JPS59501027A - 光を放射している溶融材料の流速を測定する方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 光を放射している溶融材料の流速を 測定する方法および装置 本発明は光を放射している溶融材料の流れまたはジェット流の流速を測定するた めの方法と装置に関するものである。本発明は、初めは自由に流れ落ちる溶融ガ ラスのジェット流の流速を測定するためになされたものであるが、セラミックま たは鉱物材料さらには金属のような光を放射する他の溶融材料に関しても用いる ことができる。本発明は、流速のみならず流れやジェット流の直径を測定して、 これらの測定されたデータに基づいて体積的な流量を計算することによって、光 を放射している溶融材料の流れやジェット流の体積的または質量的流速を測定す るように発展する。

理解されるように、溶融材料の流速を測定するとき、その材料に機械的な接触を 設けるべきではない。たとえばワイヤ、ストリップ、巻取紙のような細長い固体 のものの移動速度を、そのものに機械的な接触を設けることなしに、測定する方 法は既に知られている。これらの既知の方法において、その移動物体には規則的 な間隔のマークが与えられて、測定はその移動物体が測定される経路に沿った２ つの相互に隔て隔てられた位置の間をそれらのマークが移動するのに要した時間 として計られる。この場合、これらのマークはその物体の各部の上の色付けまた は局所的に加熱された部分であってもよく、そのような局所的に加熱された部分 は赤外線照射ソースからの短い照射パルスによってその物体を周期的に照射する ことによって得られる。しかし、この方法は当然ながらそれ自身が光（熱線）を 放射している溶融材料の流速の測定には用いることができない。

また、ガスのバブルを含む液体の流速を測定する方法が既に知られており、それ は２つの互いに隔てられた位置でその液体の流れを通して光線を当てて、これら の２つの位置における液体中のガス・バブルの通過を検知して、それらのガス・ バブルの移動時間を測定することによって、前記２つの位置の間における液体の 移動時間を測定することによって行なわれる。理解されるように、この方法も、 たとえば自由に流れ落ちる溶融ガラスのジェット流のような、それ自身が光を発 する溶融材料の流速の測定には用いることができない。

実ｗＡは、たとえば自由に流れ落ちる溶融カラスのジェット流のような、光を放 射する溶融材料の流れまたはジェット流の流速を十分な精度で測定するための満 足し得る方法は知られていない。

本発明は、この目的のための新規で都合の良いかつ十分満足し得る方法に関する ものである。本発明の方法は、次のような発見に基づいている。すなわち、特に 溶融ガラスのような光を放射している材料の流れやジェット流について、その流 れの成る限定された部分から放射される光をたとえば適当な光検知装置によって 測定するとき、前記検知装置からの出力信号の大部分はノイズ特性を有するもの であるが、その信号は不規則に現われるパルス状の非常に大きな振幅をも含むよ うな特性の光の放射を示していることである。検知装置の出力信号中のこれらの 短くかつ大きな振幅の変化は、その材料によって放射される光の局所的かつ個別 的に不規則に生じる変化と対応するものであるはずであり、それらの変化はおそ らくその材料中の局所的かつ個別的に不規則に起こる不均一性によるものであろ う。溶融ガラスにおいては、これらの不均一性はおそらくその溶融ガラス中の空 気のバブルからなるものであろう。なぜならば放射光中の前記パルス状の強度変 化は高純度のガラス材料においても現われるからである。セラミックや鉱物材料 のような他の光を放射する溶融材料に関しても、おそらく同様なガスや空気のバ ブルが存在し、それらは照射光中に同様なパルス状の不規則に起こる強度変化を 生じるであろう。また溶融材料においては、はとんどの場合、たとえばスラグ粒 子の形態の局所的個別的な不均一性が存在し、それらはその材料によって放射さ れる光に前述と同様のパルス状の不規則に起こる強度変化を生じ得る。

本発明は次のような仮定に基づいている。すなわち、材料から放射された光にお けるこれらのパルス状の不規則に起こる強度変化は、その材料に流れの成る限定 された部分から放射される光をその流れの流路に沿った２つの互いに隔てられた 位置で測定して、上流の位置におけるそのようなパルス状の強度変化の発生と下 流における同一のパルス状の強度変化の発生との間の時間間隔を測定することに よって、その材料の流速を決定するために用いることができる。

