JPS5951170B2 - 可変減衰回路 - Google Patents

可変減衰回路

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Publication number
JPS5951170B2
JPS5951170B2 JP14836582A JP14836582A JPS5951170B2 JP S5951170 B2 JPS5951170 B2 JP S5951170B2 JP 14836582 A JP14836582 A JP 14836582A JP 14836582 A JP14836582 A JP 14836582A JP S5951170 B2 JPS5951170 B2 JP S5951170B2
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JP
Japan
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fet
source
gate
circuit
drain
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JP14836582A
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English (en)
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JPS5840913A (ja
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光男 大沢
正信 佐々木
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H11/00Networks using active elements
    • H03H11/02Multiple-port networks
    • H03H11/24Frequency-independent attenuators
    • H03H11/245Frequency-independent attenuators using field-effect transistor

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  • Networks Using Active Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 スイッチング素子としてFETを使用した直列形のスイ
ッチ回路は、原理的には、第1図に示すように、信号源
1と負荷2との間に、FET3のドレイン・ソース間が
直列接続されて構成され、このとき制御信号S、によっ
てFET3がオンオフされることにより信号のオンオフ
が行なわれるものである。
この場合、記号を以下のように定めると、 roo:FET3がオンのときドレイン・ソース間イン
ピーダンスで通常500Ω〜2にΩ程度roff:同じ
くオフのときのドレイン・ソース間インピーダンスで通
常50MΩ〜100MΩ程度 RL:負荷2のインピーダンス ■D:FET3のドレイン電位 VS:FET3 のソーX電位 置□:スイッチ回路の入力インピーダンスこのスイッチ
回路には、次のような条件A−Eを満たすことが必要と
される。
A ron < RL (ronが信号のレベルで変化し、これにより出力レベ
ルか゛変化して、これか゛ひずみとして表われるので) Broff〈RL (入力を十分に減衰させてオフとみなせ るようにするため) CV D=Vs (VD≠v5だと、FET3に増幅作用が表われ、制御
信号S。
が増幅されて出力中に含まれるようになるので) DZ、は十分大きいこと (信号源1に影響を与えないため) EZOは十分に小さいこと (出力が損失なく負荷3に供給されるよ うにするため) そして、これ以外にも、 F許容入力レベルが大きいこと G集積回路化ができること などの条件が満たされることが好ましい。
この発明は、これらの条件A−Gのすべてを満たすこと
ができるようにしようとするものである。
以下この発明の一例について説明しよう。
第2図において、11は入力側のnチャンネルデプレッ
ションタイプ接合形FETを示し、そのゲートはコンテ
゛ンサ21を通じて入力端子31に接続され、そのドレ
インは電源端子34に接続され、そのソースは抵抗器4
1.42の直列回路を通じて接地されると共に、抵抗器
41と42との接続点51は抵抗器43を通じてゲート
に接続され、FETIIはソースフォロワとされる。
また、12は出力側のnチャンネルテ゛プレッションタ
イプ接合形FETを示し、そのドレインは端子34に接
続され、そのソースは抵抗器45゜46の直列回路を通
じて接地され、抵抗器45と46との接続点52が抵抗
器47をしてゲート接続されると共に、そのソースかコ
ンデンサ22を通じてゲートに接続されると共に、その
ソースがコンデンサ22を通じて出力端子32に接続さ
れ、FET12はソースフォロワとされる。
なお、この場合、抵抗器41,42.46の値をR1,
R2,R5,R6とするとき、 R1〈R2R5〈R6 とされる。
また、例えば下ET11と12とを同特性とすると共に
、 R1=R5R2=R6 とすることにより接続点51と52とは同電位とされる
そして、スイッチング用にPチャンネルテ゛プレッショ
ンタイプ接合形FET13が設けられ、そのドレインは
接続点51に接続され、そのソースはFET12のゲー
トに接続され、FET13のゲートは高抵抗器、例えば
IMΩの抵抗器49を通じて制御端子33に接続される
° このような構成によれば、FETII、2のソース
電流によって接続点51.52は正電位となり、FET
