JPS5948892A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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JPS5948892A
JPS5948892A JP57159803A JP15980382A JPS5948892A JP S5948892 A JPS5948892 A JP S5948892A JP 57159803 A JP57159803 A JP 57159803A JP 15980382 A JP15980382 A JP 15980382A JP S5948892 A JPS5948892 A JP S5948892A
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Toshiki Mori
俊樹 森
Haruyasu Yamada
山田 晴保
Kenichi Hasegawa
謙一 長谷川
Kunitoshi Aono
邦年 青野
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Abstract

PURPOSE:To obtain a semiconductor storage device of plural board semiconductors which has a simple constitution, by controlling independently a storage memory cell and a reading memory cell after connecting these cells to different word lines and bit lines, respectively. CONSTITUTION:Storage cells S1, S2- of a matrix array including transistor pairs 201, 202, etc. connected with cross to each other are connected to the 1st word lines 211, 215- and the 1st bit lines 219 and 220 as well as 223 and 224-, etc. While reading memory cells M1, M2- comprising active switches of differential transistor pairs 205, 206, etc. having their emitters connected in common are connected to the 2nd word lines 212, 216- different from the cells S1, S2- as well as to bit lines 221 and 222, 225 and 226-. The cells M1, M2- and cells S1, S2- are controlled independently of each other. Then the storage contents of cells S1, S2- are converted into signal levels on the basis of the lines 212, 216- and then read out of cells M1, M2-. In such a way, it is possible to obtain a semiconductor storage device of plural boards, e.g., two boards, etc. which has a simple constitution.

Description

【発明の詳細な説明】 差業上の利用分野 本発明は半導体記憶装置に係り、複数ポートの記憶装置
を簡単な回路構成で実現するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Application The present invention relates to a semiconductor memory device, and is intended to realize a multi-port memory device with a simple circuit configuration.

従来例の構成とその問題点 今日ディジタル信号処理は複雑な機能が要求され、記憶
装置にも、複数データの同時読み出しを行う機能や、書
き込みと読み出しを同時に行う機能が要求される。複数
ポートの記憶装置はこの様な要求に対処するためのもの
であり、アドレスを複数個有限1つのアドレスは書き込
みと読み出しが可能なアドレスであり、残りのアドレス
P、J’、 g’jシみ出し専用のアドレスである。
Conventional Structures and Problems Today's digital signal processing requires complex functions, and storage devices are also required to have the ability to read multiple data at the same time, and the ability to write and read data at the same time. A multi-port storage device is designed to handle such requests, and has multiple addresses. One finite address is an address that can be written to and read from, and the remaining addresses P, J', and g'j This is a private address.

この様に、複数ポートの半導体記憶装置は、MO3型半
導体等のトランスファーゲートが使用可能なデバイスに
おいては一般的に用いられているが、高速信号処理に用
いられる、バイポーラ型半導体においては、トランスフ
ァーゲートが使用てきないため、従来はアドレス信号が
1つの1ポートのものが一般的であった。
In this way, multi-port semiconductor memory devices are commonly used in devices that can use transfer gates, such as MO3 type semiconductors, but in bipolar type semiconductors used for high-speed signal processing, transfer gate Conventionally, a one-port device with one address signal was common.

第1図は従来の半導体記憶装置の記憶セルの一部を示す
ものである。101,102はベースとコレクタカ交叉
接続されたマルチエミッタトランジスタ対であり、10
3,104は負荷抵抗である。1o1゜102.103
,104で構成されるC1が1ビツトの記憶セルである
。C2,C3,C4はC1と同じ構成の記憶セルであり
、このような記憶セルが全記憶容量分だけ配置されて記
憶装置全体が構成されている。1o5,107はワード
線、106,108は各記憶セルのマルチエミッタトラ
ンジスタの一方のエミッタが共通接続される線であり、
定電流源(不図示)に接続される。ワード線105,1
07はそれぞれアドレスデコーダに接続され、選択時に
は高電位に、非選択時には低電位になる。109,11
0および111,112はビット線で定電流源113〜
116に接続され、選択されたワードの読み出しデータ
および書き込みデータがこの線に入出力される。
FIG. 1 shows a part of a memory cell of a conventional semiconductor memory device. 101 and 102 are multi-emitter transistor pairs whose bases and collectors are cross-connected;
3,104 is a load resistance. 1o1゜102.103
, 104 is a 1-bit memory cell. C2, C3, and C4 are memory cells having the same configuration as C1, and such memory cells are arranged for the total memory capacity to constitute the entire memory device. 1o5 and 107 are word lines; 106 and 108 are lines to which one emitter of the multi-emitter transistor of each memory cell is commonly connected;
Connected to a constant current source (not shown). Word line 105,1
07 are each connected to an address decoder, and have a high potential when selected and a low potential when not selected. 109,11
0, 111, 112 are bit lines and constant current sources 113~
116, and the read data and write data of the selected word are input and output to this line.