しかしながら、強度におけるこれらの変化は全く不規則に起こるので、時間とと もに相互の間隔の変化を伴い、このような事実はこの測定原理を利用するときに 重大な問題を生じる。しかし、その材料の流速を正しく測定するために、流路に 沿った２つの隔てられた位置において全く同一の強度変化を検知できるような時 間間隔に設定することは可能であるに違いない。これは容易には達成されない。

なぜならば、それらの強度変化は全く不規則に起こり、また１つの強度変化はも う１つの強度変化から容易に識別することができないからである。

この問題に対する１つの可能な解決方法がスウェーデン特許出願第８００８８４ −０号において提案されている。

この提案された解決法は、上流の検知装置の位置において起こるこれらの強度変 化をその後の強度変化が起こらない時間の経過後に関してのみそれらの時間間隔 を測定するという概念に基づいており、それらの２つの検知位置の間を材料の流 れが通過するのに要する時間は前述の時間間隔を越えないものに設定される。こ うして正しい時間間隔が得られて、それによってその材料の満足し得る正しい流 速が測定される。

本発明は、同じ問題を解決するもう１つの方法に関するものである。

光を放射する溶融材料の流れやジェット流の流速を測定するための本発明による 方法とそれに関する装置は、後述の請求の範８第１項ないし第４項、および第７ 項ないし第９項においてそれぞれ明らかにされている特徴を有している。

本発明のもう１つの実施例は、光を放Ｉ）１′！ｌ−る材料の流れやジェット流 が後述の請求の鞘囲第５項と第６１Ｊｉ、さらに第１０項ないし第１２項にそれ ぞれ明らかにされている特徴を有する場合のその体積的な流速を測定するための 方法とそれに関連する装置に関するものである。

図面の簡単な説明 ここで本発明は、添付された図面を参照してさらに詳しく説明される。

第１図は、溶融ガラスのジェット流の成る限定された部分からの放射光を受光す る光検知装置からの出力信号の典型的な形状を例として概略的に示す図である。

第２図は、溶融ガラスのジェット流の流速を測定するために、不発明に従って構 成された装置の概略図である。

Ｍ３図は、本発明が根拠とするところの原理を示す図である。

第４図は、本発明のもう１つの実施例による装置の概略図であって、光を放射す る溶融材料の体積的な流速を測定するためにその材料の流れやジ１ツｌ〜流の直 径を測定（“るものである。

第５図は、第４図において示された装置の動作原理を示す図である。

第２図は、本発明による装置の一実施例を概略図示しており、それは自由に流れ 落ちる溶融ガラスのジェット流１の流速を測定するためのものである。その装置 は２つの光検知装置Ｓ１と８２を■えており、それらはガラスのジェット流１に 沿って予め決められた相対距ｆｌｔＬだけ隔てられており、詳細は示されていな い適当な光学システムを介してそのガラスのジェット流の２つの限定された部分 からの光を受取るように配置されている。図において、ガラスのジェット流のこ れらの２つの限定された部分はＦｆｉ線の長方形２と３でそれぞれ概略図示され ている。したがって、これらの長方形はそれぞれ光検知装置Ｓ１と８２のための ゛のぞき窓°′と考えることができる。各検知装置は、概略第１図の例によって 示された形態を有する電気的出力信号を与える。この信号の大部分はノイズ信号 の性質を有しているが、複数の不規則に起こるパルス状の大きな振幅の変１ヒＰ をも含んでいる。これらの振幅変化Ｐは、ガラスのジェット流１によって放射さ れる光中に不規則に生じる短時間の強度変化によって生じる。そして、これらの 強度変化はおそらくそのガラス林料中に不規則に生じる空気のバブル４によって 起こるものであろう。１つの空気のバブルが前記のぞき窓２または３を通過する とき、それは関連する検知装ｆｆ５１またはＳ２のそれぞれからの出力信号中に パルス状の振幅変化Ｐを生じる。このＳ８変化の大きさは、待にガラスのジェッ ト流１の外表面からそのバルブまでの距離とそのバルブの寸法（ｉ１！存する。