13のドレイン及びソースは正電位となっている。
従って、端子33が所定電位以下、例えば接地電位のと
きは、FET13は逆バイアノスされてオフとなるので
、端子31の入力信号が端子32に取り出されることが
ない。
しかし、端子33がある所定の電位以上のきには、FE
T 13は順バイアスされてオンとなるので、端子31
よりの入力信号は、ソースフォロワのFET11→FE
T13→ソースフオロワのFET12の信号路を通じて
端子32に取り出される。
すなわち、制御信号Scによってスイッチ動作が行なわ
れる。
そして、この場合、FET12はソースフォロワとされ
、その入力インピーダンスは高いので、条件Aが満たさ
れ、ひずみのない出力を得ることができる。
FET13はr。f、が大きいので、条件Bが満たされ
、オフのときには入力を十分に遮断できる。
さらに、接続点51と52とは同電位であり、抵抗器4
7には電流が流れないので、条件Cが満たされ、制御信
号S。
の成分が出力中に含まれることがない。
また、FETII、12はソースフォロワとされている
ので、条件り、 Eが満たされ、前段に影響を与える
ことがないと共に、出力を損失なく後段に供給できる。
また、第1図回路では、入力信号のレベルが大きいと、
その入力信号のピーク部分において、FET 3にゲー
ト電流が流れ、これはひずみとなって表われ、従って、
許容入力レベルは小さいが、第2図の回路では、入力信
号のピーク部分において、FET13にゲート電流が流
れると、抵抗器49に電圧降下を生じてFET13のバ
イアス電圧が大きくなるので、ゲート電流は流れず、従
って、許容入力レベルが大きくなる。
さらに、集積回路化の場合、抵抗器41. 42. 4
5. 46に誤差を生じても、そのとき抵抗値の比は一
定にできるので、条件Cを乱すことがなく、従って集積
回路化ができる。
第3図はこの回路の特性の測定結果の一例を示すもので
、曲線61はひずみ率特性、曲線62は減衰量特性を示
く。
そして、この曲線61かられかるように、ひずみ率が小
さく、また許容入力レベルが+15dB5以上と大きい
なお、従来例では、許容入力レベルは一5dB5程度で
ある。
第4図は、第2図の抵抗器41.45に代ってダイオー
ド71,75をインピーダンス素子とした場合で、この
ようにすれば、ダイオード71゜75は交流インピーダ
ンスが小さいので、出力の損失が小さくなる。
なお、上述においては、この発明の回路をスイッチ回路
として説明したが、制御信号Scのレベルを、FET1
3か゛オンないしオフする間のレベルで変更すれば、こ
れに応じてFET13のドレイン・ソース間インピーダ
ンスが変化するので、この回路は可変減衰回路としても
動作する。
【図面の簡単な説明】
第1図はスイッチ回路を示す図、第2図及び第4図はこ
の発明の一例を示す接続図、第3図はその測定結果を示
す図である。 31は入力端子、32は出力端子、33は制御端子であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 第1及び第2のデプレッションタイプのFETが設
    けられ、上記第1のFETのソースがインピーダンス素
    子を有する第1のソース回路を通じて接地され、この第
    1のソース回路と上記第1のFETのゲー1へとの間に
    第1の抵抗器が接続されると共に、上記第1のFETの
    ドレインが電源に接続されて上記第1のFETはソース
    フォロワとされ、上記第2のFETのソースが別のイン
    ピーダンス素子を有する第2のソース回路を通じて接地
    され、この第2のソース回路と上記第2のFETのゲー
    トとの間に第2の抵抗器が接続されると共に、上記第2
    のFETが上記電源に接続されて上記第2のFETもソ
    ースフォロワとされ、上記第1ののソース回路と上記第
    2のFETのゲートとの間に、第3のテ゛プレッション
    タイプのFETのドレイン・ソース間が接続され、上記
    第1及び第2のFETの動作点及び上記第1及び第2の
    ソース回路の値を選定することにより上記第3のFET
    のドレインとソースとは同電位とされ、上記第1のFE
    Tのゲートに入力信号が供給され、上記第3のFETの
    ゲートに別のインピーダンス素子を通じて制御信号が供
    給され、この制御信号によって上記第3のFETのドレ
    イン・ソース間インピーダンスが制御され、上記第2の
    FETのソースからレベルの制御された出力信号が、取
    り出される可変減衰回路。
JP14836582A 1982-08-26 1982-08-26 可変減衰回路 Expired JPS5951170B2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5840913A JPS5840913A (ja) 1983-03-10
JPS5951170B2 true JPS5951170B2 (ja) 1984-12-12

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ID=15451130

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US8164316B2 (en) 2006-06-26 2012-04-24 Renesas Electronics Corporation DC/DC converter

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JPS5840913A (ja) 1983-03-10

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