このような記憶装置の読み出し動作は、読み出したいワ
ードのワード線をアドレスデコーダ出力により高電位に
することにより行われる。つ丑り、データー線には各記
憶セルのマルチエミッタトランジスタ対のエミッタが共
通に接続されているため、このデータ線には各記憶セル
のマルチエミッタトランジスタ対のベース電位の内、最
も高い電位のものが出力される。即ち、ワード線の電位
の高い記憶セルのデータ内容が出力されることになる。
A read operation of such a memory device is performed by setting the word line of the word to be read to a high potential using the address decoder output. Furthermore, since the emitters of the multi-emitter transistor pairs in each memory cell are commonly connected to the data line, this data line has the highest potential among the base potentials of the multi-emitter transistor pairs in each memory cell. Something is output. That is, the data content of the memory cell whose word line has a high potential is output.

又、種き込み動作は、書き込みデータをデータ線に加え
、ワード線が高電位となった記憶セルにおいて、データ
線に接続された定電流回路の電流をマルチエミッタトラ
ンジスタ対のどちらのトランジスタから流すかにより、
書き込みを1丁っている。
In addition, the seeding operation adds write data to the data line, and in the memory cell where the word line is at a high potential, the current of the constant current circuit connected to the data line is caused to flow from which transistor of the multi-emitter transistor pair. By Sky,
I have one piece of writing.

以上の様に従来の記憶装置においては、アドレスは1つ
しかなく、したがって、読み出しデータも1つの記憶セ
ルしか読み出せない。又、書き込みと読み出しは同時に
は行えない。
As described above, in the conventional memory device, there is only one address, and therefore, read data can only be read from one memory cell. Also, writing and reading cannot be performed at the same time.

発明の目的 本発明は上記欠点にかんがみてなされたもので、複数ポ
ートの半導体記憶装置を簡単な回路構成で実現せんとす
るものである。
OBJECTS OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks, and it is an object of the present invention to realize a multi-port semiconductor memory device with a simple circuit configuration.

発明の構成 本発明は第1のワード線と第1のビット線に接続された
メモリ機能を有する記憶セルと、前記記憶セルの記憶信
号が入力され第2のワード線と第2のビット線に接続さ
れた読み出しセルとを備え、第1.第2のワード線を別
々に制御することを特徴とする半導体記憶装置である。
Structure of the Invention The present invention includes a memory cell having a memory function connected to a first word line and a first bit line, and a memory cell having a memory function connected to a first word line and a first bit line; and a readout cell connected to the first. This semiconductor memory device is characterized in that second word lines are controlled separately.

実施例の説明 第2図は本発明の実施例を示すものであり、同図におい
てば2ポートの場合を示している。
DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS FIG. 2 shows an embodiment of the present invention, in which a two-port case is shown.

マルチエミッタトランジスタ201,202および抵抗
203,204で構成される記憶セルS1は第1図の従
来例で説明した記憶セルと同一構成であり、32、S3
,84もこの81  と同一構成である。211゜21
5は第1ワード線で第1アドレスデコーダからの信号に
より選択時には高電位に、非選択時には低電位となる。
A memory cell S1 composed of multi-emitter transistors 201, 202 and resistors 203, 204 has the same structure as the memory cell explained in the conventional example of FIG.
, 84 also have the same configuration as this 81. 211°21
Reference numeral 5 denotes a first word line which has a high potential when selected and a low potential when not selected according to a signal from the first address decoder.

この第1アドレスデコーダは第1のアドレス信号により
制御される。
This first address decoder is controlled by a first address signal.

213 、217は各記憶セルのマルチエミッタトラン
ジスタの一方のエミッタが共通接続される線であり定電
流源に接続される。219 、220および223゜2
24は第1ビツト線、227,228および231゜2
32は定電流源であり、第1ワード線、第1ビツト線お
よび定電流源は第1図に示す従来例と同一の接続になっ
ている。つまり、読み出し時には、第1のアドレスによ
り選択されたワードの記憶セルの記憶データが第1ビッ
ト線に出力され、書き込み時には、第1ビツト線に入力
されたデータが第1のアドレスにより選択されたワード
の記憶セルに書き込まれる。
213 and 217 are lines to which one emitter of the multi-emitter transistor of each memory cell is commonly connected, and is connected to a constant current source. 219, 220 and 223゜2
24 is the first bit line, 227, 228 and 231°2
32 is a constant current source, and the first word line, first bit line, and constant current source are connected in the same way as in the conventional example shown in FIG. In other words, when reading, the data stored in the memory cell of the word selected by the first address is output to the first bit line, and when writing, the data input to the first bit line is selected by the first address. written to the word's storage cell.