成る１つの空気のバブルが上流ののぞき窓２からド流ののぞき窓３まで移動する 時間は、ガラスのジエン１〜流１が距殖りを移動するのに要する時間に等しいこ とがわかるであろう。したがって、その時間は式 に従うガラスのジエツ下流の流速を決定するために用いることができ、ここでＶ は流速で−「はその空気のバブルの移動時間である。

２つの検知装置Ｓ１と８２からの各出力信号は、増幅信号処理回路Ｆ　ｉとＦ２ ハ、それぞれ与えられる。各回路Ｆ１とＦ２のそれぞれは、たとえば第１図の振 幅レベル△のよう２ン予め決められた振幅レベルを越える振幅を有するパルス状 の振幅変化Ｐをその関連づ゛る光検知装置の出力信号から識別して、そのような 振幅変化Ｐの各々に対応して信号パルスＰ−をその出力に生じる。

増幅器Ｆ１と［２からのこれらの信号パルスＰ″はそれぞれ時間測定回路Ｒのス ター１〜入力とストップ入カへ与えられ、その回路Ｒはクロックパルス発生器Ｃ から駆動されるディジタルカウンタを備えることができる。したがって、その時 間１ｆｌｊ定回路Ｒは上流の検知装置Ｓ１ののぞざ窓２を通過するガラスのジェ ット流１中の１つの空気のバブル４によってスタートされ、その後に１つの空気 のバブル４が下流の検知装置１ｓ２ののぞき窓３を通過するや否や再びストップ される。時間測定回路Ｒがこのように＠間間隔を測定したとき、たとえばマイク ロコンピュータを備えた計算ユニットＤへ準備完了信号を送る。そのユニットＤ は、時間測定回路の出力から測定された値を受取ると同時に、その時Ｉ！Ｉ測定 回路をリセットする。時間測定回路Ｒは、上流の検知ｉａｓ　１ののぞぎ窓２を １つの空気バブル４が通るや否や引き続いて再スタートされる。

時間測定回路Ｒによって測定された時間間隔が実際に検知装置Ｓ１と８２の間の 距離しをガラスのジェット流１が移動する時間に確実に対応させるためには、そ の時間測定回路Ｒはそのガラスのジェット流１内の確かに１つのかつ同一の空気 のバブル４の影響によってスタートされかつストップされることが明らかに必要 である。理解されるように、これは１つのバブルが上流の窓２を通過して時間測 定回路ＲをスタートさＵるときにおいて、それらののぞき窓２と３の間にバブル ４が存在しない場合だけである。しかし、それらの空気のバブル４はガラスのジ ェット流１中で全く不規則に配置されているので、実際は窓２を通過する１つの バブル４によって時間測定回路Ｒがスタートされるとぎにそれら窓２と３の間に は複数のバブル４が存在するであろう。このような場合、時間測定回路Ｒは前記 窓２と３の間に既に存在するバブルの１つによって早めにストップされて、した がって、その時間測定回路Ｒによって測定される時間間隔は短すぎることになろ う。また、その時間測定回路Ｒによって測定された時間間隔が長ずきることもあ るであろう。たとえば、上流の窓２を通過するバブル４が時間測定回路Ｒをスタ ートさせて、たとえばガラスのジェット流１内の不規則な流れのためのような何 らかの理由によってそのバブルが下流の窓３を通過せず、したがってその下流の 検知装＠Ｓ２へ何ら影響を及ぼさない場合である。こ−の場合、時間測定回路Ｒ は後から来る１つのバブル４によってストップされて、その測定された時間間隔 は長すぎるものとなろう。

しかし、これらの混乱にもがかわらず、本発明を実施するときに計算ユニットＤ を用いることによって、正しい”時間間隔すなわち１つの空気バブル４（または ガラスのジェット流１）がのぞき窓２と３の間の距離りを移動するのに要した時 間に関する正しい情報を得ることが可能である。

本発明によれば、これは計算ユニットＤが時間測定回路Ｒから上記のように測定 された多数の時間間隔（たとえば１００個の時間間隔）を受取ってストアするこ とによって可能となる。計算ユニンｈ　Ｄは、これらの測定れた時間間隔をそれ らの値に関して分類またはクラス分けするようにデザインまたはプログラムされ ており、その計算ユニットによって受取られてストアされているこれらの測定さ れた時間間隔の最頻値を決定する。したがって、その計算ユニットＤは第３図に 示されたようなヒストグラムを組み上げる。

