示す超音波探触子に
受信される超音波の反射エコー量と当該超音波探触子の
溶接線に直交する方向の位置との関係を示す波形図、第
３図は本発明の第２の実ｒａｍを示す構成概略図である
。 １．２・・・・・・母材、３・・・・・・溶接部、４ａ
・・・・・・非接触型超音波探触子（第１の探触子）、
４ｂ・−・・・・非接触型超音波探触子（第２の探触子
）、５・・・・・・超音波探傷装置、７・・・・・・走
行台、８・・・・・・走行装置、１０・・・・・・ガイ
ド、１１・・・・・・腕、１２・・・・・・先端部、１
３・・・・・・はね、１４・・・・・・ブラケット、１
５・・・・・・溶接トーチ、１６・・・・・・中央処理
装置、１７・・・・・・表示装置、１８・・・・・・位
置検出器、１９・・・・・・記録器。 第１図 第２図 イ主ｔＨ 第３図 手続補正書（自発） 昭和５８年３ 月２８日 特許庁長官 若杉和夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年 特 許 Ｖ第１６５０７１号２、発明の名
称 洛込み状態検ｌ１０装叡３、 補正をする者 事件との関係 出願人 ４゜代理人 ５、補正命令の日付 自発補正 ６、 補正により増加する発明の数 ｆｘ Ｌ７、
補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の― （１）明細書の第５頁、第１ｂ行の″「左手の」から同
第５頁、第１９行の［受Ｏｊする。１部下記のよう・：
、 ・： ′ ［右手の法則に基づ＜４＊、流が発電する。渦電流が発
生すると・その渦−流にｉトじた磁界が発生することに
なり、この磁粉に工つ斗誘起された電圧を探触子４の送
受信コ斗ルが電圧信号として受信する。」 。 代理人 升坤十 武 紬次部
示す構成概略図、第２図は第１図に示す超音波探触子に
受信される超音波の反射エコー量と当該超音波探触子の
溶接線に直交する方向の位置との関係を示す波形図、第
３図は本発明の第２の実ｒａｍを示す構成概略図である
。 １．２・・・・・・母材、３・・・・・・溶接部、４ａ
・・・・・・非接触型超音波探触子（第１の探触子）、
４ｂ・−・・・・非接触型超音波探触子（第２の探触子
）、５・・・・・・超音波探傷装置、７・・・・・・走
行台、８・・・・・・走行装置、１０・・・・・・ガイ
ド、１１・・・・・・腕、１２・・・・・・先端部、１
３・・・・・・はね、１４・・・・・・ブラケット、１
５・・・・・・溶接トーチ、１６・・・・・・中央処理
装置、１７・・・・・・表示装置、１８・・・・・・位
置検出器、１９・・・・・・記録器。 第１図 第２図 イ主ｔＨ 第３図 手続補正書（自発） 昭和５８年３ 月２８日 特許庁長官 若杉和夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年 特 許 Ｖ第１６５０７１号２、発明の名
称 洛込み状態検ｌ１０装叡３、 補正をする者 事件との関係 出願人 ４゜代理人 ５、補正命令の日付 自発補正 ６、 補正により増加する発明の数 ｆｘ Ｌ７、
補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の― （１）明細書の第５頁、第１ｂ行の″「左手の」から同
第５頁、第１９行の［受Ｏｊする。１部下記のよう・：
、 ・： ′ ［右手の法則に基づ＜４＊、流が発電する。渦電流が発
生すると・その渦−流にｉトじた磁界が発生することに
なり、この磁粉に工つ斗誘起された電圧を探触子４の送
受信コ斗ルが電圧信号として受信する。」 。 代理人 升坤十 武 紬次部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 母材間に形成される溶接□部に超音波を投射可能
な超音波探触子を備え、超：音波を利用して溶接部の溶
込み状態を検出する検出装置において、上記超音波探触
子が複数の非接触型超音波探触子からなるとともに、こ
れらの非接触型超音波探触子を溶接線方向に沿って移動
させる移動手段を備え、上記非接触型超音波探触子のう
ちの第１の探触子を溶融状態にある溶接部の直下に配置
し、該非接触型超音波探触子のうちの第２の探触子を溶
接部から離れた母材の直下に配置することを特徴とする
溶込み状態検出装置。 ２ 非接触型超音波探触子の溶接線方向における位置を
検出する位置検出器を備えたことを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の溶込み状態検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165071A JPS5954959A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 溶込み状態検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165071A JPS5954959A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 溶込み状態検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5954959A true JPS5954959A (ja) | 1984-03-29 |
Family
ID=15805312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57165071A Pending JPS5954959A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 溶込み状態検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5954959A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6473238A (en) * | 1987-09-16 | 1989-03-17 | Kanagawa Prefecture | Method and apparatus for monitoring water quality for organism breeding water tank |
| US5639731A (en) * | 1987-05-22 | 1997-06-17 | Pripps Bryggerier Ab | Amino acids for the preparation of a beverage |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP57165071A patent/JPS5954959A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5639731A (en) * | 1987-05-22 | 1997-06-17 | Pripps Bryggerier Ab | Amino acids for the preparation of a beverage |
| JPS6473238A (en) * | 1987-09-16 | 1989-03-17 | Kanagawa Prefecture | Method and apparatus for monitoring water quality for organism breeding water tank |
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