この様な従来の記憶装置の動作に、第2のアドレス信号
により、記憶データを読み出すだめの回路を以下に述べ
る。
In the operation of such a conventional memory device, a circuit for reading stored data using a second address signal will be described below.

第2図において、エミッタが共通に接続された差動トラ
ンジスタ対205,206および抵抗207゜208で
差動スイッチを構成しており、差動トランジスタ対20
5,206のベースは記憶セルS1 のマルチエミッタ
トランジスタ対202,201のコレクタに接続される
。つ捷り差動スイッチには記憶セルS1 の記憶データ
が入力される。差動スイッチの出力はエミッタが第2ビ
ツト線221.222に接線されたトランジスタ209
,210のベースに接続される。
In FIG. 2, a differential switch is configured by a differential transistor pair 205, 206 whose emitters are commonly connected and a resistor 207, 208.
The base of 5,206 is connected to the collector of multi-emitter transistor pair 202,201 of storage cell S1. The data stored in the storage cell S1 is input to the switching differential switch. The output of the differential switch is a transistor 209 whose emitter is tangent to the second bit line 221,222.
, 210.

トランジスタ205,206および抵抗207,208
で構成される差動スイッチおよびトランジスタ2o9゜
210で読み出したセルR1を構成しており、R2゜R
3,R4はこのR1と同一構成である。
Transistors 205, 206 and resistors 207, 208
The readout cell R1 is composed of a differential switch and a transistor 2o9°210, and R2°R
3, R4 has the same configuration as this R1.

212は第2ワード線であり、第2アドレス制御信号に
より第2アドレスデコーダを介して駆動され、選択時に
は高電位に、非選択時には低電位となる。
A second word line 212 is driven by a second address control signal via a second address decoder, and has a high potential when selected and a low potential when not selected.

214 、218は差動トランジスタ対のエミッタが共
通接続される線であり、定電流源に接続される。
214 and 218 are lines to which the emitters of the differential transistor pair are commonly connected, and are connected to a constant current source.

221.222および225,226は第2ビツト線で
あり、第2アドレステコーダにより選択されたワードの
読み出しデータがこの線に出力される。229゜230
および233,234は定電流源である。
221, 222, 225, 226 are second bit lines, and the read data of the word selected by the second address decoder is output to these lines. 229°230
and 233, 234 are constant current sources.

ここで、読み出しセルR1において、差動スイッチの負
荷抵抗207,208の一端が第2ワード線212に接
続されている為、この差動スイッチの出力信号は第2ワ
ード線の電位を基準に振れ、High”電位は第2ワー
ド線の電位であり、” L ow ”電位は第2ワード
線の電位から差動スイッチの電流による負荷抵抗の電圧
降下分だけ下った電位となる。
Here, in the read cell R1, since one end of the load resistors 207 and 208 of the differential switch is connected to the second word line 212, the output signal of this differential switch swings with respect to the potential of the second word line. , "High" potential is the potential of the second word line, and "Low" potential is a potential that is lower than the potential of the second word line by the voltage drop across the load resistance due to the current of the differential switch.

つ寸りこの差動スイッチは、記憶セルS1の出力信号を
第2ワード線を基準とした信号にレベル変換している。
This differential switch converts the level of the output signal of the memory cell S1 into a signal based on the second word line.

この差動スイッチの出力信号はエミッタが第2データ線
221.222に接続されたトランジスタ線209,2
10のベースに供給されており、この第2データ線22
1.222に接続される読み出しセルは全て同一の構造
となっている。又第2データ線226,226に接続さ
れる読み出しセルも同一の構造となっており、各第2テ
ータ線にはトランジスタのエミッタが接続され、この第
2データ線にはエミッタが接続されたトランジスタ内、
ベース電位の最も高い信号が出力される。したがって、
読み出したいワードの第2ワード線を高電位にすること
により、読み出したいワードのデータ信号よりも高電位
とすることにより、第2データ線へ出力することができ
る。
The output signal of this differential switch is the transistor line 209, 2 whose emitter is connected to the second data line 221, 222.
10 base, and this second data line 22
All read cells connected to 1.222 have the same structure. Further, the readout cells connected to the second data lines 226, 226 have the same structure, and each second theta line is connected to the emitter of a transistor, and this second data line is connected to a transistor whose emitter is connected. Inside,
The signal with the highest base potential is output. therefore,
By setting the second word line of the word to be read at a high potential, the data signal can be output to the second data line by setting the potential to be higher than the data signal of the word to be read.