そのヒストグラムにおいて、水平軸はＸ　ｖｓの幅を有する各クラスまたはグル ープ内にある測定された時間間隔の値を表わしており、垂直軸は各クラスまたは グループ内の測定された時間間隔の数Ｎを表わしている。このヒストグラムは、 その正しい時間間隔が含まれているクラスまたはグループについて、単一の著し いピークまたは最大値を示すことがわかる。すなわち、そのクラスまたはグルー プは第３図における中央値Ｙ／／Ｓを有するものである。バブル４はガラスのジ ェット流１中に全く不規則に現われるので、゛誤って″測定された時間間隔はそ の時間軸に沿って主に短い時間間隔の方に広がり、一方、正しく測定された時間 間隔はすべてその時間軸に沿った１つの同一の位置に存在するであろう。Ｉｉ間 測定回路Ｒから受取られるそれらの測定された時間間隔の分析は、測定された時 間間隔の予め決められた数（たとえば１００）が受取られたときに、計算ユニッ トＤ内のマイクロコンビコータによって自動的に行なわれる。ヒストグラムにお いて、そのような著しいピークまたは最大値は、そのガラスのジェット流１中に 不悦則に生じるバブル４の量が次のような場合に得られることがわがった。それ は、２つの互いに連続するバブル（それらのいずれもが、のぞき窓２と３を通過 して増幅装置Ｆ１とＦ２から単一のパルスＰ−生じる）の間の距ばかそれらの窓 ２と３の間の距離［よりもすべての場合について少なくとも８〜１０％大きい場 合である。

計算ユニットＤは、窓２と３の間の距難りをガラスのジェット流１が移動するめ る時間の値上して、第３図のような測定された時間間隔の最も大きなりラスの中 央ｉ１ｉ　Ｙを用いることができ、そして＃ｙ述の式に従ってこの１直に基づい てそのジェット流の流速を計算することができる。しかし、高い精度は、計算ユ ニットＤが次・のようにデザインされてプログラムされている場合に達成、され る。それは、最初の複数（たとえば１００）の測定された時間間隔に基づいて上 述の方法で（ａＹを決定した後に、その値Ｙの両側の成る限定された範囲（すな わちＹ±Ｚ％の範囲）内の値を有するような測定された時間間隔のみを時′間測 定回□路Ｒがら受入れることである。その後に、計算ユニットＤはそのようにし て受入れられた測定Ｒ間間隔を予め決められた数（たとえば１００１＞集めて、 これらの受入れられた測定時間間隔の平均値を計算する。そして、この平均値は ガラスのジェット流１がのぞき窓２と３の間の距１ｉ１ｔＬを移動する時間の正 しい値と考えられる。好ましくは、この平均値は、時間測定回路Ｒから受取られ ″Ｃ受入れられた８新しい測定時間間隔について新しい平均値を計算することに よって更新され、そしてその平均値はたとえば最新の１００個の受入れられた測 定時間間隔に基づいて常に計算される。

さらに、ｆａＹは連続的に変えられて、Ｒ新の計算ぎれた平均値に等しくされる 。そして、次に受入れられる時間測定回路Ｒからの測定時間間隔は、最新のＨ＋ 碑された平均値の両側の±Ｚ％の範囲内の値を有するものだけである。この方法 によれば、その測定プロセスはガラスのジェット流１の流速の変化に自動的に１ ＢＦＩｉするであろう。その計算ユニットが予め決められた時間間隔の間に時間 測定回路Ｒから受入れるべき測定時間間隔を全く受取らなかった場合、その計算 ユニットＤは、そのプロセスを初めから再スタートしてＹの正しい値を見つける ために、上述の方法で第３図のような新しいヒストグラムを確立する。これは、 たとえばガラスのジェン］・流の流速が急激に変化する場合に必要であろう。

上述のように、゛受入れられた゛すなわち時間測定回路Ｒからの正しい測定時間 間隔の数は、測定された時間間隔の全数の少なくとも約８〜１０％であれば十分 である。これは、そののぞき窓２と３の間の距離りおよびそれらののそぎ窓の寸 法さらに増幅器Ｆ１とＦ２におけるスレッショルド振幅レベル△の大きさ等をそ のガラスのジェット流中に存在づる空気のバブル４の数およびそのガラスのジェ ット流の速度との関連において適切に選択することによって達成され、それぞれ の増幅器Ｆ１とＦ２からの各出力信号中の一連の信号パルスロー間の時間間隔が すべての場合においてのぞき窓２と３の間をガラスのジェット流が移動する時間 より少なくとも約８〜１０％だけ長くすることができる。のぞき窓２と３の間の 距離が小さくされると、連続する信号パルスロー間の時間間隔はそれらののぞき 窓の問をそのガラスのジェット流１が移動するのに要する時間に比べて増大する であろうことが認識されよう、同様に、の１ぞき窓２と３の寸法の減少はそれら の窓を通過するバブル４の数を減少させて検知装置Ｓ１と８２に影響を与え、そ して連続する信号パルスロー間の相互の時間間隔はそのガラスのジェット流１中 のバブルの同一の全数に対して増大するであろう。同様に、増幅器Ｆ１とＦ２内 の大きなスレッショルド振幅レベル△は信号パルスＰ−の数を減少させて、結果 として、そのガラスのジェット流中のバブル４の同一の全数およびそのジェット 流の同一の流速に関して、連続する信号パルスＰ′間の相互の時間間隔が増大す るであろう。

前述されたように、本発明による装置は、さらに材料の流速のみならずその体積 的流速をも測定するように発展させることができるーそれは多くの分野の応用に おいて興味あるものであって、たとえばグラスファイバのＦＪ　’ｒ％があり、 それにおいてはスピナーへ自由に流れ落ちる溶融ガラスのジエン１へ流の体積的 流速を測定できることが重要である。

この目的のためには、そのジェット流の速度に加えてその直径を測定することが 必要であるわ ガラスのジェット流の直径は、第４図において概略図示されたような装置によっ て都合良く測定することができる。

この装置は直線状に配列されたフォトダイオード５を備えており、それはその図 面に詳細が示されていない適当な光学システムを介してそのカラスのジェット流 １によって放射される線６に沿った光を受取るように配列ざねており、その綿６ はそのガラスのシェツト流の流れの方向に対しで直交している。カラスのジェッ ト流１の直径ｄに対応する数の配タリ５内のダイオードがそのジェット流１がら の光を受け、一方、その配列内の残りのダイオードはバックグラウンドの光を受 けるだけであろう。配列５内のそれらのダイオードは、スキャニング回路７によ って周期的にスキャンまたは感知される。そのス土ヤニンクサイクルからは各ス キャンことに−続きの信号パルスが得られ、その得られた信号パルスの数はその 配列中のダイオードの数に等しくて、それらの信号の各々はその直前のスキャン 以後それぞれのダイオードによって受取られ１；先の間に対応する振幅を有して いる。その結果、スキャニング回路７の出力信号は第５図のダイアグラムエに示 された形態を有している。

このダイアグラムは一連の２つのスキＸ・ンに関するスキャニング回路７の出力 信号を示しており、その配列５に関する全スキャニングＲ開はＴａと名付けられ ており、一方、一連の２つのスキャンの間の休止期間はＴｏと名付けられている 。したがって、そのスキャニングまたはサンプリングの頻度は１．／　（Ｔ、’ ｌ　；Ｔｏ　）であり、制御回路８によって設定される。その制御回路はスキャ ニング周期を決定するためにたとえば電圧がＪ御されるオシレータを滞えている 。

スキャニング回路７の出力信号はディジタル化回路９へ与えられ、そのディジタ ル化回路はその信号のいずれのパルスが予め決められたしｌ＼ル（たとえば第５ 図の振幅レベルＡｌ＞を越える大きさを有しているかを決定して、対応する長さ の矩形波、すなわち第５図のダイアグラム■にょって示された形を有づ−る矩形 波を生じる。したがって、この矩形波信号は、成る与えられたレベル△１を越え る光を受取った配列５中のダイオードの数に対応する長さを有している。この矩 形波信号は、たとえばクロックパルス発生器１０によって駆動されるディジタル カウンタの形態の時間測定回路１′１／＼与えられる。そのカウンタは回路９が らの矩形波によって動作が保持されて、前記矩形波信号の長さに対応してクロッ クパルスの数をｓ１数する。クロックパルス発生器１１からのクロックパルスは 第５図のダイアグラム■に示８れている。時間測定回路１ｏのディジタルカウン タ内に得られた計数は結果的にカラスのジェット流１の直径ｄを測定したことに なり、その計数は時間測定回路１０から計算回路へ与えられ、その計算回路はカ ラスのジェット流１の流速の測定された値をも受取って、これらの測定された値 に基づいてそのカラスのジェット流の体積的な流速を計算する。