以上説明した様に、2ポートの記憶装置においては、記
憶セルS1 の出力信号を第2ワード線の電位を基準と
する信号にレベル変換し、この信号をエミッタが第2ビ
ツト線に接続されたトランジスタのベースに供給し、任
意の第2ワード線を高電位とすることにより、任意のワ
ードの記憶信号を読み出すことができる。
As explained above, in a two-port storage device, the output signal of the storage cell S1 is level-converted into a signal based on the potential of the second word line, and this signal is sent to the terminal whose emitter is connected to the second bit line. By supplying the voltage to the base of the transistor and setting an arbitrary second word line to a high potential, a storage signal of an arbitrary word can be read out.

尚、第2図においてば2ポートの場合の説明図であり、
記憶セルS1と読み出しセルR1で1ビツトのセルM1
を構成しているが、読み出しセルR1と並列に同一構成
の読み出しセルを増やせば、任意のポート数の複数ポー
ト記憶装置を実現できることは明白である。
In addition, FIG. 2 is an explanatory diagram for the case of 2 ports,
1 bit cell M1 with storage cell S1 and read cell R1
However, it is clear that a multi-port storage device with an arbitrary number of ports can be realized by increasing the number of read cells having the same configuration in parallel with the read cell R1.

発明の効果 以上の様に本発明によれば、簡単な回路構成で複数ポー
トの記憶装置を実現でき、特に集積回路化する場合には
、構成素子数が少なく、テップサイズの小さな半導体記
憶装置とすることができる。
As can be seen from the effects of the invention, according to the present invention, a storage device with multiple ports can be realized with a simple circuit configuration, and especially when integrated circuits are used, it is possible to realize a semiconductor storage device with a small number of components and a small step size. can do.

又、トランスファーゲートが使用できないバイポーラ型
半導体において複数ポート記憶装置が簡単に構成できる
ため、バイポーラ型半導体の高速性を生かした、高速複
数ポート半導体記憶装置が実現できる。
Furthermore, since a multi-port storage device can be easily constructed using a bipolar semiconductor in which a transfer gate cannot be used, a high-speed multi-port semiconductor storage device that takes advantage of the high-speed performance of bipolar semiconductors can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の記憶装置の記憶セルの一部を示す図、第
2図は本発明の2ポートの場合の実施例を示す図である
。 S1〜S4・・・…記憶セノペR1〜R4…see読み
出しセノペ211,215・・・・1)第1ワード線、
219゜220.224−−−−−@第1ビット線、2
12,216−0@第2ワード線、221.222,2
26,226・・・・・・第2ビツト線。
FIG. 1 is a diagram showing a part of a memory cell of a conventional memory device, and FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention in the case of two ports. S1-S4...Storage Senope R1-R4...see Read Senope 211, 215...1) First word line,
219°220.224---@1st bit line, 2
12,216-0@2nd word line, 221.222,2
26,226... Second bit line.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)第1のワード線と第1のビット線に接続されたメ
モリ機能を有する記憶セルと、前記記憶セルの記憶信号
が入力され第2のワード線と第2のビット線に接続され
た読み出しセルとを備え、前記第1.第2のワード線を
別々に制御することを特徴とする半導体記憶装置。
(1) A memory cell having a memory function connected to a first word line and a first bit line, and a memory cell to which a memory signal of the memory cell is input and connected to a second word line and a second bit line. a readout cell; A semiconductor memory device characterized in that second word lines are controlled separately.
(2)読み出しセルが第2のビット線にエミッタが接続
されたトランジスタとレベル変換回路を有し、記憶セル
の記憶信号が第2のワード線の電位を基準とする信号レ
ベルに前記レベル変換回路により変換され前記トランジ
スタのベースに供給されることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の半導体記憶装置。
(2) The read cell has a transistor whose emitter is connected to the second bit line and a level conversion circuit, and the level conversion circuit adjusts the storage signal of the storage cell to a signal level based on the potential of the second word line. 2. The semiconductor memory device according to claim 1, wherein the semiconductor memory device is converted by a converter and supplied to the base of the transistor.
(3)レベル変換回路がコレクタがインピーダンス素子
2!介して第2のワード線に接続され、エミッタか共通
接続された差動トランジスタ対により構成されることを
特徴とする特許請求の範囲第(2)項記載の半導体記憶
装置。
(3) The collector of the level conversion circuit is impedance element 2! 2. The semiconductor memory device according to claim 2, wherein the semiconductor memory device is constituted by a pair of differential transistors connected to the second word line via a pair of differential transistors whose emitters are commonly connected.
JP57159803A 1982-09-14 1982-09-14 Semiconductor storage device Granted JPS5948892A (en)

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JPS6250920B2 JPS6250920B2 (en) 1987-10-27

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291787A (en) * 1986-06-11 1987-12-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Data storage circuit

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54107228A (en) * 1978-02-09 1979-08-22 Nec Corp Memory circuit

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JPS6250920B2 (en) 1987-10-27

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