ガラスのジェン］・流１がら直接光を受ける配列５内のダイオードと、理論的に はバックグラウンドの光のみを受けるその配列内のタイオードとの間に明瞭に決 定される境界線が存在しないという事実は１つの問題を生じる。これは第５図の ダイアグラムエに示された信号の形態から明らかである。そのダイアグラムＴは それぞれのダイオードからの出力信号がガラスのジェット流１の゛′縁″で徐々 に増加していることを示している。したがって、スレッショルドｔｌｌＡ１を越 える出力信号を与えるダイオードの数は、ガラスのジェット流１の直径によって のみならずそのガラスのジエン１−流の光の強度（すなわちそのジェット流の温 度）によって変化するであろう。したがって、高い温度のガラスのジェット流は 、たとえそのジェット流の直径が実際に一定であっても、その直径として大きな 測定値を与えるであろう３本発明によれば、この工１ｊ定エラーはスキャニング 回路７の出力信号をスイッチ１２へ与えることによって補償される。そのスイッ チ１２は、回路９からの矩形波信号によって、この矩形波信号の長さの時間だけ 閉じられるよう制御される。そうしてスレッショルドレベル△１を越える配列５ のダイオードからの出力信号のみがそのスイッチを通過する。これらの信号は平 均化回路１３へ与えられて、その回路１３はこれらの信号パルスの平均振幅値を 決めて制御回路１４へ対応する信号を供給する。制御回路１４において、回路１ ３からのこの平均値信号」よ−参照値Ａｒと比較されて、この比較に応じて制御 回路１４は制御回路８内の電圧制御されるオシレータへ制御電圧を与える。この 制御電圧に応じて、回路８は配列５についてのスキャニングまたはサンプリング の周期を調節して、スレッショルド値Ａ１を越えるフォトダイオードの信号の平 均振幅は参照振幅Ａｒに等しくなるように一定に保たれる。これが可能であるこ とは理解されよう。それは、配列５のダイオードからの信号パルスの振幅はその スキャニングまたはサンプリングの周期であるｌａ　＋ＴＯが増大するにつれて 増大するからであり、それは各ダイオードが各スキャンの間に光を受ける時間を より長く持つからである。この方法において、ガラスのジェット流１の温度（す なわちその光の強度）におけるいかなる変化に対しても自動的に修正される直径 の測定が可能となる。

光を放射する溶融材料の流れやジェット流の流速と直径の両方を測定するための 本発明による装置において、フォトダイオードの配列５は好ましくは２つの光検 知装置Ｓ１と８２の間に配置され、それによって速度と直径が材料の流れに沿っ たほぼ同一の位置で測定される。

国際調査報告

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １．　光を放射する溶融材料の流やジェット流の流速を測定するための方法であ って、次のステップを含むことを特徴とする方法。 （ａ　）　材料の流れの成る限定された部分から放射される光の強度を２つの隔 てられた検知位置において検知し、その位置はその流れの経路に沿って成る与え られた距離だけ離れて配置されており、前記強度に対応する電気信号を発生する ステップ。 （ｂ）　前記２つの検知位置からの前記信号から、予め決められた振幅を越える すべてのパルス状の振幅変化を識別するステップ。前記振幅変化は前記材料中の 局所的な不均一性の存在によって前記材料の流れの光の強度において不規則に起 こる局所的個別的な変化から生じる。 （Ｃ）　上流の検知位置からの信号中のそのような１つの振幅変化の発生と、そ れに続く最も近い時間に下流の検知位置からの信号中に発生する振幅変化との間 の時間間隔を繊返し測定するステップ。 （ｄ）　そのように測定された時間間隔のうち、選択された数に基づいてどの値 がこれらの時間間隔について最も頻繁に現われるものであるかを決定するステッ プ。 ＜ｅ　＞　前記最も頻繁に現われる値を前記材料の流が前記２つの検知位置の間 を移動するために要する時間と考えて、前記材料の流れの流速を計算するために 、前記２つの検知位置間の前記与えられた距離とともに前記最も頻繁に現われる 値を用いるステップ。 ２、　ステップ（ｃ）によって測定された複数の時間間隔のうち最も頻繁に現わ れる値をステップ（ｄ　）によって決定した後に、ステップ（Ｃ）によってその 連続的に測定された時間間隔から前記最も頻繁に現われる値の両側の成る与えら れた限定範囲内に存在する値を有するような時間間隔だけを選択して、そのよう な選択された複数の時間間隔の平均値を決定し、ステップ（ｅ　）に従って計算 するときに前記材料の流れが前記２つの検知位置間を移動するために要した測定 時間として前記平均値を用いることを特徴とする請求の範囲第１項記載の方法。 ３、　前記成る与えられた数の選択された時間間隔に基づいて初回の前記平均値 を決定した後に、新しく選択された各時間間隔に関して前記成る与えられた数の 前記最新の選択された時間間隔の平均値を再び計算することによって前記平均値 を更新し、その後に前記最新の計算された平均値の両側の前記成る与えられた値 の範囲内の値を有する時間間隔のみが選択されることを特徴とする請求の範囲第 ２項記載の方法。 ４、　前記２つの検知位置からの前記信号のうち前記成る与えられた大きさを越 える相互に連続する振幅変化の間の相互の時間間隔が前記２つの検知位置間の材 料の流の移動時間よりあらゆる場合について少なくとも約８〜１０％艮くなるよ うに、前記材料の流れの前記限定された部分の大きさや前記検知位置間の前記距 離および前記振幅変動の前記成る与えられた大きさを前記材料中に存在する前記 不均一性の発生や前記材料の流れの流速に応じて設定することを特徴とする請求 の範囲第１項ないし第３項のいずれかの項に記載された方法。 ５、請求の範囲第１項ないし第４項のいずれかの項に記載された方法によって前 記材料の流れの流速を測定することに加えて、前記材料の流れの直径をも測定し て前記流速と直径に関する前記測定された値に基づいて体積的流速を計算するこ とを特徴とする光を放射している溶融材料の流れやジェット流の体積的流速を測 定するための方法。 ６、　前記材料の流れの直径が次のステップによって測定されることを特徴とす る請求の範囲第５項記載の方法。 （ａ　）　前記材料の流れによって放射される光を検知するためのフォトダイオ ードの直線状配列であって、前記材料の流れの方向に垂直な線に沿って配置され たフォトダイオードを用いるステップ。 （ｂ）　直前のスキャンの後に、それぞれの各フォトダイオードによって受取ら れた光の量に関して前記フォトダイオードの配列を周期的にスキャンするステッ プ。 （ｃ）そのような各スキャンの後に、成る与えられた値を越える光の量を受取っ たフォトダイオードの数を決定し、前記ダイオード間の相互の間隔とともにこの ダイオードの数を前記材料の流れの直径の測定値として用いるステップ。 （ｄ）さらにそのような各スキャンの後に、前記数のフォトタイオードによって 受取られた光の量の平均値を決定するステップ。 （ｅ）前記平均値が成る与えられた参照値と一致するように、前記フォトダイオ ードの配列の前記スキャンの周期を制御するステップ。 ７、光を放射する溶融材料の流れやジェット流の流速を測定するための装置であ って、次のものを備えたことを特徴とする装置。 （ａ）　前記材料の流れの流路に沿って成る与えられた距］　（Ｌ　）だけ隔て られた２つの異なった位置において、前記材料の流れ〈１）の成る限定された部 分（２，３＞から放射される光を受取るためと、前記受取った光の強度に対応す る電気的出力信号を生じるための２つの光検知装置（Ｓｌ、Ｓ２＞。 （ｂ）　各光検知装置のための信号処理回路（Ｆｌ、Ｆ２）。前記信号処理回路 （Ｆｌ、Ｆ２）は、前記光検知装置の出力信号から成る与えられた最小の振幅（ Ａ＞を越えるパルス状の振幅変化（Ｐ）のみを識別して、それらに対応する信号 パルス（Ｐ−）をその回路の出力に生じる。 （Ｃ）　上流の検知装置（Ｓｌ）から生じる１つのそのような信号パルス（Ｐｉ によってスタートされて、それに最も近い時間に下流の検知装置（Ｓ２）から生 じた信号パルス（Ｐｉによってストップされるように構成された時間測定回路（ Ｒ）ａ前記時間測定回路（Ｒ）は前記信号パルス間の時間間隔を表わす測定結果 を生じ、次に上流の検知装置（Ｓｌ）から生じた信号パルス（ＰＭによって再び スタートされる。 （（１）　前記時間測定回路（Ｒ）からの前記測定結果を受取って、複数のその ような測定結果に元づいてそれらの結果のうち最も頻繁に起こる値（Ｙ）を決定 するように構成されｌ；計算ユニット（Ｄ）、、、前記泪算ユニツ１７（Ｄ）は 前記材料の流れ（１）が前記２つの検知位置間を移動するのに要した時間の測定 値として前記値を前記材料の流れの流速を計算するために用いる。 ８、　前記計算ユニツ１〜（Ｄ）は、前記時間測定回路（Ｒ）から受取られた複 数の測定時間間隔の前記最も頻繁に起こる値〈Ｙ）を決定した後に、前記最も頻 繁に起こる値の両側の成る与えられた値の範囲（±Ｚ％〉内の値を有する測定時 間間隔のみを受入れて、成る与えられた数のそのような受入れられた測定結果の 平均値を決定して、前記平均値を前記流速の前記計算において利用づることを特 徴とする請求の範囲第７項記載の装置。 ９、　前記ｔ１算ユニット（Ｄ＞は、前記時間測定回路（Ｒ）から受入れられた 新しい各測定時間間隔について前記成る与えられた数の最新に受入れられた測定 結果に基づいて新しい平均値を計算することによって前記平均値を更新すること を繰返すように構成されており、かつ前記最新の計算された平均値の両側の前記 成る与えられた値の範囲内の値を有する測定時間間隔のみを受入れることを特徴 とする請求の範囲第８項記載の装置。 １０、　請求の範囲第７項ないし第９項のいずれかの項に記載された装置であっ て、前記材料の流れく１）の直径（ｄ　）を測定するための手段（５〜１４）を 備えたことを特徴とする前記材料の流れの体積的流速をも測定するための装置。 前記計算手段（ｄ　）は前記流速と前記材料の流れの直径とを表わす前記測定値 に基づいて前記材料の流れの体積的流速を割砕するように構成されている。 １１、　前記材料の流れ（１）の直径（ｄ　）を測定するための前記方法が前記 材料の流れ（１）によって放射される光を受取るように前記流れの方向に垂直な 線く６）に沿って配置されたダイオードの直線状配列と、前回のスキャン以後の 前記配列中の各それぞれのダイオードによって受取られる光の量に関してこのダ イオードの配列く５）を周期的にスキャンするための手段（７）と、各スキャン の後に成る与えられたレベル（Ａ１）を越える量の光を受取ったダイオードの数 を決定して前記ダイオードの数を表わす測定値を前記計算ユニット（Ｄ）へ与え るための手段（９，１０，１１＞を備え、前記計算ユニットは前記材料の体積的 流速の計算において前記材料の流れ（１）の直径（ｄ　）の測定値として前記測 定値を利用し、さらに前記数のダイオードによって受取られた光ｍの平均値を決 定するための手段（１３）と、参照値（Ａｒ　＞と前記平均値を比較するための 手段（１４）と、 前記比較に応答して前記平均値が前記参照値に一致するように、前記フォトダイ オードの配列（５）の前記スキャニングの周期を制御するための手段（８）を備 えたことを特徴とする請求の範囲第１０項記載の装置。 １２、　前記フォトダイオードの配列（５）は、前記光検知装置（Ｓｌ、８２＞ が前記材料の流れから放射される光を受取る前記２つの位置（２，３）の間の前 記材料の流れ（１）によって放射される光を受取るように構成されていることを 特徴とする請求の範囲第１１項記載の装置。